CN112017531B - 显示面板 - Google Patents

Abstract

本申请提出了一种显示面板，该显示面板包括：显示区、位于显示区一侧的绑定区、以及位于绑定区远离显示区一侧的测试端子区。绑定区内设置有多个绑定端子，测试端子区内设置有至少两个与绑定端子电连接的测试端子。本申请通过在显示面板的绑定区远离显示区一侧设置测试端子区，测试端子区内的至少两个测试端子分别与绑定端子电连接，测试端子用于检测绑定区内的绑定端子是否由于制程中氧化铟锡的残留而导致绑定区内的多个绑定端子发生短接，避免了因绑定端子的短接而导致显示面板出现异常输入。

Description

显示面板

技术领域

本申请涉及显示领域，尤其涉及一种显示面板。

背景技术

随着人们对显示产品的需求量的提升，如何在保证产品质量的同时提高产能并降低产品的制造成本，是一大重要的发展方向。

现有的显示装置的组装中，显示面板的阵列基板需要将绑定区内位于金属走线上的钝化层挖空以使金属走线裸露出来，便于与柔性电路板中的金属走线进行电连接。由于需要挖空的该区域的钝化层较厚，易在挖空该区域钝化层后形成的陡坡上残留ITO(IndiumTin Oxides，氧化铟锡)，残留的ITO会导致显示面板在柔性电路板的封装中发生短路，现有的显示面板在制程中难以及时检测到ITO残留导致的短接，导致显示面板的异常输入。

因此，亟需一种新的显示面板以解决上述技术问题。

发明内容

本申请提供了一种显示面板，用于解决现有的显示面板无法检测出绑定区ITO残留导致的短接，造成显示面板的异常输入的问题。

为了解决上述技术问题，本申请提供的技术方案如下：

本申请提供了一种显示面板，显示区、位于所述显示区一侧的绑定区、以及位于所述绑定区远离所述显示区一侧的测试端子区；

所述绑定区内设置有多个绑定端子，所述测试端子区内设置有至少两个与所述绑定端子电连接的测试端子；

当任意两个所述测试端子的电流值大于第一阈值时，所述显示面板为异常产品；当任意两个所述测试端子的电流值小于或等于所述第一阈值时，则所述显示面板为正常产品。

本申请提供的显示面板中，所述显示面板还包括位于所述绑定区内的连接导线，所述测试端子通过所述连接导线与所述绑定端子电连接。

本申请提供的显示面板中，所述连接导线至少包括位于所述绑定区内的第一走线，所述第一走线与所述绑定端子一体设置；或者，所述第一走线与所述绑定端子异层设置。

本申请提供的显示面板中，所述连接导线还包括位于所述第一走线远离所述显示区一侧的第二走线；

在所述绑定端子至所述测试端子的方向上，所述第二走线与所述绑定端子平行设置；或者，在所述绑定端子至所述测试端子的方向上，相邻两条所述第二走线之间的距离逐渐减小。

本申请提供的显示面板中，在所述绑定端子至所述测试端子的方向上，所述第二走线的宽度逐渐减小。

本申请提供的显示面板中，在所述绑定端子至所述测试端子的方向上，任意两条所述第二走线的长度之比为0.8：1至1.2：1。

本申请提供的显示面板中，在所述显示面板的数据线的延伸方向上，所述第二走线的电阻率先增大后减小；或者，在所述显示面板的数据线的延伸方向上，所述第二走线的宽度先减小后增大。

本申请提供的显示面板中，所述显示面板包括第一基板，所述第一基板包括衬底、位于所述衬底上的第一金属层、位于所述衬底上的非金属层、以及位于所述非金属层上的第二金属层；

所述测试端子包括至少一第三金属层，所述第三金属层与所述第一金属层同层设置，所述绑定端子与所述第二金属层同层设置。

本申请提供的显示面板中，所述绑定区包括关于沿第一方向的第一对称轴对称设置的第一区以及第二区；

所述测试端子包括第一子测试端子以及第二子测试端子，所述第一子测试端子与位于所述第一区内的所述绑定端子电连接，所述第二子测试端子与位于所述第二区内的所述绑定端子电连接；

其中，所述第一方向与所述绑定端子的延伸方向平行。

本申请提供的显示面板中，所述第一子测试端子电连接的所述绑定端子关于所述第一区沿所述第一方向的第二对称轴对称设置，和/或所述第二子测试端子电连接的所述绑定端子关于所述第二区沿所述第一方向的第三对称轴对称设置。

有益效果：本申请通过在显示面板的绑定区远离显示区一侧设置测试端子区，测试端子区内的至少两个测试端子分别与绑定端子电连接，测试端子用于检测绑定区内的绑定端子是否由于制程中氧化铟锡的残留而导致绑定区内的多个绑定端子发生短接，避免了因绑定端子的短接而导致显示面板出现异常输入。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为本申请的显示面板的绑定区以及测试端子区的第一种结构示意图。

图2为本申请的显示面板的绑定区的一种结构示意图。

图3为本申请的显示面板的绑定区以及测试端子区的第二种结构示意图。

图4为本申请的显示面板的绑定区以及测试端子区的第三种结构示意图。

图5为本申请的显示面板的绑定区以及测试端子区的第四种结构示意图。

图6为本申请的显示面板的绑定区以及测试端子区的第五种结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

现有的显示面板存在难以检测出绑定区内由于ITO残留造成的短接，使存在短接问题的显示面板进入后续制程，造成显示面板出现输入异常的问题。基于此，本申请提出了一种显示面板。

请参阅图1至图6，所述显示面板包括显示区、位于所述显示区一侧的绑定区101、以及位于所述绑定区101远离所述显示区一侧的测试端子区102；

所述绑定区101内设置有多个绑定端子103，所述测试端子区102内设置有至少两个与所述绑定端子103电连接的测试端子104；

当任意两个所述测试端子104的电流值大于第一阈值时，所述显示面板为异常产品；当任意两个所述测试端子104的电流值小于或等于所述第一阈值时，则所述显示面板为正常产品。

本申请通过在所述显示面板的所述绑定区101远离所述显示区一侧设置所述测试端子区102，所述测试端子区102内的至少两个所述测试端子104分别与所述绑定端子103电连接，所述测试端子104用于检测所述绑定区101内的所述绑定端子103是否由于ITO残留而发生短接，对所述显示面板进行了及时检测，避免了因绑定端子103的短接而导致显示面板出现异常输入，并且避免了存在短接异常的显示面板进入后续制程，造成的显示面板的制造成本的浪费和产能损失。

现结合具体实施例对本申请的技术方案进行描述。

实施例一

请参阅图1以及图2，所述显示面板还设置有连接导线，所述连接导线用于所述测试端子104与所述绑定端子103的电连接。

本实施例中，所述连接导线至少包括位于所述绑定区101内的第一走线105，所述第一走线105与所述绑定端子103一体设置。

或者，所述第一走线105与所述绑定端子103异层设置。

本实施例中，所述显示面板包括第一基板，所述第一基板包括衬底107、位于所述衬底107上的第一金属层108、位于所述衬底107上的非金属层109、以及位于所述非金属层109上的第二金属层110；

所述测试端子104包括至少一第三金属层，所述第三金属层与所述第一金属层108同层设置，所述绑定端子103与所述第二金属层110同层设置。

或者，所述第三金属层与所述第二金属层110也可以同层设置。

当所述第一走线105与所述绑定端子103一体设置，所述第一走线105与所述第二金属层同层设置。

本实施例中，当所述第一走线105与所述绑定端子103异层设置时，所述第一走线105可以与所述第一金属层108同层设置。

本实施例中，由于所述绑定区101内的ITO残留是否会导致短接问题的发生与位于所述绑定区101内的信号线的宽度、信号线的位置、以及信号线之间的间距有关，因此，当所述第一走线105与所述绑定端子103同层设置时，为保证检测获得的数据的准确性，所述第一走线105与所述绑定端子103一体设置。

本实施例中，所述测试端子104包括至少一第三金属层，所述第三金属层可以与所述绑定端子103同层设置或异层设置。

当所述第一走线105与所述绑定端子103一体设置，所述测试端子104的所述第三金属层与所述绑定端子103异层设置时，所述第三金属层与所述第一走线105通过第一过孔电连接。

当所述第一走线105与所述绑定端子103一体设置时，避免了多余走线、过孔的设置，简化了显示面板的工艺制程。

本实施例中，当所述第一走线105与所述绑定端子103异层设置时，所述第一走线105与所述绑定端子103通过第二过孔电连接。所述第二过孔位于所述绑定端子103远离所述显示区的一侧。此时，所述第一走线105可以与所述第一金属层108同层设置。

由于所述绑定区101内的ITO残留是否会导致短接问题，与位于所述绑定区101内裸露出的绑定端子以及第一走线的长度有关，当所述第一走线105与所述绑定端子103异层设置时，避免了所述第一走线105的裸露造成位于所述绑定区101内裸露出的信号线的长度的增加，导致ITO残留发生短接问题的概率的增加，有利于在及时发现绑定区101内ITO残留导致短接问题，避免显示面板的异常输入的同时，减小该问题发生的概率，进一步减少制程成本的浪费和产能的损耗。

本实施例通过位于所述绑定区101内的所述第一走线105实现所述测试端子104与所述绑定端子103的电连接，避免了多余走线的设置，有利于保证检测的准确性。

实施例二

请参阅图3至图5，本实施例与实施例一相同或相似，不同之处在于：

所述连接导线还包括位于所述第一走线105远离所述显示区一侧的第二走线106。

在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上，所述第二走线106与所述绑定端子103平行设置。

或者，在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上，相邻两条所述第二走线106之间的距离逐渐减小。

本实施例中，所述第二走线106可以与所述测试端子104的第三金属层同层设置或异层设置；当所述第二走线106与所述测试端子104的第三金属层异层设置时，所述第二走线106与所述测试端子104通过第三过孔电连接。

本实施例中，当在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上，所述第二走线106与所述绑定端子103平行设置时，所述第二走线106可以与所述第一走线105在同一工序中、使用同一材料形成，便于简化制程工艺。

本实施例中，当在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上，相邻两个所述第二走线106之间的距离逐渐减小时，相较于在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上所述第二走线106与所述绑定端子103平行设置时，相邻所述测试端子104之间的间距进一步压缩，减小了所述测试端子区102的面积，有利于提高所述显示面板的空间利用率。

本实施例中，在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上，所述第二走线106的宽度逐渐减小。

本实施例中，当在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上，所述第二走线106与所述绑定端子103平行设置时，所述第一走线105的宽度可以逐渐减小；或，当在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上，相邻两个所述第二走线106之间的距离逐渐减小时，所述第一走线105的宽度同样可以逐渐减小。

通过在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上，所述第二走线106的宽度的逐渐减小，有利于与所述第二走线106对应的测试端子104的大小的相应减小，有助于进一步减小所述测试端子104区102所占所述显示面板的空间，提高所述显示面板的空间利用率。

由于所述测试端子104的设置目的在于检测所述绑定区101内的所述绑定端子103是否存在短接问题，因此需要尽量避免用于电连接所述测试端子104与所述绑定端子103的所述连接导线对检测结果造成干扰。

当所述连接导线包括所述第二走线106时，由于所述第二走线106具有电阻，当任意两个所述第二走线106在其他条件相同的情况下，在所述显示面板的数据线的延伸方向上的长度差异越大，电阻差异越大，易导致检测结果的不准确，使存在异常的显示面板被错判为正常产品而进入后续制程，影响产品良率，浪费显示面板的制造成本并造成产能损失。

因此，在沿所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上，任意两个所述第二走线106的长度之比为0.8：1至1.2：1，优选为1：1。当任意两个所述第二走线106的长度之比小于0.8：1或大于1.2：1时，所述第二走线106在沿所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上的长度差异过大，电阻差异过大，易导致检测结果的不准确，使存在异常的显示面板被错判为正常产品而进入后续制程，影响产品良率，浪费显示面板的制造成本并造成产能损失；当任意两个所述第二走线106的长度之比为1：1时，所述第二走线106在沿所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上的长度相同，电阻相同，检测时不会导致检测结果由于第二走线106的设置而产生差异，有利于提高检测结果的准确性。

同样，在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上，任意两个所述显示面板上的所述第二走线106的长度之比为0.8：1至1.2：1，优选为1：1。当不同显示面板上的所述第二走线106的长度差异过大时，所述第二走线106电阻差异过大，不利于检测结果的判断标准的建立，当任意两个所述显示面板上的所述第二走线106的长度之比为0.8：1至1.2：1时，不同显示面板上的所述第二走线106的长度差异不会因为过大而导致检测结果的判断标准的难以建立；当任意两个所述显示面板上的所述第二走线106的长度之比为1：1时，不同所述显示面板的所述第二走线106在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上的长度相同，电阻相同，检测时不会导致检测结果由于第二走线106的设置而产生差异，有利于建立统一的检测结果的判断标准，提高检测结果的准确性。

本实施例中，在所述显示面板的数据线的延伸方向上上，所述第二走线106的电阻率可以先增大后减小。考虑到所述测试端子区102在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上的宽度的限制，当在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上相邻两个所述第二走线106之间的距离逐渐减小时，任意两个所述第二走线106在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上的长度的比值难以控制在0.8：1至1.2：1。

同时，越靠近所述测试端子区102的中心的所述第二走线106在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上的长度越小，越远离所述测试端子区102的中心的所述第二走线106在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上的长度越大。

因此，通过在所述显示面板的数据线的延伸方向上所述第二走线106的电阻率先增大后减小的变化，减小了第二走线106由于长度差异导致的电阻的差异，有利于提高检测结果的准确性。

本实施例中，在所述显示面板的数据线的延伸方向上，所述第二走线106的宽度先减小后增大。

同样，当任意两个所述第二走线106在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上的长度受限于所述测试端子区102在所述绑定端子103至所述测试端子104的方向上的宽度时，通过所述第二走线106的宽度在所述第一方向上先减小后增大的变化，减小了第二走线106由于长度差异导致的电阻的差异，有利于提高检测结果的准确性。

本实施例通过第二走线106的设置，避免所述测试端子104与绑定区101距离过近，对所述第一基板与柔性电路板的绑定产生影响，造成绑定难度的增加，影响显示面板的产品品质。

实施例三

请参阅图6，本实施例与实施例一以及实施例二相同或相似，不同之处在于：

所述绑定区101包括关于沿第一方向的第一对称轴对称设置的第一区以及第二区。

所述测试端子104包括第一子测试端子111以及第二子测试端子112，所述第一子测试端子111与位于所述第一区内的所述绑定端子103电连接，所述第二子测试端子112与位于所述第二区内的所述绑定端子103电连接。

所述第一方向与所述绑定端子103的延伸方向平行。

本实施例中，所述第一子测试端子111电连接的所述绑定端子103关于所述第一区沿所述第一方向的第二对称轴对称设置，和/或所述第二子测试端子112电连接的所述绑定端子103关于所述第二区沿所述第一方向的第三对称轴对称设置。

当所述第一子测试端子111电连接的所述绑定端子103关于所述第一区沿所述第一方向的第二对称轴对称设置，和/或所述第二子测试端子112电连接的所述绑定端子103关于所述第二区沿所述第一方向的第三对称轴对称设置时，可以通过“二分法”加速对所述绑定区101内的所述绑定端子103的检测，便于及时检测出所述绑定区101内发生短接的所述绑定端子103的条数、位置等信息，利于对显示面板的制程工艺进行调整与改善。例如，当所述第一区内有4条与所述第一子测试端子111电连接的所述绑定端子103，在靠近所述第一对称轴的方向上依次为A1-A4，A1-A4关于所述第二对称轴对称设置，所述第二区内设置有6条与所述第二子测试端子112电连接的所述绑定端子103，在靠近所述第一对称轴的方向上依次为B1-B6时，首先电源的正负极分别接入A1、B1分别对应的第一子测试端子111与第二子测试端子112，假如检测结果正常(即测得的电流值小于或等于所述第一阈值)，则再将电源正负极接入A1和A4，若此时检测结果仍正常，则再接入A2和A3，若检测结果正常，则对所述第二区按照同样的接入顺序进行检测，若接入A2和A3后检测结果异常，则表明A2至A3之间的所述绑定端子103短接。

本实施例通过将所述第一子测试端子111和所述第二子测试端子112分别与所述第一区和所述第二区内的所述绑定端子103电连接，有利于全面检测所述绑定区101内的所述绑定端子103是否由于ITO残留而发生短接，避免了存在漏检导致短接异常的显示面板进入后续制程，使存在异常输入问题的显示面板进入后续制程，造成制造成本的浪费和产能损失。

上述实施例均在所述显示面板的所述绑定区101远离所述显示区一侧设置所述测试端子区102，所述测试端子区102内的至少两个所述测试端子104分别与所述绑定端子103电连接，用于检测所述绑定区101内的所述绑定端子103是否由于ITO残留而发生短接，对所述显示面板进行了及时检测，避免了因绑定端子103的短接而导致显示面板出现异常输入，并且避免了存在短接异常的显示面板进入后续制程，造成的显示面板的制造成本的浪费和产能损失。

本申请提出了一种显示面板，该显示面板包括：显示区、位于显示区一侧的绑定区、以及位于绑定区远离显示区一侧的测试端子区。绑定区内设置有多个绑定端子，测试端子区内设置有至少两个与绑定端子电连接的测试端子。本申请通过在显示面板的绑定区远离显示区一侧设置测试端子区，测试端子区内的至少两个测试端子分别与绑定端子电连接，测试端子用于检测绑定区内的绑定端子是否由于制程中氧化铟锡的残留而导致绑定区内的多个绑定端子发生短接，避免了因绑定端子的短接而导致显示面板出现异常输入。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上对本申请实施例所提供的一种显示面板进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (7)

1.一种显示面板，其特征在于，包括显示区、位于所述显示区一侧的绑定区、以及位于所述绑定区远离所述显示区一侧的测试端子区；

所述绑定区内设置有多个绑定端子，所述测试端子区内设置有至少两个与所述绑定端子电连接的测试端子；

当任意两个所述测试端子的电流值大于第一阈值时，所述显示面板为异常产品；当任意两个所述测试端子的电流值小于或等于所述第一阈值时，则所述显示面板为正常产品；

所述显示面板还包括位于所述绑定区内的连接导线，所述测试端子通过所述连接导线与所述绑定端子电连接；

所述连接导线至少包括位于所述绑定区内的第一走线，所述第一走线与所述绑定端子异层设置；

所述显示面板包括第一基板，所述第一基板包括衬底、位于所述衬底上的第一金属层、位于所述衬底上的非金属层、以及位于所述非金属层上的第二金属层；

所述测试端子包括至少一第三金属层，所述第三金属层与所述第一金属层同层设置，所述绑定端子与所述第二金属层同层设置，所述第一走线与所述第一金属层同层设置；

所述第一走线与所述绑定端子通过过孔电连接， 所述过孔位于所述绑定端子远离所述显示区的一侧。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述连接导线还包括位于所述第一走线远离所述显示区一侧的第二走线；

在所述绑定端子至所述测试端子的方向上，所述第二走线与所述绑定端子平行设置；或者，在所述绑定端子至所述测试端子的方向上，相邻两条所述第二走线之间的距离逐渐减小。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，在所述绑定端子至所述测试端子的方向上，所述第二走线的宽度逐渐减小。

4.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，在所述绑定端子至所述测试端子的方向上，任意两条所述第二走线的长度之比为0.8：1至1.2：1。

5.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，在所述显示面板的数据线的延伸方向上，所述第二走线的电阻率先增大后减小；或者，在所述显示面板的数据线的延伸方向上，所述第二走线的宽度先减小后增大。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述绑定区包括关于沿第一方向的第一对称轴对称设置的第一区以及第二区；

所述测试端子包括第一子测试端子以及第二子测试端子，所述第一子测试端子与位于所述第一区内的所述绑定端子电连接，所述第二子测试端子与位于所述第二区内的所述绑定端子电连接；

其中，所述第一方向与所述绑定端子的延伸方向平行。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第一子测试端子电连接的所述绑定端子关于所述第一区沿所述第一方向的第二对称轴对称设置，和/或所述第二子测试端子电连接的所述绑定端子关于所述第二区沿所述第一方向的第三对称轴对称设置。

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