CN112669737B - 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置 - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置。显示面板包括：衬底；信号走线，设置于衬底上；测试走线，与信号走线绝缘设置且位于信号走线背向衬底的一侧，且测试走线在衬底上的正投影与信号走线在衬底上的正投影交叠；第一测试端子，设置于衬底上且与测试走线的一端电连接；第二测试端子，设置于衬底上且与测试走线的另一端电连接。根据本申请实施例，能够检测显示面板的裂纹，提高产品质量。

Description

显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
技术领域
本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板、显示面板的裂纹检测方法及显示装置。
背景技术
随着显示技术的不断发展，显示面板在各领域的应用越来越广泛。为了实现显示面板的触控功能或显示功能，显示面板上通常会设置有触控信号线、数据信号线、扫描信号线等。在显示面板的制备过程中，这些信号线存在着被划伤的风险，进而导致这些信号线存在裂纹，若信号线存在裂纹将影响显示面板的触控功能或显示功能。如果无法检测出信号线上的裂纹，将导致不良的显示面板流入下一个工艺流程或最终流向客户端。
发明内容
本申请提供一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置，能够检测显示面板的裂纹，提高产品质量。
第一方面，本申请实施例提供一种显示面板，其包括：衬底；信号走线，设置于衬底上；测试走线，与信号走线绝缘设置且位于信号走线背向衬底的一侧，且测试走线在衬底上的正投影与信号走线在衬底上的正投影交叠；第一测试端子，设置于衬底上且与测试走线的一端电连接；第二测试端子，设置于衬底上且与测试走线的另一端电连接。
第二方面，本申请实施例提供一种显示面板的裂纹检测方法，用于检测如第一方面的显示面板，其包括：检测第一测试端子和第二测试端子上的电信号，其中，检测第一测试端子和第二测试端子之间的电信号包括下列中的任意一种：检测第一测试端子和第二测试端子之间的电阻值、通过第一测试端子检测第二测试端子产生的电容值、检测第一测试端子和第二测试端子之间的电压值；根据检测的电信号，判断测试走线是否存在裂纹；若测试走线存在裂纹，则确定信号走线有存在裂纹的风险，若测试走线不存在裂纹，则确定信号走线不存在裂纹。
第三方面，本申请实施例提供一种显示装置，其包括根据本申请前述第一方面的任一种实施方式的显示面板。
根据本申请实施例提供的显示面板及其裂纹检测方法、显示装置，测试走线设置在信号走线背向衬底的一侧，且测试走线在衬底上的正投影与信号走线在衬底上的正投影交叠，测试走线的一端连接有第一测试端子，测试走线的另一端连接有第二测试端子。由于显示面板上设置了测试走线及测试端子，一方面，可以通过测试第一测试端子和第二测试端子之间的电信号（例如电阻值、电容值或电压值），判断测试走线是否存在裂纹，在测试走线存在裂纹的情况下，可知测试走线已被划伤，且划伤深度可能达到信号走线所在位置，则可以确定信号走线存在裂纹的风险比较大，从而可以避免信号走线存在裂纹风险的显示面板进入下一工艺流程或进入客户端；另一方面，由于测试走线位于信号走线背向衬底的一侧，测试走线及测试走线与信号走线之间的绝缘层可以作为信号走线的保护结构，以降低信号走线被划伤的风险。
附图说明
通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征，附图并未按照实际的比例绘制。
图1示出本申请一种实施例提供的显示面板的俯视示意图；
图2是图1中A-A向的一种剖面示意图；
图3示出本申请另一种实施例提供的显示面板的俯视示意图；
图4示出本申请又一种实施例提供的显示面板的俯视示意图；
图5示出图4中的测试走线的等效电路示意图；
图6示出本申请又一种实施例提供的显示面板的俯视示意图；
图7示出图6中的测试走线的等效电路示意图；
图8示出本申请又一种实施例提供的显示面板的俯视示意图；
图9示出本申请又一种实施例提供的显示面板的俯视示意图；
图10示出图8中的测试走线的等效电路示意图；
图11示出本申请又一种实施例提供的显示面板的俯视示意图；
图12示出图11中的测试走线的等效电路示意图；
图13示出本申请又一种实施例提供的显示面板的俯视示意图；
图14示出图13中的测试走线的等效电路示意图；
图15示出图11中B-B向的一种剖面示意图；
图16示出本申请又一种实施例提供的显示面板的俯视示意图；
图17示出图16中C-C向的一种剖面示意图；
图18示出图16中C-C向的另一种剖面示意图；
图19示出本申请又一种实施例提供的显示面板的俯视示意图；
图20示出本申请又一种实施例提供的显示面板的俯视示意图；
图21示出图19中D-D向的一种剖面示意图；
图22示出图20中E-E向的一种剖面示意图；
图23示出图20中E-E向的一种剖面示意图；
图24示出本申请一种实施例提供的显示面板的裂纹检测方法的流程示意图；
图25示出本申请一种实施例提供的显示装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将详细描述本申请的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本申请进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本申请，并不被配置为限定本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本申请的示例来提供对本申请更好的理解。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
应当理解，在描述部件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将部件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一个区域“下面”或“下方”。
本申请实施例提供一种显示面板，该显示面板可以是有机发光二极管（OrganicLight Emitting Diode，OLED）显示面板，也可以是液晶显示面板（Liquid CrystalDisplay，LCD），本申请实施例的显示面板可以各种形式呈现，以下将描述其中一些示例。
图1示出本申请一种实施例提供的显示面板的俯视示意图。图2是图1中A-A向的剖面示意图。如图1和图2所示，本申请实施例提供的显示面板100包括衬底10、信号走线20、测试走线30、第一测试端子41及第二测试端子42。信号走线20设置于衬底10上。测试走线30与信号走线10绝缘设置且位于信号走线20背向衬底10的一侧，且测试走线30在衬底10上的正投影与信号走线20在衬底10上的正投影交叠。
根据本申请实施例提供的显示面板，由于显示面板100上设置了测试走线30及测试端子，测试走线30位于信号走线20背向衬底10的一侧，且测试走线30在衬底10上的正投影与信号走线20在衬底10上的正投影交叠，一方面，可以通过测试第一测试端子41和第二测试端子42之间的电信号（例如电阻值、电容值或电压值），判断测试走线30是否存在裂纹，在测试走线30存在裂纹的情况下，可知测试走线30已被划伤，且划伤深度可能达到信号走线20所在位置，则可以确定信号走线20存在裂纹的风险比较大，从而可以避免信号走线20存在裂纹风险的显示面板进入下一工艺流程或进入客户端；另一方面，由于测试走线30位于信号走线20背向衬底10的一侧，测试走线30及测试走线30与信号走线20之间的绝缘层可以作为信号走线20的保护结构，以降低信号走线20被划伤的风险。
示例性的，可以通过插针测试的方式测试第一测试端子41和第二测试端子42之间的电信号，本申请对此不作限定。
示例性的，如图1所示，显示面板100可以包括显示区AA和围绕显示区AA的非显示区NA。信号走线20可以位于显示面板100的非显示区NA，对应的，测试走线30也位于显示面板100的非显示区NA。例如，信号走线20可以为触控走线、扇出线等。当然，信号走线20也可以位于显示面板100的显示区AA，对应的，测试走线30也位于显示面板100的显示区AA。例如，信号走线20可以为扫描线、数据线等。本申请对信号走线20所在显示面板的区域以及具体传输的信号不作限定，本文中以信号走线20位于非显示区NA为例。
测试走线30在衬底10所在平面上的正投影与信号走线20在衬底10所在平面上的正投影可以部分交叠，也可以完全交叠。可以理解的是，测试走线30在衬底10上的正投影与信号走线20在衬底10上的正投影交叠面积越多，则越能准确的确定信号走线20是否存在被划伤的风险。在一些可选的实施例中，测试走线30的走势可以和信号走线20的走势相同。例如，测试走线30在衬底10上的正投影可以设置为尽可能的覆盖信号走线20在衬底10上的正投影，也就是说，信号走线20在衬底10上的正投影可以设置为完全在测试走线30在衬底10上的正投影内。
请继续参考图2，显示面板30还可以包括第一绝缘层51，第一绝缘层51位于信号走线20和测试走线30之间，从而使得信号走线20和测试走线30绝缘设置。另外，显示面板100还可以包括第二绝缘层52，第二绝缘层52位于测试走线30背向衬底10的一侧且覆盖测试走线30，以避免测试走线30直接裸露在外。示例性的，第一绝缘层51和第二绝缘层52可以均由无机材料形成，例如，氮化硅、氧化硅等。
示例性的，测试走线30可以由金属材料形成。测试走线30也可以由透明导电材料形成，例如氧化铟锡（Indium tin oxide，ITO）、氧化铟锌（Indium Zinc Oxide，IZO）等。本申请对测试走线30的具体材料不作限定。
在一些可选的实施例中，测试走线30的条数可以为N，N≥1且为整数。各测试走线30与至少一条信号走线20对应设置。例如，如图1所示，各测试走线30和各信号走线20一一对应设置，如此，可以根据每条测试走线30的裂纹情况判断出每条信号走线20是否有存在裂纹的风险。又例如，如图3所示，一条测试走线30可以和三条信号走线20对应设置，当然一条测试走线30也可以和两条、四条、五条等信号走线20对应设置。一条测试走线30和多条信号走线20对应设置能够减少测试走线30的数量。可以理解的是，一条测试走线30和一条或者多条信号走线20对应设置均是可行的，本申请对此不作限定。
在一些可选的实施例中，如图1或图4所示，N条测试走线30可以包括M条第一测试走线31，2≤M≤N且为整数。M条第一测试走线31并联连接于第一测试端子41和第二测试端子42之间。
图4示例性的示出了测试走线30和信号走线20一一对应设置，且M=N，也就是说，N条测试走线30均并联连接于第一测试端子41和第二测试端子42之间。另外，为了使各条第一测试走线31并联连接于第一测试端子41和第二测试端子42之间，可以设置一条连接引线33，连接引线33可以和测试走线30同层设置。图5示出了图4中测试走线的等效电路示意图。如图5所示，可以通过测试第一测试端子41和第二测试端子42之间的电阻值来判断测试走线30是否存在裂纹。在各测试走线均不存在裂纹的情况下，第一测试端子41和第二测试端子42之间的电阻值为各测试走线30并联后的电阻总值，如一条或多条测试走线30存在裂纹，则第一测试端子41和第二测试端子42之间的电阻值会增大，若测试出第一测试端子41和第二测试端子42之间的电阻值增大，则可以确定测试走线30中有存在裂纹的，进而可以确定信号走线20存在有裂纹的风险。
在一些可选的实施例中，如图1所示，N条测试走线30中包括至少一条第二测试走线32，并联的多条第一测试走线31通过一条第二测试走线32与第一测试端子41或第二测试端子42电连接。图1示例性的示出了第二测试走线32为一条，M=N-1，M条第一测试走线31通过一条第二测试走线32与第一测试端子41电连接。如此，可以在不额外设置连接引线的情况下，实现多条第一测试走线31的并联目的，以简化布线结构。
上述实施例中以第一测试端子41和第二测试端子42的数量均为1个为例，在另一些可选的实施例中，第一测试端子41和第二测试端子42的数量可以为多个。例如，如图6所示，可以将测试走线30分为多个测试走线组，每一个测试走线组包括至少两条测试走线30，一个测试走线组可以对应一个第一测试端子41和一个第二测试端子42。可以理解的是，第一测试端子41和第二测试端子42的数量是相等的。图6示例性的示出了将测试走线分为三个测试走线组，每个测试走线组包括两条第一测试走线31和一条第二测试走线32。每个测试走线组中的两条第一测试走线31并联，且通过一条第二测试走线32与第一测试端子41电连接。
图7示出图6中的一组测试走线的等效电路示意图。为了更清楚的示出测试走线的关系，在图6中示出了一种测试走线组中的每条第一测试走线31的端点c、d、e、f。各组测试走线30的连接关系可以相同，进而各组测试走线的等效电路可以相同，本申请对此不作限定。
如图7所示，可以通过测试每组的第一测试端子41和第二测试端子42之间的电阻值来判断每组的测试走线30是否存在裂纹。在各组的各测试走线均不存在裂纹的情况下，第一测试端子41和第二测试端子42之间的电阻值为各测试走线30并联后的电阻总值，如一条或多条测试走线30存在裂纹，则第一测试端子41和第二测试端子42之间的电阻值会增大，若测试出第一测试端子41和第二测试端子42之间的电阻值增大，则可以确定测试走线30中有存在裂纹的，进而可以确定信号走线20存在有裂纹的风险。根据本申请实施例，可以确定存在裂纹的测试走线组，进而确定该组测试走线所对应的信号走线20存在有裂纹的风险，如此可以确定存在有裂纹风险的信号走线的所在位置。
在一些可选的实施例中，如图8所示和图9所示，显示面板100还可以包括多个二极管D，二极管D的数量和第一测试走线31的数量可以均为M。二极管D和第一测试走线31一一对应设置，各第一测试走线31包括第一段311和第二段312，第一段311和第二段312中的一者与二极管D的正极连接，另一者与二极管D的负极连接。M个二极管中可以包括至少一个第一二极管D1和至少一个第二二极管D2，第一二极管D1的正极与第一测试端子41连接，第一二极管D1的负极与第二测试端子42连接，第二二极管D2的正极与第二测试端子42连接，第二二极管D2的负极与第一测试端子41连接。也就是说，连接第一二极管D1和至少一个第二二极管D2的两条第一测试走线31上的信号走向是相反的。
图10示出图8中的一组测试走线的等效电路示意图。可以给第一测试端子41施加一个正电压信号，并测试第二测试端子42是否能够接收到电压信号，若第二测试端子42能够接收到电压信号，则可以确定与第一二极管D1连接的第一测试走线31无裂纹，进而可以确定该第一测试走线31对应的信号走线20不存在被划伤的风险，也就是说该第一测试走线31对应的信号走线20不存在裂纹；若第二测试端子42不能够接收到电压信号，则可以确定与第一二极管D1连接的第一测试走线31有裂纹，进而可以确定该第一测试走线31对应的信号走线20存在被划伤的风险，也就是说该第一测试走线31对应的信号走线20存在有裂纹的风险。另外，可以给第二测试端子42施加一个正电压信号，并测试第一测试端子41是否能够接收到电压信号，若第一测试端子41能够接收到电压信号，则可以确定与第二二极管D2连接的第一测试走线31无裂纹，进而可以确定该第一测试走线31对应的信号走线20不存在被划伤的风险，也就是说该第一测试走线31对应的信号走线20不存在裂纹；若第二测试端子42不能够接收到电压信号，则可以确定与第二二极管D2连接的第一测试走线31有裂纹，进而可以确定该第一测试走线31对应的信号走线20存在被划伤的风险，也就是说该第一测试走线31对应的信号走线20存在有裂纹的风险。
根据本申请实施例，通过设置二极管，可以更具体的确定存在有裂纹风险的信号走线的所在位置。
在一些可选的实施例中，请参考图11，在M≥3时，即并联于同一个第一测试端子41和同一个第二测试端子42之间的第一测试走线31的条数大于等于3时，显示面板100还可以包括晶体管T和控制信号端SW，各晶体管T的栅极与控制信号端SW电连接，控制信号端SW用于输出控制信号控制晶体管T的开关状态。第一二极管D1和第二二极管D2中数量大于等于2的为目标二极管，各目标二极管与至少一个晶体管T串联在第一测试端子41和第二测试端子42之间。图11示例性的示出了第一二极管D1和第二二极管D2的数量均大于2，第一二极管D1和第二二极管D2均为目标二极管，各目标二极管与一个晶体管T串联在第一测试端子41或第二测试端子42之间，该一个晶体管T可以与目标二极管的正极连接，可以与目标二极管的负极连接。图11示例性的示出了晶体管T与二极管D一一对应，且各晶体管T与第一二极管D1的正极或第二二极管D2的正极电连接，可以通过连接引线33实现晶体管T与二极管正极的连接。当然，各目标二极管也可以与两个晶体管T串联在第一测试端子41和第二测试端子42之间，其中一个晶体管T与目标二极管的正极连接，另一个晶体管T与目标二极管的负极连接。
需要说明的是，为了清楚的示出各走线，图11中示意了信号走线20与测试走线30在衬底10上的正投影无交叠关系，实际上信号走线20与测试走线30在衬底10上的正投影是交叠的。
另外，图11仅示例性的示出了一个晶体管T连接在第一测试端子41和第一二极管D1之间，一个晶体管T连接在第二二极管D2和第二测试端子42之间，这并不用于限定本申请。
图12示出图11中的测试走线的等效电路示意图。如图12所示，八个控制信号端SW分别为控制信号端SW1、SW2、SW3、SW4、SW5、SW6、SW7、SW8，八个晶体管T分别为晶体管T1、T2、T3、T4、T5、T6、T7、T8。可以给第一测试端子41施加一个正电压信号，并控制控制信号端SW输出控制信号以分时导通第一测试端子41和第一二极管D1之间串联的晶体管T，测试第二测试端子42是否能够接收到电压信号。例如，可以给第一测试端子41施加一个正电压信号，并按顺序依次导通与控制信号端SW1、SW2、SW3、SW4分别连接的晶体管T，测试第二测试端子42是否能够接收到电压信号，若在每个晶体管T导通时，第二测试端子42均能够接收到电压信号，则可以确定与第一二极管D1连接的每条第一测试走线31均无裂纹，进而可以确定与第一二极管D1连接的每条第一测试走线31对应的信号走线20不存在被划伤的风险，也就是说与第一二极管D1连接的每条第一测试走线31对应的信号走线20不存在裂纹；若在某个或某些晶体管T导通时，第二测试端子42不能够接收到电压信号，则可以确定与该晶体管连接的第一测试走线31有裂纹，进而可以确定该第一测试走线31对应的信号走线20存在被划伤的风险，也就是说该第一测试走线31对应的信号走线20存在有裂纹的风险。
另外，可以给第二测试端子42施加一个正电压信号，并控制控制信号端51输出控制信号以分时导通第二测试端子42和第二二极管D2之间串联的晶体管T，测试第一测试端子41是否能够接收到电压信号。例如，以给第二测试端子42施加一个正电压信号，并按顺序依次导通与控制信号端SW5、SW6、SW7、SW8分别连接的晶体管T，测试第一测试端子41是否能够接收到电压信号，若在每个晶体管T导通时，第一测试端子41均能够接收到电压信号，则可以确定与第二二极管D2连接的每条第一测试走线31均无裂纹，进而可以确定与第二二极管D2连接的每条第一测试走线31对应的信号走线20不存在被划伤的风险，也就是说与第二二极管D2连接的每条第一测试走线31对应的信号走线20不存在裂纹；若在某个或某些晶体管T导通时，第一测试端子41不能够接收到电压信号，则可以确定与该晶体管连接的第一测试走线31有裂纹，进而可以确定该第一测试走线31对应的信号走线20存在被划伤的风险，也就是说该第一测试走线31对应的信号走线20存在有裂纹的风险。
根据本申请实施例，通过设置二极管和晶体管，可以在3条以上的第一测试线31并联的情况下，仍能够测试出每条第一测试走线31是否存在裂纹，进而可以更具体的确定存在有裂纹风险的信号走线的所在位置。
在一些可选的实施例中，测试走线可以包括多个测试走线组，每个测试走线组对应一个第一测试端子和一个第二测试端子，至少两个晶体管的栅极可以与同一个控制信号端连接，其中，该至少两个晶体管位于不同测试走线组，且该至少两个晶体管同时与第一测试端子或第二测试端子连接。如图13和图14所示，测试走线30可以包括两个测试走线组，其中一个测试走线组包括一条第二测试走线32、三条第一测试走线31、两个第一二极管D1、一个第二二极管D2和两个晶体管T；另一个测试走线组包括一条第二测试走线32、四条第一测试走线31、两个第一二极管D1、两个第二二极管D2和四个晶体管T。其中一个测试走线组中的两个晶体管和另一个测试走线组中的两个晶体管可以共用控制信号端SW。图13仅示例性的示出了一个晶体管T连接在第一测试端子41和第一二极管D1之间，一个晶体管T连接在第二二极管D2和第二测试端子42之间，六个晶体管与六个二极管一一对应，且晶体管T与第一二极管D1或第二二极管D2的正极电连接，可以通过连接引线33实现晶体管T与二极管正极的连接。
需要说明的是，为了清楚的示出各走线，图13中示意了信号走线20与测试走线30在衬底10上的正投影无交叠关系，实际上信号走线20与测试走线30在衬底10上的正投影是交叠的。
如图14所示，四个控制信号端SW分别为控制信号端SW9、SW10、SW11、SW1，六个晶体管T分别为晶体管T9、T10、T11、T12、T13、T14。图14示例性的示出了晶体管T9、T11共用一个控制端SW9，晶体管T10、T12共用一个控制端SW10。
根据本申请实施例，通过共用控制信号端，可以在实现测试出每条第一测试走线是否存在裂纹的同时，减少控制信号端的数量，简化显示面板结构。
在一些可选的实施例中，在M≥3时，即并联于同一个第一测试端子41和同一个第二测试端子42之间的第一测试走线31的条数大于等于3时，第一二极管D1和第二二极管D2的数量差值的绝对值可以小于等于1。如此，能够减小第一二极管D1和第二二极管D2所连接的晶体管T的数量差距，便于晶体管T的分布。
显示面板100包括驱动器件层60，驱动器件层60位于衬底10背向信号走线20的一侧，二极管D和晶体管T的至少一直可以设置在驱动器件层60内。示例性的，如图15所示，二极管D和晶体管T可以都设置在驱动器件层60内，并通过过孔实现与第一测试走线31的连接。为了实现显示面板的显示功能，显示面板的驱动器件层60内通常设置有像素电路，像素电路包括晶体管、电容等器件。通过将二极管D和晶体管T中的至少一者设置在驱动器件层60内，可以在形成像素电路中的器件的同时，形成二极管D或晶体管T，从而简化显示面板的工艺流程。
示例性的，二极管D可以包括层叠设置的第一极D12、半导体层D11和第二极D13，第一极D12可以是正极，第二极D13可以是负极。图15仅仅是一种示例，不用于限定本申请二极管D和晶体管T的具体结构以及二极管D和晶体管T的各膜层所在位置。
在一些可选的实施例中，请继续参考图1，显示面板100还可以包括信号端子43，信号端子43与信号走线20的一端电连接。示例性的，信号端子43可以是绑定垫（pad），可以将信号端子43与柔性电路板（Flexible Printed Circuit，FPC），并将驱动芯片（IC）绑定到FPC上，本申请对此不作限定。
显示面板100具有显示区AA和至少部分围绕显示区AA的非显示区NA，第一测试端子41、第二测试端子42及信号端子43可以均设置于非显示区NA，以避免影响显示面板的显示质量。
示例性的，第一测试端子41、第二测试端子42及信号端子43可以相邻设置，第一测试端子41、第二测试端子42及信号端子43可以分布于一排。
在一些可选的实施例中，如图16所示，测试走线30、第一测试端子41及第二测试端子42的数量可以均为N，测试走线30与第一测试端子41及第二测试端子42一一对应连接。第一测试端子41可以作为信号输出端级信号接收端，第二测试端子42可以作为电容感应端。示例性的，可以利用自电容的原理，可以给第一测试端子41一个电信号，测试第二测试端子42与接地电压端（或接地信号）之间的电容，若通过第一测试端子41能够接收到第二测试端子42上产生的电容，则测试走线30不存在裂纹，进而可以确定信号走线20也不存在裂纹；若无法通过第一测试端子41接收到第二测试端子42上产生的电容，则测试走线30存在裂纹，进而可以确定信号走线20存在有裂纹的风险。
根据本申请实施例，通过每一对第一测试端子41及第二测试端子42，可以确定每条测试走线30是否存在裂纹，进而可以更具体的确定存在有裂纹风险的信号走线的所在位置。
在一些可选的实施例中，如图16、图17和图18所示，显示面板100具有显示区AA和至少部分围绕显示区AA的非显示区NA。显示面板100还包括封装盖板70和封装胶71。封装胶71可以围绕显示区AA设置。封装盖板70可以是玻璃盖板，封装胶71可以是玻璃粉（Frit）。封装胶71位于封装盖板70的一侧且设置于非显示区NA。第二测试端子42在衬底10上的正投影与封装胶71在衬底10上的正投影可以交叠，且第二测试端子42可以为镂空结构。封装胶71是玻璃粉的情况下，需要通过利用紫外光进行固化（即UV固化），将第二测试端子42设置为镂空结构，可以保证足够的紫外光能够照射至封装胶71，避免影响显示面板的封装效果。
示例性的，第二测试端子42在衬底10上的正投影的外轮廓可以为矩形、正方形、圆形、菱形等，本申请对此不作限定。
例如，如图17所示，封装盖板70可以位于衬底10背向信号走线20的一侧，封装胶71位于封装盖板70背向衬底的一侧。显示面板还可以包括阵列基板90（可包括薄膜晶体管阵列层和发光器件层），封装胶71用于粘合封装盖板70和阵列基板90。又例如，如图18所示，封装盖板70可以位于测试走线背向衬底10的一侧，封装胶71位于封装盖板70朝向衬底10的一侧。本申请对此不作限定。
在一些可选的实施例中，请继续参考图16，显示面板具有相对的第一边缘S1和第二边缘S2，第一测试端子41靠近第一边缘S1设置，第二测试端子42靠近第二边缘S2设置。如此，可以避免第一测试端子41和第二测试端子42的距离太近，避免两者之间相互干扰。
在一些可选的实施例中，请参考图19或者图20，显示面板100具有显示区AA和至少部分围绕显示区AA的非显示区NA。显示面板100还包括设置于显示区的触控电极80，信号走线20可以和触控电极80电连接。也就是说，信号走线20可以是触控走线，以传输触控信号。
示例性的，触控电极80可以阵列分布于显示区AA。例如，如图19，显示面板100的触控结构可以是自电容式触控结构，信号走线20和触控电极80可以一一对应电连接。又例如，显示面板100的触控结构可以是互电容式触控结构，信号走线20和一行或者一列触控电极80对应电连接，且位于同一行或者同一列的触控电极80之间相互连接。
另外，显示面板100的触控结构为自电容式触控结构时，显示区AA和非显示区NA可以均设置有信号走线20及测试走线30，第一测试端子41和第二测试端子42可以位于非显示区NA。显示面板100的触控结构为互电容式触控结构时，信号走线20、测试走线30、第一测试端子41及第二测试端子42可以位于非显示区NA。
请参考19和图21所示，显示面板100的触控结构为自电容式触控结构，触控电极80位于信号走线20背向衬底10的一侧，测试走线30可以和触控电极80的材料相同且同层设置，如此可以在同一工艺步骤中同时形成触控电极80和测试走线30，简化工艺步骤。
请参考图20和图22，显示面板100的触控结构为互电容式触控结构，显示面板100还可以包括连接部81，连接部81包括第一连接部811和第二连接部812，第一连接部811与触控电极80非同层设置且通过过孔连接。示例性的，第一连接部811连接同一行中相邻的触控电极80，第二连接部812连接同一列中相邻的触控电极80，第一连接部811与触控电极80非同层设置，第二连接部812与触控电极80同层设置。测试走线30可以与触控电极80和第一连接部811中的任意一者的材料相同且同层设置。图22示出了测试走线30与触控电极80同层设置，图23示出了测试走线30与第一连接部811同层设置。根据本申请实施例，可以在同一工艺步骤中采用同种材质同时形成测试走线30和触控电极80或连接部，简化工艺步骤。
在一些可选的实施例中，显示面板100包括薄膜封装层，显示面板100的触控结构可以集成在薄膜封装层上。请继续参考图22或者图23，显示面板100还可以包括第三绝缘层53位于第一连接部811背向衬底的一侧。衬底10可以是柔性衬底，例如，衬底10可以由氮化硅等无机材料形成。
本申请实施例还提供一种显示面板的裂纹检测方法。图24示出本申请一种实施例提供的显示面板的裂纹检测方法的流程示意图。如图24所示，本申请实施例提供的显示面板的裂纹检测方法包括步骤110至步骤130。
步骤110，检测第一测试端子和第二测试端子上的电信号，其中，检测第一测试端子和第二测试端子之间的电信号包括下列中的任意一种：检测第一测试端子和第二测试端子之间的电阻值、通过第一测试端子检测第二测试端子产生的电容值、检测第一测试端子和第二测试端子之间的电压值。
步骤120，根据检测的电信号，判断测试走线是否存在裂纹。
步骤130，若测试走线存在裂纹，则确定信号走线有存在裂纹的风险，若测试走线不存在裂纹，则确定信号走线不存在裂纹。
根据本申请实施例提供的显示面板的裂纹检测方法，由于显示面板上设置了测试走线及测试端子，一方面，可以通过测试第一测试端子和第二测试端子之间的电信号（例如电阻值、电容值或电压值），判断测试走线是否存在裂纹，在测试走线存在裂纹的情况下，可知测试走线已被划伤，且划伤深度可能达到信号走线所在位置，则可以确定信号走线存在裂纹的风险比较大，从而可以避免信号走线存在裂纹风险的显示面板进入下一工艺流程或进入客户端；另一方面，由于测试走线位于信号走线背向衬底的一侧，测试走线及测试走线与信号走线之间的绝缘层可以作为信号走线的保护结构，以降低信号走线被划伤的风险。
本申请实施例还提供一种显示装置。图25示出本申请一种实施例提供的显示装置的结构示意图。图25提供的显示装置1000包括本申请上述任一实施例提供的显示面板100。图25实施例仅以手机为例，对显示装置1000进行说明，可以理解的是，本申请实施例提供的显示装置，可以是可穿戴显示装置、电脑、电视、车载显示装置等其他具有显示功能的显示装置，本申请对此不作具体限制。本申请实施例提供的显示装置，具有本申请实施例提供的显示面板的有益效果，具体可以参考上述各实施例对于显示面板的具体说明，本实施例在此不再赘述。
依照本申请如上文所述的实施例，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该申请仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本申请的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本申请以及在本申请基础上的修改使用。本申请仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (16)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：
衬底；
信号走线，设置于所述衬底上；
测试走线，与所述信号走线绝缘设置且位于所述信号走线背向所述衬底的一侧，且所述测试走线在所述衬底上的正投影与所述信号走线在所述衬底上的正投影交叠；
第一测试端子，设置于所述衬底上且与所述测试走线的一端电连接；
第二测试端子，设置于所述衬底上且与所述测试走线的另一端电连接；
所述第一测试端子和所述第二测试端子配置为通过两者之间的电信号实现对所述测试走线是否存在裂纹的检测，若所述测试走线存在裂纹，则所述信号走线有存在裂纹的风险，若所述测试走线不存在裂纹，则所述信号走线不存在裂纹。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述测试走线的条数条数为N，且各所述测试走线与至少一条所述信号走线对应设置，其中，N≥1且为整数。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，N条所述测试走线中包括M条第一测试走线，M条所述第一测试走线并联连接于所述第一测试端子和所述第二测试端子之间，其中，2≤M≤N且为整数。
4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，N条所述测试走线中包括至少一条第二测试走线，多条所述第一测试走线通过一条所述第二测试走线与所述第一测试端子或所述第二测试端子电连接。
5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括M个二极管，各所述第一测试走线包括第一段和第二段，所述第一段和所述第二段中的一者与所述二极管的正极连接，另一者与所述二极管的负极连接；
M个所述二极管中包括至少一个第一二极管和至少一个第二二极管，所述第一二极管的正极与所述第一测试端子连接，所述第一二极管的负极与所述第二测试端子连接，所述第二二极管的正极与所述第二测试端子连接，所述第二二极管的负极与所述第一测试端子连接。
6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，M≥3，所述显示面板还包括晶体管和控制信号端，各所述晶体管的栅极与所述控制信号端电连接；
所述第一二极管和所述第二二极管中数量大于等于2的为目标二极管，各所述目标二极管与至少一个所述晶体管串联在所述第一测试端子和所述第二测试端子之间。
7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第一二极管与所述第二二极管的数量差值的绝对值小于等于1。
8.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括驱动器件层，所述驱动器件层位于所述衬底背向所述信号走线的一侧，所述二极管和所述晶体管中的至少一者设置在所述驱动器件层内。
9.根据权利要求3或4所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括信号端子，所述信号端子与所述信号走线的一端电连接；
所述显示面板具有显示区和至少部分围绕所述显示区的非显示区，所述第一测试端子、所述第二测试端子及所述信号端子均设置于所述非显示区。
10.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第一测试端子和所述第二测试端子的数量均为N，且所述测试走线与所述第一测试端子及所述第二测试端子均一一对应连接；
所述第一测试端子作为信号输出端及信号接收端，所述第二测试端子作为电容感应端。
11.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板具有显示区和至少部分围绕所述显示区的非显示区，所述显示面板还包括：
封装盖板；
封装胶，位于所述封装盖板的一侧且设置于所述非显示区；
其中，所述第二测试端子在所述衬底上的正投影与所述封装胶在所述衬底上的正投影交叠，所述第二测试端子为镂空结构。
12.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板具有相对的第一边缘和第二边缘，所述第一测试端子靠近所述第一边缘设置，所述第二测试端子靠近所述第二边缘设置。
13.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板具有显示区和至少部分围绕所述显示区的非显示区，所述显示面板还包括设置于所述显示区的触控电极，所述信号走线与所述触控电极电连接。
14.根据权利要求13所述的显示面板，其特征在于，所述测试走线与所述触控电极的材料相同且同层设置；或者，
所述显示面板还包括连接部，所述连接部包括第一连接部，所述第一连接部与所述触控电极连接且与所述触控电极非同层设置，所述测试走线与所述触控电极和所述第一连接部中的任意一者的材料相同且同层设置。
15.一种显示面板的裂纹检测方法，用于检测如权利要求1-14任一项所述的显示面板，其特征在于，包括：
检测所述第一测试端子和所述第二测试端子上的电信号，其中，所述检测所述第一测试端子和所述第二测试端子之间的电信号包括下列中的任意一种：检测所述第一测试端子和所述第二测试端子之间的电阻值、通过所述第一测试端子检测所述第二测试端子产生的电容值、检测所述第一测试端子和所述第二测试端子之间的电压值；
根据检测的所述电信号，判断所述测试走线是否存在裂纹；
若所述测试走线存在裂纹，则确定所述信号走线有存在裂纹的风险，若所述测试走线不存在裂纹，则确定所述信号走线不存在裂纹。
16.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-14任一项所述的显示面板。
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