CN110045223B - 一种显示面板及其测试方法、显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板及其测试方法、显示装置，显示面板包括显示区以及位于显示区至少一侧的引脚区；显示面板的引脚区设置有多个连接引脚和至少一个第一控制引脚，连接引脚划分为多个第一连接引脚组，每个第一连接引脚组包括相邻的两个连接引脚，每个连接引脚仅位于一个第一连接引脚组中；第一控制引脚上加载的控制信号用于控制每个第一连接引脚组中的两个连接引脚是否短接。通过本发明的技术方案，有利于实现对测试装置的测试探针是否与显示面板中对应的连接引脚电接触的测试，从而实现对显示面板显示效果的测试。

Description

一种显示面板及其测试方法、显示装置

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其测试方法、显示装置。

背景技术

为了实现对显示面板显示效果的测试，在测试装置向显示面板加载相应的显示信号之前，需要先对探测装置中的测试探针是否与显示面板中对应的引脚良好接触进行测试，以确保测试装置能够准确地向显示面板加载显示信号。

目前可通过显微镜观察测试装置的测试探针扎在显示面板的引脚上的痕迹判断测试装置的测试探针是否扎在了显示面板中对应的引脚上，即使通过显微镜的观察确认测试探针扎在了显示面板中对应的引脚上，测试探针到显示面板中对应的引脚的信号通路是否正常仍然无法获知。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种显示面板及其测试方法、显示装置，有利于实现对测试装置的测试探针是否与显示面板中对应的连接引脚电接触的测试，从而实现对显示面板显示效果的测试。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，所述显示面板包括显示区以及位于所述显示区至少一侧的引脚区；

所述显示面板的引脚区设置有多个连接引脚和至少一个第一控制引脚，所述连接引脚划分为多个第一连接引脚组，每个所述第一连接引脚组包括相邻的两个所述连接引脚，每个所述连接引脚仅位于一个所述第一连接引脚组中；

所述第一控制引脚上加载的控制信号用于控制每个所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接。

进一步地，所述显示面板的引脚区设置有与所述第一连接引脚组一一对应设置的第一开关元件，所述第一控制引脚通过所述第一开关元件控制对应的所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接；

优选地，与所述至少一个第一控制引脚电连接的第一信号线作为所述第一开关元件的栅极，所述第一连接引脚组中的所述连接引脚连接至所述显示区中器件的第二信号线分别作为所述第一开关元件的源极和漏极；所述第一开关元件的半导体层位于所述第一信号线与所述第二信号线之间或者所述第一开关元件的半导体层位于所述第一信号线远离所述第二信号线的一侧。

进一步地，所述显示面板的引脚区设置有两个所述第一控制引脚，沿所述连接引脚的排列方向，一个所述第一控制引脚位于所有所述连接引脚的一侧，另一个所述第一控制引脚位于所有所述连接引脚的另一侧。

进一步地，所述显示面板的引脚区还设置有至少一个第二控制引脚，所述连接引脚划分为多个第二连接引脚组，每个所述第二连接引脚组包括相邻的两个所述连接引脚，每个所述连接引脚仅位于一个所述第二连接引脚组中，所述第二连接引脚组与相邻的所述第一连接引脚组包括同一个所述连接引脚；所述第二控制引脚上加载的控制信号用于控制每个所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接；

优选地，所述显示面板的引脚区设置有与所述第二连接引脚组一一对应设置的第二开关元件，所述第二控制引脚通过所述第二开关元件控制对应的所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接；

优选地，与所述至少一个第二控制引脚电连接的第三信号线作为所述第二开关元件的栅极，所述第二连接引脚组中的所述连接引脚连接至所述显示区中器件的第四信号线分别作为所述第二开关元件的源极和漏极；所述第二开关元件的半导体层位于所述第三信号线与所述第四信号线之间或者所述第二开关元件的半导体层位于所述第三信号线远离所述第四信号线的一侧；

优选地，所述显示面板的引脚区设置有两个所述第二控制引脚，沿所述连接引脚的排列方向，一个所述第二控制引脚位于所有所述连接引脚的一侧，另一个所述第二控制引脚位于所有所述连接引脚的另一侧。

进一步地，沿所述连接引脚的排列方向，所述第一控制引脚的宽度大于或等于1mm，所述第二控制引脚的宽度大于或等于1mm。

进一步地，所述显示面板的引脚区设置有与所述第一连接引脚组一一对应设置的第一开关元件，所述第一控制引脚通过所述第一开关元件控制对应的所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接；

沿垂直于所述连接引脚排列方向的方向，所述显示面板的引脚区划分为第一引脚区和第二引脚区，所有所述第一开关元件设置于所述第一引脚区，所有所述第二开关元件设置于所述第二引脚区。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，用于测试如第一方面所述的显示面板，所述测试方法包括：

控制所述第一控制引脚上加载第一控制信号；其中，每个所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第一控制信号的作用下短接；

控制测试装置通过第一测试探针组中的一个测试探针加载第一测试信号；其中，所述测试装置的测试探针包括与所述第一连接引脚组一一对应设置的第一测试探针组；

根据所述测试装置的所述第一测试探针组中的另一个所述测试探针是否接收到所述第一测试信号判断所述测试探针是否与对应的所述连接引脚电接触；其中，若所述测试装置的所述第一测试探针组中的另一个所述测试探针接收到所述第一测试信号，判断所述测试探针与对应的所述连接引脚电接触。

进一步地，所述测试方法，其特征在于，

所述显示面板的引脚区还设置有至少一个第二控制引脚，所述连接引脚划分为多个第二连接引脚组，每个所述第二连接引脚组包括相邻的两个所述连接引脚，每个所述连接引脚仅位于一个所述第二连接引脚组中，所述第二连接引脚组与相邻的所述第一连接引脚组包括同一个所述连接引脚；所述第二控制引脚上加载的控制信号用于控制每个所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接；

所述测试方法包括：

控制所述第一控制引脚上加载第一控制信号，控制所述第二控制引脚上加载第二控制信号；其中，每个所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第一控制信号的作用下短接，每个所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第二控制信号的作用下断开连接；

控制所述测试装置通过所述第一测试探针组中的一个所述测试探针加载第一测试信号；

控制所述第一控制引脚上加载第三控制信号，控制所述第二控制引脚上加载第四控制信号；其中，每个所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第三控制信号的作用下断开连接，每个所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第四控制信号的作用下短接；

控制所述测试装置通过第二测试探针组中的一个所述测试探针加载第二测试信号；其中，所述测试装置的测试探针包括与所述第二连接引脚组一一对应设置的第二测试探针组；

根据所述测试装置的所述第一测试探针组中的另一个所述测试探针是否接收到所述第一测试信号，以及所述测试装置的所述第二测试探针组中的另一个所述测试探针是否接收到所述第二测试信号判断所述测试探针是否与对应的所述连接引脚电接触；其中，若所述测试装置的所述第一测试探针组中的另一个所述测试探针接收到所述第一测试信号，且所述测试装置的所述第二测试探针组中的另一个所述测试探针接收到所述第二测试信号，判断所述测试探针与对应的所述连接引脚电接触。

进一步地，在根据所述测试装置的所述第一测试探针组中的另一个所述测试探针是否接收到所述第一测试信号，以及所述测试装置的所述第二测试探针组中的另一个所述测试探针是否接收到所述第二测试信号判断所述测试探针是否与对应的所述连接引脚电接触之后，所述测试方法还包括：

控制所述第一控制引脚上加载第五控制信号，控制所述第二控制引脚上加载第六控制信号；其中，每个所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第五控制信号的作用下断开连接，每个所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第六控制信号的作用下断开连接；

控制所述测试装置间隔设定时间依次通过所述测试探针加载第三测试信号；

根据所述测试装置的与加载所述第三测试信号的所述测试探针相邻的所述测试探针是否接收到所述第三测试信号判断相邻的所述连接引脚是否存在短路；其中，若所述测试装置的与加载所述第三测试信号的所述测试探针相邻的所述测试探针接收到所述第三测试信号，判断相邻的所述连接引脚存在短路。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括如第一方面所述的显示面板。

本发明实施例提供了一种显示面板及其测试方法、显示装置，显示面板包括显示区以及位于显示区至少一侧的引脚区，显示面板的引脚区设置有多个连接引脚和至少一个第一控制引脚，连接引脚划分为多个第一连接引脚组，每个第一连接引脚组包括相邻的两个连接引脚，每个连接引脚仅位于一个第一连接引脚组中，第一控制引脚上加载的控制信号用于控制每个第一连接引脚组中的两个连接引脚是否短接，有利于实现对测试装置的测试探针是否与显示面板中对应的连接引脚电接触的测试，从而实现对显示面板显示效果的测试。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的俯视结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种第一开关元件的剖面结构示意图；

图3为本发明实施例提供的另一种第一开关元件的剖面结构示意图；

图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的俯视结构示意图；

图5为另一种显示面板的俯视结构示意图；

图6为本发明实施例提供的一种第二开关元件的剖面结构示意图；

图7为本发明实施例提供的另一种第二开关元件的剖面结构示意图；

图8为本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程示意图；

图9为本发明实施例提供的另一种显示面板的测试方法的流程示意图；

图10为本发明实施例提供的另一种显示面板的测试方法的流程示意图；

图11为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。贯穿本说明书中，相同或相似的附图标号代表相同或相似的结构、元件或流程。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

本发明实施例提供了一种显示面板，显示面板包括显示区以及位于显示区至少一侧的引脚区，显示面板的引脚区设置有多个连接引脚和至少一个第一控制引脚，连接引脚划分为多个第一连接引脚组，每个第一连接引脚组包括相邻的两个连接引脚，每个连接引脚仅位于一个第一连接引脚组中，第一控制引脚上加载的控制信号用于控制每个第一连接引脚组中的两个连接引脚是否短接。

为了实现对显示面板显示效果的测试，需要利用测试装置向显示面板加载测试用的显示信号，在测试装置向显示面板加载相应的显示信号之前，需要先对探测装置中的测试探针是否与显示面板中对应的引脚良好接触进行测试，以确保测试装置能够准确地向显示面板加载显示信号。目前可通过显微镜观察测试装置的测试探针扎在显示面板的引脚上的痕迹判断测试装置的测试探针是否扎在了显示面板中对应的引脚上，即使通过显微镜的观察确认测试探针扎在了显示面板中对应的引脚上，测试探针到显示面板中对应的引脚的信号通路是否正常仍然无法获知，即测试探针是否与显示面板中对应的引脚良好接触并实现对显示信号的准确加载无从知晓。

另外，针对尺寸较大的引脚，可以设置测试装置的两个测试探针对应显示面板的一个引脚，即设置两个测试探针扎在显示面板的一个引脚上，这样，测试装置通过一个测试探针加载信号，根据测试装置是否能够通过另一个测试探针接收到相应的信号即可实现对测试探针与显示面板中对应的引脚是否良好接触的检测，但是针对尺寸较小的引脚，无法设置测试探针的两个测试引脚同时扎在显示面板的一个引脚上，因此，也就无法利用上述对大尺寸引脚进行测试的方法实现对测试探针与对应的引脚是否良好接触的检测。

本发明实施例提供了一种显示面板及其测试方法、显示装置，显示面板包括显示区以及位于显示区至少一侧的引脚区，显示面板的引脚区设置有多个连接引脚和至少一个第一控制引脚，连接引脚划分为多个第一连接引脚组，每个第一连接引脚组包括相邻的两个连接引脚，每个连接引脚仅位于一个第一连接引脚组中，第一控制引脚上加载的控制信号用于控制每个第一连接引脚组中的两个连接引脚是否短接。这样，在使用测试装置对显示面板进行测试的过程中，能够实现对测试装置的测试探针是否与显示面板中对应的连接引脚电接触的测试，确保测试装置能够通过测试探针以及对应的连接引脚向显示面板加载相应的显示信号，从而实现对显示面板显示效果的测试。

以上是本发明的核心思想，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的俯视结构示意图。如图1所示，显示面板包括显示区AA以及位于显示区AA至少一侧的引脚区BB，这里示例性地设置引脚区BB位于显示区AA的一侧，显示面板的引脚区BB设置有多个连接引脚1和至少一个第一控制引脚2，连接引脚1划分为多个第一连接引脚组10，每个第一连接引脚组10包括相邻的两个连接引脚1，每个连接引脚1仅位于一个第一连接引脚组10中。如图1所示，这里示例性地设置左侧起第一个连接引脚1和第二个连接引脚1构成一个第一连接引脚组10，第三个连接引脚1和第四个连接引脚1构成一个第一连接引脚组10，以此类推。需要说明的是，本发明实施例对第一连接引脚组10中具体包括哪两个相邻的连接引脚1不作限定，确保每个连接引脚1仅位于一个第一连接引脚组10中即可，第一控制引脚2上加载的控制信号用于控制每个第一连接引脚组10中的两个连接引脚1是否短接。

具体地，如图1所示，可以设置测试装置的测试探针划分为与第一连接引脚组10一一对应设置的第一测试探针组，例如可以设置测试装置的测试探针中每两个相邻的测试探针构成与一个第一连接引脚组10对应设置的第一测试探针组，同样的，每个测试探针仅位于一个第一测试探针组中。可以设置测试装置通过第一测试探针组中的一个测试探针加载第一测试信号，根据测试装置的第一测试探针组中的另一个测试探针是否接收到第一测试信号判断测试探针是否与对应的连接引脚1电接触。

具体地，如图1所示，在需要对测试装置的测试探针是否与对应的连接引脚1电接触进行测试时，可以通过调节第一控制引脚2上加载的控制信号使得每个第一连接引脚组10中的两个连接引脚1短接，测试装置通过第一测试探针组中的一个测试探针加载第一测试信号，若在一个第一连接引脚组10中的两个连接引脚1短接的情况下，该第一测试探针组中的另一个测试探针能够接收到第一测试信号，说明测试装置通过第一测试探针组中的一个测试探针加载的第一测试信号能够通过对应的第一连接引脚组10中的两个短接的引脚传输至该第一测试探针组中的另一个测试探针，进而说明第一测试探针组中的两个测试探针能够与对应的第一连接引脚组10中的两个连接引脚1分别对应电接触。

对应的，如果第一测试探针组中的另一个测试探针无法接收到第一测试信号，说明测试装置通过第一测试探针组中的一个测试探针加载的第一测试信号无法通过对应的第一连接引脚组10中的两个短接的引脚传输至该第一测试探针组中的另一个测试探针，进而说明第一测试探针组中的两个测试探针中的至少一个测试探针无法与对应的第一连接引脚组10中的连接引脚1电接触。依此，有效实现了对显示面板的引脚区BB中的所有连接引脚1是否与测试装置的对应的测试探针电接触的检测，以确保测试装置能够通过测试探针以及对应的连接引脚1向显示面板加载相应的显示信号，从而实现对显示面板显示效果的测试。

在结束了对显示面板的引脚区BB中的所有连接引脚1是否与测试装置的对应的测试探针电接触的测试之后，可以通过调节第一控制引脚2上加载的控制信号使得每个第一连接引脚组10中的两个连接引脚1断开连接，以使测试装置能够通过测试探针以及与测试探针一一对应电连接的连接引脚1向显示面板加载相应的显示信号，从而实现对显示面板显示效果的测试。

可选地，如图1所示，显示面板的引脚区BB可以设置有与第一连接引脚组10一一对应设置的第一开关元件3，第一控制引脚2通过第一开关元件3控制对应的第一连接引脚组10中的两个连接引脚1是否短接。示例性地，第一开关元件3可以采用薄膜晶体管，根据薄膜晶体管的类型，通过调节第一控制引脚2上加载的控制信号的电平的高低，控制第一开关元件3的导通与关断。

具体地，在对显示面板的引脚区BB中的所有连接引脚1是否与测试装置的对应的测试探针电接触的测试时，可以通过调节第一控制引脚2上加载的控制信号的电平的高低控制第一开关元件3导通，具体测试过程如上，这里不再赘述。在结束了对显示面板的引脚区BB中的所有连接引脚1是否与测试装置的对应的测试探针电接触的测试之后，则可以通过调节第一控制引脚2上加载的控制信号控制第一开关元件3关断。

图2为本发明实施例提供的一种第一开关元件的剖面结构示意图。结合图1和图2，可以设置与至少一个第一控制引脚2电连接的第一信号线41作为第一开关元件3的栅极G，第一连接引脚组10中的连接引脚1连接至显示区AA中器件的第二信号线42分别作为第一开关元件3的源极S和漏极D，例如可以设置对应一个第一连接引脚组10的第二信号线421作为第一开关元件3的源极S，第二信号线422作为第一开关元件3的漏极D，第一开关元件3的半导体层P位于第一信号线41与第二信号线42之间。

具体地，设置与至少一个第一控制引脚2电连接的第一信号线41作为第一开关元件3的栅极G，能够通过调节第一控制引脚2上加载的控制信号实现对第一开关元件3导通与关断状态的调节，且设置与至少一个第一控制引脚2电连接的第一信号线41作为第一开关元件3的栅极G，第一连接引脚组10中的连接引脚1连接至显示区AA中器件的第二信号线42分别作为第一开关元件3的源极S和漏极D，无需增加新结构，仅利用与至少一个第一控制引脚2电连接的第一信号线41和第一连接引脚组10中的连接引脚1连接至显示区AA中器件的第二信号线42即可构成第一开关元件3的栅极G、源极S和漏极D，简化了显示面板实现第一开关元件3所进行的布局布线。另外，可以设置第一开关元件3中的栅极G、半导体层P、源极S和漏极D与显示面板显示区AA内的薄膜晶体管的栅极G、半导体层P、源极S和漏极D分别同层制作，以简化显示面板制程。

图3为本发明实施例提供的另一种第一开关元件的剖面结构示意图。与图2所示结构的第一开关元件不同的是，图3所示结构的第一开关元件3设置第一开关元件3的半导体层P位于第一信号线41远离第二信号线42的一侧，即设置第一开关元件3为顶栅结构，图2所示结构的第一开关元件3为底栅结构，本发明实施例对此不作限定。

可选地，如图1所示，可以设置显示面板的引脚区BB设置有两个第一控制引脚2，沿连接引脚1的排列方向XX’，一个第一控制引脚2位于所有连接引脚1的一侧，另一个第一控制引脚2位于所有连接引脚1的另一侧，即两个第一控制引脚2分别位于图1中的最左侧和最右侧。具体地，设置显示面板的引脚区BB设置有两个第一控制引脚2，沿连接引脚1的排列方向XX’，一个第一控制引脚2位于所有连接引脚1的一侧，另一个第一控制引脚2位于所有连接引脚1的另一侧，有利于提高与第一控制引脚2电连接的第一信号线41上控制信号的均匀性，使得通过调节第一控制引脚2上的控制信号调节第一开关元件3的导通状态时，各第一开关元件3的开启时间以及关闭时间的延迟问题得到改善，使测试装置通过测试探针加载信号时所有的第一开关元件3能够均处于开启状态，避免延时问题导致对显示面板的引脚区BB中的所有连接引脚1是否与测试装置的对应的测试探针电接触的测试结果不准确。

图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的俯视结构示意图。在图1所示结构的显示面板的基础上，可以设置显示面板的引脚区BB还设置有至少一个第二控制引脚5，连接引脚1划分为多个第二连接引脚组20，每个第二连接引脚组20包括相邻的两个连接引脚1，每个连接引脚1仅位于一个第二连接引脚组20中，第二连接引脚组20与相邻的第一连接引脚组10包括同一个连接引脚1。如图4所示，这里示例性地设置左起第一个连接引脚1和第二个连接引脚1构成一个第一连接引脚组10，第三个连接引脚1和第四个连接引脚1构成一个第一连接引脚组10，以此类推，设置左起第二个连接引脚1和第三个连接引脚1构成一个第二连接引脚组20，第四个连接引脚1和第五个连接引脚1构成一个第二连接引脚组20，第二控制引脚5上加载的控制信号用于控制每个第二连接引脚组20中的两个连接引脚1是否短接。

需要说明的是，本发明实施例对第一连接引脚组10以及第二连接引脚组20中具体包括哪两个相邻的连接引脚1不作限定，确保每个连接引脚1仅位于一个第一连接引脚组10中，每个连接引脚1仅位于一个第二连接引脚组20中，第二连接引脚组20与相邻的第一连接引脚组10包括同一个连接引脚1即可。

具体地，如图4所示，可以设置测试装置的测试探针划分为与第二连接引脚组20一一对应设置的第二测试探针组，例如可以设置测试装置的测试探针中每两个相邻的测试探针构成与一个第一连接引脚组10对应设置的第一测试探针组，同样的，每个测试探针仅位于一个第二测试探针组中。可以设置测试装置通过第一测试探针组中的一个测试探针加载第一测试信号，以及通过第二测试探针组中的一个测试探针加载第二测试信号，根据测试装置的第一测试探针组中的另一个测试探针是否接收到第一测试信号，以及测试装置的第二测试探针组中的另一个测试探针是否接收到第二测试信号判断测试探针是否与对应的连接引脚1电接触。

具体地，如图4所示，在需要对测试装置的测试探针是否与对应的连接引脚1电接触进行测试时，可以控制第一控制引脚2上加载第一控制信号，控制第二控制引脚5上加载第二控制信号，每个第一连接引脚组10中的两个连接引脚1在第一控制信号的作用下短接，每个第二连接引脚组20中的两个连接引脚1在第二控制信号的作用下断开连接。

控制测试装置通过第一测试探针组中的一个测试探针加载第一测试信号，参照上述测试过程的描述，若仅根据第一测试探针组中的另一个测试探针是否已接收到第一测试信号即判定测试探针是否与对应的连接引脚1电连接，则能存在图5所示的情况，即若测试装置的测试探针与显示面板引脚区BB的连接引脚1电连接时存在横向偏移，可能会存在测试装置的两个测试探针a同时扎在某一个连接引脚1的边缘处，例如测试探针a1与测试探针a2同时扎在第一个连接引脚1的边缘处，则无论测试探针a是否与对应的连接引脚1一一对应电接触，只要测试探针a1加载测试信号，测试探针a2均能接收到该信号，也就无法实现测试探针a是否与对应的连接引脚1一一对应电接触的测试。

本发明实施例设置显示面板的引脚区BB还设置有至少一个第二控制引脚5，这样，在控制第一控制引脚2上加载第一控制信号，控制第二控制引脚5上加载第二控制信号，每个第一连接引脚组10中的两个连接引脚1在第一控制信号的作用下短接，每个第二连接引脚组20中的两个连接引脚1在第二控制信号的作用下断开连接，并控制测试装置通过第一测试探针组中的一个测试探针加载第一测试信号之后，还可以控制第一控制引脚2上加载第三控制信号，控制第二控制引脚5上加载第四控制信号，每个第一连接引脚组10中的两个连接引脚1在第三控制信号的作用下断开连接，每个第二连接引脚组20中的两个连接引脚1在第四控制信号的作用下短接。

控制测试装置通过第二测试探针组中的一个测试探针加载第二测试信号，若测试装置的第一测试探针组中的另一个测试探针接收到第一测试信号，且测试装置的第二测试探针组中的另一个测试探针接收到第二测试信号，则可以判断测试探针与对应的连接引脚1电接触。

参照图5，若存在两个测试探针a同时扎在一个连接引脚1的边缘处的情况，即使在第一开关元件3全部导通，每个第二连接引脚组20中的两个连接引脚1在第四控制信号的作用断开连接，测试探针a1加载的测试信号能够被测试探针a2接收到的情况下，控制每个第二连接引脚组20中的两个连接引脚1在第四控制信号的作用短接，第一开关元件3全部关断，测试探针a2加载的测试信号一定无法被测试探针a3接收到。因此，若测试装置的第一测试探针组中的另一个测试探针以及测试装置的第二测试探针组中的另一个测试探针中，一个测试探针能够接收到相应的测试信号，而另一个测试探针无法接收到相应的测试信号，则说明存在上述两个测试探针同时扎在一个连接引脚1的边缘处的情况，进而能够实现对这种情况的排查，提高对测试探针是否已与对应的连接引脚1电接触的检测的准确性。

在结束了对显示面板的引脚区BB中的所有连接引脚1是否与测试装置的对应的测试探针电接触的测试之后，则可以通过调节第一控制引脚2上加载的控制信号使得每个第一连接引脚组10中的两个连接引脚1断开连接，调节第二控制引脚5上加载的控制信号使得每个第二连接引脚组20中的两个连接引脚1断开连接，以使测试装置能够通过测试探针以及与测试探针一一对应电连接的连接引脚1向显示面板加载相应的显示信号，实现对显示面板显示效果的测试。

可选地，如图4所示，显示面板的引脚区BB设置有与第二连接引脚组20一一对应设置的第二开关元件6，第二控制引脚5通过第二开关元件6控制对应的第二连接引脚组20中的两个连接引脚1是否短接。具体地，示例性地，第二开关元件6可以采用薄膜晶体管，根据薄膜晶体管的类型，通过调节第二控制引脚5上加载的控制信号的电平的高低，控制第二开关元件6的导通与关断。具体地，在对显示面板的引脚区BB中的所有连接引脚1是否与测试装置的对应的测试探针电接触进行测试时，可以通过调节第二控制引脚5上加载的控制信号的电平的高低控制第二开关元件6导通和关断，具体测试过程如上，这里不再赘述。

图6为本发明实施例提供的一种第二开关元件的剖面结构示意图。结合图4和图6，可以设置与至少一个第二控制引脚5电连接的第三信号线43作为第二开关元件6的栅极G，第二连接引脚组20中的连接引脚1连接至显示区AA中器件的第四信号线44分别作为第二开关元件6的源极S和漏极D，例如可以设置对应一个第二连接引脚组200的第四信号线441作为第二开关元件6的源极S，第四信号线442作为第二开关元件6的漏极D，第二开关元件6的半导体层P位于第三信号线43与第四信号线44之间。

具体地，设置与至少一个第二控制引脚5电连接的第三信号线43作为第二开关元件6的栅极G，能够通过调节第二控制引脚5上加载的控制信号实现对第二开关元件6导通与关断状态的调节，且设置与至少一个第二控制引脚5电连接的第三信号线43作为第二开关元件6的栅极G，第二连接引脚组20中的连接引脚1连接至显示区AA中器件的第四信号线44分别作为第二开关元件6的源极S和漏极D，无需增加新结构即可构成第二开关元件6的栅极G、源极S和漏极D，简化了显示面板实现第二开关元件6所进行的布局布线。另外，可以设置第二开关元件6中的栅极G、半导体层P、源极S和漏极D与显示面板显示区AA内的薄膜晶体管的栅极G、半导体层P、源极S和漏极D分别同层制作，以简化显示面板制程。

图7为本发明实施例提供的另一种第二开关元件的剖面结构示意图。与图6所示结构的第二开关元件6不同的是，图7所示结构的第二开关元件6设置第二开关元件6的半导体层P位于第三信号线43远离第四信号线44的一侧，即设置第二开关元件6为顶栅结构，图6所示结构的第二开关元件6为底栅结构，本发明实施例对此不作限定。

可选地，如图4所示，可以设置显示面板的引脚区BB设置有两个第二控制引脚5，沿连接引脚1的排列方向XX’，一个第二控制引脚5位于所有连接引脚1的一侧，另一个第二控制引脚5位于所有连接引脚1的另一侧。具体地，设置显示面板的引脚区BB设置有两个第二控制引脚5，沿连接引脚1的排列方向XX’，一个第二控制引脚5位于所有连接引脚1的一侧，另一个第二控制引脚5位于所有连接引脚1的另一侧，有利于提高与第二控制引脚5电连接的第三信号线43上控制信号的均匀性，使得通过调节第二控制引脚5上的控制信号调节第二开关元件6的导通状态时，各第二开关元件6的开启时间以及关闭时间的延迟问题得到改善，使测试装置通过测试探针加载信号时所有的第二开关元件6能够同时处于开启状态或者同时处于关断状态，避免延时问题导致对显示面板的引脚区BB中的所有连接引脚1是否与测试装置的对应的测试探针电接触的测试结果不准确。

可选地，如图4所示，沿连接引脚1的排列方向XX’，可以设置第一控制引脚2的宽度大于或等于1mm，第二控制引脚5的宽度大于或等于1mm，使得第一控制引脚2以及第二控制引脚5的尺寸大于连接引脚1的尺寸，有利于区分第一控制引脚2、第二控制引脚5以及连接引脚1，进而有利于实现测试装置与显示面板引脚区BB的对位。

可选地，如图4所示，沿垂直于连接引脚1排列方向XX’的方向，显示面板的引脚区BB划分为第一引脚区BB1和第二引脚区BB2，所有第一开关元件3设置于第一引脚区BB1，所有第二开关元件6设置于第二引脚区BB2。具体地，相对于设置第一开关元件3与第二开关元件6随机地分布在显示面板的引脚区BB，有利于简化显示面板实现第一开关元件3、第二开关元件6以及对两个开关的控制线路进行的布线布局。

需要说明的是，本发明实施例示附图只是示例性地表示显示面板中各元件以及各膜层的大小，并不代表显示面板中各元件以及各膜层的实际尺寸。

本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法。图8为本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程示意图，该测试方法用于测试上述实施例的显示面板，如图8所示，显示面板的测试方法包括：

S110、控制第一控制引脚上加载第一控制信号；其中，每个第一连接引脚组中的两个连接引脚在第一控制信号的作用下短接。

如图1所示，控制第一控制引脚2上加载第一控制信号，每个第一连接引脚组10中的两个连接引脚1在第一控制信号的作用下短接。

S120、控制测试装置通过第一测试探针组中的一个测试探针加载第一测试信号；其中，测试装置的测试探针包括与第一连接引脚组一一对应设置的第一测试探针组。

S130、根据测试装置的第一测试探针组中的另一个测试探针是否接收到第一测试信号判断测试探针是否与对应的连接引脚电接触。

如图1所示，若测试装置的第一测试探针组中的另一个测试探针接收到第一测试信号，判断测试探针与对应的连接引脚1电接触，若测试装置的第一测试探针组中的另一个测试探针未接收到第一测试信号，判断测试探针未与对应的连接引脚1电接触，具体测试原理参照上述实施例，这里不再赘述。

图9为本发明实施例提供的另一种显示面板的测试方法的流程示意图，该测试方法用于检测上述实施例的显示面板，如图9所示，显示面板的测试方法包括：

S210、控制第一控制引脚上加载第一控制信号，控制第二控制引脚上加载第二控制信号；其中，每个第一连接引脚组中的两个连接引脚在第一控制信号的作用下短接，每个第二连接引脚组中的两个连接引脚在第二控制信号的作用下断开连接。

如图4所示，控制第一控制引脚2上加载第一控制信号，控制第二控制引脚5上加载第二控制信号；其中，每个第一连接引脚组10中的两个连接引脚1在第一控制信号的作用下短接，每个第二连接引脚组20中的两个连接引脚1在第二控制信号的作用下断开连接。

S220、控制测试装置通过第一测试探针组中的一个测试探针加载第一测试信号。

S230、控制第一控制引脚上加载第三控制信号，控制第二控制引脚上加载第四控制信号；其中，每个第一连接引脚组中的两个连接引脚在第三控制信号的作用下断开连接，每个第二连接引脚组中的两个连接引脚在第四控制信号的作用下短接。

如图4所示，控制第一控制引脚2上加载第三控制信号，控制第二控制引脚5上加载第四控制信号；其中，每个第一连接引脚组10中的两个连接引脚1在第三控制信号的作用下断开连接，每个第二连接引脚组20中的两个连接引脚1在第四控制信号的作用下短接。

S240、控制测试装置通过第二测试探针组中的一个测试探针加载第二测试信号；其中，测试装置的测试探针包括与第二连接引脚组一一对应设置的第二测试探针组。

S250、根据测试装置的第一测试探针组中的另一个测试探针是否接收到第一测试信号，以及测试装置的第二测试探针组中的另一个测试探针是否接收到第二测试信号判断测试探针是否与对应的连接引脚电接触。

如图4所示，若测试装置的第一测试探针组中的另一个测试探针接收到第一测试信号，且测试装置的第二测试探针组中的另一个测试探针接收到第二测试信号，判断测试探针与对应的连接引脚1电接触，具体测试原理参照上述实施例，这里不再赘述。

图10为本发明实施例提供的另一种显示面板的测试方法的流程示意图，该测试方法用于检测上述实施例的显示面板，如图10所示，显示面板的测试方法包括：

S310、控制第一控制引脚上加载第一控制信号，控制第二控制引脚上加载第二控制信号；其中，每个第一连接引脚组中的两个连接引脚在第一控制信号的作用下短接，每个第二连接引脚组中的两个连接引脚在第二控制信号的作用下断开连接。

S320、控制测试装置通过第一测试探针组中的一个测试探针加载第一测试信号。

S330、控制第一控制引脚上加载第三控制信号，控制第二控制引脚上加载第四控制信号；其中，每个第一连接引脚组中的两个连接引脚在第三控制信号的作用下断开连接，每个第二连接引脚组中的两个连接引脚在第四控制信号的作用下短接。

S340、控制测试装置通过第二测试探针组中的一个测试探针加载第二测试信号。

S350、根据测试装置的第一测试探针组中的另一个测试探针是否接收到第一测试信号，以及测试装置的第二测试探针组中的另一个测试探针是否接收到第二测试信号判断测试探针是否与对应的连接引脚电接触。

S360、控制第一控制引脚上加载第五控制信号，控制第二控制引脚上加载第六控制信号；其中，每个第一连接引脚组中的两个连接引脚在第五控制信号的作用下断开连接，每个第二连接引脚组中的两个连接引脚在第六控制信号的作用下断开连接。

如图4所示，通过第一控制引脚2控制第一连接引脚组10中的两个连接引脚1断开连接，通过第二控制引脚5控制第二连接引脚组20中的两个连接引脚1断开连接。

S370、控制测试装置间隔设定时间依次通过测试探针加载第三测试信号。

如图4所示，控制测试装置间隔设定时间依次通过测试探针加载第三测试信号，即先控制测试装置对应连接引脚11的测试探针加载第三测试信号，间隔一段时间后，再控制测试装置对应连接引脚12的测试探针加载第三测试信号，间隔一段时间后，再控制测试装置对应连接引脚13的测试探针加载第三测试信号，以此类推。

S380、根据测试装置的与加载第三测试信号的测试探针相邻的测试探针是否接收到第三测试信号判断相邻的连接引脚是否存在短路；其中，若测试装置的与加载第三测试信号的测试探针相邻的测试探针接收到第三测试信号，判断相邻的连接引脚存在短路。

如图4所示，先控制测试装置对应连接引脚11的测试探针加载第三测试信号，检测测试装置的对应连接引脚12的测试探针是否接收到第三测试信号，若能够接收到，则说明连接引脚11与连接引脚12之间存在短路问题。同样的，控制测试装置对应连接引脚12的测试探针加载第三测试信号，检测测试装置的对应连接引脚11以及连接引脚13的测试探针是否接收到第三测试信号，若能够接收到，则说明连接引脚12与连接引脚11或者连接引脚12与连接引脚13之间存在短路问题，控制测试装置间隔设定时间依次通过测试探针加载第三测试信号，完成对显示面板引脚区BB的所有连接引脚1之间是否存在短路问题的排查。

本发明实施例还提供了一种显示装置，图11为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。如图11所示，显示装置200包括上述实施例中的显示面板19，因此本发明实施例提供的显示装置200也具备上述实施例所描述的有益效果，此处不再赘述。示例性的，显示装置200可以是手机、电脑或电视等电子显示设备。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (13)

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括显示区以及位于所述显示区至少一侧的引脚区；

所述显示面板的引脚区设置有多个连接引脚和至少一个第一控制引脚，所述连接引脚划分为多个第一连接引脚组，每个所述第一连接引脚组包括相邻的两个所述连接引脚，每个所述连接引脚仅位于一个所述第一连接引脚组中；

所述第一控制引脚上加载的控制信号用于控制每个所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接；

所述显示面板的引脚区设置有与所述第一连接引脚组一一对应设置的第一开关元件，所述第一控制引脚通过所述第一开关元件控制对应的所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，与所述至少一个第一控制引脚电连接的第一信号线作为所述第一开关元件的栅极，所述第一连接引脚组中的所述连接引脚连接至所述显示区中器件的第二信号线分别作为所述第一开关元件的源极和漏极；所述第一开关元件的半导体层位于所述第一信号线与所述第二信号线之间或者所述第一开关元件的半导体层位于所述第一信号线远离所述第二信号线的一侧。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板的引脚区设置有两个所述第一控制引脚，沿所述连接引脚的排列方向，一个所述第一控制引脚位于所有所述连接引脚的一侧，另一个所述第一控制引脚位于所有所述连接引脚的另一侧。

4.根据权利要求1-3任一项所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板的引脚区还设置有至少一个第二控制引脚，所述连接引脚划分为多个第二连接引脚组，每个所述第二连接引脚组包括相邻的两个所述连接引脚，每个所述连接引脚仅位于一个所述第二连接引脚组中，所述第二连接引脚组与相邻的所述第一连接引脚组包括同一个所述连接引脚；所述第二控制引脚上加载的控制信号用于控制每个所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接。

5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板的引脚区设置有与所述第二连接引脚组一一对应设置的第二开关元件，所述第二控制引脚通过所述第二开关元件控制对应的所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，与所述至少一个第二控制引脚电连接的第三信号线作为所述第二开关元件的栅极，所述第二连接引脚组中的所述连接引脚连接至所述显示区中器件的第四信号线分别作为所述第二开关元件的源极和漏极；所述第二开关元件的半导体层位于所述第三信号线与所述第四信号线之间或者所述第二开关元件的半导体层位于所述第三信号线远离所述第四信号线的一侧。

7.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板的引脚区设置有两个所述第二控制引脚，沿所述连接引脚的排列方向，一个所述第二控制引脚位于所有所述连接引脚的一侧，另一个所述第二控制引脚位于所有所述连接引脚的另一侧。

8.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，沿所述连接引脚的排列方向，所述第一控制引脚的宽度大于或等于1mm，所述第二控制引脚的宽度大于或等于1mm。

9.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板的引脚区设置有与所述第一连接引脚组一一对应设置的第一开关元件，所述第一控制引脚通过所述第一开关元件控制对应的所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接；

沿垂直于所述连接引脚排列方向的方向，所述显示面板的引脚区划分为第一引脚区和第二引脚区，所有所述第一开关元件设置于所述第一引脚区，所有所述第二开关元件设置于所述第二引脚区。

10.一种显示面板的测试方法，其特征在于，用于测试如权利要求1-9任一项所述的显示面板，所述测试方法包括：

控制所述第一控制引脚上加载第一控制信号；其中，每个所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第一控制信号的作用下短接；

控制测试装置通过第一测试探针组中的一个测试探针加载第一测试信号；其中，所述测试装置的测试探针包括与所述第一连接引脚组一一对应设置的第一测试探针组；

根据所述测试装置的所述第一测试探针组中的另一个所述测试探针是否接收到所述第一测试信号判断所述测试探针是否与对应的所述连接引脚电接触；其中，若所述测试装置的所述第一测试探针组中的另一个所述测试探针接收到所述第一测试信号，判断所述测试探针与对应的所述连接引脚电接触。

11.根据权利要求10所述的测试方法，其特征在于，

所述显示面板的引脚区还设置有至少一个第二控制引脚，所述连接引脚划分为多个第二连接引脚组，每个所述第二连接引脚组包括相邻的两个所述连接引脚，每个所述连接引脚仅位于一个所述第二连接引脚组中，所述第二连接引脚组与相邻的所述第一连接引脚组包括同一个所述连接引脚；所述第二控制引脚上加载的控制信号用于控制每个所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接；

所述测试方法包括：

控制所述第一控制引脚上加载第一控制信号，控制所述第二控制引脚上加载第二控制信号；其中，每个所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第一控制信号的作用下短接，每个所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第二控制信号的作用下断开连接；

控制所述测试装置通过所述第一测试探针组中的一个所述测试探针加载第一测试信号；

控制所述第一控制引脚上加载第三控制信号，控制所述第二控制引脚上加载第四控制信号；其中，每个所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第三控制信号的作用下断开连接，每个所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第四控制信号的作用下短接；

控制所述测试装置通过第二测试探针组中的一个所述测试探针加载第二测试信号；其中，所述测试装置的测试探针包括与所述第二连接引脚组一一对应设置的第二测试探针组；

根据所述测试装置的所述第一测试探针组中的另一个所述测试探针是否接收到所述第一测试信号，以及所述测试装置的所述第二测试探针组中的另一个所述测试探针是否接收到所述第二测试信号判断所述测试探针是否与对应的所述连接引脚电接触；其中，若所述测试装置的所述第一测试探针组中的另一个所述测试探针接收到所述第一测试信号，且所述测试装置的所述第二测试探针组中的另一个所述测试探针接收到所述第二测试信号，判断所述测试探针与对应的所述连接引脚电接触。

12.根据权利要求11所述的测试方法，其特征在于，在根据所述测试装置的所述第一测试探针组中的另一个所述测试探针是否接收到所述第一测试信号，以及所述测试装置的所述第二测试探针组中的另一个所述测试探针是否接收到所述第二测试信号判断所述测试探针是否与对应的所述连接引脚电接触之后，所述测试方法还包括：

控制所述第一控制引脚上加载第五控制信号，控制所述第二控制引脚上加载第六控制信号；其中，每个所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第五控制信号的作用下断开连接，每个所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚在所述第六控制信号的作用下断开连接；

控制所述测试装置间隔设定时间依次通过所述测试探针加载第三测试信号；

根据所述测试装置的与加载所述第三测试信号的所述测试探针相邻的所述测试探针是否接收到所述第三测试信号判断相邻的所述连接引脚是否存在短路；其中，若所述测试装置的与加载所述第三测试信号的所述测试探针相邻的所述测试探针接收到所述第三测试信号，判断相邻的所述连接引脚存在短路。

13.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的显示面板。

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