CN104808859B - 一种内嵌式触摸面板和触摸显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种内嵌式触摸面板和触摸显示装置，包括基板；设置在所述基板上的公共电极层，所述公共电极层包括多个触控电极；设置在所述基板上的触控走线，所述触控走线与一个对应的所述触控电极电连接，所述触控走线及其对应的触控电极构成一个触控感测单元，所述多个触控感测单元分为至少一组触控感测单元；多段测试线，所述多段测试线将一组所述触控感测单元依次串联。测试时，通过检测由测试线的测试信号输入端输入的并由测试信号输出端输出的电信号的通断，可以判断阵列基板上的触控感测单元是否存在异常、是否存在断线现象，整个检测过程周期短、过程简单方便。

Description

一种内嵌式触摸面板和触摸显示装置

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种内嵌式触摸面板和触摸显示装置。

背景技术

现有的内嵌式触摸屏(In Cell Touch Panel)，一般将液晶显示面板(LiquidCrystal Display，LCD)的公共电极层划分为多个公共电极块，并将每一公共电极块分别通过一走线与一控制IC(integrated circuit)电连接。所述公共电极块复用做触控电极。在显示状态下，所述公共电极块用于接收公共电压信号，在触控状态下，所述公共电极块作为触控驱动电极并用于接收触控驱动信号。

目前，制造过程中，在绑上控制IC之前并没有成熟有效的检测方式来检测触控电极以及相应的触控走线是否存在异常，仅仅只能通过检测面板的显示功能来判断触控走线是否发生异常，并在显示异常时透过OM(Optical Microscope、光学显微镜)机台判断是否存在断线现象，检测过程周期长、操作繁琐。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种内嵌式触摸面板和触摸显示装置，以解决上述技术问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

第一方面，本发明实施例提供一种内嵌式触摸面板，包括：

基板；

设置在所述基板上的公共电极层，所述公共电极层包括多个触控电极；

设置在所述基板上的触控走线，所述触控走线与一个对应的所述触控电极电连接，所述触控走线及其对应的触控电极构成一个触控感测单元，所述多个触控感测单元分为至少一组触控感测单元；

多段测试线，所述多段测试线将一组所述触控感测单元依次串联。

第二方面，本发明实施例还提供一种触摸显示装置，包括上述第一方面所述的内嵌式触控面板。

本发明实施例提供的内嵌式触摸面板和触摸显示装置，通过使用多段测试线将一组触控感测单元依次串联，每一个触控感测单元由一个触控走线及其对应的一个触控电极构成。测试时，通过检测由测试线的测试信号输入端输入的并由测试信号输出端输出的电信号的通断，可以判断阵列基板上的触控感测单元是否存在异常、是否存在断线现象，整个检测过程周期短、过程简单方便。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对本发明实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据本发明实施例的内容和这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例一提供的内嵌式触摸面板的结构示意图。

图2是本发明实施例二提供的触控感测单元的一种连接示意图。

图3是本发明实施例二提供的触控感测单元的又一种连接示意图。

图4是本发明实施例二提供的3*3个阵列排布的触控感测单元的连接示意图。

图5是本发明实施例二提供的3*3个阵列排布的触控感测单元连接的等效电阻示意图。

图6是本发明实施例三提供的触控感测单元的一种连接示意图。

图7是本发明实施例三提供的触控感测单元的又一种连接示意图。

图8是本发明实施例三提供的3*3个阵列排布的触控感测单元的连接示意图。

图9是本发明实施例三提供的3*3个阵列排布的触控感测单元连接的等效电阻示意图。

附图标记说明如下：

10-基板；11-触控感测单元；110-一组触控感测单元；111-触控电极；

112-触控走线；12-测试线；13-控制线；14-小组。

具体实施方式

为使本发明解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本发明实施例的技术方案作进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例给出如下的技术方案。

实施例一：

图1是本发明实施例一提供的内嵌式触摸面板的结构示意图。

如图1所示，本发明实施例一提供一种内嵌式触摸面板，包括：

基板10；

设置在所述基板10上的公共电极层，所述公共电极层包括多个触控电极111；

设置在所述基板10上的触控走线112，所述触控走线112与一个对应的所述触控电极111电连接，所述触控走线112及其对应的触控电极111构成一个触控感测单元11，所述多个触控感测单元11分为至少一组触控感测单元110；

多段测试线12，所述多段测试线12将一组所述触控感测单元11依次串联。

具体的，所述多个触控感测单元11为M*N个触控单元11，M与N均为大于或等于1的自然数。所述M*N个触控感测单元11分为一组触控感测单元110。在所述依次串联的一组触控感测单元110中，位于第一个的触控感测单元11连接有测试信号输入端，位于最后一个的触控感测单元11连接有测试信号输出端。

在本实施例中，内嵌式触摸面板通过使用多段测试线12将一组触控感测单元110依次串联，每一个触控感测单元11由一个触控走线112及其对应的一个触控电极111构成。测试时，通过检测由测试线12的测试信号输入端输入的并由测试信号输出端输出的电信号的通断，可以判断阵列基板上的触控感测单元11是否存在异常、是否存在断线现象，整个检测过程周期短、过程简单方便。

实施例二：

本发明实施例二提供一种内嵌式触摸面板。该内嵌式触摸面板提供了一种具体的触控感测单元11的依次串联的连接方式。图2是本发明实施例二提供的触控感测单元11的一种连接示意图。

如图2所示，在实施例一的基础上，本实施例在一个触控感测单元11中，一段所述测试线12和触控电极111连接，触控走线112和另一段测试线12连接并通过该另一段测试线12连接到下一个触控感测单元11中的触控电极111。

如图2所示，第一个的触控感测单元中的触控走线的输入端连接测试信号输入端，第一个的触控感测单元中的触控走线的输出端连接第一个的触控感测单元中的触控电极TX1的输入端，第一个的触控感测单元中的触控电极TX1的输出端连接第二个的触控感测单元中的触控走线的输入端，第二个的触控感测单元中的触控走线的输出端连接第二个的触控感测单元中的触控电极TX2的输入端，第二个的触控感测单元中的触控电极TX2的输出端连接测试信号输出端。

如图3所示是本发明实施例二提供的触控感测单元11的又一种连接示意图。需要说明的是，所述薄膜晶体管设置于所述测试线12上。具体的，请参考图3，所述内嵌式触摸面板还包括薄膜晶体管，所述一段测试线12通过一个所述薄膜晶体管和所述一组触控感测单元110连接，所述薄膜晶体管用于控制测试信号从所述一段测试线12输入至触控感测单元11。

所述的内嵌式触摸面板，还包括控制线13，所述薄膜晶体管的栅极和所述控制线13连接，所述控制线13控制所述薄膜晶体管的通断。

通过控制输入薄膜晶体管的电平信号，可以控制输出薄膜晶体管的信号类型。所述薄膜晶体管可以为N型薄膜晶体管或P型薄膜晶体管，不管使用N型薄膜晶体管，还是P型薄膜晶体管，只要实现需要的电路开闭目的即可。

如图3所示，第一个的触控感测单元中的触控走线的输入端连接测试信号输入端，第一个的触控感测单元中的触控走线的输出端连接第一个的触控感测单元中的触控电极TX1的输入端，第一个的触控感测单元中的触控电极TX1的输出端连接第一薄膜晶体管的源极，第一薄膜晶体管的漏极连接第二个的触控感测单元中的触控走线的输入端，第二个的触控感测单元中的触控走线的输出端连接第二个的触控感测单元中的触控电极TX2的输入端，第二个的触控感测单元中的触控电极TX2的输出端连接第二薄膜晶体管的源极，第二薄膜晶体管的漏极连接测试信号输出端，第一薄膜晶体管的栅极和第二薄膜晶体管的栅极均连接控制线13。

图4是本发明实施例二提供的3*3个阵列排布的触控感测单元11的连接示意图。所述3*3个阵列排布的触控感测单元11分为一组触控感测单元110。

如图4所示，以3*3个阵列排布的触控感测单元11为例，所述公共电极层包括九个触控电极111，每一个所述触控电极111与一个对应的触控走线112电连接；

第一触控感测单元包括第一触控走线和第一触控电极(对应图4中的TX11)，第二触控感测单元包括第二触控走线和第二触控电极(对应图4中的TX12)，第三触控感测单元包括第三触控走线和第三触控电极(对应图4中的TX13)，第四触控感测单元包括第四触控走线和第四触控电极(对应图4中的TX21)，第五触控感测单元包括第五触控走线和第五触控电极(对应图4中的TX22)，第六触控感测单元包括第六触控走线和第六触控电极(对应图4中的TX23)，第七触控感测单元包括第七触控走线和第七触控电极(对应图4中的TX31)，第八触控感测单元包括第八触控走线和第八触控电极(对应图4中的TX32)，第九触控感测单元包括第九触控走线和第九触控电极(对应图4中的TX33)。

第一触控走线的输入端连接测试信号输入端，第一触控走线的输出端连接第一触控电极的输入端，第一触控电极的输出端连接第一薄膜晶体管的源极，第一薄膜晶体管的漏极连接第二触控走线的输入端，第二触控走线的输出端连接第二触控电极的输入端，第二触控电极的输出端连接第二薄膜晶体管的源极，第二薄膜晶体管的漏极连接第三触控走线的输入端，第三触控走线的输出端连接第三触控电极的输入端，第三触控电极的输出端连接第三薄膜晶体管的源极，第三薄膜晶体管的漏极连接第四触控走线的输入端，第四触控走线的输出端连接第四触控电极的输入端；

第四触控电极的输出端连接第四薄膜晶体管的源极，第四薄膜晶体管的漏极连接第五触控走线的输入端，第五触控走线的输出端连接第五触控电极的输入端，第五触控电极的输出端连接第五薄膜晶体管的源极，第五薄膜晶体管的漏极连接第六触控走线的输入端，第六触控走线的输出端连接第六触控电极的输入端，第六触控电极的输出端连接第六薄膜晶体管的源极，第六薄膜晶体管的漏极连接第七触控走线的输入端，第七触控走线的输出端连接第七触控电极的输入端；

第七触控电极的输出端连接第七薄膜晶体管的源极，第七薄膜晶体管的漏极连接第八触控走线的输入端，第八触控走线的输出端连接第八触控电极的输入端，第八触控电极的输出端连接第八薄膜晶体管的源极，第八薄膜晶体管的漏极连接第九触控走线的输入端，第九触控走线的输出端连接第九触控电极的输入端，第九触控电极的输出端连接第九薄膜晶体管的源极，第九薄膜晶体管的漏极连接测试信号输出端；

所述第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管、第四薄膜晶体管、第五薄膜晶体管、第六薄膜晶体管、第七薄膜晶体管、第八薄膜晶体管和第九薄膜晶体管的栅极均连接控制线13。

图5是本发明实施例二提供的3*3个阵列排布的触控感测单元11连接的等效电阻示意图。

如图5所示，3*3个阵列排布的触控感测单元11依次串联后，相当于把TX11_Line、TX11、TX12_Line、TX12、TX13_Line、TX13、TX21_Line、TX21、TX22_Line、TX22、TX23_Line、TX23、TX31_Line、TX31、TX32_Line、TX32、TX33_Line、TX33全部依次串联。由测试信号输入端输入测试信号，检测测试信号输出端输出的测试信号的通断，就可以判断该3*3个阵列排布的触控感测单元11是否存在异常、是否存在断线现象。

具体的，所述测试线12和触控走线112设置于不同层，通过不同层间打孔和/或同层间跨桥实现电连接。

在绝缘基板表面和内部形成导体层，为了实现三维立体布线，厚度方向的连接必不可少。为了实现立体连接，需要在绝缘层厚度方向制孔，在孔的内壁和孔中形成导体以实现电连接。

处于同一层且相互绝缘的两个元器件需要导通时，可以用跨桥的方式实现电连接。跨接可以把相互绝缘的元器件的两个端头跨过绝缘点搭接在一起，直接跨过绝缘点，也可以让电流绕过绝缘点附近的导线而从导线上跨过。

具体的，测试时，通过测试由所述测试信号输入端输入，并由所述测试信号输出端输出的电信号的通断，判断基板10上的触控感测单元11是否存在异常。

需要说明的，测试时，当判断出基板10上的触控感测单元11存在异常，则发出灯光提示信息和/或声音提示信息。

在本实施例中，触控显示基板提供了具体的通过采用多段测试线12将一组触控感测单元110依次串联的方式。测试时，通过检测由测试线12的测试信号输入端输入的并由测试信号输出端输出的电信号的通断，可以判断阵列基板上的触控感测单元11是否存在异常、是否存在断线现象，且在判断出有异常的情况下，还能自动发出提示信息，帮助操作人员定位，及时找到不合格基板，提高基板的检验效率。整个检测过程周期短、过程简单方便。

实施例三：

本发明实施例三提供一种内嵌式触摸面板。该内嵌式触摸面板也提供了一种具体的触控感测单元11的依次串联的连接方式。图6是本发明实施例三提供的触控感测单元11的连接示意图。

如图6所示，在实施例一的基础上，本实施例的一组所述触控感测单元11中包括相邻设置的多个第一触控感测单元和多个第二触控感测单元，两个相邻的第一触控感测单元和第二触控感测单元为一个小组14；

在一个小组14中，第一触控感测单元的触控电极和第二触控感测单元的触控电极之间通过测试线12连接；

相邻两个小组14中，第二触控感测单元的触控走线和第一触控感测单元的触控走线之间通过测试线12连接。

如图6所示，在一个小组14中，第一触控感测单元的触控电极TX1和第二触控感测单元的触控电极TX2之间通过测试线12连接；

相邻两个小组14中，第二触控感测单元的触控走线(对应的第二触控感测单元的触控电极TX2)和第一触控感测单元(对应的第三触控感测单元的触控电极TX3)的触控走线之间通过测试线12连接。

如图6所示，第一个的触控感测单元中的触控走线的输入端连接测试信号输入端，第一个的触控感测单元中的触控走线的输出端连接第一个的触控感测单元中的触控电极TX1的输入端，第一个的触控感测单元中的触控电极TX1的输出端连接第二个的触控感测单元中的触控电极TX2的输入端，第二个的触控感测单元中的触控电极TX2的输出端连接第二个的触控感测单元中的触控走线的输入端，第二个的触控感测单元中的触控走线的输出端连接第三个的触控感测单元中的触控走线的输入端，第三个的触控感测单元中的触控走线的输出端连接第三个的触控感测单元中的触控电极TX3的输入端，第三个的触控感测单元中的触控电极TX3的输出端连接第四个的触控感测单元中的触控电极TX4的输入端，第四个的触控感测单元中的触控电极TX4的输出端连接第四个的触控感测单元中的触控走线的输入端，第四个的触控感测单元中的触控走线的输出端连接测试信号输出端。

其中，第一个触控感测单元和第二个触控感测单元形成一个小组14。第三个触控感测单元和第四个触控感测单元形成一个小组14。

需要说明的是，在所述一个小组14中，所述薄膜晶体管设置在所述第一触控感测单元的触控电极和所述第二触控感测单元的触控电极之间的测试线12上；

在相邻两个小组14中，所述薄膜晶体管设置在所述第二触控感测单元的触控走线和所述第一触控感测单元的触控走线之间的测试线12上。

图7是本发明实施例三提供的又一种连接示意图。如图7所示，第一个的触控感测单元中的触控走线的输入端连接测试信号输入端，第一个的触控感测单元中的触控走线的输出端连接第一个的触控感测单元中的触控电极TX1的输入端，第一个的触控感测单元中的触控电极TX1的输出端连接第一薄膜晶体管的源极，第一薄膜晶体管的漏极连接第二个的触控感测单元中的触控电极TX2的输入端，第二个的触控感测单元中的触控电极TX2的输出端连接第二个的触控感测单元中的触控走线的输入端，第二个的触控感测单元中的触控走线的输出端连接第二薄膜晶体管的漏极，第二薄膜晶体管的源极连接第三个的触控感测单元中的触控电极TX3的输入端，第三个的触控感测单元中的触控电极TX3的输出端连接第三薄膜晶体管的源极，第三薄膜晶体管的漏极连接第四个的触控感测单元中的触控电极TX4的输入端，第四个的触控感测单元中的触控电极TX4的输出端连接第四个的触控感测单元中的触控走线的输入端，第四个的触控感测单元中的触控走线的输出端连接第四薄膜晶体管的漏极，第四薄膜晶体管的源极连接测试信号输出端，第一薄膜晶体管的栅极、第二薄膜晶体管的栅极、第三薄膜晶体管的栅极和第四薄膜晶体管的栅极均连接控制线13。

其中，第一个触控感测单元和第二个触控感测单元形成一个小组14。第三个触控感测单元和第四个触控感测单元形成一个小组14。

图8是本发明实施例三提供的3*3个阵列排布的触控感测单元11的连接示意图。所述3*3个阵列排布的触控感测单元11分为一组触控感测单元110。

如图8所示，以3*3个阵列排布的触控感测单元11为例，所述公共电极层包括九个触控电极111，每一个所述触控电极111与一个对应的触控走线112电连接；

第一触控感测单元包括第一触控走线和第一触控电极(对应图8中的TX11)，第二触控感测单元包括第二触控走线和第二触控电极(对应图8中的TX12)，第三触控感测单元包括第三触控走线和第三触控电极(对应图8中的TX13)，第四触控感测单元包括第四触控走线和第四触控电极(对应图8中的TX23)，第五触控感测单元包括第五触控走线和第五触控电极(对应图8中的TX22)，第六触控感测单元包括第六触控走线和第六触控电极(对应图8中的TX21)，第七触控感测单元包括第七触控走线和第七触控电极(对应图8中的TX31)，第八触控感测单元包括第八触控走线和第八触控电极(对应图8中的TX32)，第九触控感测单元包括第九触控走线和第九触控电极(对应图8中的TX33)。

第一触控走线的输入端连接测试信号输入端，第一触控走线的输出端连接第一触控电极的输入端，第一触控电极的输出端连接第一薄膜晶体管的源极，第一薄膜晶体管的漏极连接第二触控电极的输入端，第二触控电极的输出端连接第二触控走线的输入端，第二触控走线的输出端连接第二薄膜晶体管的源极，第二薄膜晶体管的漏极连接第三触控走线的输入端，第三触控走线的输出端连接第三触控电极的输入端，第三触控电极的输出端连接第三薄膜晶体管的源极，第三薄膜晶体管的漏极连接第四触控电极的输入端；

第四触控电极的输出端连接第四触控走线的输入端，第四触控走线的输出端连接第四薄膜晶体管的漏极，第四薄膜晶体管的源极连接第五触控走线的输入端，第五触控走线的输出端连接第五触控电极的输入端，第五触控电极的输出端连接第五薄膜晶体管的漏极，第五薄膜晶体管的源极连接第六触控电极的输入端，第六触控电极的输出端连接第六触控走线的输入端，第六触控走线的输出端连接第六薄膜晶体管的源极，第六薄膜晶体管的漏极连接第七的输入端，第七触控走线的输出端连接第七触控电极的输入端；

第七触控电极的输出端连接第七薄膜晶体管的源极，第七薄膜晶体管的漏极连接第八触控电极的输入端，第八触控电极的输出端连接第八触控走线的输入端，第八触控走线的输出端连接第八薄膜晶体管的源极，第八薄膜晶体管的漏极连接第九触控走线的输入端，第九触控走线的输出端连接第九触控电极的输入端，第九触控电极的输出端连接第九薄膜晶体管的源极，第九薄膜晶体管的漏极连接测试信号输出端；

所述第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管、第四薄膜晶体管、第五薄膜晶体管、第六薄膜晶体管、第七薄膜晶体管、第八薄膜晶体管和第九薄膜晶体管的栅极均连接控制线13。

图9是本发明实施例三提供的3*3个阵列排布的触控感测单元11连接的等效电阻示意图。

如图9所示，3*3个阵列排布的触控感测单元11依次串联后，相当于把TX11_Line、TX11、TX12、TX12_Line、TX13_Line、TX13、TX23、TX23_Line、TX22_Line、TX22、TX21、TX21_Line、TX31_Line、TX31、TX32、TX32_Line、TX33_Line、TX33全部依次串联。根据由测试信号输入端输入的测试信号，检测测试信号输出端输出的电信号的通断，以此可以判断该3*3个阵列排布的触控感测单元11是否存在异常、是否存在断线现象。

具体的，所述一组触控感测单元110中包括多个排列成一行或者一列的触控电极111。

具体的，所述一组触控感测单元110中包括多个排列成多行或者多列的触控电极111。

当然，上述各种具体的触控感测单元11的依次串联的连接方式，本领域技术人员还可以根据公知常识，在本技术方案的技术背景下，选用不同的组合方式以实现依次串联的目的，此处不再一一举例赘述。

在本实施例中，触控显示基板提供了具体的通过多段测试线12将一组触控感测单元110依次串联的方法。该方法把相邻的触控电极111直接通过薄膜晶体管连接，采用的布线更少，电路设计更简单。测试时，通过检测由测试线12的测试信号输入端输入的并由测试信号输出端输出的电信号的通断，可以判断阵列基板上的触控感测单元11是否存在异常、是否存在断线现象。整个检测过程周期短、过程简单方便。

实施例四：

以下为本发明实施例提供的触摸显示装置的实施例。触摸显示装置的实施例与上述的内嵌式触摸面板实施例属于同一构思，触摸显示装置的实施例中未详尽描述的细节内容，可以参考上述内嵌式触摸面板实施例。

本实施例提供的触摸显示装置，包括上述实施例一至三任意一个内嵌式触摸面板，关于相关的工作原理的描述和相关概念的解释与说明，请参见上述实施例一至三，在此不再赘述。

本发明实施例四提供一种触摸显示装置，包括上述的内嵌式触控面板。

本实施例提供的触摸显示装置，通过采用多段测试线12将一组触控感测单元110依次串联，每一个触控感测单元11由一个触控走线112及其对应的一个触控电极111构成。测试时，通过检测由测试线12的测试信号输入端输入的并由测试信号输出端输出的电信号的通断，可以判断阵列基板上的触控感测单元11是否存在异常、是否存在断线现象，整个检测过程周期短、过程简单方便。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (7)

1.一种内嵌式触摸面板，其特征在于，包括：

基板；

设置在所述基板上的公共电极层，所述公共电极层包括多个触控电极；

设置在所述基板上的触控走线，所述触控走线与一个对应的所述触控电极电连接，所述触控走线及其对应的触控电极构成一个触控感测单元，所述多个触控感测单元分为至少一组触控感测单元；

多段测试线，所述多段测试线将一组所述触控感测单元依次串联；

依次串联的一组触控感测单元中，位于第一个的触控感测单元连接有测试信号输入端，位于最后一个的触控感测单元连接有测试信号输出端；

一段测试线通过一个薄膜晶体管和所述一组触控感测单元连接，所述薄膜晶体管用于控制测试信号从所述一段测试线输入至触控感测单元，以实现对所述一组触控感测单元是否存在异常的检测，部分所述薄膜晶体管和所述测试线设置于至少两个触控电极之间；

所述测试线和所述触控走线设置于不同层，通过不同层间打孔和/或同层间跨桥实现电连接；

所述多个触控电极呈多行和多列的阵列排布；

一组所述触控感测单元中包括相邻设置的多个第一触控感测单元和多个第二触控感测单元，两个相邻的第一触控感测单元和第二触控感测单元为一个小组；

在一个小组中，第一触控感测单元的触控电极和第二触控感测单元的触控电极之间通过测试线连接，其中，所述一个小组中的所述测试线位于所述第一触控感测单元的触控电极和所述第二触控感测单元的触控电极之间；

相邻两个小组中，第二触控感测单元的触控走线和第一触控感测单元的触控走线之间通过测试线连接；

在所述一个小组中，所述薄膜晶体管设置在所述第一触控感测单元的触控电极和所述第二触控感测单元的触控电极之间的测试线上；且所述薄膜晶体管在所述基板上的正投影位于所述第一触控感测单元在所述基板上的正投影和所述第二触控感测单元在所述基板上的正投影的正对区域内；

在相邻两个小组中，所述第一触控感测单元的触控走线和所述第二触控感测单元的触控走线分别直接通过一段测试线与所述薄膜晶体管的两端连接。

2.根据权利要求1所述的内嵌式触摸面板，其特征在于，还包括控制线，所述薄膜晶体管的栅极和所述控制线连接，所述控制线控制所述薄膜晶体管的通断。

3.根据权利要求1所述的内嵌式触摸面板，其特征在于，所述一组触控感测单元中包括多个排列成一行或者一列的触控电极。

4.根据权利要求1所述的内嵌式触摸面板，其特征在于，所述一组触控感测单元中包括多个排列成多行或者多列的触控电极。

5.根据权利要求1所述的内嵌式触摸面板，其特征在于，测试时，通过测试由所述测试信号输入端输入，并由所述测试信号输出端输出的电信号的通断，判断基板上的触控感测单元是否存在异常。

6.根据权利要求5所述的内嵌式触摸面板，其特征在于，测试时，当判断出基板上的触控感测单元存在异常，则发出灯光提示信息和/或声音提示信息。

7.一种触摸显示装置，其特征在于，包括权利要求1至6任意一项所述的内嵌式触控面板。