CN106952576A - 阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置 - Google Patents

阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置 Download PDF

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Abstract

一种阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置。该阵列基板具有显示区域和周边区域，并且包括第一电极层和第一测试线。第一电极层包括沿第一方向排布的多根第一信号线，第一信号线从周边区域延伸到显示区域；第一测试线设置在周边区域，沿第一方向延伸，与第一信号线相重叠且绝缘；第一测试线配置为通过与至少一根第一信号线短接实现包含阵列基板的显示面板的不良测试。该阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置可以提高显示面板或/和显示装置测试的准确性。

Description

阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置
技术领域
本公开的实施例涉及一种阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置。
背景技术
随着消费电子产品的不断发展，显示面板得到了广泛的应用。显示面板可以包括阵列基板本体和驱动电路，驱动电路经由信号线驱动阵列基板本体以实现显示功能。为了保证显示面板以及包含该显示面板的显示装置的产品质量，在显示面板/显示装置出厂前，需要对相应批次进行检测。在确定显示面板/显示装置存在不良的情况下(例如，显示面板的一列像素不发光或者发光亮度偏低)，需要进一步确认阵列基板本体或/和驱动电路是否存在不良。
发明内容
本公开的一个实施例提供了一种阵列基板，该阵列基板具有显示区域和周边区域，并包括第一电极层和第一测试线。第一电极层包括沿第一方向排布的多根第一信号线，所述第一信号线从所述周边区域延伸到所述显示区域；第一测试线设置在所述周边区域，沿所述第一方向延伸，并与所述第一信号线相重叠且绝缘；所述第一测试线配置为通过与至少一根所述第一信号线短接实现包含所述阵列基板的显示面板的不良测试。
本公开的另一个实施例提供了一种显示面板，该显示面板包括上述的阵列基板和至少一个驱动电路，每个所述驱动电路与所述阵列基板的多根信号线电连接，并通过多根所述信号线驱动所述阵列基板。
本公开的再一个实施例提供了一种显示装置，该显示装置包括上述的显示面板。
本公开的又再一个实施例提供了一种上述的显示面板的测试方法，该测试方法包括：选择所述显示面板的一条信号线作为待检信号线；在所述待检信号线与第一测试线重叠的位置处使得所述待检信号线与所述第一测试线短接，并形成第一短接点；在所述第一测试线的远离驱动电路/阵列基板本体的一侧切断所述待检信号线；以及经由所述第一测试线和所述第一短接点获取所述驱动电路输出的待检电信号/向所述待检信号线输入信号，由此确定所述驱动电路/所述显示面板本体对应于所述待检信号线的部分是否存在不良。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例，并非对本公开的限制。
图1是本公开一个实施例提供的一种阵列基板的平面示意图；
图2(a)是图1所示的阵列基板沿A-A’线的剖面示意图；
图2(b)是图1所示的阵列基板沿B-B’线的剖面示意图；
图2(c)是图1所示的阵列基板沿C-C’线的剖面示意图；
图3是本公开一个实施例提供的另一种阵列基板的平面示意图；
图4(a)是图3所示的阵列基板沿A-A’线的剖面示意图；
图4(b)是图3所示的阵列基板沿B-B’线的剖面示意图；
图4(c)是图3所示的阵列基板沿C-C’线的剖面示意图；
图5(a)是本公开另一个实施例提供的一种显示面板的示例性框图；
图5(b)是图5(a)所示的显示面板的平面示意图；
图6是本公开再一个实施例提供的一种显示装置的示例性框图；
图7(a)是本公开再一个实施例提供的一种显示面板的一种测试方法的示例性流程图；
图7(b)是图7(a)所示的测试方法的示意图；
图8(a)是本公开再一个实施例提供的一种显示面板的另一种测试方法的示例性流程图；
图8(b)是图8(a)所示的测试方法的示意图；
图9(a)是本公开再一个实施例提供的一种显示面板的再一种测试方法的示例性流程图；
图9(b)是图9(a)所示的测试方法的示意图；
图10(a)是本公开再一个实施例提供的一种显示面板的再一种测试方法的示例性流程图；
图10(b)是图10(a)所示的测试方法的示意图；
图11(a)是本公开再一个实施例提供的一种显示面板的再一种测试方法的示例性流程图；
图11(b)是图11(a)所示的测试方法的示意图；
图12(a)是本公开再一个实施例提供的一种显示面板的再一种测试方法的示例性流程图；以及
图12(b)是图12(a)所示的测试方法的示意图。
具体实施方式
下面将结合附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述参考在附图中示出并在以下描述中详述的非限制性示例实施例，更加全面地说明本公开的示例实施例和它们的多种特征及有利细节。应注意的是，图中示出的特征不是必须按照比例绘制。本公开省略了已知材料、组件和工艺技术的描述，从而不使本公开的示例实施例模糊。所给出的示例仅旨在有利于理解本公开示例实施例的实施，以及进一步使本领域技术人员能够实施示例实施例。因而，这些示例不应被理解为对本公开的实施例的范围的限制。
除非另外特别定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。此外，在本公开各个实施例中，相同或类似的参考标号表示相同或类似的构件。
发明人注意到，目前在显示面板的不良测试中，需要使用探针(例如，尺寸为1-2微米)穿过覆盖在信号线上的绝缘层并扎到待检信号线(例如，尺寸约为4微米)上，以获取(例如，使用示波器获取)驱动电路对应于待检信号线的部分的输出的信号。然而在使用上述方法对显示面板进行测试时，主要会存在如下三个问题。
(1)由于探针和信号线的宽度较小，因此探针难以准确地扎到信号线上，由此显示面板测试需要花费较长的时间。
(2)探针很容易把信号线划断，进而导致误判。例如，在探针将信号线划断的情况下，驱动电路对应于待检信号线的部分输出的电信号可以为零，导致测试人员误认为驱动电路对应于待检信号线的部分存在不良，由此降低了显示面板测试的准确性。
(3)由于难以从外部向阵列基板本体输入信号，因此仅能确定驱动电路对应于待检信号线的部分是否存在不良，而无法确定阵列基板本体对应于待检信号线的部分是否存在不良。例如，在确定驱动电路对应于待检信号线的部分存在不良的情况下，阵列基板本体对应于待检信号线的部分仍然有可能存在不良，由此降低了显示面板测试的准确性。
因此，发明人在研究中提出一种可以提高显示面板测试准确性和/或时效性的阵列基板、显示面板和显示面板的测试方法。
本公开的实施例提供了一种阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置，该阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置可以提高显示面板或/和显示装置测试的准确性。
本公开的至少一个实施例提供了一种阵列基板，该阵列基板具有显示区域和周边区域，并且包括第一电极层和第一测试线。第一电极层包括沿第一方向排布的多根第一信号线，第一信号线从周边区域延伸到显示区域；第一测试线设置在周边区域，沿第一方向延伸，与第一信号线相重叠且绝缘；第一测试线配置为通过与至少一根第一信号线短接实现包含阵列基板的显示面板的不良测试。例如，阵列基板的多根第一信号线和第一测试线的设置方式可以根据实际应用需求进行选择，本公开的实施例对此不做具体限定。
例如，图1是本公开一个实施例提供的一种阵列基板100的平面示意图，图2(a)、图2(b)和图2(c)分别是图1所示的阵列基板100沿A-A’线、B-B’线和C-C’线的剖面示意图。
例如，如图1所示，该阵列基板100具有显示区域161和周边区域162，并且该阵列基板100可以包括在衬底基板上顺次设置的第一电极层、第一绝缘层130和第二电极层。例如，图1仅示意性的示出了阵列基板100的部分区域。例如，显示区域161可以位于阵列基板100的中间区域，其中设置有子像素阵列(未示出)以用于显示操作，每个子像素可以包括例如薄膜晶体管的开关元件；周边区域162可以位于阵列基板100的至少一侧的边缘区域。
例如，第一电极层可以包括沿第一方向排布的多根第一信号线111，多根第一信号线111从阵列基板100的周边区域162延伸到显示区域161，用于驱动对应的子像素。例如，为了减少阵列基板100制作工艺的复杂度，对于薄膜晶体管驱动型阵列基板100，第一电极层可以与薄膜晶体管的栅极同层形成。
例如，如图2(a)所示，第二电极层可以包括与第一电极层位于不同层、且包括沿第一方向排布的多根第二信号线121，多根第二信号线121从阵列基板100的周边区域162延伸到显示区域161以用于驱动对应的子像素，并且与第一信号线111交替排布。例如，多根第一信号线111和多根第二信号线121在第一电极层的正投影没有交叠的部分。例如，为了减少阵列基板100制作工艺的复杂度，对于薄膜晶体管驱动型阵列基板100，第二电极层可以与薄膜晶体管的源极和漏极同层形成。
例如，如图2(a)所示第一绝缘层130可以设置于第一电极层与第二电极层之间。例如，为了减少阵列基板100制作工艺的复杂度，对于薄膜晶体管驱动型阵列基板100，第一绝缘层130可以与薄膜晶体管的栅绝缘层同层形成。
例如，如图1和图2(a)所示，该阵列基板100还可以包括设置在周边区域162且沿第一方向延伸的第一测试线141。例如，第一测试线141可以与多根第一信号线111和多根第二信号线121相重叠且绝缘，例如，第一测试线141可以包括设置在相邻的两根第一信号线111之间且与第一信号线111电绝缘的第一测试电极112，以及包括设置在相邻的两根第二信号线121之间且与第二信号线121电绝缘的第二测试电极122。例如，第一测试电极112和第二测试电极122在第一电极层上的正投影可以至少部分交叠。例如，第一测试电极112和第二测试电极122彼此电连接(例如，可以通过位于第一绝缘层130中的过孔131彼此电连接)，并由此构成第一测试线141。
例如，对于本公开的一个实施例提供的一种阵列基板100，由于在第一电极层和第二电极层分别设置了第一信号线111和第二信号线121，由此可以在不引起短路的情况下，提升信号线的设置密度，进而可以降低阵列基板100周边区域162的面积。
例如，如图2(b)所示，在第二电极层与薄膜晶体管的源极和漏极同层形成的情况，为了防止第二电极层的金属受到氧化，阵列基板100还可以包括设置于第二电极层的远离第一电极层的一侧的第二绝缘层152。例如，为了降低测试的难度以及减少测试的时间，阵列基板100还可以包括设置在第二绝缘层152的远离第一电极层的一侧的测试端子155。例如，测试端子155可以经由第二绝缘层152中的至少一个过孔与第一测试线141的第二测试电极122电连接。例如，测试端子155可以经由第二绝缘层152中的至少一个过孔与第一测试线141的一端或两端的第二测试电极122电连接，但本公开的实施例不限于此，例如，测试端子155还可以与第一测试线141的多个第二测试电极122电连接。例如，为了进一步降低测试的难度以及减少测试的时间，测试端子155的宽度可以大于第二测试电极122的宽度。例如，为了防止测试端子155被氧化而导致的性能退化，测试端子155可以由透明导电材料(例如ITO)制成。例如，为了减少阵列基板100制作工艺的复杂度，对于薄膜晶体管驱动型阵列基板100，第二绝缘层152可以与钝化层同层形成，测试端子155可以与阵列基板100的公共电极层同层。例如，为了提供支撑保护作用，阵列基板100还可以包括衬底基板151。例如，衬底基板151可以是玻璃基板、石英基板、塑料基板(例如聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)基板)或者由其它适合的材料制成的基板。
例如，如图2(c)所示，本公开的一个实施例提供的一种阵列基板100还可以包括第二测试线142，该第二测试线142可以设置在周边区域162中，沿第一方向延伸，并与第一信号线111和第二信号线121相重叠且绝缘。例如，该第二测试线142可以包括设置在相邻的两根第一信号线111之间的、且与第一信号线111和第一测试电极112电绝缘的第三测试电极113，以及设置在相邻的两根第二信号线121之间的、且与第二信号线121和第二测试电极122电绝缘的第四测试电极123。例如，第三测试电极113和第四测试电极123在第一电极层上的正投影可以至少部分交叠。例如，该第三测试电极113和第四测试电极123彼此电连接(例如，可以通过位于第一绝缘层130中的过孔132彼此电连接)，并由此构成第二测试线142。
例如，本公开的一个实施例提供的阵列基板的结构不限于图1和图2所示的情形，例如，根据实际应用需求，本公开的一个实施例提供的阵列基板的结构还可以设置成图3和图4所示的形式。例如，图3是本公开一个实施例提供的另一种阵列基板200的平面示意图，图4(a)、图4(b)和图4(c)分别是图3所示的阵列基板200沿A-A’线、B-B’线和C-C’线的剖面示意图。
例如，如图3和图4(a)所示，该阵列基板200具有显示区域261和周边区域262，并且该阵列基板200可以包括第一电极层、第二电极层以及设置于第一电极层与第二电极层之间第一绝缘层230。例如，第一电极层可以包括沿第一方向排布的多根第一信号线211，以及设置在相邻的两根第一信号线211之间的、且与第一信号线211电绝缘的第一测试电极212；多根第一信号线211从阵列基板200的周边区域262延伸到显示区域261。例如，第二电极层可以包括设置在周边区域262的、沿第一方向排布的第二测试电极222。例如，第一测试电极212和第二测试电极222在第一电极层上的正投影可以至少部分交叠。例如，第一测试电极212和第二测试电极222可以彼此电连接(例如，可以通过位于第一绝缘层230中的过孔彼此电连接)，并由此构成与第一信号线211相重叠且绝缘的第一测试线241。
例如，如图4(b)所示，该阵列基板200还可以包括设置于第二电极层的远离第一电极层的一侧的第二绝缘层252，以及设置在第二绝缘层252的远离第一电极层的一侧的测试端子255。例如，测试端子255可以经由第二绝缘层252中的过孔与第一测试线241的第二测试电极222电连接(例如，与第一测试线241的一侧或两侧的第二测试电极222电连接)。例如，为了提供支撑保护作用，阵列基板200还可以包括衬底基板251。
例如，如图3和图4(c)所示，本公开的一个实施例提供的一种阵列基板200还可以包括第二测试线242，该第二测试线242可以设置在周边区域262中，并沿第一方向延伸。例如，该第二测试线242可以包括设置在相邻的两根第一信号线211之间的、且与第一信号线211和第一测试电极212电绝缘的第三测试电极213，以及设置在第二电极层的、且与第二测试电极222电绝缘的第四测试电极223。例如，第三测试电极213和第四测试电极223在第一电极层上的正投影可以至少部分交叠。例如，该第三测试电极213和第四测试电极223彼此电连接(例如，可以通过位于第一绝缘层230中的过孔彼此电连接)、并由此构成与第一信号线211相重叠且绝缘的第二测试线242。例如，本公开一个实施例提供的另一种阵列基板200的详细设置方式可以参见图1和图2所示的阵列基板200的实施例，在此不再赘述。
对于图3、图4(a)、4(b)的示例的一个变型中，不是形成为如图4(a)、4(b)所示的一部分在第一电极层中而另一部分在第二电极层中的折线，第一测试线可以为整体设置在第二电极层中的直线，和/或第二测试线可以为整体设置在第二电极层中的直线。
显然，本公开一个实施例提供的一种阵列基板的不限于图1-图4所示的结构，例如，相比于图1和图2所示的阵列基板的结构，本公开一个实施例提供的一种阵列基板还可以仅包括位于第二电极层的第二信号线，而不包括位于第一电极层的第一信号线，而第一测试线和/或第二测试线可以为一部分在第一电极层中而另一部分在第二电极层中的折线，也可以为整体设置在第一电极层中的直线，本公开的实施例对此不做具体限定。例如，本公开的一个实施例提供的阵列基板可以提高包含该阵列基板的显示面板或/和显示装置测试的准确性和时效性。具体原因将在本公开的再一个实施例提供的一种显示面板的测试方法中详述。
本公开的至少一个实施例提供了一种显示面板，该显示面板包括本公开一个实施例提供的任一阵列基板和至少一个驱动电路。每个驱动电路与阵列基板的多根信号线电连接，并通过多根信号线驱动阵列基板。
例如，图5(a)是本公开另一个实施例提供的一种显示面板10的示例性框图，图5(b)是图5(a)所示的显示面板10的平面示意图。例如，以图1和图2示出阵列基板为例，如图5(a)和图5(b)所示，该显示面板10可以包括阵列基板510和至少一个驱动电路520。例如，阵列基板510的多根信号线512的位于周边区域514的一端可以与驱动电路520电连接，阵列基板510的多根信号线512的位于显示区域513的一端可以与阵列基板本体511电连接，每个驱动电路520可以经由多根信号线512驱动阵列基板本体511中设置的相应子像素。例如，该显示面板10可以包括两个驱动电路520，一个驱动电路520通过多根信号线512与阵列基板本体511的栅线(图5中未示出)电连接，另一个驱动电路520通过多根信号线512与阵列基板本体511的数据线(图5中未示出)电连接，但本公开的实施例不限于包含两个驱动电路，例如，根据实际应用需求，该显示面板10还可以包括四个或一个驱动电路。
例如，图6是本公开再一个实施例提供的一种显示装置的示意图。该显示装置包20包括本公开任一实施例所述的显示面板10。需要说明的是，对于该显示装置20的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。
本公开的至少一个实施例提供了一种显示面板的测试方法，用于上述任一显示面板，该测试方法包括：选择显示面板的显示区域对应的一条待检信号线；在待检信号线与第一测试线重叠的位置处使得待检信号线与第一测试线短接，并形成第一短接点；在第一测试线的远离驱动电路/阵列基板本体的一侧切断待检信号线；以及经由第一测试线和第一短接点获取驱动电路输出的待检电信号/向待检信号线输入信号，由此确定驱动电路/显示面板本体对应于待检信号线的部分是否存在不良。
下面以显示面板包括图1和图2示出的阵列基板为例，详细说明本公开再一个实施例提供的一种显示面板的测试方法的具体内容，但是本公开再一个实施例提供的显示面板的测试方法不限于测试图1和图2示出的阵列基板，例如，上述测试方法还可以用于测试图3和图4示出的阵列基板以及其他示例中的阵列基板。
例如，图7(a)是本公开再一个实施例提供的一种显示面板的一种测试方法的示例性流程图，图7(b)是图7(a)所示的测试方法的示意图。如图7(a)和图7(b)所示，该显示面板的测试方法(例如，测试显示面板的不良)可以包括以下步骤：
步骤S110：选择显示面板的一条信号线作为待检信号线331；
步骤S120：在待检信号线331与第一测试线341重叠的位置处使得待检信号线331与第一测试线341短接，并形成第一短接点371；
步骤S130：在第一测试线341的远离驱动电路391的一侧切断待检信号线331；以及
步骤S140：经由第一测试线341和第一短接点371获取驱动电路391输出的待检电信号，由此确定驱动电路391对应于待检信号线331的部分是否存在不良。
例如，在步骤S110中，在显示面板的显示区域出现不良(例如，暗线)的情况下，可以选择显示区域的不良区域对应的一条信号线作为待检信号线331。例如，该待检信号线331可以是第一信号线，也可以是第二信号线，本公开的实施例对此不做具体限定。
例如，在步骤S120中，可以在待检信号线331与第一测试线341重叠的位置处，使用激光将待检信号线331与第一测试线341焊接以实现二者之间的短接。例如，在待检信号线331为第一信号线的情况下，可以使用激光将第一信号线和对应重叠的第二测试电极322焊接在一起，由此实现第一信号线与第一测试线341的短接。又例如，在待检信号线331为第二信号线的情况下，可以使用激光将第二信号线和对应重叠的第一测试电极312焊接在一起，由此实现第二信号线与第一测试线341的短接。
例如，在步骤S130和步骤S140中，可以在第一测试线341的远离驱动电路391的一侧切断待检信号线331(例如，可以使用激光切断待检信号线331)，然后可以经由第一测试线341和第一短接点371获取驱动电路391输出的待检电信号，由此确定驱动电路391对应于待检信号线331的部分是否存在不良。例如，根据实际应用需求，可以经由图7(b)中第一测试线341右侧的测试端子355或者第一测试线341上的一个第二测试电极322获取驱动电路391输出的待检电信号，本公开的实施例对此不做具体限定。例如，在经由第一测试线341的一个测试端子355和第一短接点371获取驱动电路391输出的待检电信号为非预期的电信号(例如，无电信号，或者电信号的幅值过低)的情况下，可以判定驱动电路391对应于待检信号线331的部分是否存在不良。
例如，图8(a)是本公开再一个实施例提供的一种显示面板的另一种测试方法的示例性流程图，图8(b)是图8(a)所示的测试方法的示意图。例如，如图8(a)和图8(b)所示，该显示面板的测试方法可以包括以下步骤：
步骤S210：选择显示面板的一条信号线作为待检信号线331；
步骤S220：在待检信号线331与第一测试线341重叠的位置处使得待检信号线331与第一测试线341短接，并形成第一短接点371；
步骤S230：在第一测试线341的远离阵列基板本体392的一侧切断待检信号线331；以及
步骤S240：经由第一测试线341和第一短接点371向待检信号线331输入信号，由此确定显示面板本体的对应于待检信号线331的部分是否存在不良。
例如，步骤S210和步骤S220的详细内容可以参见步骤S110和步骤S120。例如，在步骤S230和步骤S240中，可以在第一测试线341的远离显示面板本体(也即是，显示面板的包括阵列基板本体392的部分)或阵列基板本体392的一侧切断待检信号线331(例如，可以使用激光切断待检信号线331)；然后可以经由第一测试线341(例如，图8(b)中第一测试线341右侧的测试端子355)和第一短接点371向待检信号线331输入信号，由此确定显示面板本体对应于待检信号线331的部分是否存在不良。例如，在经由第一测试线341右侧的测试端子355和第一短接点371向待检信号线331输入信号后，显示面板对应于待检信号线331的部分是仍然不能实现正常显示(例如，对应的像素不发光或者亮度偏低)的情况下，可以判定显示面板本体对应于待检信号线331的部分存在不良。
例如，对于图7和图8所示的显示面板的测试方法，可以在待检信号线331与第一测试线341重叠的位置处使得待检信号线331与第一测试线341短接，由此可以经由第一测试线341和第一短接点371获取驱动电路391输出的待检电信号/向待检信号线331输入信号、并确定驱动电路391/显示面板本体对应于待检信号线331的部分是否存在不良。由于图7和图8所示的显示面板的测试方法可以直接确定驱动电路391或显示面板本体是否存在不良，因此可以提升显示面板测试的准确性。此外，由于可以经由测试端子355获取驱动电路391输出的待检电信号/向待检信号线331输入信号(也即是，无需将测试探针直接扎在信号线上)，因此不仅可以降低测试难度，而且还能避免将信号线划断，由此可以降低显示面板测试所需时间，以及进一步提高显示面板测试的准确性。
例如，图9(a)是本公开再一个实施例提供的一种显示面板的再一种测试方法的示例性流程图，图9(b)是图9(a)所示的测试方法的示意图。如图9(a)和图9(b)所示，该显示面板的测试方法可以包括以下步骤：
步骤S310：选择显示面板的一条信号线作为待检信号线331；
步骤S320：在待检信号线331与第一测试线341重叠的位置处使得待检信号线331与第一测试线341短接，并形成第一短接点371；
步骤S330：在第一测试线341的远离驱动电路391的一侧切断待检信号线331；
步骤S340：选择显示面板的正常显示区域对应的一条信号线作为对照信号线332；
步骤S350：在对照信号线332与第一测试线341重叠的位置处使得对照信号线332与第一测试线341短接，并形成第一对照短接点381；
步骤S360：在第一测试线341的远离驱动电路391的一侧切断对照信号线332；
步骤S370：在第一短接点371和第一对照短接点381之间的位置处切断第一测试线341；
步骤S380：经由第一测试线341和第一短接点371获取驱动电路391对应于待检信号线331的部分输出的待检电信号；
步骤S390：经由第一测试线341和第一对照短接点381获取驱动电路391对应于对照信号线332的部分输出的对照电信号；以及
步骤S399：通过对比驱动电路391输出的待检电信号和对照电信号确定驱动电路391的对应于待检信号线331的部分是否存在不良。
例如，步骤S310-步骤S360的详细内容可以参见步骤S110-步骤S130，在此不再赘述。例如，在步骤S370中，可以使用激光切断第一测试线341，例如，可以使用激光使得第一短接点371和第一对照短接点381之间的一个第二测试电极322在第一方向上处于断开的状态。例如，在步骤S380和步骤S390中，可以经由第一测试线341左侧的测试端子355和第一短接点371获取驱动电路391对应于待检信号线331的部分输出的待检电信号，并可以经由第一测试线341右侧的测试端子355和第一对照短接点381获取驱动电路391对应于对照信号线332的部分输出的对照电信号。例如，在步骤S399中，可以通过对比待检电信号和对照电信号的幅值、波形或时序确定驱动电路391的对应于待检信号线331的部分是否存在不良。由此，可以进一步提高显示面板测试的准确性。显然，图9(a)所示的显示面板测试方法中步骤的顺序仅是示例性的，也即是上述步骤的顺序可以根据实际应用需求进行改变。又例如，图9(a)所示的显示面板测试方法还可以按照如下顺序进行：步骤S310、步骤S340、步骤S320、步骤S350、步骤S330和步骤S360-步骤S399。
例如，图10(a)是本公开再一个实施例提供的一种显示面板的再一种测试方法的示例性流程图，图10(b)是图10(a)所示的测试方法的示意图。如图10(a)和图10(b)所示，该显示面板的测试方法可以包括以下步骤：
步骤S410：选择显示面板的一条信号线作为待检信号线331；
步骤S420：在待检信号线331与第一测试线341重叠的位置处使得待检信号线331与第一测试线341短接，并形成第一短接点371；
步骤S430：在第一测试线341的远离阵列基板本体392的一侧切断待检信号线331；
步骤S440：选择显示面板的正常显示区域对应的一条信号线作为对照信号线332；
步骤S450：在对照信号线332与第一测试线341重叠的位置处使得对照信号线332与第一测试线341短接，并形成第一对照短接点381；
步骤S460：在第一测试线341的远离阵列基板本体392的一侧切断对照信号线332；
步骤S470：在第一短接点371和第一对照短接点381之间的位置处切断第一测试线341；
步骤S480：经由第一测试线341和第一短接点371向待检信号线331输入信号；
步骤S490：经由第一测试线341和第一对照短接点381向对照信号线332输入信号；以及
步骤S499：通过对比显示面板本体的对应于待检信号线331和对照信号线332的显示区域的显示情况、确定显示面板本体的对应于待检信号线331的部分是否存在不良。
例如，步骤S410-步骤S470的详细内容可以参见步骤S310-步骤S370，在此不再赘述。例如，在步骤S480和步骤S490中，可以向待检信号线331和对照信号线332输入相同幅值、波形和时序的信号，并通过观察显示面板本体对应于待检信号线331和对照信号线332部分的显示亮度、确定显示面板本体的对应于待检信号线331的部分是否存在不良。由此，可以进一步提高显示面板测试的准确性。显然，图10(a)所示的显示面板测试方法中步骤的顺序仅是示例性的，也即是上述步骤的顺序可以根据实际应用需求进行改变。又例如，图10(a)所示的显示面板测试方法还可以按照如下顺序进行：步骤S410、步骤S440、步骤S420、步骤S450、步骤S430、步骤S460-步骤S499。
例如，图11(a)是本公开再一个实施例提供的一种显示面板的再一种测试方法的示例性流程图，图11(b)是图11(a)所示的测试方法的示意图。如图11(a)和图11(b)所示，该显示面板的测试方法可以包括以下步骤：
步骤S510：选择显示面板的一条信号线作为待检信号线331；
步骤S520：在待检信号线331与第一测试线341重叠的位置处使得待检信号线331与第一测试线341短接，并形成第一短接点371；
步骤S530：在第一测试线341的远离驱动电路391的一侧切断待检信号线331；
步骤S540：经由第一测试线341和第一短接点371获取驱动电路391输出的待检电信号，由此确定驱动电路391对应于待检信号线331的部分是否存在不良；
步骤S550：在待检信号线331与第二测试线342重叠的位置处使得待检信号线331与第二测试线342短接，并形成第二短接点372；以及
步骤S560：经由第二测试线342和第二短接点372向待检信号线331输入信号并由此确定显示面板本体对应于待检信号线331的部分是否存在不良。
例如，步骤S510-步骤S540的详细内容可以参见步骤S210-步骤S240，在此不再赘述。例如，在步骤S550中，可以使用激光将待检信号线331与第二测试线342焊接以实现二者之间的短接。例如，在待检信号线331为第一信号线的情况下，可以使用激光将第一信号线和第四测试电极323焊接在一起，由此实现第一信号线与第二测试线342的短接。又例如，在待检信号线331为第二信号线的情况下，可以使用激光将第二信号线和第三测试电极313焊接在一起，由此实现第二信号线与第二测试线342的短接。
例如，在步骤S560中，可以经由第二测试线342(例如第二测试线342右侧的测试端子355)和第二短接点372向待检信号线331输入信号，由此确定显示面板对应于待检信号线331的部分是否存在不良。例如，在经由第二测试线342和第二短接点372向待检信号线331输入信号后，显示面板对应于待检信号线331的部分是仍然不能实现正常显示(例如，对应的像素不发光或者亮度偏低)的情况下，可以判定显示面板对应于待检信号线331的部分存在不良。例如，对于图11所示的显示面板的测试方法，针对同一根待检信号线331，由于不仅可以通过获取驱动电路391输出的待检电信号确定驱动电路391对应于该待检信号线331的部分是否存在不良，还可以通过向待检信号线331输入信号确定显示面板本体对应于该待检信号线331的部分是否存在不良。由此可以进一步提升显示面板测试的准确性。显然，图11(a)所示的显示面板测试方法中步骤的顺序仅是示例性的，也即是上述步骤的顺序可以根据实际应用需求进行改变。例如，还可以先确定显示面板本体对应于待检信号线331的部分是否存在不良，然后再确定驱动电路391对应于待检信号线331的部分是否存在不良。
例如，图12(a)是本公开再一个实施例提供的一种显示面板的再一种测试方法的示例性流程图，图12(b)是图12(a)所示的测试方法的示意图。如图12(a)和图12(b)所示，该显示面板的测试方法可以包括以下步骤：
步骤S611：选择显示面板的对应于异常显示区域的一条信号线和对应于正常的显示区域的一条信号线分别作为待检信号线331和对照信号线332；
步骤S612：在待检信号线331和对照信号线332与第一测试线341重叠的位置处分别使得待检信号线331和对照信号线332与第一测试线341短接，并分别形成第一短接点371和第一对照短接点381；
步骤S613：在第一测试线341的远离驱动电路391的一侧切断待检信号线331和对照信号线332；
步骤S614：在第一短接点371和第一对照短接点381之间的位置处切断第一测试线341；
步骤S615：经由第一测试线341和第一短接点371获取驱动电路391输出的待检电信号，并经由第一测试线341和第一对照短接点381获取驱动电路391输出的对照电信号；
步骤S616：通过对比驱动电路391输出的待检电信号和对照电信号确定驱动电路391的对应于待检信号线331的部分是否存在不良；
步骤S617：在待检信号线331和对照信号线332与第二测试线342重叠的位置处分别使得待检信号线331和对照信号线332与第二测试线342短接，并分别形成第二短接点372和第二对照短接点382；
步骤S618：在第二短接点372和第二对照短接点382之间的位置处切断第二测试线342；
步骤S619：经由第二测试线342和第二短接点372向待检信号线331输入信号，并经由第二测试线342和第二对照短接点382向对照信号线332输入信号；以及
步骤S620：通过对比显示面板的对应于待检信号线331和对照信号线332的显示区域的显示情况、确定显示面板本体的对应于待检信号线331的部分是否存在不良。
例如，步骤S611-步骤S616的详细内容可以参见步骤S310-S399，步骤S617-步骤S620可以参见步骤S450、步骤S470-步骤S499，在此不再赘述。例如，图12所示的显示面板的测试方法可以通过对比驱动电路391输出的待检电信号和对照电信号确定驱动电路391的对应于待检信号线331的部分是否存在不良，并且还可以通过对比显示面板的对应于待检信号线331和对照信号线332的显示区域的显示情况确定显示面板本体的对应于待检信号线331的部分是否存在不良，由此图12所示的显示面板的测试方法可以进一步提升显示面板测试的准确性。显然，图12(a)所示的显示面板测试方法中步骤的顺序仅是示例性的，也即是上述步骤的顺序可以根据实际应用需求进行改变。例如，还可以先确定显示面板本体对应于待检信号线331的部分是否存在不良，然后再确定驱动电路391对应于待检信号线331的部分是否存在不良。
例如，为了清楚的说明本公开的实施例，附图中的部分结构的尺寸比例相对于实际产品中的尺寸比例可能不一致，例如被适当夸大，部分结构的尺寸比例也可能小于实际产品中的尺寸比例，也即是，附图中结构的尺寸比例不代表真实结构的尺寸比例。
本公开的实施例提供了一种阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置，该阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置可以提高显示面板或/和显示装置测试的准确性。
虽然上文中已经用一般性说明及具体实施方式，对本公开作了详尽的描述，但在本公开实施例基础上，可以对之作一些修改或改进，这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此，在不偏离本公开精神的基础上所做的这些修改或改进，均属于本公开要求保护的范围。

Claims (16)

1.一种阵列基板，具有显示区域和周边区域，包括：
第一电极层，包括沿第一方向排布的多根第一信号线，所述第一信号线从所述周边区域延伸到所述显示区域；
第一测试线，设置在所述周边区域，沿所述第一方向延伸，与所述第一信号线相重叠且绝缘；
其中，所述第一测试线配置为通过与至少一根所述第一信号线短接实现包含所述阵列基板的显示面板的不良测试。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，还包括：
第二电极层，与所述第一电极层位于不同层，且所述第二电极层包括沿所述第一方向排布的多根第二信号线，所述第二信号线从所述周边区域延伸到所述显示区域，且与所述第一信号线交替排布；
其中，所述第一测试线与所述第二信号线重叠且绝缘。
3.根据权利要求2所述的阵列基板，其中，
所述第一测试线包括：
设置在相邻的两根所述第一信号线之间的、且与所述第一信号线电绝缘的第一测试电极；以及
设置在相邻的两根所述第二信号线之间的、且与所述第二信号线电绝缘的第二测试电极；
其中，所述第一测试电极和所述第二测试电极彼此电连接由此构成所述第一测试线。
4.根据权利要求3所述的阵列基板，还包括：
第一绝缘层，设置于所述第一电极层与所述第二电极层之间；
其中，所述第一测试电极和所述第二测试电极通过位于所述第一绝缘层中的过孔彼此电连接由此构成所述第一测试线。
5.根据权利要求4所述的阵列基板，还包括薄膜晶体管，其中，
所述薄膜晶体管包括栅极、栅绝缘层、源极和漏极；
所述第一电极层与所述栅极同层；
所述第一绝缘层与所述栅绝缘层同层；
所述第二电极层与所述源极和所述漏极同层。
6.根据权利要求1-5任一项所述的阵列基板，其中，所述第一测试线的一端或两端设置有测试端子。
7.根据权利要求3所述的阵列基板，还包括：
第二测试线，设置在所述周边区域中，沿所述第一方向延伸，与所述第一信号线相重叠且绝缘。
8.根据权利要求7所述的阵列基板，其中，所述第二测试线包括：
设置在相邻的两根所述第一信号线之间的、且与所述第一信号线和所述第一测试电极电绝缘的第三测试电极；以及
设置在相邻的两根所述第二信号线之间的、且与所述第二信号线和所述第二测试电极电绝缘的第四测试电极；
其中，所述第三测试电极和所述第四测试电极彼此电连接由此构成所述第二测试线。
9.根据权利要求7或8所述的阵列基板，其中，所述第二测试线的一端或两端设置有测试端子。
10.一种显示面板，包括如权利要求1-9任一所述的阵列基板和至少一个驱动电路，其中，每个所述驱动电路与所述阵列基板的多根信号线电连接，并通过多根所述信号线驱动所述阵列基板。
11.一种显示装置，包括如权利要求10所述的显示面板。
12.一种如权利要求10所述的显示面板的测试方法，包括：
选择所述显示面板的一条信号线作为待检信号线；
在所述待检信号线与第一测试线重叠的位置处使得所述待检信号线与所述第一测试线短接，并形成第一短接点；
在所述第一测试线的远离驱动电路/阵列基板本体的一侧切断所述待检信号线；以及
经由所述第一测试线和所述第一短接点获取所述驱动电路输出的待检电信号/向所述待检信号线输入信号，由此确定所述驱动电路/显示面板本体对应于所述待检信号线的部分是否存在不良。
13.根据权利要求12所述的测试方法，其中，
在所述第一测试线的远离所述驱动电路的一侧切断所述待检信号线；
经由所述第一测试线和所述第一短接点获取所述驱动电路输出的待检电信号，并根据所述待检电信号判断所述驱动电路的对应于所述待检信号线的部分是否存在不良。
14.根据权利要求13所述的测试方法，其中，
在所述待检信号线与第二测试线重叠的位置处使得所述待检信号线与所述第二测试线短接，并形成第二短接点；
经由所述第二测试线和所述第二短接点向所述待检信号线输入信号并由此确定所述显示面板本体对应于所述待检信号线的部分是否存在不良。
15.根据权利要求12所述的测试方法，其中，
选择所述显示面板的正常显示区域对应的一条信号线作为对照信号线；
在所述对照信号线与所述第一测试线重叠的位置处使得所述对照信号线与所述第一测试线短接，并形成对照短接点；
在所述第一测试线的远离所述驱动电路/所述阵列基板本体的一侧切断所述对照信号线；以及
在所述第一短接点和所述对照短接点之间的位置处切断所述第一测试线；以及
经由所述第一测试线和所述对照短接点获取所述驱动电路对应于所述对照信号线的部分输出的对照电信号/向所述对照信号线输入信号，并通过对比所述驱动电路输出的所述待检电信号和所述对照电信号/对比所述显示面板本体的对应于所述待检信号线和所述对照信号线的显示区域的显示情况，确定所述驱动电路/所述显示面板本体的对应于所述待检信号线的部分是否存在不良。
16.根据权利要求12-15任一项所述的测试方法，其中，
使用激光将所述待检信号线与所述第一测试线焊接以实现二者之间的短接；
使用激光切断所述待检信号线或/和所述第一测试线。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108169972A (zh) * 2018-01-12 2018-06-15 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其驱动方法、显示装置
CN109830197A (zh) * 2019-01-17 2019-05-31 昆山国显光电有限公司 一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置
CN110850651A (zh) * 2019-11-05 2020-02-28 武汉华星光电技术有限公司 显示面板和测试系统
CN111933066A (zh) * 2020-08-28 2020-11-13 京东方科技集团股份有限公司 Oled显示基板、显示模组、显示面板
CN112669737A (zh) * 2020-12-22 2021-04-16 上海天马有机发光显示技术有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
CN113050013A (zh) * 2021-03-17 2021-06-29 京东方科技集团股份有限公司 检测扎针测试探针接触性能的装置、方法及面板

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210130333A (ko) * 2020-04-21 2021-11-01 삼성디스플레이 주식회사 표시장치 및 그 검사방법
KR20220062156A (ko) * 2020-11-06 2022-05-16 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101556382A (zh) * 2008-04-10 2009-10-14 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd阵列基板及其制造方法和测试方法
CN105810695A (zh) * 2016-06-03 2016-07-27 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及显示装置
US20170033231A1 (en) * 2009-11-28 2017-02-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Stacked oxide material, semiconductor device, and method for manufacturing the semiconductor device
CN205942652U (zh) * 2016-07-26 2017-02-08 上海中航光电子有限公司 一种触控显示面板及显示装置
CN106444189A (zh) * 2016-10-13 2017-02-22 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板、其检测方法及显示装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100473588B1 (ko) * 2001-12-28 2005-03-08 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정 표시 장치용 어레이 기판
US9703150B2 (en) * 2011-11-25 2017-07-11 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device
CN103513454B (zh) * 2013-08-29 2015-06-10 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其检测方法和制备方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101556382A (zh) * 2008-04-10 2009-10-14 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd阵列基板及其制造方法和测试方法
US20170033231A1 (en) * 2009-11-28 2017-02-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Stacked oxide material, semiconductor device, and method for manufacturing the semiconductor device
CN105810695A (zh) * 2016-06-03 2016-07-27 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及显示装置
CN205942652U (zh) * 2016-07-26 2017-02-08 上海中航光电子有限公司 一种触控显示面板及显示装置
CN106444189A (zh) * 2016-10-13 2017-02-22 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板、其检测方法及显示装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108169972A (zh) * 2018-01-12 2018-06-15 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其驱动方法、显示装置
CN109830197A (zh) * 2019-01-17 2019-05-31 昆山国显光电有限公司 一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置
CN109830197B (zh) * 2019-01-17 2022-03-15 昆山国显光电有限公司 一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置
CN110850651A (zh) * 2019-11-05 2020-02-28 武汉华星光电技术有限公司 显示面板和测试系统
CN110850651B (zh) * 2019-11-05 2022-05-31 武汉华星光电技术有限公司 显示面板和测试系统
CN111933066A (zh) * 2020-08-28 2020-11-13 京东方科技集团股份有限公司 Oled显示基板、显示模组、显示面板
CN112669737A (zh) * 2020-12-22 2021-04-16 上海天马有机发光显示技术有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
CN112669737B (zh) * 2020-12-22 2023-07-14 武汉天马微电子有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
US11715743B2 (en) 2020-12-22 2023-08-01 Wuhan Tianma Micro-Electronics Co., Ltd. Display panel and crack detection method, and display device
CN113050013A (zh) * 2021-03-17 2021-06-29 京东方科技集团股份有限公司 检测扎针测试探针接触性能的装置、方法及面板
CN113050013B (zh) * 2021-03-17 2023-06-20 京东方科技集团股份有限公司 检测扎针测试探针接触性能的装置、方法及面板

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