CN102047205A - 触控面板装置及其接触位置检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种触控面板装置及其接触位置检测方法。此触控面板装置包括：触控面板，其中包括第一触摸图案，第一触摸图案具有串行连接的多个第一触控垫；以及触摸传感器，用以施加时钟信号至第一触摸图案的一端，从第一触摸图案的另一端接收延迟时钟信号，并利用时钟信号与延迟时钟信号之间的延迟时间差来产生对应于接触物体的接触位置的接触位置数据。因此，因为串行连接多个触控垫，所以能够只用一个触摸传感器来检测整个触控面板的接触位置，并且触控垫的面积大于连接线的面积以便触控垫与连接线之间存在显著的电阻差异，因而可精确地检测接触位置。

Description

触控面板装置及其接触位置检测方法
技术领域
本发明是有关于一种触控面板装置(touch panel apparatus)，且特别是有关于一种能够减少触摸传感器(touch sensor)数量的触控面板装置以及检测触控面板上的接触位置(contact position)的方法。
背景技术
ITO(indium tin oxide，铟锡复合氧化物)薄膜被广泛使用为例如液晶显示器的显示器件的透明电极(薄膜)。ITO在液晶显示器件(LCD)以及有机发光器件、太阳能电池、等离子体显示器(plasma display)、电子纸(E-Paper)等多个领域已经被用作电极材料，这是因为其作为透明的导电氧化物薄膜具有高透明度和低表面电阻(sheet resistance)的优点，并且容易形成图案。它也已经被应用于阴极射线管监视器的电磁屏蔽，以及用于ITO墨水。
使用ITO的触控面板装置在韩国专利公开公报第10-2007-0112750号中有说明。
图1示出已知的使用ITO的触控面板装置的结构。此触控面板装置包括ITO薄膜10及触摸传感器单元20。ITO薄膜10具有成对的棒状触控垫(rod-like touch pads)11及12。
棒状触控垫11的一边与棒状触控垫12的另一边分别连接到触摸传感器单元20。每一触控垫对根据随接触物体的接触位置而变化的电阻值来延迟输入时钟信号CLK，从而输出延迟时钟信号ts1_sig1及ts1_sig2。触摸传感器单元20从成对的棒状触控垫11及12接收延迟时钟信号ts1_sig1及ts1_sig2且检测延迟时钟信号ts1_sig1及ts1_sig2的延迟时间以获得接触物体的接触位置。
例如，若接触物体(例如，手指)接触棒状触控垫11及12的接触表面A，则棒状触控垫11从时钟信号CLK到接触点A的距离较长，而棒状触控垫12从时钟信号CLK到接触点A的距离较短。因此，就触摸传感器单元20与接触点A之间的电阻值而言，棒状触控垫11的电阻值小于棒状触控垫12的电阻值而导致较长的延迟时间，而棒状触控垫12的电阻值小于棒状触控垫11的电阻值而导致较短的延迟时间。在这种情况下，触摸传感器单元20将检测成对的棒状触控垫11及12各自的延迟时间，计算与所检测的延迟时间相对应的坐标的平均值，由此确定成对的棒状触控垫11及12的Y轴接触位置。
给在ITO薄膜上所形成的棒状触控垫对顺序编号，将对应于与物体接触的棒状触控垫对(11及12)编号的坐标作为接触物体的X轴位置。
在此，接触物体(例如，手指)所造成的电容也可能导致延迟时间。结果，不但棒状触控垫11的电阻可延迟时钟信号CLK，而且接触物体的电容亦可。
此外，连接棒状触控垫11及12与触摸传感器单元20的导线可能会影响时钟信号CLK的延迟时间。为了降低导线的影响，从各棒状触控垫11及12提供到触摸传感器单元20的延迟时钟信号ts1_sig1及ts1_sig2的布线长度最好相同。
图2示出使用图1的一个触控垫对的触摸传感器单元的例子。触摸传感器单元20包括至少一个触摸传感器。此至少一个触摸传感器分别包括时钟信号产生器30、第一信号放大器31与第二信号放大器32、第一信号比较器41与第二信号比较器42、以及接触位置数据产生器51。
图2的触摸传感器的组成要素将参考图1予以说明。
时钟信号产生器30产生时钟信号CLK且分别施加至棒状触控垫对与第一信号比较器41及第二信号比较器42。
第一信号放大器31接收在时钟信号CLK通过棒状触控垫11时获得的第一延迟时钟信号ts1_sig1，并且放大及输出第一延迟时钟信号ts1_sig1。
第一信号比较器41接收并比较放大的第一延迟时钟信号ts1_sig1与时钟信号CLK，产生对应于延迟时间的第一信号sig1。
第二信号放大器32接收在时钟信号CLK通过棒状触控垫12时获得的第二延迟时钟信号ts1_sig2，放大及输出第二延迟时钟信号ts1_sig2。
第二信号比较器42接收并比较放大的第二延迟时钟信号ts1_sig2与时钟信号CLK，产生对应于延迟时间的第二信号sig2。
接触位置数据产生器51接收第一及第二信号sig1及sig2，获得对应于第一及第二信号sig1及sig2的坐标值，并平均所获得的坐标值以获得Y轴坐标值。并且，接触位置数据产生器51获得对应于棒状触控垫对的顺序编号当中的与物体接触的棒状触控垫对编号的坐标，作为X轴坐标值。该接触位置数据产生器51输出对应于所获得的Y轴及X轴坐标值的接触位置数据TS_OUT。
当接触物体的触控垫对中的某一触控垫受到噪声影响时，如上所述的已知的触控面板装置无法输出所接触物体的精确接触位置。并且，因为每一对棒状触控垫11及12具有随接触物体的接触位置而线性变化的电阻值，所以对于噪声高度敏感。
若为提高触控面板的分辨率而增加触控垫对数目，则根据所增加的触控垫对数目，需要增加多个触摸传感器，因而导致触摸传感器单元大小变大。此外，纵使为了减小触摸传感器单元的大小而使用一个触摸传感器来依序检查多个触控垫对获得接触物体的接触位置，若提高分辨率，还是会增加要检查的触控垫对数目，导致接触位置检测时间随之增加。
发明内容
技术问题
本发明的目的在于提供一种具有藉由连接线来串行连接多个触控垫的触摸图案(touch pattern)，从而能够只用一个触摸传感器来检测接触物体的接触情况的触控面板装置。
本发明的另一目的在于提供一种用于实现上述目的的检测触控面板装置上的接触位置的方法。
技术方案
为实现上述目的，本发明的触控面板装置，包括：触控面板，包括第一触摸图案，第一触摸图案具有串行连接的多个第一触控垫；以及触摸传感器，施加时钟信号至所述第一触摸图案的一端，接收从所述第一触摸图案的另一端输出的发生延迟的延迟时钟信号，利用所述时钟信号与所述发生延迟的时钟信号之间的延迟时间差来产生对应于接触物体的接触位置的接触位置数据。
为实现上述目的，触摸传感器包括：时钟产生器(clock generator)，产生所述时钟信号且予以输出到所述第一触摸图案的一端；延迟信号检测器(delayed-signal detector)，检测从第一触摸图案的另一端输出的第一延迟时钟信号的信号电平而输出脉冲形态的第一脉冲时钟信号(pulse clock signal)；比较器，计算时钟信号与第一脉冲时钟信号之间的延迟时间差而输出第一延迟时间；以及接触位置数据产生器，计算对应于第一延迟时间的接触位置而输出接触位置数据。
为实现上述目的，触摸传感器包括：时钟产生器，产生时钟信号且予以交替地输出到第一触摸图案的一端与另一端；延迟信号检测器，检测时钟信号发生延迟而从第一触摸图案的另一端输出的第一延迟时钟信号及从第一触摸图案的一端输出的第二延迟时钟信号的信号电平，输出脉冲形态的第一脉冲时钟信号及第二脉冲时钟信号；比较器，计算时钟信号与第一脉冲时钟信号之间的延迟时间差而输出第一延迟时间，并计算时钟信号与第二脉冲时钟信号之间的延迟时间差而输出第二延迟时间；以及接触位置数据产生器，计算对应于第一延迟时间及第二延迟时间的接触位置而输出接触位置数据。
为实现上述目的，接触位置数据产生器利用第一延迟时间与第二延迟时间之间的延迟时间差来产生所述接触位置数据。
为实现上述目的，接触位置数据产生器利用第一延迟时间与第二延迟时间之比值来产生所述接触位置数据。
为实现上述目的，接触位置数据产生器计算对应于第一延迟时间的第一接触位置与对应于第二延迟时间的第二接触位置，获得所计算的接触位置的中央位置，由中央位置产生接触位置数据。
为实现上述目的，触控面板包括第一ITO薄膜，其中第一触摸图案的多个第一触控垫均匀地分布于第一ITO薄膜的一整个表面上。
为实现上述目的，触控面板配置成第一触摸图案的多个第一触控垫不会同时与接触物体接触。
为实现上述目的，触控面板更包括至少一个第二触摸图案。
为实现上述目的，触控面板在第一ITO薄膜的相同表面上进一步包括至少一个第二触摸图案，此至少一个第二触摸图案包括分别配置于第一触摸图案的多个第一触控垫之间的多个第二触控垫与串行连接多个第二触控垫的多条第二连接线。
为实现上述目的，触控面板在第一ITO薄膜的相同表面上进一步包括至少一个第二触摸图案，此至少一个第二触摸图案由分别配置于第一触摸图案的多个第一触控垫之间的多个第二触控垫与串行连接多个第二触控垫的多条第二连接线组成。
为实现上述目的，触控面板更包括至少一个第二触摸图案，每一个第二触摸图案包括均匀地分布于第一ITO薄膜的整个另一表面上的多个第二触控垫和串行连接多个第二触控垫的多条第二连接线。
为实现上述目的，触控面板更包括至少一个第二ITO薄膜和至少一个第二触摸图案，其中至少一个第二触摸图案包括均匀地分布于至少一个第二ITO薄膜的一整个表面上的多个第二触控垫和串行连接多个第二触控垫的多条第二连接线。
为实现上述目的，触控面板更包括至少一个第二ITO薄膜和至少一个第二触摸图案，其中至少一个第二触摸图案包括均匀地分布于至少一个第二ITO薄膜的整个另一表面上的多个第二触控垫和串行连接多个第二触控垫的多条第二连接线。
为实现上述目的，触控面板更包括绝缘构件，此绝缘构件绝缘第一触摸图案与第二触摸图案以免在两者的交叉点(crossing points)彼此短路，并且此绝缘构件配置于第一ITO薄膜及第二ITO薄膜的边缘区域或外部。
为实现上述的另一目的，本发明的检测触控面板装置上的接触位置的方法，包括以下步骤：配置第一触摸图案，此第一触摸图案具有串行连接的多个第一触控垫；以及施加时钟信号至第一触摸图案的一端，接收从第一触摸图案的另一端输出的被延迟的时钟信号，利用时钟信号与被延迟的时钟信号之间的延迟时间差来产生对应于接触物体的接触位置的接触位置数据。
为实现上述的另一目的，配置第一触摸图案之步骤更包括配置多条第一连接线以便串行连接多个第一触控垫的步骤，多条第一连接线的形成方式是在多个第一触控垫之间利用导电材料来绘制图案于比多个第一触控垫还窄的区域上。
为实现上述的另一目的，产生接触位置数据之步骤包括以下步骤：产生时钟信号且予以输出到第一触摸图案的一端；检测从第一触摸图案的另一端输出的第一延迟时钟信号的信号电平而输出脉冲形态的第一脉冲时钟信号；计算时钟信号与第一脉冲时钟信号之间的延迟时间差而输出第一延迟时间；以及计算对应于第一延迟时间的接触位置而输出接触位置数据。
为实现上述的另一目的，上述触摸传感器包括以下步骤：产生时钟信号且予以交替地输出到第一触摸图案的一端或另一端；检测时钟信号发生延迟而从第一触摸图案的另一端输出的第一延迟时钟信号及从第一触摸图案的一端输出的第二延迟时钟信号的信号电平，输出脉冲形态的第一脉冲时钟信号及第二脉冲时钟信号；计算时钟信号与第一脉冲时钟信号之间的延迟时间差以输出第一延迟时间，且计算时钟信号与第二脉冲时钟信号之间的延迟时间差以输出第二延迟时间；以及计算对应于第一延迟时间及第二延迟时间的接触位置而输出接触位置数据。
有益效果
据此，在根据本发明的触控面板装置及其接触位置检测方法中，因为串行连接多个触控垫以形成触摸图案，所以能够只用一个触摸传感器来检测整个触控面板的接触位置。并且，触控垫的面积大于连接线的面积以便触控垫与连接线之间存在显著的电阻值差异，因而纵使存在噪声也可轻易地检测接触物体的接触位置。此外，触摸传感器从两个方向交替地输入时钟信号到串行连接的一个触控垫，并利用输出信号的延迟时间来计算接触物体的接触位置，藉以最小化噪声的影响。此外，通过使用多个触摸图案可增加触控面板的分辨率。
附图说明
图1是已知的一种使用ITO的触控面板装置的结构示意图。
图2是一种使用图1的一个触控垫对的触摸传感器单元的例子的示意图。
图3是依照本发明之第一实施例的触控面板装置的示意图。
图4是用以解释图3的触摸传感器的结构及接触位置检测方法的方块图。
图5是依照本发明之第二实施例的触控面板装置的示意图。
图6是用以解释图5的触摸传感器的结构及接触位置检测方法的方块图。
图7是依照本发明之第三实施例的触控面板装置的示意图。
图8是示出利用图6的触摸传感器所获得的对应于接触物体的接触位置的延迟时间的曲线图。
图9及图10是依照本发明之另一实施例的配置于ITO薄膜上的触摸图案的示意图。
图11及图12是用以解释依照本发明的触控面板装置的插补方法的示意图。
具体实施方式
以下，参照附图说明本发明的触控面板装置及其接触位置检测方法。
图3示出根据本发明的第一实施例的触控面板装置。触控面板装置包括ITO薄膜120及触摸传感器100。
在图3中，触摸图案形成于ITO薄膜120的一整个表面上。触摸图案包括多个触控垫P1_1至P1_(n)及多条连接线CL1_1至CL1_(n-1)，其中每一个触控垫及每一条连接线分别具有预定电阻值。触控垫P1_1至P1_(n)的每一个藉由连接线(CL1_1至CL1_(n-1))串行连接于相邻的触控垫。多条连接线CL1_1至CL1_(n-1)可由导体所构成。然而，在此藉由ITO的图案化来形成多条连接线CL1_1至CL1_(n-1)，这与触控垫P1_1相同。
在薄膜120上图案化的触控垫P1_1至P1_(n)及连接线CL1_1至CL1_(n-1)具有不同的大小以使电阻值不同。如图3所示，触控垫P1_1至P1_(n)的面积较大使接触物体可轻易地接触各触控垫，因此其电阻值小于较窄的连接线CL1_1至CL1_(n-1)。因为多个触控垫P1_1至P1_(n)的电阻值不同于多条连接线CL1_1至CL1_(n-1)的电阻值，所以图3的触摸图案可体现为电阻值随接触物体的接触位置而非线性地变化。亦即，因为触控垫与连接线具有不同的电阻值使得触摸图案的电阻值根据接触位置而明显不相同，这产生与判断接触物体的接触位置的区域藉由多个触控垫P1_1至P1_(n)及多条连接线CL1_1至CL1_(n-1)被分割为预定的单位区域相同的效果。如此，若使用预定的单位区域来判断接触物体的接触位置，则虽然难以以高分辨率来判断接触物体的接触位置，但即使在触摸图案中产生噪声也可轻易地判断接触物体所接触的单位区域。对接触物体的这种判断与模拟信号和数字信号之间的差异相类似。
例如，当具有预定电容的接触物体(例如，人的手指)接触图3的ITO薄膜10上的连接线CL1_1时，在这种情况下和接触物体接触于与连接线CL1_1相邻的触控垫P1_2时相比，电阻值几乎没有差异，这是因为连接线CL1_1至CL1_(n-1)具有大电阻而触控垫P1_1至P1_(n)具有小电阻。并且，因为连接线CL1_1至CL1_(n-1)的面积较小，所以因接触而产生的电容较小以致难以被检测到。
触摸传感器100具有时钟输出引脚(clock output pin)out及时钟输入引脚(clock input pin)in。时钟输出引脚out连接到在触摸图案上串行连接的多个触控垫P1_1至P1_(n)中的第一个触控垫P1_1，时钟输入引脚in连接到最后的触控垫P1_(n)。触摸传感器100产生时钟信号CLK且经由时钟输出引脚out予以输出到第一个触控垫P1_1，并经由时钟输入引脚in接收当时钟信号通过多个触控垫P1_1至P1_(n)时所获得的延迟时钟信号D_CLK。触摸传感器100利用经由时钟输入引脚in接收的延迟时钟信号D_CLK来计算接触ITO薄膜120的接触物体的位置，并输出接触位置数据TS_OUT。
图4是解释图3的触摸传感器100的结构及接触位置检测方法的示例方块图。在图3中，触摸传感器100包括时钟信号产生器110、延迟信号检测器130、比较器140以及接触位置数据产生器150。
首先，参考图3说明图4的触摸传感器的结构。
时钟信号产生器110产生时钟信号CLK而输出到时钟输出引脚out。
此时，因为图3的ITO薄膜120的触控垫P1_1如上所述连接到时钟输出引脚out，所以输入到触控垫P1_1的时钟信号CLK经由多个触控垫P1_1至P1_(n)而传送到时钟输入引脚in。当时钟信号CLK被输入到触摸图案时，将因多个触控垫P1_1至P1_(n)与多条连接线CL1_1至CL1_(n-1)的电阻值以及接触于触控垫(P1_1至P1_(n))的物体的电容发生延迟及失真，由此输出延迟时钟信号D_CLK。
延迟信号检测器130接收该延迟时钟信号D_CLK，检测该延迟时钟信号D_CLK的信号电平，由此产生脉冲时钟信号P_CLK。
比较器140接收该延迟信号检测器130所输出的脉冲时钟信号P_CLK与时钟信号产生器110所输出的时钟信号CLK而进行比较，输出相对时钟信号CLK的脉冲时钟信号P_CLK的延迟时间DT。
接触位置数据产生器150从比较器140接收该延迟时间DT，并输出对应于该延迟时间DT的坐标作为接触物体的接触位置数据TS_OUT。
下面，对图4的触摸传感器检测接触物体的接触位置的方法参考图3予以说明。
在此，假设串行连接的触控垫P1_1至P1_(n)中的一个触控垫P1_2接触到接触物体。
首先，时钟信号产生器110产生时钟信号CLK且经由时钟输出引脚out输出到触摸图案的触控垫P1_1，同时将时钟信号CLK输出到触摸传感器100内的比较器140。
输入到触摸图案的时钟信号CLK因多个触控垫P1_1至P1_(n)与多条连接线CL1_1至CL1_(n-1)的电阻值与接触物体的电容而转换成延迟时钟信号D_CLK，并经由最后的触控垫P1_(n)而输出。
延迟信号检测器130经由时钟输入引脚in接收时钟信号CLK因多个触控垫P1_1至P1_(n)而延迟及失真所获得的延迟时钟信号D_CLK，检测该延迟时钟信号D_CLK的信号电平，输出脉冲信号形态的脉冲时钟信号P_CLK。在此，延迟信号检测器130可以利用偶数个反相器(inverter)或缓冲器(buffer)等逻辑组件，或比较仪(comparator)来组成。
比较器140接收延迟信号检测器130所输出的脉冲时钟信号P_CLK与时钟信号产生器110所输出的时钟信号CLK比较两个信号之间的延迟时间差，输出一延迟时间DT。
接触位置数据产生器150接着从比较器140接收该延迟时间DT，获得对应于该延迟时间DT的坐标，输出此坐标作为接触位置数据TS_OUT。
如上所述，利用根据本发明的接触位置检测方法可检测接触物体的接触位置，其方式为输入时钟信号CLK到ITO薄膜120上被图案化的触摸图案的一端，检测因组成触摸图案的触控垫P1_1至P1_(n)与多条连接线CL1_1至CL1_(n-1)的电阻值以及接触物体的电容而延迟的信号的延迟时间DT，并获得对应于延迟时间DT的坐标。因此，能够只用一个配置于ITO薄膜120的一整个表面上的触摸图案及一个触摸传感器来检测接触物体的接触位置。
然而，在上述的接触位置检测方法中，因为触摸传感器100输出时钟信号CLK到触摸图案的一端并从另一端接收延迟时钟信号D_CLK，所以例如产生噪声时将无法检测接触物体的精确接触位置。因为这种噪声被测量为一种时序抖动(timing jitter)，所以可藉由噪声消除滤波器(noise removal filter)或计算平均值来消除噪声，以实现精确的接触位置检测。例如，接触位置数据产生器150可额外包括诸如无限脉冲响应(Infinite Impulse Response，IIR)滤波器的数字滤波器，以消除所述噪声。另一方面，可额外包括累积及储存平均值的平均值储存单元，以在目前计算的接触位置数据TS_OUT上加上所累积的平均值或从目前计算的接触位置数据TS_OUT减去所累积的平均值来消除噪声。
图5示出根据本发明的第二实施例的触控面板装置。在图5中，形成于ITO薄膜220上的触摸图案与图3的触摸图案相同。图3的触摸传感器100包括时钟输出引脚out及时钟输入引脚in，以便输出时钟信号CLK到触摸图案的一端且从另一端接收延迟时钟信号D_CLK，而图5的触摸传感器200则包括第一时钟输入/输出引脚(clock input/output pin)out1/in2及第二时钟输入/输出引脚in1/out2，以便交替地输出时钟信号CLK到触摸图案的两端且接收从两端输出的延迟时钟信号D_CLK1及D_CLK2。亦即，图5的触摸传感器可从两个方向施加时钟信号CLK至相同的触摸图案，且能够接收第一及第二延迟时钟信号D_CLK1及D_CLK2。并且，显然可将第一时钟输入/输出引脚out1/in2区分为第一输入引脚(未图示)与第一输出引脚(未图示)且将第二时钟输入/输出引脚in1/out2区分为第二输入引脚(未图示)与第二输出引脚(未图示)来输出或接收第一及第二延迟时钟信号D_CLK1及D_CLK2，以便代替使用可输入/输出时钟信号CLK的第一时钟输入/输出引脚out1/in2及第二时钟输入/输出引脚in1/out2。并且，虽然前面为了明确区分而以区分连接线(CL1_1至CL1_(n-1))与触控垫(P1_1至P1_(n))的分散结构进行说明，但是显然能将整个触摸图案形成为单杆状或多种结构而构成连续结构。
图6是解释图5的触摸传感器的结构及检测接触位置的方法的方块图。在图6中，触摸传感器包括时钟信号产生器210、延迟信号检测器230、比较器240以及接触位置数据产生器250，类似于图3的触摸传感器。首先，图6的触摸传感器的结构将参考图5予以说明。
时钟信号产生器210产生时钟信号CLK且经由时钟输入/输出引脚out1/in2及in1/out2予以交替地输出到触控面板线的第一个触控垫P1_1或最后的触控垫P1_(n)，同时输出时钟信号CLK到触摸传感器200的比较器240。延迟信号检测器230经由时钟输入/输出引脚out1/in2而从第一个触控垫P1_1接收第二延迟时钟信号D_CLK2，或经由时钟输入/输出引脚in1/out2而从最后的触控垫P1_(n)接收第一延迟时钟信号D_CLK1。
延迟信号检测器230经由触摸图案接收第一延迟时钟信号D_CLK1及第二延迟时钟信号D_CLK2，判断第一延迟时钟信号D_CLK1及第二延迟时钟信号D_CLK2的信号电平，产生及输出第一脉冲时钟信号P_CLK1及第二脉冲时钟信号P_CLK2。
比较器240接收该延迟信号检测器230所输出的第一脉冲时钟信号P_CLK1与第二脉冲时钟信号P_CLK2及时钟信号产生器210所输出的时钟信号CLK进行比较，测量相对时钟信号CLK的第一脉冲时钟信号P_CLK1及第二脉冲时钟信号P_CLK2的延迟时间，输出第一延迟时间DT1及第二延迟时间DT2。
接触位置数据产生器250从比较器240接收第一延迟时间DT1及第二延迟时间DT2，输出对应于第一延迟时间DT1及第二延迟时间DT2的坐标以作为接触物体的接触位置数据TS_OUT。
下面，将参考图5说明图6的触摸传感器检测接触物体的接触位置的方法。
假设串行连接的触控垫P1_1至P1_(n)中的一个触控垫P1_2接触到接触物体。
首先，时钟信号产生器210产生时钟信号CLK且经由第一时钟输入/输出引脚out1/in2输出到触摸图案的第一个触控垫P1_1和比较器240。
输入到触摸图案的时钟信号CLK因多个触控垫P1_1至P1_(n)与多条连接线CL1_1至CL1_(n-1)的电阻值及接触到触控垫P1_2的接触物体的电容而发生延迟及失真，因此经由最后的触控垫P1_(n)而输出第一延迟时钟信号D_CLK1。
延迟信号检测器230检测第一延迟时钟信号D_CLK1的信号电平而输出第一脉冲时钟信号P_CLK1。
比较器240接收该延迟信号检测器230所输出的第一脉冲时钟信号P_CLK1与时钟信号产生器210所输出的时钟信号CLK进行比较，测量相对时钟信号CLK的第一脉冲时钟信号P_CLK1的延迟时间，输出第一延迟时间DT1。
接触位置数据产生器250从比较器240接收第一延迟时间DT1予以储存。
时钟信号产生器210接着经由第二时钟输入/输出引脚in1/out2输出所产生的时钟信号CLK到触摸图案的最后一个触控垫P1_(n)和比较器240。
输入到触摸图案的时钟信号CLK因多个触控垫P1_1至P1_(n)与多条连接线CL1_1至CL1_(n-1)的电阻值及接触到触控垫P1_2的接触物体的电容而发生延迟及失真，因而经由第一个触控垫P1_1而输出第二延迟时钟信号D_CLK2。
延迟信号检测器230检测第二延迟时钟信号D_CLK2的信号电平而输出第二脉冲时钟信号P_CLK2。
比较器240接收并比较该延迟信号检测器130所输出的第二脉冲时钟信号P_CLK2与时钟信号产生器210所输出的时钟信号CLK，测量相对时钟信号CLK的第二脉冲时钟信号P_CLK2的延迟时间，输出第二延迟时间DT2。
接触位置数据产生器250从比较器240接收延迟时间DT2，比较先前储存的第一延迟时间DT1与接收的第二延迟时间DT2获得相对应的坐标，并输出此坐标作为接触位置数据TS_OUT。在此，接触位置数据产生器250可分别计算对应于第一延迟时间DT1及第二延迟时间DT2的坐标且使用两个坐标的平均来获得该接触位置数据TS_OUT。并且，接触位置数据产生器250还可计算第一延迟时间DT1与第二延迟时间DT2之间的差异以直接获得接触位置数据TS_OUT。
如上所述，图6的触摸传感器交替地输出时钟信号CLK到ITO薄膜220上的触摸图案的两端，检测因多个触控垫P1_1至P1_(n)与多条连接线CL1_1至CL1_(n-1)的电阻值及接触触控垫P1_1至P1_(n)的接触物体的电容而延迟的时钟信号CLK的延迟时间两次。因为使用两个延迟时间DT1及DT2来获得坐标，所以纵使ITO薄膜220与显示器面板之间有噪声或偏移(offset)也可以消除噪声和偏移而获得接触物体的精确接触位置。
图7示出根据本发明的第三实施例的触控面板装置。
图7的触摸传感器200与图5的触摸传感器相同。然而，图5的触摸图案包括串行连接的多个触控垫P1_1至P1_(n)及多条连接线CL1_1至CL1_(n-1)，而图7的ITO薄膜221的结构则是多个横向触控垫与多个纵向触控垫直接串行连接而不包括连接线。亦即，在图7的触摸图案PP1中，多个触控垫直接串行连接且均匀地配置于ITO薄膜221的一个表面上。虽然前面表述为多个触控垫，但是此时可以解释为一个棒状触控垫配置于ITO薄膜221上。只包括触控垫而无连接线的触摸图案的形状并未局限于图7所示的触摸图案PP1。换言之，可以实现为各种形态。
图8是利用图6的触摸传感器所获得的对应于接触物体的接触位置的延迟时间的曲线图。
现在将参考图5来说明图8的曲线。
在图8的曲线中，X轴表示接触物体的接触位置(接触点)，以在ITO薄膜220上的触摸图案中串行连接的触控垫(P1_1至P1_(n))为八个(1至8)的情形为例，当接触物体分别接触八个触控垫1至8时，交替地施加于触摸图案的两端的时钟信号CLK的延迟时间表示于Y轴上。因此，对应于X轴上的八个接触位置1至8中的每一个将获得两个延迟时间。作为参考，X轴上的接触位置NT表示无接触。
在图8中，示出当施加时钟信号CLK于触摸图案的多个触控垫(1，8)中的第一个触控垫1且接触物体依序接触各触控垫1至8时所测量的延迟时间曲线301，当施加时钟信号CLK于触摸图案的多个触控垫(1，8)中的最后的触控垫8且接触物体依序接触各触控垫1至8时所测量的延迟时间曲线302，以及利用计算机仿真程序以如同上述两条曲线301及302的设定来绘制的曲线311及312。曲线311是对应于曲线301的仿真曲线，而曲线312则是对应于曲线302的仿真曲线。测量值(301及302)与仿真值(311及312)之间的差异主要由外部噪声及偏移电容所引起。
现在将利用图8的曲线来说明图6的接触位置数据产生器检测接触物体的接触位置的方法。
在此，如图6所示，因为本发明的触摸传感器200交替地输出时钟信号CLK到配置于触摸图案的两端的触控垫1与触控垫8，所以将经由触控垫1至8来检测两个延迟时间DT1及DT2予以使用。
首先，具体说明利用所检测的两个延迟时间之间的差值来检测接触位置的方法。
例如，当接触物体接触多个触控垫1至8之一时，第一延迟时间DT1被测量为26.5毫微秒(ns)且第二延迟时间DT2被测量为24.8毫微秒(ns)，则触摸传感器200可计算第一延迟时间DT1与第二延迟时间DT2之间的差值并获得对应于所计算的延迟时间差1.7毫微秒(ns)的触控垫的位置。根据图8的曲线，接触物体所接触的触控垫为第二个触控垫2。触摸传感器200接着利用对应于各触控垫1至8的已设定的接触物体接触位置数据TS_OUT来输出对应于第二个触控垫2的接触物体的接触位置数据TS_OUT。因此，因为对应于延迟时间的接触物体的接触位置数据TS_OUT已设定好，所以该触摸传感器200可直接输出对应于所计算的延迟时间1.7ns的接触物体的接触位置数据TS_OUT。
在此，第一延迟时间DT1与第二延迟时间DT2之间的差值为0的触控垫位于触摸图案的中央，并且以位于中央的触控垫为基准，位于两边的触控垫的第一延迟时间DT1与第二延迟时间DT2之差值的正负号相反。根据图6的曲线，触控垫1至8的所计算得到的延迟时间差是大约为-3ns与3ns之间的值。
如上所述，使用延迟时间差值可降低噪声的影响，这是因为自动消除了延迟时间的偏移。
其次，说明利用所检测的两个延迟时间之比值来检测接触位置的方法。
例如，当接触物体接触串行连接的触控垫1至8时，第一延迟时间DT1被测量为27ns且第二延迟时间DT2被测量为24ns，则该触摸传感器200计算第一延迟时间DT1与第二延迟时间DT2之比值，如数学式1所示。
数学式1：
DT1/DT2×100
所计算的延迟时间是112.5。可获得对应于112.5的触控垫的位置。根据图8的曲线，接触物体接触第一个触控垫1。在这种情况下，触摸传感器100可设定好对应于所计算的延迟时间比的接触物体的接触位置数据TS_OUT，直接输出对应于所计算的延迟时间比(112.5)的接触物体的接触位置数据TS_OUT。触摸传感器100接着利用对应于各触控垫1至8的已设定的接触物体的接触位置数据TS_OUT来输出对应于第一个触控垫1的接触物体的接触位置数据TS_OUT。
在此，第一延迟时间与第二延迟时间之比值为1(根据式1是100)的触控垫位于触控垫1至8的中央，并且从第一触控垫1至第八触控垫8的延迟时间比依序递减。在图8的曲线中，所计算的触控垫之延迟时间比大约为113与89之间的值。
如上所述，使用延迟时间比会增加所计算的延迟时间值，因而可更精确地获得接触物体的接触位置TS_OUT。
在本发明的触摸图案中，多个触控垫的大小与多条连接线的大小不相同，以利用预定的单位区域来检测接触位置。因此，纵使如上所述使用延迟时间差或延迟时间比也可精确地检测到接触位置。虽然，以上作为简单示例使用了第一延迟时间与第二延迟时间之差值及比值，但是自然也可使用差值与比值的组合或其它的数学方法。
图9及图10示出根据本发明的另一实施例的配置于ITO薄膜上的触摸图案。
在图3及图5所示的ITO薄膜120或ITO薄膜220上的触摸图案中，触控垫之间的间隔较窄可增加触控面板的分辨率，然而若接触物体同时接触多个触控垫(P1_1，P1_(n))中的两个或更多个，则可能输出错误的接触位置数据TS_OUT。因此，多个触控垫P1_1至P1_(n)最好具有足够的间隔以使接触物体不会同时接触两个或更多个触控垫。图3及图5所示的ITO薄膜120或ITO薄膜220由于具有一个触摸图案，因此无法增加触控面板的分辨率。
图9示出并列配置于一个ITO薄膜120或ITO薄膜220的相同表面上的两个图案线P1及P2。
因为并列配置第一触摸图案P1与第二触摸图案P2，所以第一触摸图案P1及第二触摸图案P2各自的多个触控垫之间具有足够的间隔来避免接触物体同时接触第一触摸图案P1的多个触控垫P1_1至P1_(n)或第二触摸图案P2的多个触控垫P2_1至P2_(n)。当并列配置两个触摸图案P1及P2时，第一触摸图案P1的连接线(CL1_1至CL1_(n-1))与第二触摸图案P2的连接线(CL2_1至CL2_(n-1))相交叉的交叉点BP处的两条连接线彼此绝缘以防止交叉点BP处发生短路。并且，可以将第一触摸图案P1与第二触摸图案P2的间隔最小化，从而增加触控面板的分辨率。虽然只有两个触摸图案P1及P2表示于图9，但是显然可包括更多个(两个以上)触摸图案。
因此，在图9中，包括多个触摸图案，可避免接触物体同时接触相同触摸图案的多个触控垫，且可获得高分辨率。
在此，CL1_1至CL1_(n-1)与CL2_1至CL2_(n-1)的交叉点BP可在ITO薄膜120或ITO薄膜220内进行绝缘。然而，显然可将连接线CL引出到ITO薄膜120或ITO薄膜220之外而在外部予以绝缘。纵使在ITO薄膜120或ITO薄膜220内进行绝缘，此绝缘不应该影响显示。一般而言，ITO薄膜120或ITO薄膜220大于显示装置的图像显示区域。因此，在ITO薄膜120及ITO薄膜220的外围进行绝缘不会影响显示。
在图10中，两个触摸图案分别配置于ITO薄膜120或ITO薄膜220的两个表面上。在触摸传感器当中，藉由检测电容变化来检测接触物体的接触的电容感应型触摸传感器在结构上类似于电容感应型接近传感器(proximity sensor)。亦即，藉由提高电容感应型触摸传感器的检测灵敏度，则可使用电容感应型触摸传感器作为接近传感器。因此，即使接触物体并未直接接触该触摸传感器，电容感应型触摸传感器仍可以检测接触物体。在图9中，第一触摸图案P1与第三触摸图案P3配置于ITO薄膜120或ITO薄膜220的不同表面上。亦即，第一触摸图案P1配置于ITO薄膜120或ITO薄膜220的上表面上，而第三触摸图案P3则配置于ITO薄膜120或ITO薄膜220的下表面上。如上所述当两个触摸图案P1及P3配置于ITO薄膜的不同表面上时，不存在图9的交叉点BP，因而不需要进行绝缘。同样地，显然多个ITO薄膜之每一个可包括一个触摸图案。而且，要求触控面板具有非常高分辨率时，可同时应用图9及图10的结构。亦即，可在至少一个ITO薄膜各自的一个或两个表面上配置多个触摸图案。
图11及图12是解释根据本发明的触控面板装置的插补(interpolation)方法的示意图。
一般而言，触控面板附着在将图像信号显示为图像画面的显示器的外部屏幕，或形成于显示器的外部玻璃板上。然而，因为触控面板的分辨率不同于显示器的分辨率，所以触控面板所输出的的接触位置需要对应到(转换成)显示器屏幕的相对应位置。在这种情况下，若使用插补方法将触控面板的位置对应到显示器屏幕的位置，则可以更平滑地表示接触位置变化。
图11是用于解释时域(time domain)插补方法的示意图。
假设接触物体依序接触串行连接的多个触控垫P1的第三触控垫P1_3、第九触控垫P1_9以及第二十三触控垫P1_23。对应于各个触控垫P1_3、P1_9以及P1_23位置的位置将依序且离散地显示于显示器屏幕上。最后，将只显示对应于第二十三触控垫P1_23的位置。
另一方面，根据包含触控面板的装置的用途可能存在连续而非离散地表示接触位置的情况。例如，若是计算机的指针(pointer)，则有时需要显示接触位置的位移路径的连续变化。在这种情况下，将依照时间来分割显示器屏幕(但不存在于ITO薄膜120内)上的各触控垫之间的位置，例如第三触控垫P1_3与第九触控垫P1_9之间的位置以及第九触控垫P1_9与第二十三触控垫P1_23之间的位置，以产生显示器屏幕上的各触控垫之间的位置且予以输出以作为插补信号。亦即，当接触物体接触触控垫P1_3且接着接触触控垫P1_9时，指针在显示触控垫P1_3的位置之后将不直接显示触控垫P1_9的位置，而是显示为依时间顺序从触控垫P1_3的位置到触控垫P1_9的位置循序位移。
图12是用于解释空间域(spatial domain)插补方法的示意图。
当并列配置第一触摸图案P1及第三触摸图案P3的ITO薄膜120或ITO薄膜220上的第一触摸图案P1的第三触控垫P1_3及第二触摸图案P3的第三触控垫P3_3同时与接触物体接触时，将输出利用第一触摸图案P1所计算的接触位置与利用第三触摸图案P3所计算的接触位置之间的中央位置以作为接触物体的接触位置数据TS_OUT。在此，虽然以图10所示触摸图案为例予以说明，但是显然即使是图9所示的触摸图案也可执行空间域插补。
此外，上述插补方法在图3及图5的触摸传感器中增设插补信号输出单元(未图示)以输出插补信号，该插补信号输出单元接收接触物体的接触位置数据TS_OUT，并对其进行插补而输出。
虽然参照本发明的优选实施例进行了上述说明，然而任何所属技术领域中具有通常知识的人，在不脱离权利要求书所记载的本发明的精神和范围的前提下，可对本发明进行各种修改及改变。

Claims (38)

1.一种触控面板装置，其特征在于包括：
触控面板，包括第一触摸图案，所述第一触摸图案具有串行连接的多个第一触控垫；以及
触摸传感器，施加时钟信号至所述第一触摸图案的一端，并接收从所述第一触摸图案的另一端输出的发生延迟的第一延迟时钟信号，利用所述时钟信号与所述第一延迟时钟信号之间的延迟时间差来产生对应于接触物体的接触位置的接触位置数据。
2.如权利要求1所述的触控面板装置，其特征在于所述触摸传感器包括：
时钟产生器，产生所述时钟信号且予以输出到所述第一触摸图案的一端；
延迟信号检测器，检测由所述第一触摸图案的另一端输出的所述第一延迟时钟信号的信号电平而输出脉冲形态的第一脉冲时钟信号；
比较器，计算所述时钟信号与所述第一脉冲时钟信号之间的延迟时间差而输出第一延迟时间；以及
接触位置数据产生器，计算对应于所述第一延迟时间的接触位置而输出所述接触位置数据。
3.如权利要求2所述的触控面板装置，其特征在于所述接触位置数据产生器更包括噪声消除器以避免因噪声而错误地计算所述接触位置数据。
4.如权利要求3所述的触控面板装置，其特征在于所述噪声消除器为数字滤波器。
5.如权利要求3所述的触控面板装置，其特征在于所述噪声消除器为用以储存所述接触位置数据的累积平均值且利用所述累积平均值来消除噪声的平均值储存器。
6.如权利要求1所述的触摸传感器施加时钟信号至所述第一触摸图案的另一端，并接收从所述第一触摸图案的一端输出的发生延迟的第二延迟时钟信号，利用所述时钟信号与所述第一延迟时钟信号及所述第二延迟时钟信号之每一个之间的延迟时间差来产生对应于接触物体的接触位置的接触位置数据。
7.如权利要求6所述的触控面板装置，其特征在于所述触摸传感器包括：
时钟产生器，产生所述时钟信号且予以交替地输出到所述第一触摸图案的一端与另一端；
延迟信号检测器，检测所述时钟信号发生延迟而从所述第一触摸图案的另一端输出的所述第一延迟时钟信号及从所述第一触摸图案的一端输出的所述第二延迟时钟信号的信号电平，输出脉冲形态的第一脉冲时钟信号及第二脉冲时钟信号；
比较器，计算所述时钟信号与所述第一脉冲时钟信号之间的延迟时间差而输出第一延迟时间，以及计算所述时钟信号与所述第二脉冲时钟信号之间的延迟时间差而输出第二延迟时间；以及
接触位置数据产生器，计算对应于所述第一延迟时间及所述第二延迟时间的接触位置而输出所述接触位置数据。
8.如权利要求7所述的触控面板装置，其特征在于所述接触位置数据产生器利用所述第一延迟时间与所述第二延迟时间之间的延迟时间差来产生所述接触位置数据。
9.如权利要求7所述的触控面板装置，其特征在于所述接触位置数据产生器利用所述第一延迟时间与所述第二延迟时间之比值来产生所述接触位置数据。
10.如权利要求7所述的触控面板装置，其特征在于所述接触位置数据产生器计算对应于所述第一延迟时间的第一接触位置且计算对应于所述第二延迟时间的第二接触位置，判断所计算的接触位置的中央位置，产生对应于所述中央位置的所述接触位置数据。
11.如权利要求1所述的触控面板装置，其特征在于所述触控面板包括第一ITO薄膜，所述第一触摸图案的多个所述第一触控垫均匀地分布于所述第一ITO薄膜的一整个表面上。
12.如权利要求10所述的触控面板装置，其特征在于所述第一触摸图案更包括配置在多个所述第一触控垫之间用以串行连接多个所述第一触控垫的多条第一连接线，所述多条第一连接线的形成方式是利用导电材料来绘制图案于比多个所述第一触控垫之每一个还窄的区域上。
13.如权利要求12所述的触控面板装置，其特征在于将所述触控面板配置成所述第一触摸图案的多个所述第一触控垫不会同时与所述接触物体接触。
14.如权利要求13所述的触控面板装置，其特征在于所述触控面板更包括至少一个第二触摸图案。
15.如权利要求14所述的触控面板装置，其特征在于所述至少一个第二触摸图案包括所述第一ITO薄膜的一表面上的多个第二触控垫和多条第二连接线，每一个第二触控垫配置于所述第一触摸图案的多个第一触控垫之间，并且所述多条第二连接线串行连接多个所述第二触控垫。
16.如权利要求15所述的触控面板装置，其特征在于所述触控面板更包括绝缘所述第一触摸图案与所述第二触摸图案以免在两者的交叉点彼此短路的绝缘构件，并且所述绝缘构件配置于所述第一ITO薄膜的边缘区域或所述第一ITO薄膜的外部。
17.如权利要求14所述的触控面板装置，其特征在于所述至少一个第二触摸图案包括均匀地分布于所述第一ITO薄膜的整个另一表面上的多个第二触控垫，且包括串行连接多个所述第二触控垫的多条第二连接线。
18.如权利要求17所述的触控面板装置，其特征在于所述触控面板更包括绝缘所述第一触摸图案与所述第二触摸图案以免在两者的交叉点彼此短路的绝缘构件，并且所述绝缘构件配置于所述第一ITO薄膜的边缘区域或所述第一ITO薄膜的外部。
19.如权利要求14所述的触控面板装置，其特征在于所述触控面板更包括：
至少一个第二ITO薄膜；
至少一个第二触摸图案，所述至少一个第二触摸图案包括均匀地分布于所述至少一个第二ITO薄膜的一整个表面上的多个第二触控垫，且包括串行连接多个所述第二触控垫的多条第二连接线。
20.如权利要求19所述的触控面板装置，其特征在于所述触控面板更包括绝缘所述第一触摸图案与所述第二触摸图案以免在两者的交叉点彼此短路的绝缘构件，并且所述绝缘构件配置于所述第一ITO薄膜的边缘区域或外部。
21.如权利要求14所述的触控面板装置，其特征在于所述触控面板更包括至少一个第二ITO薄膜、均匀地分布于所述第二ITO薄膜的整个另一表面上的多个第二触控垫以及串行连接多个所述第二触控垫的多条第二连接线。
22.如权利要求21所述的触控面板装置，其特征在于所述触控面板更包括绝缘所述第一触摸图案与所述第二触摸图案以免在两者的交叉点彼此短路的绝缘构件，并且所述绝缘构件配置于所述第一ITO薄膜的边缘区域或外部。
23.如权利要求14所述的触控面板装置，其特征在于所述触摸传感器包括：
时钟产生器，产生所述时钟信号且予以输出到所述第一触摸图案及所述第二触摸图案的一端；
延迟信号检测器，检测从所述第一触摸图案及所述第二触摸图案的另一端输出的多个所述第一延迟时钟信号的信号电平而输出脉冲形态的多个第一脉冲时钟信号；
比较器，计算所述时钟信号与多个所述第一脉冲时钟信号之每一个之间的延迟时间差而输出多个第一延迟时间；以及
接触位置数据产生器，计算对应于多个所述第一延迟时间的接触位置而输出所述接触位置数据。
24.如权利要求23所述的触控面板装置，其特征在于所述接触位置数据产生器更包括噪声消除器以避免因噪声而错误地计算所述接触位置数据。
25.如权利要求24所述的触控面板装置，其特征在于所述噪声消除器为数字滤波器。
26.如权利要求23所述的触控面板装置，其特征在于所述噪声消除器为用来储存所述接触位置数据的累积平均值且利用所述累积平均值来消除噪声的平均值储存器。
27.如权利要求14所述的触控面板装置，其特征在于所述触摸传感器包括：
时钟产生器，产生所述时钟信号且予以交替地输出到所述第一触摸图案及所述第二触摸图案的一端与另一端；
延迟信号检测器，检测所述时钟信号发生延迟而从所述第一触摸图案及所述第二触摸图案的另一端输出的多个所述第一延迟时钟信号的信号电平，且检测所述时钟信号发生延迟而从所述第一触摸图案及所述第二触摸图案的一端输出的多个第二延迟时钟信号的信号电平，输出脉冲形态的多个第一脉冲时钟信号及第二脉冲时钟信号；
比较器，计算所述时钟信号与多个所述第一脉冲时钟信号之每一个之间的延迟时间差而输出多个第一延迟时间，以及计算所述时钟信号与多个所述第二脉冲时钟信号之每一个之间的延迟时间差而输出多个第二延迟时间；以及
接触位置数据产生器，计算对应于多个所述第一延迟时间及所述第二延迟时间的接触位置而输出所述接触位置数据。
28.如权利要求27所述的触控面板装置，其特征在于所述接触位置数据产生器利用多个所述第一延迟时间之每一个与对应于多个所述第一延迟时间的多个所述第二延迟时间之每一个之间的差值来输出所述接触位置数据。
29.如权利要求27所述的触控面板装置，其特征在于所述接触位置数据产生器利用多个所述第一延迟时间与对应于多个所述第一延迟时间的多个所述第二延迟时间之比值来输出所述接触位置数据。
30.如权利要求27所述的触控面板装置，其特征在于若对应于多个第一延迟时间及第二延迟时间的接触位置计算为多个，则所述接触位置数据产生器将计算多个所述接触位置的中央位置且输出对应于所述中央位置的所述接触位置数据。
31.如权利要求27所述的触控面板装置，其特征在于若所述接触物体依序接触多个所述第一至第五触控垫的不同触摸图案，则所述触摸传感器将输出对应于所述接触物体首先接触的触控垫的接触位置数据，以及在输出对应于随后接触的触控垫的接触位置数据之前输出对应于首先接触的所述触控垫与随后接触的所述触控垫之间的位置的至少一个接触位置数据。
32.一种检测触控面板装置上的接触位置的方法，其特征在于所述方法包括如下步骤：
配置第一触摸图案，所述第一触摸图案具有串行连接的多个第一触控垫；以及
施加时钟信号至所述第一触摸图案的一端，接收从所述第一触摸图案的另一端输出的发生延迟的时钟信号，并利用所述时钟信号与所述延迟的时钟信号之间的延迟时间差来产生对应于接触物体的接触位置的接触位置数据。
33.如权利要求32所述的检测触控面板装置上的接触位置的方法，其特征在于配置所述第一触摸图案之步骤更包括配置多条第一连接线以便串行连接多个所述第一触控垫的步骤，多条所述第一连接线的形成方式是在多个所述第一触控垫之间利用导电材料来绘制图案于比多个所述第一触控垫之每一个还窄的区域上。
34.如权利要求33所述的检测触控面板装置上的接触位置的方法，其特征在于产生所述接触位置数据的步骤包括如下步骤：
产生所述时钟信号且予以输出到所述第一触摸图案的一端；
检测从所述第一触摸图案的另一端输出的第一延迟时钟信号的信号电平，而输出脉冲形态的第一脉冲时钟信号；
计算所述时钟信号与所述第一脉冲时钟信号之间的延迟时间差而输出第一延迟时间；以及
计算对应于所述第一延迟时间的接触位置而输出所述接触位置数据。
35.如权利要求34所述的触控面板装置，其特征在于输出所述接触位置数据的步骤更包括消除噪声的步骤。
36.如权利要求32所述的检测触控面板装置上的接触位置的方法，其特征在于所述触摸传感器包括如下步骤：
产生所述时钟信号且予以交替地输出到所述第一触摸图案的一端或另一端；
检测所述时钟信号发生延迟而从所述第一触摸图案的另一端输出的第一延迟时钟信号的信号电平，且检测所述时钟信号发生延迟而从所述第一触摸图案的一端输出的第二延迟时钟信号的信号电平，输出脉冲形态的第一及第二脉冲时钟信号；
计算所述时钟信号与所述第一脉冲时钟信号之间的延迟时间差以输出第一延迟时间，且计算所述时钟信号与所述第二脉冲时钟信号之间的延迟时间差以输出第二延迟时间；以及
计算对应于所述第一延迟时间及所述第二延迟时间的接触位置而输出所述接触位置数据。
37.如权利要求36所述的检测触控面板装置上的接触位置的方法，其特征在于输出所述接触位置数据的步骤中利用所述第一延迟时间与所述第二延迟时间之间的延迟时间差或延迟时间比值来产生所述接触位置数据。
38.如权利要求36所述的检测触控面板装置上的接触位置的方法，其特征在于输出所述接触位置数据的步骤包括分别计算对应于所述第一延迟时间的接触位置与对应于所述第二延迟时间的接触位置，判断所计算的接触位置的中央位置以产生所述接触位置数据。
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