CN104297622B - 检测显示面板缺陷的方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种检测显示面板缺陷的方法及装置，该方法包括：将显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，将显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上；向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压；检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷。本发明可以实现对显示面板中进行性缺陷或不良的有效检出和拦截。

Description

检测显示面板缺陷的方法及装置
技术领域
本发明涉及显示器制造领域，具体涉及一种检测显示面板缺陷的方法及装置。
背景技术
在显示面板的制造过程所产生的缺陷或不良为进行性缺陷或不良，例如由静电释放(Electro-Static discharge，ESD)效应所导致的静电击穿，或者或意外划伤所导致的局部短路等等。由于此类缺陷或不良在形成初期不会对显示面板的功能造成很大影响，同时，通过对此类不良品的分析发现，大多数有缺陷的显示面板在线路中短路的缺陷点并不能明显地通过显微镜或其他视觉检测装置观察到，因而在生成厂商出货检查及客户系统组装检查过程中均不容易将该类缺陷或不良进行有效地检出。对于该类缺陷或不良，如何能够有效的检测和拦截，逐渐成为显示面板厂商热点关注的问题。
发明内容
针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种检测显示面板缺陷的方法及装置，可以实现对显示面板中进行性缺陷或不良的有效检出和拦截。
第一方面，本发明提供了一种检测显示面板缺陷的方法，包括：
将显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，将显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上；
向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压；
检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
可选地，所述向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压，包括：
将所述第一检测端子电连接至预定电阻的第一端，将所述第二检测端子电连接至预定恒压源的第二端，所述预定电阻的第二端与所述预定恒压源的第一端相连。
可选地，所述检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷，包括：
测量所述预定电阻两端的电压，判断该电压在预定时间内的大小是否均小于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
可选地，所述检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷，包括：
将所述第一检测端子电连接至一锁存器的输入端，该锁存器用于在输入端电压大于等于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积后保持高电平的输出；
判断在预定时间内该锁存器的输出是否均保持为低电平，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
可选地，所述将显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，将显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上，包括：
控制位于每个所述电性测试端子与所述第一检测端子或所述第二检测端子之间的开关元件的导通或断开，使得显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上。
第二方面，本发明还提供了一种检测显示面板缺陷的装置，包括：
第一检测端子和第二检测端子，用于电连接显示面板上的电性测试端子，在所述电性测试端子电连接所述第一检测端子或所述第二检测端子后所述第一检测端子和所述第二检测端子上均电连接有至少一个所述电性测试端子；
电压提供单元，用于在所述电性测试端子电连接所述第一检测端子或所述第二检测端子后，向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压；
检测单元，用于在电压提供单元向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压后，检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
可选地，所述电压提供单元包括预定电阻和预定恒压源，所述预定电阻的第二端与所述预定恒压源的第一端相连；所述第一检测端子与预定电阻的第一端相连，所述第二检测端子与预定恒压源的第二端相连。
可选地，所述检测单元包括：电压测量模块，用于测量所述预定电阻两端的电压，并将测量结果传至判断模块；判断模块，用于判断电压测量模块测量的电压在预定时间内的大小是否均小于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
可选地，所述检测单元包括：输入端与所述第一检测端子相连的锁存器，用于在输入端电压大于等于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积后保持高电平的输出；判断模块，用于判断在预定时间内该锁存器的输出是否均保持为低电平，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
可选地，所述第一检测端子与所述电性测试端子之间、以及第二检测端子与所述电性测试端子之间还包括开关电路，所述开关电路包括：设置在所述电性测试端子与所述第一检测端子或第二检测端子之间的开关元件。
可选地，该装置还包括用于连接所述电性测试端子的探针，所述第一检测端子和第二检测端子用于通过所述探针电连接显示面板上的电性测试端子。
由上述技术方案可知，本发明通过在显示面板上的两个电性测试端子(Electrical Test Pad，ET Pad)之间施加电压的方式，对分别与这两个电性测试端子连接的电路部分之间可能存在的缺陷点进行老化，此时可能存在的缺陷点将会熔断形成开路，在此期间电流会有一个突然增大的过程，因此通过判断该电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值即可得知这两个电路部分之间是否存在缺陷点。通过分析测试发现，这一手段可以有效地检测出此类进行性缺陷或不良，因此，本发明可以实现对显示面板中进行性缺陷或不良的有效检出和拦截。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例中一种检测显示面板缺陷的方法的流程示意图；
图2是本发明一个实施例中一种检测显示面板缺陷的装置的外观结构示意图；
图3是本发明一个实施例中四个电性测试端子P1、P2、P3、P4之间的电阻分布情况的示意图；
图4是本发明一个实施例中一种检测显示面板缺陷的装置的内部电路结构示意图；
图5是本发明一个实施例中一种检测显示面板缺陷的装置的等效检测电路图；
图6是本发明一个实施例中一种检测显示面板缺陷的装置的等效检测电路图；
图7是本发明一个实施例中一种检测显示面板缺陷的装置的等效检测电路图；
图8是本发明一个实施例中对应于一种检测显示面板缺陷的装置的显示面板缺陷检测方法流程示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
图1是本发明一个实施例中一种检测显示面板缺陷的方法的流程示意图，该方法包括：
步骤101：将显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，将显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上；
步骤102：向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压；
步骤103：检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
上述电性测试端子可以是位于显示面板数据驱动集成电路(Data Dirve IC)和/或扫描驱动集成电路(Gate Drive IC)两侧的电性测试端子(Electrical Test Pad，ETPad)，也可以是从显示面板的电路中任一节点引出的电性测试端子，本发明对此不做限制。然而，对于本发明实施例中的缺陷检测而言，所用的电性测试端子中的任意两个在显示面板无缺陷时应彼此绝缘(例如彼此间的电阻值不小于1MΩ)，例如可使两电性测试端子分别连接对应于不同行的扫描信号线(正常情况下其之间应不存在电连接)。
上述步骤102中向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压的方式可以是采用可调式电压源供电，也可以采用常用分压电路进行供电，本发明对此不作限制。其中，电压的预设值可以根据绝缘电阻和短路电阻的数值范围进行设定，一般可以是10V左右。
从而，在显示面板没有缺陷时，步骤101中将至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，将显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上，相当于在第一检测端子与第二检测端子之间并联了至少一个阻值很大的电阻(一般为兆欧级)。按照步骤102和步骤103的操作向这些电阻两端提供预定的电压后，通过第一检测端子和第二检测端子的电流会保持在一个很小的数值范围(例如恒小于10μA)内，因而可以设定一预设的电流阈值(一般数值上会远大于该数值范围，例如为1mA)，使无缺陷的面板可以正常地通过上述缺陷检测流程。
若显示面板上存在会使得两个电性测试端子之间存在短路(例如彼此间的电阻值小于1kΩ)的缺陷(即上述进行性缺陷或不良)，那么当这两个电性测试端子中的一个与第一检测端子相连、另一个与第二检测端子相连时，在步骤102中提供预设的电压之后，在上述短路的位置处就会有很大的电流通过(根据安培公式可知10V预设电压下阻值小于1kΩ的电阻上通过的电流至少为10mA)，通常会瞬间(例如会小于10ms)熔断造成短路的电阻而使电流回到很小的数值范围内，即使不发生熔断也会使该电流远大于正常数值范围，因此在这一过程中电流在预定时间(可以为1s或2s)内的大小不会恒小于上述预设的电流阈值(在预定时间内提供电压的过程即老化过程)，因而可以检测出显示面板上存在缺陷。
在此基础上，若检测到显示面板上存在缺陷，则缺陷的位置显然位于与第一检测端子相连的一个电性检测端子和与第二检测端子相连的一个电性检测端子之间，通过改变电性测试端子与检测端子电连接情况并重新检测的方式即可进一步定位缺陷的位置。可见，本发明实施例的方法可以有效地检测出上述进行性缺陷或不良。
而现有技术中，例如视觉检测等现有检测方法由于难以直接观测到显示面板上缺陷发生的位置而对此类缺陷或不良的检测效果较差；常用的电性检测方法中由于没有意识到上述显示面板中的加压熔断过程而容易漏检实际上存在缺陷的产品，因而不能实现本发明实施例所能达到的检测效果。
需要说明的是，上述“检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流”中的电流检测可以是直接检测也可以是间接检测，比如采用串联一电阻测量电压的方式进行上述检测，其实质上为对电流的间接检测，显然不脱离本发明的精神和范围。
在本发明的另一实施例中，上述步骤102包括：将所述第一检测端子电连接至预定电阻的第一端，将所述第二检测端子电连接至预定恒压源的第二端，所述预定电阻的第二端与所述预定恒压源的第一端相连。该预定恒压源用于在该预定电阻的分压下向第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压，同时该预定电阻还起到保护该预定恒压源的作用。
进一步地，通过该预定电阻可以实现对通过第一检测端子和第二检测端子的电流的间接测量，即：上述步骤103包括：测量所述预定电阻两端的电压，判断该电压在预定时间内的大小是否均小于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积，若否则判定该显示面板上存在缺陷。其相当于通过已知电阻值将电路电流与电流阈值的比较转化为已知电阻两端电压与相应的电压阈值的比较，也可以理解为通过对预定电阻(已知电阻值)两端电压的测量实现对通过第一检测端子和第二检测端子的电流的间接测量。
或者，可以通过锁存器实现上述已知电阻两端电压与相应的电压阈值的比较，即：上述步骤103包括：将所述第一检测端子电连接至一锁存器的输入端，该锁存器用于在输入端电压大于等于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积后保持高电平的输出；判断在预定时间内该锁存器的输出是否均保持为低电平，若否则判定该显示面板上存在缺陷。由于该预定电阻的电阻值是已知的，而电流阈值是预设的，因而可以设计锁存器的公共端电位(零电位)与高电平电位(代表逻辑值为“1”的电位)之差等于上述预定电阻的电阻值乘以上述电流阈值。从而，当任一时刻第一检测端子处(即电性测试端子与预定电阻之间的电路节点)的电位达到上述高电平电位，锁存器就会记录下这一高电平电位并持续在其输出端输出高电平，即代表该显示面板上存在缺陷。进一步地，可以在锁存器的输出端连接一发光二极管的一端，并将另一端接地或接公共端，使得锁存器输出的高电平可以直接被人观测到，方便检测的进行。
另外，在本发明的另一实施例中，改变电性测试端子与第一检测端子或第二检测端子之间的电连接关系可以通过开关电路实现，即：上述步骤101包括：控制位于每个所述电性测试端子与所述第一检测端子或所述第二检测端子之间的开关元件的导通或断开，使得显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上。其中，开关元件为由外部控制信号控制其两端相连或者断开的元件，例如可以为薄膜晶体管。比如，位于电性测试端子间的开关元件可以使两电性测试端子相连或者断开，举例来说可使开关导通时两个电性测试端子同时与第一检测端子相连，开关断开时只有一个电性测试端子与第一检测端子相连。位于电性测试端子与第一检测端子或第二检测端子之间的开关元件可以使电性测试端子与第一或第二检测端子相连或者断开，当然每个电性测试端子与第一或第二检测端子之间的通路上可以有至少一个开关元件，且每个电性测试端子可以通过至少一个开关元件同时与第一和第二检测端子相连。由此，可以通过外部控制信号改变开关电路中开关元件的导通或断开状态，从而灵活地设置电性测试端子与第一或第二检测端子的电连接关系，有利于提高显示面板的检测效率。
为了更清楚地说明本发明的技术方案，这里给出一种检测显示面板缺陷的装置实施例，对应于上述任意一种检测显示面板缺陷的方法，该装置包括：
第一检测端子和第二检测端子，用于电连接显示面板上的电性测试端子，在所述电性测试端子电连接所述第一检测端子或所述第二检测端子后所述第一检测端子和所述第二检测端子上均电连接有至少一个所述电性测试端子；
电压提供单元，用于在所述电性测试端子电连接所述第一检测端子或所述第二检测端子后，向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压；
检测单元，用于在电压提供单元向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压后，检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
可选地，所述电压提供单元包括预定电阻和预定恒压源，所述预定电阻的第二端与所述预定恒压源的第一端相连；所述第一检测端子与预定电阻的第一端相连，所述第二检测端子与预定恒压源的第二端相连。
可选地，所述检测单元包括：电压测量模块，用于测量所述预定电阻两端的电压，并将测量结果传至判断模块；判断模块，用于判断电压测量模块测量的电压在预定时间内的大小是否均小于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
可选地，所述检测单元包括：输入端与所述第一检测端子相连的锁存器，用于在输入端电压大于等于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积后保持高电平的输出；判断模块，用于判断在预定时间内该锁存器的输出是否均保持为低电平，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
可选地，所述第一检测端子与所述电性测试端子之间、以及第二检测端子与所述电性测试端子之间还包括开关电路，所述开关电路包括：设置在所述电性测试端子与所述第一检测端子或第二检测端子之间的开关元件。当然每个电性测试端子与第一或第二检测端子之间的通路上可以有至少一个开关元件，且每个电性测试端子可以通过至少一个开关元件同时与第一和第二检测端子相连。
可见，该检测显示面板缺陷的装置与上述检测显示面板缺陷的方法具有相应的技术特征，可用于同样的技术问题。
更具体来说，该装置可以具有如图2所示的一种检测显示面板缺陷的装置的外观结构，其中：
基台201用于放置待检测的显示面板202，而测试探针203则用于与显示面板202的电性测试端子相连(第一和第二检测端子用于通过探针电连接显示面板上的电性测试端子)，用于作为每个电性测试端子的引出电极。在该装置内部设有包括上述开关电路的电路结构，测试探针203通过该结构与装置内部的第一检测端子与第二检测端子相连(此时第一和第二检测端子可以具体为电路中的节点)。进而，通过包括上述预定电阻及预定恒压源的电路结构向第一和第二测试端子之间提供上述预定的电压，并可以通过上述包括锁存器和/或发光二极管的电路结构呈现可以被人直接观测到的检测结果。
下面以一种可对至多四个电性测试端子同时检测的装置为例，具体说明上述检测显示面板缺陷的装置的具体结构与工作流程。
图3示出了四个电性测试端子P1、P2、P3、P4之间的电阻分布情况，图3，将P1与P2间的电阻计为R1(实际上P1与P2之间并未连接电阻器，这里的R1仅是等效电阻，下同)，P1与P3间的电阻计为R2，P1与P4间的电阻计为R3，P2与P3间的电阻计为R4，P2与P4间的电阻计为R6，P3与P4间的电阻计为R5。
由此可见，若R1至R6的电阻值均不小于一定阈值(比如1MΩ)，那么可以判定这四个电性测试端子P1至P4两两之间不存在可导致短路的缺陷或不良；相反地，若R1至R6中的任意一个存在电阻值小于一定阈值的情况(比如1kΩ)，比如为R4，那么可以判定该显示面板上存在可导致短路的缺陷或不良，且该缺陷或不良的位置就在P1与P3之间。
图4示出了该装置内部电路结构的示意，其中：
Rd即上述预定电阻，其与位于第一检测端子和第二检测端子之间的电路部分串联，且整个电路由一预定恒压源E1提供预定的电压。而S/R锁存器的输入端R端与第一检测端子相连，R端为高电平(即逻辑值为1)时R端与S端(接公共端，逻辑值恒为0)之间的电位差即等于预定电阻Rd的电阻值与上述电流阈值的乘积，该S/R锁存器的真值表如下：
表1S/R锁存器的真值表
可见，当输出端R端由0变为1时，输出端端会对应地由0变为1；在R端由1变为0后，端仍保持1的输出。所以，在上述预定的时间内只要第一检测端处的电位超过一定范围，无论高电位持续多久该S/R锁存器都能记录下这次电压突变并将其输出。另外，上述发光二极管(图4中的LED指示灯)的一端与该S/R锁存器的输出端相连，因而可以直观地指示出检测结果(为高电平时LED发光，指示该显示面板存在缺陷)。
开关电路部分包括T1至T9共九个作为开关元件的薄膜晶体管TFT，其中每个TFT都位于至少一个电性测试端子与第一或第二检测端子之间。这些TFT由栅极所连接的外部控制信号来控制其导通或断开的状态。例如，在具体检测时可先使T1、T2、T3、T4、T7、T8导通，形成如图5所示的R1、R2、R3并联的等效电路。当R1，R2，R3中有一个电阻存在缺陷，在提供预设的电压之后会存在电流突变，此时第一检测端子处的电压增大，然后缺陷会熔断形成开路，电流恢复正常的数值范围内。依据目前的产品设计，显示面板在无缺陷时各个电性测试端子间的电阻很大，一般为兆欧级，即使外加高电压时电流也会很小，对面板走线无损伤；一旦存在缺陷，电性测试端子间的电阻值减小，外加高压则会产生大电流，且外加高压会使缺陷加剧，使电阻继续减小后直到熔断形成开路。
例如，假设P1与P2间的电阻值R1为2MΩ，当P1、P2两端加10V的电压时，电流值为10/(2×106)＝5×10-6＝5微安，若P1与P2间发生短路，R1的电阻值会在0～1000Ω之间，这时电流将大于10/(1×103)＝10毫安，甚至可达几百毫安甚至安培级。由于R1、R2、R3电阻并联，并联后的阻值会小于此时R1的电阻值，所以R1//R2//R3(“//”为并联符号)这部分电阻减小，与Rd串联后整个回路的电流增大，Rd分压也会随之增大，锁存器将会记录这一增大后的电压并持续输出高电平，使得输出端处的LED发光。当缺陷处熔断形成开路后，仅剩下R2//R3与Rd串联，电流又恢复正常，但锁存器依然保持高电平的输出，LED灯还会维持发光状态。
若R1//R2//R3检测结果为存在缺陷，则可以仅使T1、T2导通单独检测R1，仅使T1、T3、T7导通单独检测R2，仅使T1、T4、T6导通单独检测R3，从而进一步确定缺陷位置。
若R1//R2//R3检测结果为不存在缺陷，可仅使T2、T3、T4、T5、T8导通，形成如图6所示的R4//R5的等效电路，以类似流程检测R4和R5。若R4//R5检测结果为存在缺陷，则可仅使T2、T3、T5导通单独检测R4，仅使T3、T4、T5、T8导通或者仅使T3、T4、T6、T7导通单独检测R5，从而进一步确定缺陷位置。
若R4//R5检测结果为不存在缺陷，可仅使T2、T4、T6导通单独检测R6，若检测结果为存在缺陷则说明显示面板在P2和P4之间存在缺陷；若检测结果仍为不存在缺陷则可以判定这四个电性测试端子P1、P2、P3、P4两两之间不存在缺陷。以上整体的检测流程可由图8表示，可见，对于其他数量的电性测试端子也可以参考上述实例设计相应的电路，并参考上述检测流程以类似的检测流程进行检测。
综上所述，本发明通过在显示面板上的两个电性测试端子(Electrical TestPad，ET Pad)之间施加电压的方式，对分别与这两个电性测试端子连接的电路部分之间可能存在的缺陷点进行老化，此时可能存在的缺陷点将会熔断形成开路，在此期间电流会有一个突然增大的过程，因此通过判断该电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值即可得知这两个电路部分之间是否存在缺陷点。通过分析测试发现，这一手段可以有效地检测出此类进行性缺陷或不良，因此，本发明可以实现对显示面板中进行性缺陷或不良的有效检出和拦截。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (9)

1.一种检测显示面板缺陷的方法，其特征在于，包括：
将显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，将显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上；
向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压；
检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷；
所述将显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，将显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上，包括：
控制位于每个所述电性测试端子与所述第一检测端子或所述第二检测端子之间的开关元件的导通或断开，使得显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上；所述开关元件的导通或断开状态由外部控制信号改变，以在检测到显示面板上存在缺陷时改变所述电性测试端子与第一检测端子或第二检测端子的电连接关系，通过改变电性测试端子与检测端子电连接情况并重新检测，以进一步定位缺陷的位置。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压，包括：
将所述第一检测端子电连接至预定电阻的第一端，将所述第二检测端子电连接至预定恒压源的第二端，所述预定电阻的第二端与所述预定恒压源的第一端相连。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷，包括：
测量所述预定电阻两端的电压，判断该电压在预定时间内的大小是否均小于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷，包括：
将所述第一检测端子电连接至一锁存器的输入端，该锁存器用于在输入端电压大于等于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积后保持高电平的输出；
判断在预定时间内该锁存器的输出是否均保持为低电平，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
5.一种检测显示面板缺陷的装置，其特征在于，包括：
第一检测端子和第二检测端子，用于电连接显示面板上的电性测试端子，在所述电性测试端子电连接所述第一检测端子或所述第二检测端子后所述第一检测端子和所述第二检测端子上均电连接有至少一个所述电性测试端子；
电压提供单元，用于在所述电性测试端子电连接所述第一检测端子或所述第二检测端子后，向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压；
检测单元，用于在电压提供单元向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压后，检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷；
所述第一检测端子与所述电性测试端子之间、以及第二检测端子与所述电性测试端子之间还包括开关电路，所述开关电路包括：
设置在所述电性测试端子与所述第一检测端子或第二检测端子之间的开关元件；所述开关元件的导通或断开状态由外部控制信号改变，以在检测到显示面板上存在缺陷时改变所述电性测试端子与第一检测端子或第二检测端子的电连接关系，通过改变电性测试端子与检测端子电连接情况并重新检测，以进一步定位缺陷的位置。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述电压提供单元包括预定电阻和预定恒压源，所述预定电阻的第二端与所述预定恒压源的第一端相连；
所述第一检测端子与预定电阻的第一端相连，所述第二检测端子与预定恒压源的第二端相连。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述检测单元包括：
电压测量模块，用于测量所述预定电阻两端的电压，并将测量结果传至判断模块；
判断模块，用于判断电压测量模块测量的电压在预定时间内的大小是否均小于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述检测单元包括：
输入端与所述第一检测端子相连的锁存器，用于在输入端电压大于等于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积后保持高电平的输出；
判断模块，用于判断在预定时间内该锁存器的输出是否均保持为低电平，若否则判定该显示面板上存在缺陷。
9.根据权利要求5至7中任一所述的装置，其特征在于，该装置还包括用于连接所述电性测试端子的探针，所述第一检测端子和第二检测端子用于通过所述探针电连接显示面板上的电性测试端子。
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