CN113436562B - 一种显示面板、测试方法及显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种显示面板、测试方法及显示装置，涉及显示技术领域，能够改善现有的显示面板的测试引脚的设置，在测试过程中测试探针较容易被磨损，导致测试探针的消耗数量较多，进而测试成本较高的问题。显示面板包括：至少两个待测电路；测试引脚，所述测试引脚与至少两个所述待测电路电连接；切换组件，所述切换组件用于控制所述测试引脚与所述待测电路的导通和断开。

Description

一种显示面板、测试方法及显示装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、测试方法及显示装置。

背景技术

随着显示技术的不断发展，显示面板的应用越来越广泛。显示面板在制备过程中容易发生很多不良，这些不良通常可以通过在制备流程中设置测试工序来测试制备过程中显示面板中器件的相关参数，能够提前发现不良，降低生产成本。在测试工序中，通常通过测试探针对测试引脚的扎针来测试与测试引脚连接的器件的相关参数。

然而，现有的测试引脚的设置，在测试过程中测试探针较容易被磨损，导致测试探针的更换频率较高，测试探针的消耗数量较多，进而测试成本较高。

发明内容

本申请实施例提供了一种显示面板、测试方法及显示装置，能够改善现有的显示面板的测试引脚的设置，在测试过程中测试探针较容易被磨损，导致测试探针的消耗数量较多，进而测试成本较高的问题。

本申请实施例的第一方面，提供一种显示面板，包括：

至少两个待测电路；

测试引脚，所述测试引脚与至少两个所述待测电路电连接；

切换组件，所述切换组件用于控制所述测试引脚与所述待测电路的导通和断开。

在一些实施方式中，所述测试引脚为多个，每个所述待测电路与至少两个所述测试引脚电连接。

在一些实施方式中，多个所述待测电路分为至少两组，每组所述待测电路连接有一个所述切换组件。

在一些实施方式中，所述切换组件包括测试切换引脚，所述测试切换引脚用于通过通入切换信号控制所述测试引脚与所述待测电路的导通和断开。

在一些实施方式中，所述切换组件还包括测试开关，每个所述测试引脚与每个所述待测电路之间连接有所述测试开关；

所述测试开关与所述测试切换引脚电连接，所述测试切换引脚用于通过通入切换信号控制所述测试开关的开启和关闭，以控制所述测试引脚与所述待测电路的导通和断开。

在一些实施方式中，所述测试开关包括薄膜晶体管。

在一些实施方式中，每个所述待测电路包括待测器件。

在一些实施方式中，所述显示面板包括显示区域和非显示区域，所述待测电路和所述测试引脚均设置于所述非显示区域内；

所述显示区域内设置有像素器件，所述待测电路中的所述待测器件与所述像素器件的结构相同。

在一些实施方式中，所述待测器件包括待测薄膜晶体管、待测电阻和待测电容中的至少一种；

所述像素器件包括像素薄膜晶体管、像素电阻和像素电容中的至少一种；

其中，所述像素薄膜晶体管与所述待测薄膜晶体管的结构相同，所述像素电阻与所述待测电阻的结构相同，所述像素电容与所述待测电容的结构相同。

在一些实施方式中，一个所述测试引脚分别与一个待测薄膜晶体管和一个所述待测电阻电连接；或，

一个所述测试引脚分别与一个所述待测薄膜晶体管、一个所述待测电阻和一个所述待测电容电连接；或，

一个所述测试引脚分别与一个所述待测薄膜晶体管和一个所述待测电容电连接；或，

一个所述测试引脚分别与一个所述待测电容和一个所述待测电阻电连接。

本申请实施例的第二方面，提供一种显示面板的测试方法，应用于如第一方面所述的显示面板，方法包括：

控制测试探针与所述测试引脚连接；

通过所述切换组件，控制至少一个所述待测电路与所述测试引脚导通，以及控制其余所述待测电路与所述测试引脚断开；

向所述测试引脚通入测试信号；

基于通入所述测试信号的所述测试引脚，采集导通的所述待测电路的测试数据。

在一些实施方式中，所述方法还包括：

通过所述切换组件，控制至少另一个所述待测电路与所述测试引脚导通，以及控制其余所述待测电路与所述测试引脚断开；

向所述测试引脚通入测试信号；

基于通入所述测试信号的所述测试引脚，采集导通的所述待测电路的测试数据。

在一些实施方式中，在多个所述待测电路分为至少两组，每组所述待测电路连接有一个所述切换组件的情况下，所述通过所述切换组件，控制至少一个所述待测电路与所述测试引脚导通，以及控制其余所述待测电路与所述测试引脚断开的步骤，包括：

通过所述切换组件，控制一组所述待测电路与所述测试引脚导通，以及控制其余所述待测电路与所述测试引脚断开。

在一些实施方式中，在所述切换组件包括测试切换引脚和测试开关的情况下，所述方法还包括：

控制所述测试探针与所述测试切换引脚连接；

所述通过所述切换组件，控制至少一个所述待测电路与所述测试引脚导通，以及控制其余所述待测电路与所述测试引脚断开的步骤，包括：

向一个所述测试切换引脚通入所述导通信号，以开启至少一个组所述测试单元电路电连接的所述测试开关，使得一组所述待测电路与所述测试引脚导通；

向其余所述测试切换引脚通入所述断开信号，以关闭其余所述待测电路电连接的所述测试开关，使得其余所述待测电路与所述测试引脚断开。

本申请实施例的第三方面，提供一种显示装置，包括：如第一方面所述的显示面板。

本申请实施例提供的显示面板、测试方法及装置，测试引脚与至少两个待测电路电连接，测试引脚可以是多个，一个测试引脚可以与至少两个待测电路电连接，一个测试引脚电连接的至少两个待测电路可以是相同的，也可以不同的。切换组件用于控制测试引脚与待测电路的导通和断开，当通过测试引脚对其中至少一个待测电路进行测试时，其余待测电路与测试引脚之间的电连接需要被断开，可以通过切换组件导通至少一个待测电路与测试引脚的电连接，以及通过切换组件断开其余待测电路与测试引脚之间的电连接。可以控制测试探针与测试引脚连接，通过待测电路与测试引脚的导通电路，对对应的待测电路进行测试。因此，通过设置一个测试引脚与至少两个待测电路电连接，可以实现对于一个测试引脚进行一次测试探针的扎针操作，即可完成至少两个或者至少两种待测电路的测试，能够较大程度减少测试探针的扎针次数。相对于现有技术中测试引脚的设置，在测试过程中测试不同的器件或者测试不同参数需要单独扎针，导致现有的测试工序需要进行多次扎针，扎针次数越多，测试探针的磨损越严重，增加了测试探针的更换频率，进而增加测试成本；本申请实施例提供的显示面板，能够至少减少一半的扎针次数，减少了测试探针扎针磨损，极大减少测试探针的更换频率，进而减少测试探针的消耗数量，可以降低测试成本。由于本申请实施例提供的显示面板中测试引脚的设置降低了测试探针的扎针次数，测试探针的磨损程度被极大降低，更换频率也随之降低，则可以避免为及时更换的磨损严重的测试探针在测试时造成测试结果失真的问题。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种显示面板的局部结构示意图；

图2为本申请实施例提供的另一种显示面板的局部结构示意图；

图3为本申请实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图；

图4为本申请实施例提供的再一种显示面板的局部结构示意图；

图5为本申请实施例提供的一种显示面板的局部结构示意图；

图6为本申请实施例提供的一种显示面板结构示意图；

图7为本申请实施例提供的另一种显示面板结构示意图；

图8为本申请实施例提供的另一种显示面板的局部结构示意图；

图9为本申请实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图；

图10为本申请实施例提供的再一种显示面板的局部结构示意图；

图11为本申请实施例提供的一种显示面板的测试方法的示意性流程图；

图12为本申请实施例提供的一种显示装置的示意图。

具体实施方式

为了更好的理解本说明书实施例提供的技术方案，下面通过附图以及具体实施例对本说明书实施例的技术方案做详细的说明，应当理解本说明书实施例以及实施例中的具体特征是对本说明书实施例技术方案的详细的说明，而不是对本说明书技术方案的限定，在不冲突的情况下，本说明书实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。

在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。术语“两个以上”包括两个或大于两个的情况。

随着显示技术的不断发展，显示面板的应用越来越广泛。显示面板在制备过程中容易发生很多不良，这些不良通常可以通过在制备流程中设置测试工序来测试制备过程中显示面板中器件的相关参数，能够提前发现不良，降低生产成本。在测试工序中，通常通过测试探针对测试引脚的扎针来测试与测试引脚连接的器件的相关参数。

然而，现有的测试引脚的设置，在测试过程中测试探针较容易被磨损，导致测试探针的更换频率较高，测试探针的消耗数量较多，进而测试成本较高。

有鉴于此，本申请实施例提供一种显示面板、测试方法及显示装置，能够改善现有的显示面板的测试引脚的设置，在测试过程中测试探针较容易被磨损，导致测试探针的消耗数量较多，进而测试成本较高的问题。

本申请实施例的第一方面，提供一种显示面板，图1为本申请实施例提供的一种显示面板的局部结构示意图。示例性的，如图1所示，本申请实施例提供的显示面板，包括：至少两个待测电路100、测试引脚200和切换组件300。至少两个待测电路100可以是相同的待测电路，也可以是不同的待测电路，本申请不作具体限定。测试引脚200与至少两个待测电路100电连接，测试引脚200可以是多个，一个测试引脚200可以与至少两个待测电路100电连接，一个测试引脚200电连接的至少两个待测电路100可以是相同的，也可以不同的，本申请不作具体限定。切换组件300用于控制测试引脚200与待测电路100的导通和断开。如图1所示，当通过测试引脚200对其中一个待测电路100进行测试时，另一个待测电路100与测试引脚200之间的电连接需要被断开，可以通过切换组件300导通一个待测电路100与测试引脚200的电连接，还可以通过切换组件300断开另一个待测电路100与测试引脚200之间的电连接。待测电路100、测试引脚200和切换组件300可以构成测试元件组(Test ElementGroup，TEG)，本申请不作具体限定。

示例性的，图2为本申请实施例提供的另一种显示面板的局部结构示意图。如图2所示，一个测试引脚200连接的两个待测电路100可以是不同的，分别是第一待测电路110和第二待测电路120，第一待测电路110可以对应一个切换组件300，第二待测电路120可以对应另一个切换组件300。示例性的，当通过测试引脚200对第一待测电路110进行测试时，可以通过第一待测电路110对应的切换组件300控制第一待测电路110与测试引脚200导通，以及通过第二待测电路120对应的切换组件300控制第二待测电路120与测试引脚200断开，可以控制测试探针与测试引脚200连接，通过第一待测电路110与测试引脚200的导通电路，对第一待测电路110进行测试。当第一待测电路110的测试完成后，需要对第二待测电路120进行测试时，通过第二待测电路120对应的切换组件300控制第二待测电路120与测试引脚200导通，以及通过第一待测电路110对应的切换组件300控制第一待测电路110与测试引脚200断开，可以控制测试探针与测试引脚200连接，通过第二待测电路120与测试引脚200的导通电路，对第二待测电路120进行测试。因此，通过设置一个测试引脚200与至少两个待测电路100电连接，可以实现对于一个测试引脚200进行一次测试探针的扎针操作，即可完成至少两个或者至少两种待测电路100的测试，能够较大程度减少测试探针的扎针次数。

图3为本申请实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图。如图3所示，示例性的，一个测试引脚200连接有3个待测电路100，分别是第一待测电路110、第二待测电路120和第三待测电路130，每个待测电路都对应一个切换组件300。第一待测电路110、第二待测电路120和第三待测电路130可以是相同的，也可以是不同的，本申请不作具体限定。

图1、图2和图3所示的待测电路100、测试引脚200和切换组件300的数量只是示意性的，不作为本申请的具体限定。

本申请实施例提供的显示面板，测试引脚200与至少两个待测电路100电连接，测试引脚200可以是多个，一个测试引脚200可以与至少两个待测电路100电连接，一个测试引脚200电连接的至少两个待测电路100可以是相同的，也可以不同的。切换组件300用于控制测试引脚200与待测电路100的导通和断开，当通过测试引脚200对其中至少一个待测电路100进行测试时，其余待测电路100与测试引脚200之间的电连接需要被断开，可以通过切换组件300导通至少一个待测电路100与测试引脚200的电连接，以及通过切换组件300断开其余待测电路100与测试引脚之间的电连接。可以控制测试探针与测试引脚200连接，通过待测电路100与测试引脚200的导通电路，对对应的待测电路100进行测试。因此，通过设置一个测试引脚200与至少两个待测电路100电连接，可以实现对于一个测试引脚200进行一次测试探针的扎针操作，即可完成至少两个或者至少两种待测电路100的测试，能够较大程度减少测试探针的扎针次数。相对于现有技术中测试引脚的设置，在测试过程中测试不同的器件或者测试不同参数需要单独扎针，导致现有的测试工序需要进行多次扎针，扎针次数越多，测试探针的磨损越严重，进而增加了测试探针的更换频率，增加测试成本；本申请实施例提供的显示面板，能够至少减少一半的扎针次数，减少了测试探针扎针磨损，极大减少测试探针的更换频率，进而减少测试探针的消耗数量，可以降低测试成本。由于本申请实施例提供的显示面板中测试引脚的设置降低了测试探针的扎针次数，测试探针的磨损程度被极大降低，更换频率也随之降低，则可以避免未及时更换的磨损严重的测试探针在测试时造成测试结果失真的问题。

在一些实施方式中，示例性的，图4为本申请实施例提供的再一种显示面板的局部结构示意图。如图4所示，多个待测电路100可以分为至少两组，图4所示的，4个第一待测电路110可以分为一组待测电路，4个第二待测电路120可以分为一组待测电路，4个第一待测电路110可以视为4个相同的待测电路，4个第二待测电路120可以视为4个相同的待测电路，图4所示的待测电路的数量和种类只是示意性的，不作为本申请的具体限定。每组待测电路连接有一个切换组件300，同一组中的所有第一待测电路110均连接同一个切换组件300，即一个切换组件300可以控制连接的所有第一待测电路110与测试引脚200的导通和断开；同一组中的所有第二待测电路120均连接同一个切换组件300，即一个切换组件300可以控制连接的所有第二待测电路120与测试引脚200的导通和断开。由于在测试显示面板上的待测电路时，通常需要测试多组数据，以反映显示面板上测试电路的真实情况，可以避免发生由于只测试一个或者少数的待测电路得到的数据量太少，只能代表个例，不能反映显示面板上多个待测电路的平均情况，因此，可以设置多个相同的待测电路，并可以同时测试多个相同的待测电路。当对同一组的第一待测电路110进行测试时，通过一个切换组件300控制同一组的所有第一待测电路110与对应的测试引脚200导通，通过另一个切换组件300控制另一组的所有第二待测电路120与对应的测试引脚200断开，通过测试探针与测试引脚200的连接，对导通的所有第一待测电路110进行测试。测试探针保持不动，通过另一个切换组件300控制另一组的所有第二待测电路120与对应的测试引脚200导通，通过一个切换组件300控制同一组的所有第一待测电路110与对应的测试引脚200断开，对导通的所有第二待测电路120进行测试。因此，对至少两组测试探针的测试，只需要对测试引脚200进行一次测试探针的扎针操作。

本申请实施例提供的显示面板，将待测电路按照种类分组，将相同种类的待测电路分为一组，相同种类的待测电路的测试需要输入的测试信号，以及采集的数据种类相同，因此，相同种类的待测电路被分为一组连接于一个切换组件300，通过切换组件300对于待测电路与测试引脚200的导通和断开控制，能够实现多个同种类的待测电路同时测试，可以同时采集多个相同待测电路的测试数据，以供分析和检测显示面板是否存在不良。可以在一次扎针操作中，实现测试至少两组待测电路，进一步减少测试过程中的扎针次数，进而减少测试探针的磨损，极大减少测试探针的更换频率，减少测试探针的消耗数量，降低测试成本，还可以避免磨损严重的测试探针在测试时造成测试结果失真的问题。

在一些实施方式中，测试引脚为多个，每个待测电路与至少两个测试引脚电连接。切换组件包括测试切换引脚，测试切换引脚用于通过通入切换信号控制测试引脚与待测电路的导通和断开。切换组件还包括测试开关，每个测试引脚与每个待测电路之间连接有测试开关；测试开关与测试切换引脚电连接，测试切换引脚用于通过通入切换信号控制测试开关的开启和关闭，以控制测试引脚与待测电路的导通和断开。

示例性的，图5为本申请实施例提供的一种显示面板的局部结构示意图。如图5所示，待测电路包括第一待测电路110和第二待测电路120，一个第一待测电路110与3个测试引脚200电连接，一个第二待测电路120与2个测试引脚200电连接，一个第一待测电路110和一个第二待测电路120存在至少一个共用的测试引脚200。在对一个第一待测电路110进行测试时，需要同时用到3个测试引脚200，在对一个第二待测电路120进行测试时，需要同时用到2个测试引脚200。切换组件300可以包括测试切换引脚310和测试开关320，每个第一待测电路110与3个测试引脚200连接，即每个第一待测电路110具有3个端，每个第二待测电路120具有2个端，每端与测试引脚200之间设置有一个测试开关320，每个测试引脚200与每个待测电路110之间均设置有测试开关320，因此，每个第一待测电路110对应有3个测试开关320，每个第二待测电路120对应有2个测试开关320，测试开关320与测试切换引脚310是电连接的。可以通过测试探针与测试切换引脚310的连接，将切换信号通过测试切换引脚310输送至对应的测试开关320，切换信号可以包括导通信号和断开信号，导通信号可以控制测试开关320的开启，断开信号可以控制测试开关320的关闭，测试开关320的开启和关闭能够控制待测电路与测试引脚200形成导电通路的导通和断开，因此，测试切换引脚310可以通过通入切换信号控制测试开关320的开启和关闭，以控制测试引脚200与待测电路的导通和断开。每组待测电路可以对应一个测试切换引脚310，一个测试切换引脚310可以对应一组待测电路对应的所有测试开关320，本申请不作具体限定。

本申请实施例提供的显示面板，切换组件300包括测试切换引脚310和测试开关320，测试切换引脚310与测试引脚200可以通过测试探针的扎针来接收切换信号和测试信号，测试操作方式相同，测试切换引脚310与测试引脚200的扎针操作可以同时进行，能够简化操作步骤，提高测试效率。通过测试开关320实现对待测电路与测试引脚200的导通和断开的控制，控制方式容易实现，导通和断开的控制较为精准。

在一些实施方式中，测试开关320可以包括薄膜晶体管。薄膜晶体管作为半导体领域中的开关器件，也同样作为显示面板的驱动器件被采用，因此作为测试开关320的薄膜晶体管可以与显示面板的作为驱动器件的薄膜晶体管一起制备，所以，测试开关320的制备无需特备安排工艺流程进行制备，利用显示面板已有的工艺流程即可得到，不会增加现有显示面板的制备工艺流程。

在一些实施方式中，测试开关320可以包括N型薄膜晶体管或P型薄膜晶体管。N型薄膜晶体管是高电平开启，低电平关闭；P型薄膜晶体管是高电平关闭，低电平开启，N型薄膜晶体管是和P型薄膜晶体管的导通特性不同。测试开关320可以采用N型薄膜晶体管，也可以采用P型薄膜晶体管，本申请不作具体限定。

在一些实施方式中，每个待测电路包括待测器件，对待测电路的测试可以是对待测器件的测试。显示面板包括显示区域和非显示区域，待测电路和测试引脚均设置于非显示区域内；显示区域内设置有像素器件，待测电路中的待测器件与像素器件的结构相同。

示例性的，图6为本申请实施例提供的一种显示面板结构示意图；图7为本申请实施例提供的另一种显示面板结构示意图。如图6所示，显示面板1000包括显示区域400和非显示区域500，显示区域400内设置有多个像素器件410，非显示区域500设置有多个待测器件510，在显示面板1000的制备过程中，待测器件510与像素器件410是同步制备的，因此，待测器件510与像素器件410的结构相同，膜层设置也相同，只是所在的位置不同，为监测像素器件410的性能，需要通过测试，但通常对于像素器件410的测试是具有破坏性的，例如通过测试探针的扎针测试会破坏像素器件410，因此，可以在非显示区域500内设置同步制备与像素器件410结构相同的待测器件510，在测试工序中，对待测器件510进行测试，得到的数据可以反映像素器件410的性能。像素器件410用于为显示面板1000实现显示功能，像素器件410可以是驱动器件，也可以是发光器件，本申请不作具体限定。如图7所示，在显示面板的制备过程中，为提高生产产能，通常多个显示面板1000是搭载在一个大张的基板上同时制备的，制备完成后可以通过切割或者其他方式将各个显示面板1000分离，在大张基板上的任意显示面板1000之间可以设置待测器件510，此处的待测器件510可以无需占用显示面板的空间，测试得到的数据能够反映大张基板上的工艺均一性和工艺稳定性，图7所示的待测器件510的数量和排列方式只是示意性的，不作为本申请的具体限定。容易理解的是，测试引脚以及和切换组件会连同待测器件510一起设置在非显示区域内，此处不作赘述。

本申请实施例提供的显示面板，将待测器件510设置在显示面板1000的非显示区域500内，待测器件510与显示区域400内的像素器件410的结构相同，测试待测器件510可以代替直接测试像素器件410，可以避免为监测像素器件410的性能而破坏像素器件410，既监测到像素器件410的性能，又可以保证像素器件410的完整。

在一些实施方式中，待测器件可以包括待测薄膜晶体管、待测电阻和待测电容中的至少一种；像素器件可以包括像素薄膜晶体管、像素电阻和像素电容中的至少一种；像素薄膜晶体管与待测薄膜晶体管的结构相同，像素电阻与待测电阻的结构相同，像素电容与待测电容的结构相同。待测器件还可以包括其他器件，本申请不做一一列举。

一个测试引脚可以分别与一个待测薄膜晶体管和一个待测电阻电连接，即待测薄膜晶体管和待测电阻存在共用的测试引脚；或，

一个测试引脚可以分别与一个待测薄膜晶体管、一个待测电阻和一个待测电容电连接，即待测薄膜晶体管、待测电阻和待测电容三者存在共用的测试引脚；或，

一个测试引脚可以分别与一个待测薄膜晶体管和一个待测电容电连接，即待测薄膜晶体管和待测电容存在共用的测试引脚；或，

一个测试引脚可以分别与一个待测电容和一个待测电阻电连接，即待测电容和待测电阻存在共用的测试引脚。

由于，像素薄膜晶体管与待测薄膜晶体管的结构相同，像素电阻与待测电阻的结构相同，像素电容与待测电容的结构相同，因此，像素薄膜晶体管与待测薄膜晶体管的制备流程相同，像素电阻与待测电阻的制备流程相同，像素电容与待测电容的制备流程相同，即在相同的工艺流程中，像素薄膜晶体管与待测薄膜晶体管的结构相同以及膜层构成也相同，像素电阻与待测电阻的结构相同以及膜层构成也相同，像素电容与待测电容的结构相同以及膜层构成也相同。示例性的，在薄膜晶体管的源漏电极(源漏电极通常属于第二电极层，第一电极层通常形成有薄膜晶体管的栅电极，此处不作具体限定)制备完成后，通常需要进行测试工序，测试项目可以包括待测薄膜晶体管的电性数据，通常包括薄膜晶体管的阈值电压(Vth)、载流子迁移率、开启电流、关闭电流等，还可以包括待测电阻的方块电阻和接触电阻等，待测电容的电容值等。在该测试工序中，由于刚完成薄膜晶体管的源漏电极的制备，待测电阻的表面膜层则为源漏电极，测试的方块电阻和接触电阻也是源漏电极对应的方块电阻和接触电阻；待测电容的两端连接于哪两个膜层，则是测试那两个膜层之间的电容，例如，待测电容的两端分别连接的是栅电极和源漏电极，则通过测试待测电容得到的是栅电极和源漏电极之间的电容值。对于待测器件的制备可以参考像素器件的制备，本申请不作具体限定和赘述。

示例性的，图8为本申请实施例提供的另一种显示面板的局部结构示意图。如图8所示，每个测试引脚200连接有一个待测薄膜晶体管140和一个待测电容150，每个待测薄膜晶体管140连接有3个测试引脚200，每个待测电容150连接有2个测试引脚200，一个待测薄膜晶体管140和一个待测电容150存在至少一个共用的测试引脚200。每个待测薄膜晶体管140具有3个端，分别是第一端141、第二端142和第三端143，待测薄膜晶体管140的3个端分别是源电极、漏电极和栅电极，具体第一端141、第二端142和第三端143对应的是源电极、漏电极还是栅电极，本申请不作具体限定。待测电容150具有2个端，分别是第四端151和第五端152。切换组件可以包括测试切换引脚310和测试开关，测试开关采用薄膜晶体管M1，薄膜晶体管M1采用P型薄膜晶体管，薄膜晶体管M1具有源极端S、漏极端D和栅极端G。每个待测薄膜晶体管140的第一端141、第二端142和第三端143与测试引脚200之间均连接有薄膜晶体管M1，第一端141、第二端142和第三端143分别与对应的薄膜晶体管M1的源极端S连接，也可以与漏极端D连接，本申请不作具体限定。所有薄膜晶体管M1的栅极端G均与测试切换引脚310连接。待测电容150的第四端151和第五端152分别与对应的薄膜晶体管M1的源极端S连接，也可以连接漏极端D。当一个测试切换引脚310通过测试探针接收到切换信号为低电平信号Vgl，低电平信号Vgl的数值小于薄膜晶体管M1的阈值电压Vth，则被输入低电平信号Vgl的测试切换引脚310对应连接的所有薄膜晶体管M1被开启(薄膜晶体管M1为P型薄膜晶体管，低电平开启)，被开启的薄膜晶体管M1所在的通路导通；反之，当一个测试切换引脚310通过测试探针接收到切换信号为高电平信号Vgh，高电平信号Vgh的数值大于薄膜晶体管M1的阈值电压Vth，则被输入高电平信号Vgh的测试切换引脚310对应连接的所有薄膜晶体管M1被关闭，被关闭的薄膜晶体管M1所在的通路断开。图8所示的测试引脚200的设置，能够实现待测薄膜晶体管140与待测电容150在一次扎针操作后进行切换测试。

示例性的，图9为本申请实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图。如图9所示，每个测试引脚200连接有一个待测薄膜晶体管140和一个待测电阻160，每个待测电阻160连接有4个测试引脚200，一个待测薄膜晶体管140和一个待测电阻160存在至少一个共用的测试引脚200。每个待测电阻160具有4个端，分别为第五端161、第六端162、第七端163和第八端164，第五端161、第六端162、第七端163和第八端164与对应的测试引脚200之间均连接有薄膜晶体管M1。图9所示的测试引脚200的设置，能够实现待测薄膜晶体管140与待测电阻160在一次扎针操作后进行切换测试。

示例性的，图10为本申请实施例提供的再一种显示面板的局部结构示意图。如图10所示，每个测试引脚200连接有一个待测电容150和一个待测电阻160，一个待测电容150和一个待测电阻160存在2个共用的测试引脚200。图10所示的测试引脚200的设置，能够实现待测电容150与待测电阻160在一次扎针操作后进行切换测试。

本申请实施例提供的显示面板，不同待测器件的组合方式，可以在一次扎针操作中，实现测试至少两种待测电路，能够减少测试过程中的扎针次数，进而减少测试探针的磨损，极大减少测试探针的更换频率，减少测试探针的消耗数量，降低测试成本，还可以避免磨损严重的测试探针在测试时造成测试结果失真的问题。

在本申请实施例的第二方面，提供一种显示面板的测试方法，应用于如本申请第一方面所述的显示面板，图11为本申请实施例提供的一种显示面板的测试方法的示意性流程图。如图11所示，本申请实施例提供的显示面板的测试方法，包括：

S100：控制测试探针与测试引脚连接。测试探针可以设置在测试治具或者测试仪器上，测试探针与测试引脚的连接可以是通过将测试探针扎在测试引脚上实现，即对测试引脚进行扎针操作，根据不同测试仪器以及测试引脚的设置，一次扎针操作可以是多根测试探针同时进行，本申请不作具体限定。

S200：通过切换组件，控制至少一个待测电路与测试引脚导通，以及控制其余待测电路与测试引脚断开。可以是测试仪器通过控制切换组件来控制至少一个待测电路与测试引脚导通，以及控制其余待测电路与测试引脚断开，也可以通过其他方式控制控制切换组件来控制至少一个待测电路与测试引脚导通，以及控制其余待测电路与测试引脚断开，本申请不作具体限定。

S300：向测试引脚通入测试信号。测试信号可以是电信号，电压或者电流，本申请不作具体限定。

S400：基于通入测试信号的测试引脚，采集导通的待测电路的测试数据。待测电路被通入测试信号后会产生相应的性能数据，这些性能数据被采集后可供分析，来确认待测电路的性能是否在正常范围内。

本申请实施例提供的显示面板的测试方法，当通过测试引脚对其中至少一个待测电路进行测试时，其余待测电路与测试引脚之间的电连接需要被断开，可以通过切换组件导通至少一个待测电路与测试引脚的电连接，以及通过切换组件断开其余待测电路与测试引脚之间的电连接。可以控制测试探针与测试引脚连接，通过待测电路与测试引脚的导通电路，对对应的待测电路进行测试。因此，通过设置一个测试引脚与至少两个待测电路电连接，可以实现对于一个测试引脚进行一次测试探针的扎针操作，即可完成至少两个或者至少两种待测电路的测试，能够较大程度减少测试探针的扎针次数。相对于现有技术中测试引脚的设置，在测试过程中测试不同的器件或者测试不同参数需要单独扎针，导致现有的测试工序需要进行多次扎针，扎针次数越多，测试探针的磨损越严重，增加了测试探针的更换频率，进而增加测试成本；本申请实施例提供的显示面板，能够至少减少一半的扎针次数，减少了测试探针扎针磨损，极大减少测试探针的更换频率，进而减少测试探针的消耗数量，可以降低测试成本。由于本申请实施例提供的显示面板中测试引脚的设置降低了测试探针的扎针次数，测试探针的磨损程度被极大降低，更换频率也随之降低，则可以避免为及时更换的磨损严重的测试探针在测试时造成测试结果失真的问题。

在一些实施方式中，方法还可以包括：

通过切换组件，控制至少另一个待测电路与测试引脚导通，以及控制其余待测电路与测试引脚断开。

向测试引脚通入测试信号。测试不同的待测电路，测试信号可以不同，本申请不作具体限定。

基于通入测试信号的测试引脚，采集导通的待测电路的测试数据。

示例性的，参考图2，当通过测试引脚200对第一待测电路110进行测试时，可以通过第一待测电路110对应的切换组件300控制第一待测电路110与测试引脚200导通，以及通过第二待测电路120对应的切换组件300控制第二待测电路120与测试引脚200断开，可以控制测试探针与测试引脚200连接，通过第一待测电路110与测试引脚200的导通电路，对第一待测电路110进行测试。当第一待测电路110的测试完成后，需要对第二待测电路120进行测试时，通过第二待测电路120对应的切换组件300控制第二待测电路120与测试引脚200导通，以及通过第一待测电路110对应的切换组件300控制第一待测电路110与测试引脚200断开，可以控制测试探针与测试引脚200连接，通过第二待测电路120与测试引脚200的导通电路，对第二待测电路120进行测试。因此，通过设置一个测试引脚200与至少两个待测电路100电连接，可以实现对于一个测试引脚200进行一次测试探针的扎针操作，即可完成至少两个或者至少两种待测电路100的测试，能够较大程度减少测试探针的扎针次数。

在一些实施方式中，在多个待测电路分为至少两组，每组待测电路连接有一个切换组件的情况下，步骤S200，可以包括：

通过切换组件，控制一组待测电路与测试引脚导通，以及控制其余待测电路与测试引脚断开。

示例性的，参考图4，当对同一组的第一待测电路110进行测试时，通过一个切换组件300控制同一组的所有第一待测电路110与对应的测试引脚200导通，通过另一个切换组件300控制另一组的所有第二待测电路120与对应的测试引脚200断开，通过测试探针与测试引脚200的连接，对导通的所有第一待测电路110进行测试。测试探针保持不动，通过另一个切换组件300控制另一组的所有第二待测电路120与对应的测试引脚200导通，通过一个切换组件300控制同一组的所有第一待测电路110与对应的测试引脚200断开，对导通的所有第二待测电路120进行测试。因此，对至少两组测试探针的测试，只需要对测试引脚200进行一次测试探针的扎针操作。

在一些实施方式中，在切换组件包括测试切换引脚和测试开关的情况下，方法还可以包括：

控制测试探针与测试切换引脚连接；

步骤S200，可以包括：

向一个测试切换引脚通入导通信号，以开启至少一个组测试单元电路电连接的测试开关，使得一组待测电路与测试引脚导通；

向其余测试切换引脚通入断开信号，以关闭其余待测电路电连接的测试开关，使得其余待测电路与测试引脚断开。

示例性的，参考图5，可以通过测试探针与测试切换引脚310的连接，将测切换信号通过测试切换引脚310输送至对应的测试开关320，切换信号可以包括导通信号和断开信号，导通信号可以控制测试开关320的开启，断开信号可以控制测试开关320的关闭，测试开关320的开启和关闭能够控制待测电路与测试引脚200形成导电通路的导通和断开，因此，测试切换引脚310可以通过通入切换信号控制测试开关320的开启和关闭，以控制测试引脚200与待测电路的导通和断开。每组待测电路可以对应一个测试切换引脚310，一个测试切换引脚310可以对应一组待测电路对应的所有测试开关320，本申请不作具体限定。

本申请实施例的第三方面，提供一种显示装置，图12为本申请实施例提供的一种显示装置的示意图。如图12所示，本申请实施例提供的显示装置包括：如第一方面所述的显示面板1000。显示装置可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、其他显示器等，本申请不作具体限定。

尽管已描述了本说明书的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本说明书范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本说明书进行各种改动和变型而不脱离本说明书的精神和范围。这样，倘若本说明书的这些修改和变型属于本说明书权利要求及其等同技术的范围之内，则本说明书也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (11)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

至少两个待测电路；

测试引脚，所述测试引脚与至少两个所述待测电路电连接，连接于相同所述测试引脚的至少两个所述待测电路设置于所述测试引脚的不同侧；

切换组件，所述切换组件用于控制所述测试引脚与所述待测电路的导通和断开；

所述测试引脚为多个，每个所述待测电路与至少两个所述测试引脚电连接；

多个所述待测电路分为至少两组，每组所述待测电路连接有一个所述切换组件；

至少两组所述待测电路关于所述测试引脚相对设置；

所述测试引脚和所述切换组件均位于相对设置的至少两组所述待测电路之间。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述切换组件包括测试切换引脚，所述测试切换引脚用于通过通入切换信号控制所述测试引脚与所述待测电路的导通和断开。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述切换组件还包括测试开关，每个所述测试引脚与每个所述待测电路之间连接有所述测试开关；

所述测试开关与所述测试切换引脚电连接，所述测试切换引脚用于通过通入切换信号控制所述测试开关的开启和关闭，以控制所述测试引脚与所述待测电路的导通和断开。

4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述测试开关包括薄膜晶体管。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每个所述待测电路包括待测器件。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括显示区域和非显示区域，所述待测电路和所述测试引脚均设置于所述非显示区域内；

所述显示区域内设置有像素器件，所述待测电路中的所述待测器件与所述像素器件的结构相同。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述待测器件包括待测薄膜晶体管、待测电阻和待测电容中的至少一种；

所述像素器件包括像素薄膜晶体管、像素电阻和像素电容中的至少一种；

其中，所述像素薄膜晶体管与所述待测薄膜晶体管的结构相同，所述像素电阻与所述待测电阻的结构相同，所述像素电容与所述待测电容的结构相同。

8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，一个所述测试引脚分别与一个待测薄膜晶体管和一个所述待测电阻电连接；或，

一个所述测试引脚分别与一个所述待测薄膜晶体管、一个所述待测电阻和一个所述待测电容电连接；或，

一个所述测试引脚分别与一个所述待测薄膜晶体管和一个所述待测电容电连接；或，

一个所述测试引脚分别与一个所述待测电容和一个所述待测电阻电连接。

9.一种显示面板的测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1-8中任一项所述的显示面板，方法包括：

控制测试探针与所述测试引脚连接；

通过所述切换组件，控制至少一个所述待测电路与所述测试引脚导通，以及控制其余所述待测电路与所述测试引脚断开；

向所述测试引脚通入测试信号；

基于通入所述测试信号的所述测试引脚，采集导通的所述待测电路的测试数据；

通过所述切换组件，控制至少另一个所述待测电路与所述测试引脚导通，以及控制其余所述待测电路与所述测试引脚断开；

向所述测试引脚通入测试信号；

基于通入所述测试信号的所述测试引脚，采集导通的所述待测电路的测试数据；

在多个所述待测电路分为至少两组，每组所述待测电路连接有一个所述切换组件的情况下，所述通过所述切换组件，控制至少一个所述待测电路与所述测试引脚导通，以及控制其余所述待测电路与所述测试引脚断开的步骤，包括：

通过所述切换组件，控制一组所述待测电路与所述测试引脚导通，以及控制其余所述待测电路与所述测试引脚断开。

10.根据权利要求9所述的显示面板的测试方法，其特征在于，在所述切换组件包括测试切换引脚和测试开关的情况下，所述方法还包括：

控制所述测试探针与所述测试切换引脚连接；

所述通过所述切换组件，控制至少一个所述待测电路与所述测试引脚导通，以及控制其余所述待测电路与所述测试引脚断开的步骤，包括：

向一个所述测试切换引脚通入导通信号，以开启至少一个组所述测试单元电路电连接的所述测试开关，使得一组所述待测电路与所述测试引脚导通；

向其余所述测试切换引脚通入断开信号，以关闭其余所述待测电路电连接的所述测试开关，使得其余所述待测电路与所述测试引脚断开。

11.一种显示装置，其特征在于，包括：如权利要求1-8中任一项所述的显示面板。