CN113867569A - 一种触控面板及其检测方法和显示装置 - Google Patents

一种触控面板及其检测方法和显示装置 Download PDF

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张竟
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Abstract

本发明提供了一种触控面板及其检测方法和显示装置，在对触控面板进行检测时，在所述测试阶段将所述所有所述触控电极依次串联，并对串联的所有所述触控电极输入检测信号，且将串联的所有所述触控电极输出的反馈信号进行分析判断；在所述非测试阶段将所述所有所述触控电极之间相互隔离。由此通过简单的控制所有触控电极之间测试时串联且非测试时相互隔离的方式，即能够对触控电极进行是否异常的检测，提高了触控电极的检测效率，且降低了检测难度。

Description

一种触控面板及其检测方法和显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，更为具体地说，涉及一种触控面板及其检测方法和显示装置。
背景技术
随着显示技术的飞速发展，触控显示装置已经逐渐遍及人们的生活中。目前，触控显示装置按照组成结构可以分为：外挂式、表面覆盖式以及内嵌式，其中，内嵌(In cell)式触控显示装置将触控电极内嵌在显示面板内部，可以减薄显示模组整体的厚度，又可以大大降低触控显示装置的制作成本，使其受到各大面板厂家青睐。
现有的内嵌式触摸屏(In Cell Touch Panel)，一般将显示面板中的一个电极层划分为多个触控电极块，并将每一触控电极块分别通过一走线与一控制IC(integratedcircuit)电连接。目前，制造过程中，在绑定控制IC之前并没有成熟有效的检测方式来检测触控电极是否存在异常，仅仅只能通过检测面板的显示功能来判断触控电极是否发生异常，检测过程周期长、操作繁琐。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种触控面板及其检测方法和显示装置，有效解决了现有技术存在的技术问题，提高了触控电极的检测效率，且降低了检测难度。
为实现上述目的，本发明提供的技术方案如下：
一种触控面板，包括：
基板；
位于所述基板一侧的触控电极阵列，所述触控电极阵列包括多个阵列排布的触控电极；
以及，与所述触控电极阵列电连接的测试线路，所述测试线路用于在测试阶段将所有所述触控电极依次串联，且在非测试阶段所有所述触控电极之间相互电隔离。
相应的，本发明还提供了一种触控面板的检测方法，应用于上述的触控面板，其中，所述检测方法包括：
在所述测试阶段将所述所有所述触控电极依次串联，并对串联的所有所述触控电极输入检测信号，且将串联的所有所述触控电极输出的反馈信号进行分析判断；
在所述非测试阶段将所述所有所述触控电极之间相互隔离。
相应的，本发明还提供了一种显示装置，所述显示装置包括上述的触控面板。
相较于现有技术，本发明提供的技术方案至少具有以下优点：
本发明提供了一种触控面板及其检测方法和显示装置，包括：基板；位于所述基板一侧的触控电极阵列，所述触控电极阵列包括多个阵列排布的触控电极；以及，与所述触控电极阵列电连接的测试线路，所述测试线路用于在测试阶段将所有所述触控电极依次串联，且在非测试阶段所有所述触控电极之间相互电隔离。
本发明提供的技术方案，在对触控面板进行检测时，在所述测试阶段将所述所有所述触控电极依次串联，并对串联的所有所述触控电极输入检测信号，且将串联的所有所述触控电极输出的反馈信号进行分析判断；在所述非测试阶段将所述所有所述触控电极之间相互隔离。由此通过简单的控制所有触控电极之间测试时串联且非测试时相互隔离的方式，即能够对触控电极进行是否异常的检测，提高了触控电极的检测效率，且降低了检测难度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种触控面板的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的另一种触控面板的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的一种触控电极的结构示意图；
图4为本发明实施例提供的另一种触控电极的结构示意图；
图5为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图6为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图7为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图8为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图9为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图10为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图11为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图12为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图13为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图14为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图15为图14中AA’方向的切面图；
图16为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图17为图16中A1区域的放大图；
图18为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图19为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图20为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图21为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图22为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图；
图23为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
正如背景技术所述，现有的内嵌式触摸屏(In CellTouch Panel)，一般将显示面板中的一个电极层划分为多个触控电极块，并将每一触控电极块分别通过一走线与一控制IC(integrated circuit)电连接。目前，制造过程中，在绑定控制IC之前并没有成熟有效的检测方式来检测触控电极是否存在异常，仅仅只能通过检测面板的显示功能来判断触控电极是否发生异常，检测过程周期长、操作繁琐。
基于此，本发明实施例提供了一种触控面板及其检测方法和显示装置，有效解决了现有技术存在的技术问题，提高了触控电极的检测效率，且降低了检测难度。
为实现上述目的，本发明实施例提供的技术方案如下，具体结合图1至图23对本发明实施例提供的技术方案进行详细的描述。
参考图1所示，为本发明实施例提供的一种触控面板的结构示意图，其中，触控面板包括：
基板10。
位于所述基板10一侧的触控电极阵列20，所述触控电极阵列包括多个阵列排布的触控电极21
以及，与所述触控电极阵列20电连接的测试线路30，所述测试线路30用于在测试阶段将所有所述触控电极21依次串联，且在非测试阶段所有所述触控电极21之间相互电隔离。
可以理解的，本发明实施例提供触控面板，在对触控面板进行检测时，在所述测试阶段将所述所有所述触控电极依次串联，并对串联的所有所述触控电极输入检测信号，且将串联的所有所述触控电极输出的反馈信号进行分析判断；在所述非测试阶段将所述所有所述触控电极之间相互隔离。由此通过简单的控制所有触控电极之间测试时串联且非测试时相互隔离的方式，即能够对触控电极进行是否异常的检测，提高了触控电极的检测效率，且降低了检测难度。
在本发明一种实施例中，本发明所提供的检测信号和反馈信号可以均为电压信号或电流信号。具体的，在对触控面板进行检测时，首先将触控电极依次串联后，对串联的触控电极输入检测信号，检测信号正常情况下会经过串联的触控电极后生产反馈信号且自最后一个触控电极输出，进而能够根据反馈信号是否符合预期来判断触控电极中是否有异常的情况。同时，在非测试阶段可以将所有触控电极之间隔离，进而对触控电极正常工作不造成影响，保证触控面板的正常工作。
如图2所示，为本发明实施例提供的另一种触控面板的结构示意图，其中，所述测试线路30包括多条测试引出线，所述触控电极21包括第一连接端201和第二连接端202，同一所述触控电极21中，所述第一连接端201与所述第二连接端202之间的距离a大于零。
所述多条测试引出线包括第一测试引出线31和第二测试引出线32，所述第一测试引出线31与所述触控电极21的第一连接端201电连接，所述第二测试引出线32与所述触控电极21的第二连接端202电连接；所述第一测试引出线31延伸至第一区域41，所述第二测试引出线32延伸至第二区域42；沿第一方向Y，所述第一区域41和所述第二区域42位于所述触控电极21两侧，所述第一方向Y为与所述触控面板平行的任意方向。
本发明实施例提供的所有触控电极21可以呈多行*多列的阵列排布，其中测试引出线可以位于相邻触控电极21之间对应区域处；或者，当触控电极21和测试引出线异层设置时，测试引出线在基板10上的正投影还可以穿过触控电极21在基板10上的正投影，对此本发明不作具体限制。
本发明实施例提供的测试引出线位于相邻触控电极21之间对应区域处时，且第一方向Y为触控电极行排列方向时，与相同列触控电极21相连的第一测试引出线31可以位于触控电极21在第二方向的同侧，且与相同列触控电极21相连的第二测试引出线32可以位于触控电极21在第二方向的同侧，并且与相同列触控电极21相连的第一测试引出线31和第二测试引出线32分别位于触控电极21在第二方向的两侧，第二方向为触控电极列排列方向，进而便于第一测试引出线31之间相连，及便于第二测试引出线32之间相连。
可以理解的，本发明实施例提供的触控面板中，将第一测试引出线延伸至第一区域，且将第二测试引出线延伸至第二区域，进而能够便于在第一区域将不同第一测试引出线之间按照设定方式连通，及能够便于在第二区域将不同第二测试引出线之间按照设定方式连通，同时连通第一测试引出线的结构与连通第二测试引出线的结构之间相互不造成影响，优化了触控面板上的线路布局。
如图2所示，本发明提供的基板10上还包括有一控制芯片IC，其中，本发明实施例提供的第一方向Y可以为触控电极阵列20至控制芯片IC的方向，对此本发明不做具体限制。
需要说明的是，本发明实施例提供的第一区域和第二区域的主要表面的是第一测试引出线和第二测试引出线所延伸的方向，亦即第一测试引出线和第二测试引出线在第一方向上向着相反的方向延伸，本发明对于第一区域和第二区域的尺寸大小并不限定。
在本发明一实施例中，为了对触控电极的大部分区域进行检测，触控电极的第一连接端和第二连接端之间可以设置较大的间距。如图3所示，为本发明实施例提供的一种触控电极的结构示意图，其中，所述触控电极21的第一连接端201和第二连接端端202分别位于所述触控电极21在其最长两点间距的连线的延伸方向X上的两端侧。
结合图3所示，本发明实施例提供的触控电极21为矩形时，第一连接端201和第二连接端202可以位于矩形的触控电极21的对角线的延伸方向上的两端。
或者如图4所示，本发明实施例提供的触控电极21还可以为菱形，第一连接端201和第二连接端202可以位于菱形的触控电极21的最长对角线的延伸方向上的两端。
需要说明的是，本发明实施例提供的触控电极可以为矩形、菱形等规则图形，还可以为其他不规则图形，对此本发明不做具体限制。
在本发明一实施例中，本发明提供的测试引出线可以通过连接模块相关结构连接，而后通过对连接模块进行控制等驱动操作，达到在测试阶段将所有触控电极串联及在非测试阶段将触控电极之间相互隔离的目的。如图5所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，其中，测试引出线包括第一测试引出线31和第二测试引出线32，以及，第一测试引出线31延伸至第一区域41，第二测试引出线32延伸至第二区域42。
并且，本发明实施例提供的所述测试线路30包括多个连接模块33；所述触控电极21中，第n个所述触控电极的所述第一测试引出线31与第n-1个所述触控电极的所述第一测试引出线31之间通过所述连接模块电连接，第n个所述触控电极的所述第二测试引出线32与第n+1个所述触控电极的所述第二测试引出线32之间通过所述连接模块33电连接；其中，n为正整数，且n≥3。
本发明实施例提供的连接模块可以为晶体管。如图6所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，其中，本发明实施例提供的所述连接模块33包括连接晶体管331，所述连接晶体管331的第一极与所述连接模块33电连接的两个触控电极21中之一者电连接，所述连接晶体管331的第二极与所述连接模块33电连接的两个触控电极21中另一者电连接，及所述连接晶体管331的栅极接入连接控制信号；所述连接控制信号用于在所述测试阶段控制所述连接晶体管331导通，且在所述非测试阶段控制所述连接晶体管331断开。
可以理解的，本发明实施例提供的连接晶体管通过测试引出线与触控电极电连接，亦即，连接晶体管通过第一测试引出线和第二测试引出线与触控电极电连接。在测试阶段可以通过连接控制信号控制所有连接晶体管导通，进而能够将所有触控电极之间串联；且在非测试阶段，可以通过连接控制信号控制所有连接晶体管关断，进而能够将所有触控电极之间相互隔离。
本发明实施例提供的连接晶体管可以为N型晶体管或P型晶体管。可选的，本发明实施例提供的所有晶体管的导通类型相同，进而能够通过一个信号端口来控制所有连接晶体管。如图7所示，本发明实施例提供的所有连接晶体管331的导通类型相同，所有连接晶体管331均为N型晶体管或P型晶体管，且所有连接晶体管331接入的所述连接控制信号由同一信号端Sn输出，通过将所有连接晶体管331的导通类型设置为相同，能够节省信号端口的数量，优化布线结构。
如图8所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，其中，本发明实施例提供的所述触控电极21包括接入触控电极211和接出触控电极212，所述接入触控电极211的一连接端与第一测试端子210电连接，所述第一测试端子210接入检测信号，所述接出触控电极212的一连接端与第二测试端子220电连接，所述第二测试端子220输出反馈信号；所述第一测试端子210和所述第二测试端子220位于所述第一区域41。其中，本发明实施例提供的接入触控电极211和接出触控电极212即为所有触控电极21上一连接端均未与连接模块33相连的两个触控电极21，亦即，所有触控电极21串联后的首个触控电极和末尾触控电极。
可以理解的，本发明实施例提供的所有触控电极中，其中之二分别为接入触控电极和接出触控电极，接入触控电极用于接入检测信号，进而在所有触控电极串联时将检测信号由接入触控电极接入且流经所有触控电极；并且，接出触控电极用于输出反馈信号，进而在检测信号流经所有触控电极后，在接出触控电极处生成反馈信号并输出，以根据反馈信号来判断串联的触控电极是否有异常。
如图8所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，其中，本发明实施例提供的触控面板还包括检测接入晶体管M1，所述检测接入晶体管M1的第一端接入所述检测信号，所述检测接入晶体管M1的第二端与所述接入触控电极211的第一连接端电连接，所述检测接入晶体管M1的栅极接入检测接入控制信号。以及检测输出晶体管M2，所述检测输出晶体管M2的第一端与所述接出触控电极212的第一连接端电连接，所述检测输出晶体管M2的第二端输出所述反馈信号，所述检测输出晶体管M2的栅极接入检测输出控制信号。
可以理解的，本发明实施例可以通过检测接入晶体管和检测输出晶体管来控制信号的接入和输出，同时能够将信号与触控电极之间进行隔离，避免在非测试阶段时测试端子处的异常信号对与其连接的触控电极造成干扰。
在本发明一实施例中，本发明提供的检测接入晶体管和检测输出晶体管可以为N型晶体管或P型晶体管。可选的，本发明实施例提供的检测接入晶体管和检测输出晶体管的导通类型可以相同，进而能够通过同一信号端口输出控制信号来控制此两个晶体管，减少信号端口的数量。如图8所示，本发明实施例提供的检测接入晶体管M1和检测输出晶体管M2的导通类型可以相同；且进一步的，检测接入晶体管M1和检测输出晶体管M2的导通类型与连接晶体管331的导通类型相同，检测接入晶体管M1、检测输出晶体管M2和连接晶体管331均通过信号端口Sn输出的控制信号来同时控制导通或截止。即在测试阶段，信号端口Sn输出控制信号控制检测接入晶体管M1、检测输出晶体管M2和连接晶体管331均导通，连接晶体管331以将所有触控电极21相串联，检测接入晶体管M1将检测信号接入至串联的触控电极21中，且检测输出晶体管M2将反馈信号输出。以及，在非测试阶段，信号端口Sn输出控制信号控制检测接入晶体管M1、检测输出晶体管M2和连接晶体管331均截止，所有触控电极21之间相互隔离，且停止检测信号的输入和反馈信号的输出。
在本发明一实施例中，本发明所提供的测试引出线位于显示区的部分，可以对应于触控面板的遮光区域处，进而避免测试引出线对触控面板的开口率造成影响。如图9所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，其中，所述触控面板包括显示区AA，且所述触控电极阵列20(触控电极21)位于所述显示区AA；所述显示区AA包括位于所述基板10与所述触控电极阵列20之间的像素定义层50，所述像素定义层50包括多个像素开口，位于所述像素开口内的发光元件51；其中，所述测试引出线(第一测试引出线31和/或第二测试引出线32)位于所述像素定义层50背离所述基板10一侧，且所述测试引出线在所述基板10上的正投影34，与相邻两个所述像素开口在所述基板10上的正投影52之间的区域至少部分重叠。
需要说明的是，本发明实施例提供的触控电极阵列20中，触控电极21可以为块状电极、金属网格电极等，对此本发明不做具体限制。其中，本发明实施例提供的触控电极为金属网格电极时，金属网格电极的网格线在基板10上的正投影，位于相邻像素开口在基板10上正投影之间的区域，亦即，网格线位于触控面板的遮光区域，避免网格线对触控面板的透光造成影响。
更具体的如图10所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，本发明实施例提供的触控面板包括位于像素定义层50和基板10之间的晶体管阵列层，其中晶体管阵列层包括位于基板10上的半导体层61，半导体层61包括组成晶体管的有源区；位于半导体层61背离基板10一侧的栅极绝缘层62；位于栅极绝缘层62背离基板10一侧的栅金属层63，栅金属层63包括组成晶体管的栅极；位于栅金属层63背离基板10一侧的层间绝缘层64；位于层间绝缘层64背离基板10一侧的源漏金属层65，源漏金属层65包括组成晶体管的源极和漏极，且源极和漏极分别通过各自的过孔与有源区相连通；以及，位于源漏金属层65背离基板10一侧的平坦化层66。
如图10所示，本发明实施例提供的发光元件51包括位于平坦化层66背离基板10一侧的阳极511；位于阳极511背离基板10一侧且位于像素开口中的发光层512；以及，位于发光层512背离基板10一侧的阴极513，其中，阴极513可以为整面结构。
如图10所示，本发明实施例提供的阴极513背离基板10一侧设置有封装层70，且触控电极阵列20(触控电极21)和测试引出线均位于封装层70背离基板10一侧。
在本发明一实施例中，本发明所提供的触控电极与测试引出线可以为同层，即触控电极和测试引出线通过相同导电薄膜制备而成。如图11所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，其中，触控电极21与测试引出线31(32)位于同层。
或者，本发明实施例提供的触控电极与测试引线还可以为异层结构，此时测试引出线与触控电极之间通过过孔相连。如图10所示，本发明实施例提供的触控电极21位于测试引出线31(32)背离基板10一侧，且触控电极21与测试引出线31(32)之间具有绝缘层67，其中，将触控电极21设置于测试引出线31(32)背离基板10一侧，进而能够减小触控电极21与触控物体之间的间距，提高触控效果。
或如图12所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，其中，本发明实施例提供的测试引出线31(32)和触控电极21之间异层设置，测试引出线31(32)位于触控电极21背离基板10一侧，且触控电极21与测试引出线31(32)之间具有绝缘层67，对此本发明不作具体限制。
如图13所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，其中，本发明实施例提供的所有所述触控电极21呈多行*多列的阵列排布，且所述触控电极21与所述测试引出线31(32)异层设置；在任意一列所述触控电极21处，与该列所述触控电极21相连的所述测试引出线31(32)在所述基板10上的正投影，与该列所述触控电极21在所述基板10上的正投影至少部分重叠，通过将触控电极21与测试引出线31(32)交叠方式设置，能够保证触控电极21的面积较大，优化触控面板的触控效果。
结合图14和图15所示，图14为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，图15为图14中AA’方向的切面图，本发明实施例提供的触控电极21位于测试引出线31(32)背离基板10的一侧。其中，所述触控电极21为网格触控电极，其中网格触控电极的镂空区裸露发光元件51。所述测试引出线31(32)在所述基板10上的正投影覆盖所述网格触控电极21的网格线在所述基板10上的正投影；其中，所述网格触控电极21的网格线的宽度a1小于所述测试引出线31(32)的宽度a2。进一步的，0.2μm≤a2-a1≤1μm。
可以理解的，本发明实施例提供的触控面板中，测试引出线先于网格触控电极制备，在测试引出线制备完毕后，需要在测试引出线背离基板一侧制备一绝缘薄膜层；其中，由于测试引出线的存在，薄膜绝缘层在测试引出线的两侧处是有坡度的，因此，至少在测试引出线与网格线的交叠区域处，将网格线的宽度设计为小于测试引出线的宽度，且网格线完全在测试引出线的占用区域范围内，能够避免制备网格线时材料在绝缘薄膜层的坡度处外流的情况，进而能够避免出现线路短路、断路等异常情况。
结合图16和图17所示，图16为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，图17为图16中A1区域的放大图。其中，本发明实施例提供的所述触控面板包括与所述测试引出线31(32)异层设置的接地线GND；其中，所述测试引出线31(32)包括尖端部301，所述尖端部301的尖端朝向所述接地线GND，进而能够通过尖端放电原理将测试引出线31(32)上传递的静电释放至接地线GND上，提高触控面板的抗静电能力。
进一步如图17所示，本发明实施例提供的所述尖端部301的至少尖端处与所述接地线GND，在垂直于所述触控面板所在平面的方向上有交叠区域，进一步提高触控面板的抗静电能力。
在本发明一实施例中，本发明提供的连接模块可以设置于触控电极阵列所在区域之外，进而避免连接模块对触控电极阵列所在区域处线路结构造成影响。具体如图16所示，本发明实施例提供的所述连接模块33与所述触控电极阵列20在所述触控面板的厚度方向(亦即在垂直于所述触控面板所在平面的方向)上不交叠。
可选的，本发明实施例提供的连接模块可以位于触控面板的边框区。如图18所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，其中，本发明实施例提供的所述触控面板包括显示区AA，及至少部分围绕所述显示区AA的边框区NA；其中，所述触控电极阵列20位于所述显示区AA，所述连接模块33位于所述边框区NA。其中，本发明实施例提供的连接模块33位于边框区NA时，连接模块33可以包括连接晶体管，通过连接晶体管将触控电极21之间可控连接，进而实现测试阶段将所有触控电极21串联，且在非测试阶段将所有触控电极21之间隔离的目的。
可选的，本发明实施例提供的触控面板还可以为未进行切割前的未成品面板，其中连接模块可以部分位于触控面板的切割区且部分位于边框区；或者，连接模块可以全部位于切割区。如图19所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，其中，本发明实施例提供的所述触控面板包括显示区AA，至少部分围绕所述显示区的边框区NA，位于所述边框区NA远离所述显示区AA一侧的切割区SNA；其中，所述触控电极阵列20位于所述显示区AA；所述连接模块33包括第一部分和第二部分，所述第一部分的连接模块331位于所述切割区SNA，所述第二部分的连接模块332位于所述边框区NA。本发明实施例提供的触控面板在切割前进行测试，其中在测试阶段，连接模块33将所有触控电极21串联而进行测试；而在非测试阶段，可以将切割区SNA去除，进而将该第二部分的连接模块332去除，同时将第一部分的连接模块331断开，达到将所有触控电极21之间隔离的目的。
在本发明一实施例中，测试引出线需要跨边框区NA至切割区SNA，本发明提供的测试引出线的整条线路的材质可以一致，如触控电极为金属网格电极且触控电极与测试引出线同层时，测试引出线可以为Ti-Al-Ti的叠层复合材料。进一步的，本发明实施例提供的测试引出线还可以分段，对不同段的材质设置为不同，如将触控面板划分为两区域，其中第一划分区域为边框区NA和切割区SNA的跨界部分，第二划分区域为剩余区域的部分，其中，测试引出线在第二划分区域的材料可以为Ti-Al-Ti的叠层复合材料时，由于测试引出线位于切割区SNA的部分需要被切割，为了避免切割后测试引出线在边框区NA边缘处裸露的Al层被腐蚀，测试引出线在第一划分区域的部分可以与栅金属层或源漏金属层同层，具体测试引出线在第一划分区域的材质可以采用的Mo材料。
或者如图20所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，其中，本发明实施例提供的所述触控面板包括显示区AA，至少部分围绕所述显示区的边框区NA，位于所述边框区NA远离所述显示区AA一侧的切割区SNA；其中，所述触控电极阵列20位于所述显示区AA；所有所述连接模块33位于所述切割区SNA。本发明实施例提供的触控面板在切割前进行测试，其中在测试阶段，连接模块33将所有触控电极21串联而进行测试；而在非测试阶段，可以将切割区SNA去除，进而将所有连接模块33去除，达到将所有触控电极21之间隔离的目的。
在本发明一实施例中，本发明所提供的第一测试端子210和第二测试端子220可以位于边框区NA，还可以为位于切割区SNA，对此本发明不做具体限制。
如图21所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，其中，本发明实施例提供的位于所述切割区SNA的连接模块33包括短接线332，所述短接线332的第一端与所述连接模块33电连接的两个触控电极21中之一者电连接，所述短接线332的第二端与所述连接模块33电连接的两个触控电极21中另一者电连接。
可选的，本发明实施例提供的位于切割区的连接模块还可以为连接晶体管，对此本发明不做具体限制。
在本发明一实施例中，本发明提供的测试引出线还可以复用为与触控引线与控制芯片相连，进而通过测试引出线为触控电极提供触控信号。其中，本发明实施例提供的非测试阶段时，触控电极之间处于相互隔离状态，因此测试引出线之间相互隔离，对此，可以将测试引出线复用为触控引线，进而能够减少触控面板上的布线数量。如图22所示，为本发明实施例提供的又一种触控面板的结构示意图，其中，本发明实施例提供的第一测试引出线31均与触控芯片IC相连后延伸至切割区SNA。其中，在测试阶段时控制芯片IC对其与第一测试引出线31的连接端浮置而不施加信号；且在非测试阶段时，由于切割区SNA处连接模块33被切除，不同触控电极21之间由串联关系转变为相互隔离的独立结构，此时，控制芯片IC可以通过第一测试引出线31为触控电极21施加触控信号。
相应的，本发明实施例还提供了一种触控面板的检测方法，应用于上述任意一实施例提供的触控面板，其中，所述检测方法包括：
在所述测试阶段将所述所有所述触控电极依次串联，并对串联的所有所述触控电极输入检测信号，且将串联的所有所述触控电极输出的反馈信号进行分析判断。
在所述非测试阶段将所述所有所述触控电极之间相互隔离。
相应的，本发明实施例还提供了一种显示装置，所述显示装置包括上述任意一实施例提供的触控面板。
如图23所示，为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图，其中，本发明实施例提供的显示装置1000可以为移动终端设备。
在本发明其他实施例中，本发明提供的显示装置还可以为电脑、车载终端等电子显示设备，对此本发明不做具体限制。
本发明实施例提供了一种触控面板及其检测方法和显示装置，包括：基板；位于所述基板一侧的触控电极阵列，所述触控电极阵列包括多个阵列排布的触控电极；以及，与所述触控电极阵列电连接的测试线路，所述测试线路用于在测试阶段将所有所述触控电极依次串联，且在非测试阶段所有所述触控电极之间相互电隔离。
本发明实施例提供的技术方案，在对触控面板进行检测时，在所述测试阶段将所述所有所述触控电极依次串联，并对串联的所有所述触控电极输入检测信号，且将串联的所有所述触控电极输出的反馈信号进行分析判断；在所述非测试阶段将所述所有所述触控电极之间相互隔离。由此通过简单的控制所有触控电极之间测试时串联且非测试时相互隔离的方式，即能够对触控电极进行是否异常的检测，提高了触控电极的检测效率，且降低了检测难度。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (19)

1.一种触控面板，其特征在于，包括：
基板；
位于所述基板一侧的触控电极阵列，所述触控电极阵列包括多个阵列排布的触控电极；
以及，与所述触控电极阵列电连接的测试线路，所述测试线路用于在测试阶段将所有所述触控电极依次串联，且在非测试阶段所有所述触控电极之间相互电隔离。
2.根据权利要求1所述的触控面板，其特征在于，所述测试线路包括多条测试引出线，所述触控电极包括第一连接端和第二连接端，同一所述触控电极中，所述第一连接端与所述第二连接端之间的距离大于零；
所述多条测试引出线包括第一测试引出线和第二测试引出线，所述第一测试引出线与所述触控电极的第一连接端电连接，所述第二测试引出线与所述触控电极的第二连接端电连接；所述第一测试引出线延伸至第一区域，所述第二测试引出线延伸至第二区域；沿第一方向，所述第一区域和所述第二区域位于所述触控电极两侧，所述第一方向为与所述触控面板平行的任意方向。
3.根据权利要求2所述的触控面板，其特征在于，所述测试线路包括多个连接模块；
所述触控电极中，第n个所述触控电极的所述第一测试引出线与第n-1个所述触控电极的所述第一测试引出线之间通过所述连接模块电连接，第n个所述触控电极的所述第二测试引出线与第n+1个所述触控电极的所述第二测试引出线之间通过所述连接模块电连接；其中，n为正整数，且n≥3。
4.根据权利要求2所述的触控面板，其特征在于，所述触控电极包括接入触控电极和接出触控电极，所述接入触控电极的一连接端与第一测试端子电连接，所述第一测试端子接入检测信号，所述接出触控电极的一连接端与第二测试端子电连接，所述第二测试端子输出反馈信号；所述第一测试端子和所述第二测试端子位于所述第一区域。
5.根据权利要求4所述的触控面板，其特征在于，还包括检测接入晶体管，所述检测接入晶体管的第一端接入所述检测信号，所述检测接入晶体管的第二端与所述接入触控电极的第一连接端电连接，所述检测接入晶体管的栅极接入检测接入控制信号；
以及检测输出晶体管，所述检测输出晶体管的第一端与所述接出触控电极的第一连接端电连接，所述检测输出晶体管的第二端输出所述反馈信号，所述检测输出晶体管的栅极接入检测输出控制信号。
6.根据权利要求2所述的触控面板，其特征在于，所述触控电极的第一连接端和第二连接端端分别位于所述触控电极在其最长两点间距的连线的延伸方向上的两端侧。
7.根据权利要求2所述的触控面板，其特征在于，所述触控面板包括显示区，且所述触控电极阵列位于所述显示区；
所述显示区包括位于所述基板与所述触控电极阵列之间的像素定义层，所述像素定义层包括多个像素开口，位于所述像素开口内的发光元件；
其中，所述测试引出线位于所述像素定义层背离所述基板一侧，且所述测试引出线在所述基板上的正投影，与相邻两个所述像素开口在所述基板上的正投影之间的区域至少部分重叠。
8.根据权利要求2所述的触控面板，其特征在于，所有所述触控电极呈多行*多列的阵列排布，且所述触控电极与所述测试引出线异层设置；
在任意一列所述触控电极处，与该列所述触控电极相连的所述测试引出线在所述基板上的正投影，与该列所述触控电极在所述基板上的正投影至少部分重叠。
9.根据权利要求8所述的触控面板，其特征在于，所述触控电极为网格触控电极，所述测试引出线在所述基板上的正投影覆盖所述网格触控电极的网格线在所述基板上的正投影；
其中，所述网格触控电极的网格线的宽度小于所述测试引出线的宽度。
10.根据权利要求2所述的触控面板，其特征在于，所述触控面板包括与所述测试引出线异层设置的接地线；
其中，所述测试引出线包括尖端部，所述尖端部的尖端朝向所述接地线。
11.根据权利要求10所述的触控面板，其特征在于，所述尖端部的至少尖端处与所述接地线，在垂直于所述触控面板所在平面的方向上有交叠区域。
12.根据权利要求3所述的触控面板，其特征在于，所述连接模块包括连接晶体管，所述连接晶体管的第一端与所述连接模块电连接的两个触控电极中之一者电连接，所述连接晶体管的第二端与所述连接模块电连接的两个触控电极中另一者电连接，及所述连接晶体管的栅极接入连接控制信号；
所述连接控制信号用于在所述测试阶段控制所述连接晶体管导通，且在所述非测试阶段控制所述连接晶体管断开。
13.根据权利要求12所述的触控面板，其特征在于，所有连接晶体管的导通类型相同，且所有连接晶体管接入的所述连接控制信号由同一信号端输出。
14.根据权利要求3所述的触控面板，其特征在于，所述连接模块与所述触控电极阵列在所述触控面板的厚度方向上不交叠。
15.根据权利要求14所述的触控面板，其特征在于，所述触控面板包括显示区，及至少部分围绕所述显示区的边框区；
其中，所述触控电极阵列位于所述显示区，所述连接模块位于所述边框区。
16.根据权利要求14所述的触控面板，其特征在于，所述触控面板包括显示区，至少部分围绕所述显示区的边框区，位于所述边框区远离所述显示区一侧的切割区；
其中，所述触控电极阵列位于所述显示区；所述连接模块包括第一部分和第二部分，所述第一部分的连接模块位于所述切割区，所述第二部分的连接模块位于所述边框区；
或者，所述触控电极阵列位于所述显示区；所有所述连接模块位于所述切割区。
17.根据权利要求16所述的触控面板，其特征在于，位于所述切割区的连接模块包括短接线，所述短接线的第一端与所述连接模块电连接的两个触控电极中之一者电连接，所述短接线的第二端与所述连接模块电连接的两个触控电极中另一者电连接。
18.一种触控面板的检测方法，其特征在于，应用于权利要求1-17任意一项所述的触控面板，其中，所述检测方法包括：
在所述测试阶段将所述所有所述触控电极依次串联，并对串联的所有所述触控电极输入检测信号，且将串联的所有所述触控电极输出的反馈信号进行分析判断；
在所述非测试阶段将所述所有所述触控电极之间相互隔离。
19.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括权利要求1-17任意一项所述的触控面板。
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