KR100695556B1 - 디스플레이 패널을 위한 조합 검출 회로 - Google Patents
디스플레이 패널을 위한 조합 검출 회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100695556B1 KR100695556B1 KR1020040066976A KR20040066976A KR100695556B1 KR 100695556 B1 KR100695556 B1 KR 100695556B1 KR 1020040066976 A KR1020040066976 A KR 1020040066976A KR 20040066976 A KR20040066976 A KR 20040066976A KR 100695556 B1 KR100695556 B1 KR 100695556B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- layout
- data
- contact pads
- detection
- gate
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
- G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
- G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
- G09G3/3648—Control of matrices with row and column drivers using an active matrix
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
Description
Claims (9)
- 조합 검출 회로상에 설치되어 쇼트-링 레이아웃 및 쇼팅-바아 레이아웃을 전환시키는 스위치를 적용하는 디스플레이 패널용 조합 검출 회로에 있어서,복수의 게이트 엔드 콘택트 패드 및 복수의 데이터 엔드 콘택트 패드를 포함하는 복수의 신호 콘택트 패드를 포함하되, 상기 디스플레이 패널의 복수의 데이터 라인 및 복수의 스캔 라인은 복수의 신호 폴라 플레이트를 거쳐 외부 검출 회로에 연결되고;복수의 저항을 포함하되, 상기 복수의 스캔 라인 및 복수의 데이터 라인은 상기 복수의 저항을 거쳐 링 신호 라인에 연결되고;복수의 데이터 드라이버 신호 라인을 포함하되, 상기 복수의 데이터 엔드 콘택트 패드들은 복수의 도전 와이어를 거쳐 상기 복수의 데이터 드라이버 라인에 번갈아 연결되고;복수의 게이트 드라이버 신호 라인을 포함하되, 상기 복수의 게이트 엔드 콘택트 패드는 상기 복수의 도전 와이어를 거쳐 상기 복수의 게이트 드라이버 신호 라인에 번갈아 연결되고;상기 복수의 신호 콘택트 패드 및 상기 복수의 데이터 드라이버 신호 라인을 상기 복수의 게이트 드라이버 신호 라인들과 연결시키는 상기 도전 와이어상에 위치설정되는 복수의 스위치;를 포함하여 이루어지고,상기 복수의 스위치들은 , 상기 디스플레이 패널의 검출 신호가 상기 링 신호 라인 또는 상기 복수의 게이트 드라이버 신호 라인 및 상기 복수의 게이트 드라이버 신호 라인으로 전송되도록 전환시키는데 사용되며,상기 복수의 스위치가 켜지면, 쇼팅-바아 레이아웃을 갖는 검출 회로가 사용되고; 상기 복수의 스위치가 꺼지면, 쇼트-링 레이아웃을 갖는 검출 회로가 사용되는 것을 특징으로 하는 조합 검출 회로.
- 제1항에 있어서,상기 복수의 스위치들은 복수의 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 조합 검출 회로.
- 제1항에 있어서,복수의 스위치들은 연결 도전 와이어를 거쳐 서로 연결되는 것을 특징으로 하는 조합 검출 회로.
- 제1항에 있어서,상기 링 신호 라인은 링 신호 엔드에 연결되는 것을 특징으로 하는 조합 검출 회로.
- 제1항에 있어서,상기 복수의 게이트 드라이버 신호 라인은 복수의 게이트 엔드에 연결되는 것을 특징으로 하는 조합 검출 회로.
- 제1항에 있어서,상기 복수의 데이터 드라이버 신호 라인은 복수의 데이터 엔드에 연결되는 것을 특징으로 하는 조합 검출 회로.
- 제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,상기 링 신호 엔드, 상기 복수의 게이트 엔드 및 상기 복수의 데이터 엔드는 상기 검출 신호를 위한 검출 엔드인 것을 특징으로 하는 조합 검출 회로.
- 제1항에 있어서,상기 복수의 신호 콘택트 패드들은 복수의 프로브 접촉 콘택트 패드들인 것을 특징으로 하는 조합 검출 회로.
- 삭제
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW092123496 | 2003-08-26 | ||
TW092123496A TWI239403B (en) | 2003-08-26 | 2003-08-26 | A combining detection circuit for a display panel |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20050021255A KR20050021255A (ko) | 2005-03-07 |
KR100695556B1 true KR100695556B1 (ko) | 2007-03-14 |
Family
ID=34215120
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020040066976A KR100695556B1 (ko) | 2003-08-26 | 2004-08-25 | 디스플레이 패널을 위한 조합 검출 회로 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7274352B2 (ko) |
KR (1) | KR100695556B1 (ko) |
TW (1) | TWI239403B (ko) |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI220696B (en) * | 2003-09-12 | 2004-09-01 | Toppoly Optoelectronics Corp | Testing device and its operation method of the flat-panel display |
TWI333094B (en) * | 2005-02-25 | 2010-11-11 | Au Optronics Corp | System and method for display testing |
KR101137885B1 (ko) * | 2005-06-15 | 2012-04-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치와 그 검사방법 |
KR101129618B1 (ko) * | 2005-07-19 | 2012-03-27 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 패널 및 이의 검사 방법과 이의 제조방법 |
KR101209042B1 (ko) * | 2005-11-30 | 2012-12-06 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 그 검사 방법 |
CN100416344C (zh) * | 2006-01-18 | 2008-09-03 | 中华映管股份有限公司 | 主动元件阵列基板、液晶显示面板与两者的检测方法 |
US7298165B2 (en) | 2006-01-20 | 2007-11-20 | Chunghwa Picture Tubes, Ltd. | Active device array substrate, liquid crystal display panel and examining methods thereof |
KR101142993B1 (ko) * | 2006-02-20 | 2012-05-08 | 삼성전자주식회사 | 표시 장치 및 그의 감지부 검사 방법 |
TW200732808A (en) * | 2006-02-24 | 2007-09-01 | Prime View Int Co Ltd | Thin film transistor array substrate and electronic ink display device |
US7324098B1 (en) | 2006-07-26 | 2008-01-29 | Chunghwa Picture Tubes, Ltd. | Driving circuit for display device |
US20080055226A1 (en) * | 2006-08-30 | 2008-03-06 | Chunghwa Picture Tubes, Ltd. | Dac and source driver using the same, and method for driving a display device |
JP5428299B2 (ja) * | 2008-03-18 | 2014-02-26 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及び電子機器 |
TWI389092B (zh) * | 2008-03-26 | 2013-03-11 | Au Optronics Corp | 一種驅動模組及減緩顯示器之驅動模組老化之方法 |
TWI412766B (zh) * | 2009-09-04 | 2013-10-21 | Wintek Corp | 主動元件陣列以及檢測方法 |
US20130082997A1 (en) * | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Apple Inc. | System and method for detection of dimensions of display panel or other patterned device |
US9293073B2 (en) * | 2011-12-14 | 2016-03-22 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Testing system |
TWI470332B (zh) | 2012-06-29 | 2015-01-21 | Au Optronics Corp | 顯示面板及其檢測方法 |
CN102788946B (zh) * | 2012-07-20 | 2015-02-18 | 京东方科技集团股份有限公司 | 晶体管特性测试结构及采用该结构的测试方法 |
US9230870B2 (en) * | 2013-01-30 | 2016-01-05 | Infineon Technologies Ag | Integrated test circuit and method for manufacturing an integrated test circuit |
KR102246365B1 (ko) | 2014-08-06 | 2021-04-30 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치와 그의 제조방법 |
EP3204748A4 (en) * | 2014-10-05 | 2018-07-11 | Camfil USA, Inc. | Non-intrusive filter scanning |
KR102315889B1 (ko) | 2015-04-14 | 2021-10-21 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 패널 |
KR102482023B1 (ko) * | 2016-01-28 | 2022-12-28 | 삼성전자주식회사 | 적층 메모리 칩 전기적 단락 검출 장치 및 방법 |
JP2017138393A (ja) * | 2016-02-02 | 2017-08-10 | 株式会社 オルタステクノロジー | 液晶表示装置及びその検査方法 |
US10971095B2 (en) | 2016-10-31 | 2021-04-06 | Panasonic Corporation | Liquid crystal display device and failure inspection method |
CN208969376U (zh) * | 2018-11-12 | 2019-06-11 | 惠科股份有限公司 | 测试走线结构、测试装置及测试系统 |
CN110045223B (zh) * | 2019-04-28 | 2021-09-07 | 云谷(固安)科技有限公司 | 一种显示面板及其测试方法、显示装置 |
CN110189664A (zh) * | 2019-05-15 | 2019-08-30 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 画素阵列检测基板及制作方法、检测画素阵列基板的方法 |
CN110767131B (zh) * | 2019-10-15 | 2023-03-24 | Tcl华星光电技术有限公司 | 液晶显示面板的点灯检测方法、点灯治具 |
CN111179794B (zh) * | 2020-01-06 | 2022-04-19 | 京东方科技集团股份有限公司 | 检测电路、阵列基板、显示面板 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06148688A (ja) * | 1992-02-21 | 1994-05-27 | Toshiba Corp | 液晶表示装置 |
KR20000011657A (ko) * | 1998-07-14 | 2000-02-25 | 마찌다 가쯔히꼬 | 액티브매트릭스기판의집합기판,및그제조방법및그검사방법 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11509938A (ja) * | 1995-07-31 | 1999-08-31 | リットン システムズ カナダ リミテッド | 静電放電防止回路付き半導体スイッチアレイおよび製造方法 |
KR100244182B1 (ko) * | 1996-11-29 | 2000-02-01 | 구본준 | 액정표시장치 |
KR100239779B1 (ko) * | 1996-12-04 | 2000-01-15 | 구본준 | 액정표시장치 |
KR100271038B1 (ko) * | 1997-09-12 | 2000-11-01 | 구본준, 론 위라하디락사 | 전기적 특성 검사를 위한 단락 배선의 제조 방법 및 그 단락 배선을 포함하는 액티브 기판의 구조(a method for manufacturing a shorting bar probing an electrical state and a structure of an lcd comprising the shorting bar) |
US6587160B2 (en) * | 1997-10-14 | 2003-07-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Liquid crystal displays |
KR100281058B1 (ko) * | 1997-11-05 | 2001-02-01 | 구본준, 론 위라하디락사 | 액정표시장치 |
KR100333271B1 (ko) * | 1999-07-05 | 2002-04-24 | 구본준, 론 위라하디락사 | 배선의 단락 및 단선 테스트를 위한 박막트랜지스터-액정표시장치의 어레이기판과 그 제조방법. |
JP2001265248A (ja) * | 2000-03-14 | 2001-09-28 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | アクティブ・マトリックス表示装置、及び、その検査方法 |
KR100353955B1 (ko) * | 2000-12-20 | 2002-09-28 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 신호라인 검사를 위한 액정표시장치 |
JP4562938B2 (ja) * | 2001-03-30 | 2010-10-13 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置 |
KR100455437B1 (ko) * | 2001-12-29 | 2004-11-06 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 유리기판의 효율이 향상된 액정표시소자 |
US7342579B2 (en) * | 2004-10-11 | 2008-03-11 | Chunghwa Picture Tubes, Ltd. | Thin film transistor array plate, liquid crystal display panel and method of preventing electrostatic discharge |
-
2003
- 2003-08-26 TW TW092123496A patent/TWI239403B/zh not_active IP Right Cessation
-
2004
- 2004-02-17 US US10/778,539 patent/US7274352B2/en active Active
- 2004-08-25 KR KR1020040066976A patent/KR100695556B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06148688A (ja) * | 1992-02-21 | 1994-05-27 | Toshiba Corp | 液晶表示装置 |
KR20000011657A (ko) * | 1998-07-14 | 2000-02-25 | 마찌다 가쯔히꼬 | 액티브매트릭스기판의집합기판,및그제조방법및그검사방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI239403B (en) | 2005-09-11 |
US7274352B2 (en) | 2007-09-25 |
TW200508620A (en) | 2005-03-01 |
KR20050021255A (ko) | 2005-03-07 |
US20050046439A1 (en) | 2005-03-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100695556B1 (ko) | 디스플레이 패널을 위한 조합 검출 회로 | |
CN108874194B (zh) | 内嵌式触控显示装置及其测试方法和制作方法 | |
KR100671640B1 (ko) | 박막 트랜지스터 어레이 기판과 이를 이용한 표시장치와그의 제조방법 | |
US20200343270A1 (en) | Array substrate and display panel | |
KR100353955B1 (ko) | 신호라인 검사를 위한 액정표시장치 | |
US7746417B2 (en) | Thin film transistor array panel for a display | |
KR100895311B1 (ko) | 액정 표시 장치 및 그 검사 방법 | |
US20100127258A1 (en) | Lcd panel having shared shorting bars for array inspection and panel inspection | |
KR950027474A (ko) | 액정표시장치 | |
JP2004133421A (ja) | 液晶表示装置、その検査方法及び製造方法 | |
CN103345898B (zh) | 显示装置 | |
CN110488547B (zh) | 显示面板 | |
CN110045223B (zh) | 一种显示面板及其测试方法、显示装置 | |
WO2018152884A1 (zh) | 一种测试阵列基板的栅极线的线路及方法 | |
JP2820233B2 (ja) | 表示装置の検査装置および検査方法 | |
US20050057273A1 (en) | Built-in testing apparatus for testing displays and operation method thereof | |
US10948749B2 (en) | Display panel, display test apparatus and method of testing display panel | |
US7518601B2 (en) | Array substrate and display apparatus and method for manufacturing display apparatus | |
JP3192236B2 (ja) | 電子映像装置 | |
KR100973803B1 (ko) | 액정 표시 장치 | |
KR100945951B1 (ko) | 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛 | |
TWI276037B (en) | Combined inspection circuit and method for inspecting TFT liquid crystal display panels | |
JP4685336B2 (ja) | Tftアレイ検査装置 | |
WO2023116106A1 (zh) | 显示基板及其测试方法和显示装置 | |
JP2004226931A (ja) | 液晶表示装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130228 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140221 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150224 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160222 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161121 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181120 Year of fee payment: 13 |