CN110850651B - 显示面板和测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种显示面板和测试系统，该显示面板包括绑定区和位于所述绑定区两侧的缓冲区，所述显示面板包括衬底、薄膜晶体管、平坦化层、钝化层和测试端子，通过在平坦化层和钝化层上分别在缓冲区内形成第二过孔和第三过孔，使得测试端子通过第二过孔和第三过孔与金属走线的两端连接，从而使得可以通过测试端子对金属走线进行测试，相应的得到金属走线的状态，解决了现有显示面板存在无法检测金属走线阻抗变大甚至断裂的技术问题。

Description

显示面板和测试系统
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其是涉及一种显示面板和测试系统。
背景技术
在显示面板的下边框中，绑定区的走线如图1所示，由于在绑定区，需要将IC和柔性电路板绑定在显示面板上，需要将绑定区的绝缘层挖开，使得金属走线与IC和柔性电路板的端子连接，如图2所示，由于绑定区的平坦化层挖开，使得在钝化层沉积前，绑定区的金属走线暴露在外界中，会造成金属走线被腐蚀的问题，造成金属走线的阻抗变大甚至金属走线断裂，使得显示面板出现显示效果不佳的问题。
所以，现有显示面板存在无法检测金属走线阻抗变大甚至断裂的技术问题。
发明内容
本发明提供一种显示面板和测试系统，用于解决现有显示面板存在无法检测金属走线阻抗变大甚至断裂的技术问题。
为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：
本发明提供一种显示面板，该显示面板包括绑定区和位于所述绑定区两侧的缓冲区，所述显示面板包括：
衬底；
薄膜晶体管，设置于所述衬底上，刻蚀形成有金属走线，至少一条所述金属走线从所述绑定区延伸至所述缓冲区；
平坦化层，设置于所述薄膜晶体管上，在绑定区形成有第一过孔、在缓冲区形成有第二过孔；
钝化层，设置于所述平坦化层上，且覆盖所述第一过孔，所述钝化层形成有第三过孔，所述第三过孔与所述第二过孔在所述衬底上的投影重合；
测试端子，所述测试端子穿过所述第一过孔和第三过孔，与所述金属走线的两端连接。
在本发明提供的显示面板中，所述金属走线包括信号走线和无效走线，所述无效走线从所述绑定区向两侧延伸至缓冲区，所述测试端子与所述无效走线的两端连接。
在本发明提供的显示面板中，所述金属走线包括信号走线和无效走线，所述信号走线从所述绑定区向两侧延伸至缓冲区，所述测试端子与所述信号走线的两端连接。
在本发明提供的显示面板中，所述薄膜晶体管包括第一金属层，所述第一金属层刻蚀形成扫描线，所述信号走线为扫描线的一部分。
在本发明提供的显示面板中，所述薄膜晶体管包括源漏极层，所述源漏极层刻蚀形成数据线，所述数据线形成所述信号走线。
在本发明提供的显示面板中，所述显示面板还包括像素电极层和公共电极层，所述像素电极层设置于所述公共电极层远离所述钝化层的方向上，所述像素电极层形成有所述测试端子。
在本发明提供的显示面板中，所述显示面板还包括像素电极层和公共电极层，所述公共电极层设置于所述像素电极层远离所述钝化层的方向上，所述公共电极层形成有所述测试端子。
同时，本发明提供一种测试系统，该测试系统包括：
如上述实施例任一所述的显示面板；
测试电路，所述测试电路电连接所述测试端子，所述测试电路用于测试所述金属走线的电阻。
在本发明提供的测试系统中，所述测试电路包括万用表，所述万用表通过所述测试端子电连接所述金属走线两端。
在本发明提供的测试系统中，所述测试电路包括电源、电阻和电压表，所述电源、电阻与测试端子串联，所述电压表与所述测试端子并联。
有益效果：本发明提供一种显示面板和测试系统，该显示面板包括绑定区和位于所述绑定区两侧的缓冲区，所述显示面板包括衬底、薄膜晶体管、平坦化层、钝化层和测试端子，所述薄膜晶体管设置于所述衬底上，刻蚀形成有金属走线，至少一条所述金属左线从所述绑定区延伸至所述缓冲区，所述平坦化层设置于所述薄膜晶体管上，在绑定区形成有第一过孔、在缓冲区形成有第二过孔，所述钝化层设置于所述平坦化层上，且覆盖所述第一过孔，所述钝化层形成有第三过孔，所述第三过孔与所述第二过孔在所述衬底上的投影重合，所述测试端子穿过所述第一过孔和第三过孔，与所述金属走线的两端连接，通过在平坦化层和钝化层上分别形成第二过孔和第三过孔，使得测试端子通过第二过孔和第三过孔与金属走线的两端连接，从而使得可以通过测试端子对金属走线进行测试，相应的得到金属走线的状态，解决了现有显示面板存在无法检测金属走线阻抗变大甚至断裂的技术问题。
附图说明
为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有显示面板的第一示意图；
图2为现有显示面板的第二示意图；
图3为本发明实施例提供的显示面板的第一示意图；
图4为本发明实施例提供的显示面板的第二示意图；
图5为本发明实施例提供的液晶显示面板的示意图；
图6为本发明实施例提供的测试系统的示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。
本发明针对现有显示面板存在无法检测金属走线阻抗变大甚至断裂的技术问题，本发明实施例用以解决该问题。
如图1所示，现有显示面板的下边框11包括绑定区112、所述绑定区内设有金属走线111，而由于在绑定区，需要使得金属走线与IC和柔性电路板的端子连接，如图2所示，显示面板包括缓冲层113、栅极绝缘层114、层间绝缘层115、源漏极层116、平坦化层118和钝化层117，从图2可以看出，为了使得绑定区的金属走线外露，会将位于绑定区的平坦化层挖除，从而使得在平坦化层被挖除、钝化层未形成的阶段，金属走线暴露在外界，会出现被腐蚀甚至断裂的问题，在显示时造成显示不良，即现有显示面板存在无法检测金属走线阻抗变大甚至断裂的技术问题。
如图3所示，本发明实施例提供一种显示面板，该显示面板2包括绑定区22、位于所述绑定区两侧的缓冲区21、扇出区23和显示区24，所述显示面板包括金属走线25和测试端子222，所述金属走线25从所述绑定区延伸至所述缓冲区，所述金属走线25包括无效走线221和信号走线223，所述无效走线221两端与所述测试端子222连接。
如图3、图4所示，本发明实施例提供一种显示面板，该显示面板包括绑定区22和位于所述绑定区22两侧的缓冲区21，所述显示面板包括：
衬底211；
薄膜晶体管232，设置于所述衬底211上，刻蚀形成有金属走线25，至少一条所述金属走线25从所述绑定区22延伸至所述缓冲区21；
平坦化层218，设置于所述薄膜晶体管232上，在绑定区22形成有第一过孔、在缓冲区21形成有第二过孔；
钝化层219，设置于所述平坦化层218上，且覆盖所述第一过孔，所述钝化层219形成有第三过孔，所述第三过孔与所述第二过孔在所述衬底上的投影重合；
测试端子222，所述测试端子穿过所述第一过孔和第三过孔，与所述金属走线的两端连接。
本发明提供一种显示面板，该显示面板包括绑定区和位于所述绑定区两侧的缓冲区，所述显示面板包括衬底、薄膜晶体管、平坦化层、钝化层和测试端子，所述薄膜晶体管设置于所述衬底上，刻蚀形成有金属走线，至少一条所述金属左线从所述绑定区延伸至所述缓冲区，所述平坦化层设置于所述薄膜晶体管上，在绑定区形成有第一过孔、在缓冲区形成有第二过孔，所述钝化层设置于所述平坦化层上，且覆盖所述第一过孔，所述钝化层形成有第三过孔，所述第三过孔与所述第二过孔在所述衬底上的投影重合，所述测试端子穿过所述第一过孔和第三过孔，与所述金属走线的两端连接，通过在平坦化层和钝化层上分别形成第二过孔和第三过孔，使得像素电极层形成的测试端子通过第二过孔和第三过孔与金属走线的两端连接，从而使得可以通过测试端子对金属走线进行测试，相应的得到金属走线的状态，解决了现有显示面板存在无法检测金属走线阻抗变大甚至断裂的技术问题。
需要说明的是，所述钝化层219覆盖在所述第一过孔上，图4中未示出第一过孔，测试端子222设置于所述第二过孔和第三过孔内，图4中未示出第二过孔和第三过孔。
需要说明的是，下述实施例中所述的无效走线、信号走线等金属走线的状态包括阻抗变大和断裂。
在一种实施例中，如图3所示，所述金属走线25包括信号走线223和无效走线221，所述无效走线221从所述绑定区22向两侧延伸至缓冲区21，所述测试端子222与所述无效走线221的两端连接，在对绑定区的金属走线进行测试时，可设置无效走线，使得无效走线模拟信号走线的状态，从而通过无效走线的状态判断信号走线的状态，例如无效走线出现阻抗变大，代表信号走线阻抗变大，且无效走线不参与显示面板中的驱动，无效走线不会影响显示面板中的驱动线路，考虑到将测试端子设置在绑定区，会占用绑定区的空间，将无效走线从绑定区延伸至缓冲区，从而通过无效走线位于缓冲区的两端测试无效走线的状态，从而判断无效走线的状态，进而得到信号走线的状态，且可根据信号走线的状态做出相应的反应，避免在显示过程中出现显示不良。
在一种实施例中，所述金属走线包括信号走线和无效走线，所述信号走线从所述绑定区向两侧延伸至缓冲区，所述测试端子与所述信号走线的两端连接；为了得到信号走线的状态，可直接使得信号走线从绑定区延伸至缓冲区，通过测试端子连接信号走线的两端，使得可通过测试端子测试信号走线的状态，从而依据信号走线的状态做出相应的反应。
在一种实施例中，如图4所示，所述显示面板还包括缓冲层212，所述薄膜晶体管232包括有源层213、栅极绝缘层214、第一金属层215、层间绝缘层216、源漏极层217，所述薄膜晶体管包括第一金属层，所述第一金属层刻蚀形成扫描线，所述信号走线为扫描线的一部分，将第一金属层作为栅极层，使得第一金属层刻蚀形成扫描线，在绑定区，源漏极层刻蚀形成有扫描线的一部分，源漏极层的扫描线与第一金属层形成的扫描线通过过孔连接，通过将绑定区的扫描线的一部分作为信号走线，通过使测试端子连接扫描线两端，使得可通过测试端子测试扫描线的状态。
在一种实施例中，所述薄膜晶体管包括源漏极层，所述源漏极层刻蚀形成数据线，所述数据线形成所述信号走线；在测试时，源漏极层会存在外露的时间端，使得源漏极层在绑定区的金属走线出现被腐蚀甚至断裂的问题，通过使得源漏极层的数据线从绑定区向缓冲区延伸形成信号走线，使用测试端子连接数据线，使得能够通过测试端子测量数据线的状态，从而依据数据线的状态进行相应的操作。
在一种实施例中，所述薄膜晶体管还包括第二金属层，在第二金属层走线外露形成信号走线时，可使得测试端子连接所述第二金属层形成的信号走线，从而通过测试端子测试第二金属层形成的信号走线的状态，进而根据信号走线的状态对信号走线采取相应的补偿或者修复等操作。
在本发明实施例中，对需要测量金属走线的状态的金属层，均可对金属走线进行测试，例如在第一金属层形成扫描线时，对第一金属层的各个金属走线进行测试，在第二金属层形成电容极板时，可对第二金属层形成的金属走线进行测试，在源漏极层形成数据线时，对源漏极层的各个金属走线进行测试，从而相应的得到各金属层的金属走线的状态，从而进行相应的反应，避免显示面板出现显示不良。
如图5所示，本发明实施例提供一种液晶显示面板，该液晶显示面板包括：
衬底211；
薄膜晶体管232，设置于所述衬底上；
平坦化层218，设置于所述薄膜晶体管232上，形成有第一过孔和第二过孔282；
钝化层219，设置于所述平坦化层218上，且覆盖第一过孔，所述钝化层形成有第三过孔291；
像素电极层231，设置于所述钝化层219上；
第一配向层311，设置于所述像素电极层231上；
液晶层312，设置于所述第一配向层311和第二配向层313之间；
公共电极层314，设置于所述第二配向层313上；
色阻层315，设置于所述公共电极层314上；
其中，所述公共电极层314形成有测试端子222，所述测试端子222穿过所述第二过孔282和第三过孔291与薄膜晶体管中的金属走线两端连接；
对于公共电极层位于像素电极层上方的显示面板，使公共电极层形成有测试端子，使得在对金属走线进行测试时，直接连接公共电极层的测试端子即可，或者可将测试端子延伸至显示区内的公共电极层，测试公共电极层以确定金属走线的状态，且公共电极层位于像素电极层上方，在测试时，相对于像素电极层形成测试端子，连接测试端子时穿过的膜层较少，较易实现。
在一种实施例中，所述显示面板还包括像素电极层和公共电极层，所述像素电极层设置于所述公共电极层远离所述钝化层的方向上，所述像素电极层形成所述测试端子；在像素电极层位于公共电极层上方时，使像素电极层形成测试端子，则在连接测试端子时，外接测试部分较易实现，无需穿过过多膜层。
在一种实施例中，所述显示面板还包括像素电极层和公共电极层，所述公共电极层设置于所述像素电极层远离所述钝化层的方向上，所述公共电极层形成有所述测试端子。
在一种实施例中，所述显示面板还包括像素电极层和公共电极层，所述公共电极层设置于所述像素电极层远离所述钝化层的方向上，所述像素电极层形成有所述测试端子，在像素电极层位于公共电极层下方时，可使像素电极层形成测试端子，从而通过测试端子测试金属走线的阻抗，在无法连接到测试端子时，可在公共电极层形成连接端子，使得连接端子连接测试端子，从而通过连接端子和测试端子与金属走线的两端连接，进而测试金属走线的阻抗。
在一种实施例中，所述显示面板还包括像素电极层和公共电极层，所述像素电极层设置于所述公共电极层远离所述钝化层的方向上，所述公共电极层形成所述测试端子。
在一种实施例中，所述显示面板还包括辅助电极层，所述辅助电极层设置于所述公共电极层远离所述像素电极层的方向上，所述辅助电极层形成有所述测试端子；在形成测试端子，以连接金属走线两端，对金属走线进行测试时，可设置辅助电极层，以形成测试端子，使测试端子与金属走线连接，从而通过测试端子对金属走线进行测试。
在一种实施例中，所述显示面板包括OLED显示面板，考虑到在OLED显示面板中，也会出现金属走线外露，从而造成金属走线的阻抗增大甚至断裂的问题，可在OLED显示面板中设置测试端子，使得可通过测试端子测试OLED显示面板中金属走线的状态，从而进行根据金属走线的状态做出相应的反应。
如图6所示，本发明实施例提供一种测试系统，该测试系统包括：
上述实施例中任一所述的显示面板；
测试电路61，所述测试电路61电连接所述测试端子222，所述测试电路61用于测试所述金属走线25的电阻。
本发明实施例提供一种测试系统，该测试系统包括上述实施例中任一所述的显示面板和测试电路，所述测试电路电连接所述测试端子，所述测试电路用于测试所述金属走线的电阻，通过使用测试电路连接所述测试端子，通过测试端子测试金属走线的电阻，根据金属走线的电阻大小确定金属走线的状态，从而解决了现有显示面板存在无法检测金属走线阻抗变大甚至断裂的技术问题；且可依据测试结果，进行相应的反应，避免在显示过程中出现显示不良。
在一种实施例中，所述测试电路包括万用表，所述万用表通过所述测试端子电连接所述金属走线两端，在测试金属走线的电阻时，使用万用表测试金属走线的电阻，从而根据金属走线的电阻判断金属走线是否被腐蚀甚至断裂。
在一种实施例中，如图6所示，所述测试电路61包括电源611、电阻612和电压表613，所述电源、电阻与测试端子串联，所述电压表与所述测试端子并联，在对金属走线进行测试时，使得电源、电阻与测试端子形成回路，使用电压表与测试端子并联，电压表测量金属走线两端的电压，在电压表的测量数据等于电源电压时，表示金属走线断裂，在电压表的测量数据等于0时，表示金属走线未被腐蚀，在电压表的测量数据大于0小于电源电压时，表示金属走线被腐蚀，阻抗增大，但金属走线未断裂，从而使得测试电路测试金属走线的电阻，相应的得到金属走线的状态，以使后续根据金属走线的状态做出相应的反应。
在一种实施例中，在对金属走线进行测试后，在测试结果为金属走线被腐蚀甚至断裂时，可使得采用修复线对金属走线进行修复，例如使修复线修复断裂位置，或者将修复线与金属走线并联，从而降低金属走线的阻抗，以根据金属走线的状态进行相应的方向，进而使得显示面板在显示过程中正常显示。
根据以上实施例可知：
本发明实施例提供一种显示面板和测试系统，该显示面板包括绑定区和位于所述绑定区两侧的缓冲区，所述显示面板包括衬底、薄膜晶体管、平坦化层、钝化层和测试端子，所述薄膜晶体管设置于所述衬底上，刻蚀形成有金属走线，至少一条所述金属左线从所述绑定区延伸至所述缓冲区，所述平坦化层设置于所述薄膜晶体管上，在绑定区形成有第一过孔、在缓冲区形成有第二过孔，所述钝化层设置于所述平坦化层上，且覆盖所述第一过孔，所述钝化层形成有第三过孔，所述第三过孔与所述第二过孔在所述衬底上的投影重合，所述测试端子穿过所述第一过孔和第三过孔，与所述金属走线的两端连接，通过在平坦化层和钝化层上分别形成第二过孔和第三过孔，使得测试端子通过第二过孔和第三过孔与金属走线的两端连接，从而使得可以通过测试端子对金属走线进行测试，相应的得到金属走线的状态，解决了现有显示面板存在无法检测金属走线阻抗变大甚至断裂的技术问题。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (8)

1.一种显示面板，其特征在于，包括绑定区和位于所述绑定区两侧的缓冲区，所述显示面板包括：
衬底；
薄膜晶体管，设置于所述衬底上，刻蚀形成有金属走线，至少一条所述金属走线从所述绑定区延伸至所述缓冲区；
平坦化层，设置于所述薄膜晶体管上，在绑定区形成有第一过孔、在缓冲区形成有第二过孔；
钝化层，设置于所述平坦化层上，且覆盖所述第一过孔，所述钝化层形成有第三过孔，所述第三过孔与所述第二过孔在所述衬底上的投影重合；
测试端子，所述测试端子穿过所述第二过孔和第三过孔，与所述金属走线的两端连接；所述金属走线包括信号走线和无效走线，所述无效走线从所述绑定区向两侧延伸至缓冲区，所述测试端子与所述无效走线的两端连接。
2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述薄膜晶体管包括第一金属层，所述第一金属层刻蚀形成扫描线，所述信号走线为扫描线的一部分。
3.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述薄膜晶体管包括源漏极层，所述源漏极层刻蚀形成数据线，所述数据线形成所述信号走线。
4.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括像素电极层和公共电极层，所述像素电极层设置于所述公共电极层远离所述钝化层的方向上，所述像素电极层形成有所述测试端子。
5.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括像素电极层和公共电极层，所述公共电极层设置于所述像素电极层远离所述钝化层的方向上，所述公共电极层形成有所述测试端子。
6.一种测试系统，其特征在于，包括：
如权利要求1至5任一所述的显示面板；
测试电路，所述测试电路电连接所述测试端子，所述测试电路用于测试所述金属走线的电阻。
7.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述测试电路包括万用表，所述万用表通过所述测试端子电连接所述金属走线两端。
8.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述测试电路包括电源、电阻和电压表，所述电源、电阻与测试端子串联，所述电压表与所述测试端子并联。
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