TWI410832B - 觸控面板裝置以及偵測接觸位置的方法 - Google Patents

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Description

觸控面板裝置以及偵測接觸位置的方法
本發明是有關於一種觸控面板裝置(touch panel device)，且特別是有關於一種具有少量的觸控感應器(touch sensors)的觸控面板裝置，以及一種偵測觸控面板上的接觸位置(contact position)的方法。
銦錫氧化物(indium tin oxide,ITO)薄膜被廣泛使用作為例如液晶顯示器(liquid crystal displays,LCD)之顯示裝置的透明電極(薄膜)。銦錫氧化物(ITO)在例如液晶顯示器(LCD)裝置、有機發光二極體(organic light emitting diodes)、太陽能電池(solar cells)、電漿顯示器(plasma displays)、電子紙(E-Papers)等等之數個領域已經被應用作為裝置的電極材料，這是因為其高透明度及低片電阻(sheet resistance)適合作為透明的導電氧化物薄膜，並且容易繪製圖案。它也已經被應用於降低陰極射線管(cathode ray tube,CRT)監視器的電磁干擾，以及用於銦錫氧化物(ITO)墨水。
使用銦錫氧化物(ITO)的觸控面板裝置在韓國專利申請案第10-2007-0112750號中有說明。
圖1繪示習知之使用銦錫氧化物(ITO)的觸控面板裝置的結構。此觸控面板裝置包括銦錫氧化物(ITO)薄膜10及觸控感應器單元20。銦錫氧化物(ITO)薄膜10具有成對的棒狀觸控墊(rod-like touch pads)11及12。
棒狀觸控墊11的一邊與棒狀觸控墊12的另一邊分別 連接到觸控感應器單元20。每一觸控墊對根據隨物體的接觸位置而變化之電阻來延遲一輸入時脈訊號(clock signal)CLK且輸出延遲時脈訊號(delayed clock signals)ts1_sig1及ts1_sig2。觸控感應器單元20從此對棒狀觸控墊11及12接收各延遲時脈訊號ts1_sig1及ts1_sig2且偵測該延遲時脈訊號ts1_sig1及ts1_sig2的延遲時間以獲得物體的接觸位置。
例如，若物體(例如，手指)接觸棒狀觸控墊11及12的接觸表面A，則棒狀觸控墊11從時脈訊號CLK到接觸點A的距離較長，且棒狀觸控墊12從時脈訊號CLK到接觸點A的距離較短。因此，就觸控感應器單元20與接觸點A之間的電阻而言，棒狀觸控墊11之電阻變成小於棒狀觸控墊12之電阻而導致較長的延遲時間，而棒狀觸控墊12之電阻變成小於棒狀觸控墊11之電阻而導致較短的延遲時間。在這種情況下，觸控感應器單元20將偵測此對棒狀觸控墊11及12的延遲時間，計算與所偵測之延遲時間相對應之座標的平均值，以及測定棒狀觸控墊11及12的Y軸接觸位置。
數字將依序給與在銦錫氧化物(ITO)薄膜上所形成的棒狀觸控墊對(pairs)。對應於接觸物體的棒狀觸控墊11及12的數字之座標予以測定作為物體的X軸位置。
在此，物體所造成的電容也可能導致延遲時間。結果，不但棒狀觸控墊11的電阻可延遲時脈訊號CLK，而且物體的電容亦可。
此外，連接棒狀觸控墊11及12與觸控感應器單元20之導體可影響時脈訊號CLK的延遲時間。為了降低導體的影響，從棒狀觸控墊11及12到觸控感應器單元20的延遲時脈訊號ts1_sig1及ts1_sig2之導體長度最好相同。
圖2繪示使用圖1的觸控墊對之觸控感應器單元之例子。觸控感應器單元20包括至少一觸控感應器。此觸控感應器分別包括時脈訊號產生器(clock signal generator)30、第一訊號放大器(signal amplifier)31與第二訊號放大器32、第一訊號比較器(signal comparator)41與第二訊號比較器42、以及接觸位置資料產生器(contact position data generator)51。
圖2的觸控感應器將參考圖1予以說明。
時脈訊號產生器30產生時脈訊號CLK且予以施加至棒狀觸控墊對與第一訊號比較器41及第二訊號比較器42。
第一訊號放大器31接收在時脈訊號CLK通過棒狀觸控墊11時獲得之第一延遲時脈訊號ts1_sig1，並且放大及輸出第一延遲時脈訊號ts1_sig1。
第一訊號比較器41比較放大的第一延遲時脈訊號ts1_sig1與時脈訊號CLK，並且產生對應於延遲時間之第一訊號sig1。
第二訊號放大器32接收在時脈訊號CLK通過棒狀觸控墊12時獲得之第二延遲時脈訊號ts1_sig2，並且放大及輸出第二延遲時脈訊號ts1_sig2。
第二訊號比較器42比較放大的第二延遲時脈訊號 ts1_sig2與時脈訊號CLK，並且產生對應於延遲時間之第二訊號sig2。
一接觸位置資料產生器51接收第一及第二訊號sig1及sig2，獲得對應於第一及第二訊號sig1及sig2之座標值，以及平均所獲得的座標值以獲得Y軸座標值。該接觸位置資料產生器51也獲得在棒狀觸控墊對的依序給定數字當中對應於接觸物體的棒狀觸控墊對的數字之座標，作為X軸座標值。該接觸位置資料產生器51輸出對應於所獲得的Y軸及X軸座標值之接觸位置資料TS_OUT。
當接觸物體的觸控墊對之一受到雜訊影響時，習知之觸控面板裝置未輸出物體的精確接觸位置。並且，因為每一對的棒狀觸控墊11及12具有隨物體的接觸位置而線性變化之電阻，所以也對於雜訊高度敏感。
高解析度觸控面板之觸控墊對數目增加導致需要多個觸控感應器，因而增加觸控感應器單元的數目。此外，縱使為了降低觸控感應器單元的數目的緣故而使用一個觸控感應器來依序檢查多個觸控墊對且獲得物體的接觸位置，接觸位置偵測時間也將隨高解析度所加入的觸控墊對數目而增加。
本發明提供一種能夠只用一個具有觸控圖案(touch pattern)的觸控感應器來感應物體的接觸之觸控面板裝置，此觸控圖案藉由連接線來串列連接多個觸控墊。
本發明也提供一種偵測觸控面板裝置上的接觸位置 之方法。
本發明揭露一種觸控面板裝置，包括：觸控面板，包括第一觸控圖案，第一觸控圖案具有串列連接的多個第一觸控墊；以及觸控感應器，施加時脈訊號至第一觸控圖案的一個端子，從第一觸控圖案的其他端子接收第一延遲時脈訊號，以及利用時脈訊號與第一延遲時脈訊號之間的延遲時間差來產生對應於物體的接觸位置之接觸位置資料。
觸控感應器可包括：時脈產生器(clock generator)，產生時脈訊號且予以輸出到第一觸控圖案的一個端子；延遲訊號偵測器(delayed-signal detector)，感應從第一觸控圖案的其他端子輸出之第一延遲時脈訊號的準位且輸出第一脈衝時脈訊號(pulse clock signal)；比較器，計算時脈訊號與第一脈衝時脈訊號之間的延遲時間差且輸出第一延遲時間；以及接觸位置資料產生器，計算對應於第一延遲時間之接觸位置且使接觸位置資料輸出。
觸控感應器可包括：時脈產生器，產生時脈訊號且予以交替地輸出到第一觸控圖案的一個端子與其他端子；延遲訊號偵測器，當延遲時脈訊號時感應從第一觸控圖案的其他端子輸出之第一延遲時脈訊號的準位，感應從第一觸控圖案的一個端子輸出之第二延遲時脈訊號的準位，以及輸出第一脈衝時脈訊號及第二脈衝時脈訊號；比較器，計算時脈訊號與第一脈衝時脈訊號之間的延遲時間差且輸出第一延遲時間，以及計算時脈訊號與第二脈衝時脈訊號之間的延遲時間差且輸出第二延遲時間；以及接觸位置資料 產生器，計算對應於第一延遲時間及第二延遲時間之接觸位置且使接觸位置資料輸出。
接觸位置資料產生器可利用第一延遲時間與第二延遲時間之間的差異來產生該接觸位置資料。
接觸位置資料產生器可利用第一延遲時間與第二延遲時間之比例來產生該接觸位置資料。
接觸位置資料產生器可計算對應於第一延遲時間之第一接觸位置與對應於第二延遲時間之第二接觸位置，獲得所計算之接觸位置之間的中央位置，以及由中央位置產生一接觸位置資料。
觸控面板可包括第一銦錫氧化物(ITO)薄膜，其中第一觸控圖案的多個第一觸控墊均勻地分佈於第一銦錫氧化物(ITO)薄膜的一整個表面上。
觸控面板可配置成第一觸控圖案的多個第一觸控墊不會同時與物體接觸。
觸控面板可更包括至少第二觸控圖案。
觸控面板可更包括至少第二觸控圖案，此至少第二觸控圖案包括第一銦錫氧化物(ITO)薄膜的相同表面上之多個第二觸控墊，其中每一個配置於第一觸控圖案的多個第一觸控墊之間，並且包括串列連接多個第二觸控墊之多條第二連接線。
觸控面板可更包括至少第二觸控圖案，此至少第二觸控圖案包括均勻地分佈於第一銦錫氧化物(ITO)薄膜的整個其他表面上之多個第二觸控墊，並且包括串列連接 多個第二觸控墊之多條第二連接線。
觸控面板可更包括至少第二銦錫氧化物(ITO)薄膜，其中至少第二觸控圖案包括均勻地分佈於至少第二銦錫氧化物(ITO)薄膜的一整個表面上之多個第二觸控墊，並且包括串列連接多個第二觸控墊之多條第二連接線。
觸控面板可更包括至少第二銦錫氧化物(ITO)薄膜，其中至少第二觸控圖案包括均勻地分佈於第二銦錫氧化物(ITO)薄膜的整個其他表面上之多個第二觸控墊，並且包括串列連接多個第二觸控墊之多條第二連接線。
觸控面板可更包括絕緣構件，此絕緣構件絕緣第一觸控圖案與第二觸控圖案以免在交叉點(crossing points)彼此短路，並且此絕緣構件可配置於第一銦錫氧化物(ITO)薄膜的邊緣區域或第一銦錫氧化物(ITO)薄膜的外部。
本發明也揭露一種偵測觸控面板裝置上的接觸位置之方法，此方法包括：配置第一觸控圖案，此第一觸控圖案具有串列連接的多個第一觸控墊；以及施加時脈訊號至第一觸控圖案的一個端子，從第一觸控圖案的其他端子接收第一延遲時脈訊號，以及利用時脈訊號與第一延遲時脈訊號之間的延遲時間差來產生對應於物體的接觸位置之接觸位置資料。
配置第一觸控圖案之步驟可更包括配置多條第一連接線以便串列連接多個第一觸控墊，多條第一連接線的形成方式是在多個第一觸控墊之間利用導電材料來繪製圖案於比多個第一觸控墊還窄的區域上。
產生上述接觸位置資料之步驟可包括：產生時脈訊號且予以輸出到第一觸控圖案的一個端子；感應從第一觸控圖案的其他端子輸出之第一延遲時脈訊號的準位，且輸出第一脈衝時脈訊號；計算時脈訊號與第一脈衝時脈訊號之間的延遲時間差且輸出第一延遲時間；以及計算對應於第一延遲時間之接觸位置且使接觸位置資料輸出。
上述方法可更包括藉由觸控感應器：產生時脈訊號且予以交替地輸出到第一觸控圖案的一個端子或其他端子；當延遲時脈訊號時感應從第一觸控圖案的其他端子輸出之第一延遲時脈訊號的準位，感應從第一觸控圖案的一個端子輸出之第二延遲時脈訊號的準位，以及輸出第一脈衝時脈訊號及第二脈衝時脈訊號；計算時脈訊號與第一脈衝時脈訊號之間的延遲時間差以輸出第一延遲時間，且計算時脈訊號與第二脈衝時脈訊號之間的延遲時間差以輸出第二延遲時間；以及計算對應於第一延遲時間及第二延遲時間之接觸位置且使接觸位置資料輸出。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
以下將參考繪示本發明的實施例之附圖更完整地說明本發明。然而，本發明可能以許多不同的形式來實施，因此不應視為侷限於在此所述之實施例。相反地，提供這些實施例將使得本發明的揭露更完善，且將更完整地傳達本發明的觀念給熟習此技藝者。
圖3繪示根據本發明的第一實施例之觸控面板裝置。觸控面板裝置包括銦錫氧化物(ITO)薄膜120及觸控感應器100。
在圖3中，觸控圖案形成於銦錫氧化物(ITO)薄膜120的一整個表面上。觸控圖案包括多個觸控墊P1_1至P1_(n)及多條連接線CL1_1至CL1_(n-1)，其中每一個具有預定電阻。觸控墊P1_1至P1_(n)之每一個藉由連接線CL1_1至CL1_(n-1)之相對應連接線來串列連接相鄰的觸控墊。多條連接線CL1_1至CL1_(n-1)可由導體所構成。然而，在此假設藉由銦錫氧化物(ITO)的圖案化來形成多條連接線CL1_1至CL1_(n-1)，類似於觸控墊P1_1至P1_(n)。
在薄膜120上被繪製圖案之觸控墊P1_1至P1_(n)及連接線CL1_1至CL1_(n-1)具有不同的大小以便使電阻不同。如圖3所示，觸控墊P1_1至P1_(n)的寬度較寬使物體可輕易地接觸各觸控墊，因此其電阻小於較窄的連接線CL1_1至CL1_(n-1)。因為多個觸控墊P1_1至P1_(n)的電阻不同於多條連接線CL1_1至CL1_(n-1)的電阻，所以圖3的觸控圖案可予以表示為隨物體的接觸位置而非線性地變化之電阻。亦即，因為觸控墊與連接線具有不同的電阻使得觸控圖案的電阻依接觸位置而很不相同，這導致偵測該物體的接觸位置之區域藉由多個觸控墊P1_1至P1_(n)及多條連接線CL1_1至CL1_(n-1)予以分割為預定的單位區域。若使用預定的單位區域來偵測物體的接觸位置，則縱使在觸控圖案中產生雜訊也可輕易地偵測該物體所接觸 的單位區域，雖然這種方式難以運用高解析度來偵測物體的接觸位置。物體的此種偵測與在精密度上不同於類比訊號之數位訊號類似。
例如，當具有預定電容的物體(例如手指)接觸圖3的銦錫氧化物(ITO)薄膜120上的連接線CL1_1時，在這種情況下電阻實質上等同於當物體接觸與連接線CL1_1相鄰的觸控墊P1_2時，這是因為連接線CL1_1至CL1_(n-1)具有大電阻而觸控墊P1_1至P1_(n)具有小電阻。因為連接線CL1_1至CL1_(n-1)具有小面積，所以接觸感應的電容太小以致無法造成接觸式偵測。
觸控感應器100包括時脈輸出腳位(clock output pin)out及時脈輸入腳位(clock input pin)in。時脈輸出腳位out連接到在觸控圖案上串列連接的多個觸控墊P1_1至P1_(n)之第一觸控墊P1_1，並且時脈輸入腳位in連接到最後的觸控墊P1_(n)。觸控感應器100產生時脈訊號CLK且經由時脈輸出腳位out予以輸出到第一觸控墊P1_1，以及經由時脈輸入腳位in接收當時脈訊號通過多個觸控墊P1_1至P1_(n)時所獲得之延遲時脈訊號D_CLK。觸控感應器100利用經由時脈輸入腳位in接收的延遲時脈訊號D_CLK來計算接觸銦錫氧化物(ITO)薄膜120之物體的位置，並且輸出接觸位置資料TS_OUT。
圖4是解釋圖3的觸控感應器100的結構及偵測接觸位置的方法之方塊圖。在圖4中，觸控感應器100包括時脈訊號產生器110、延遲訊號偵測器130、比較器140以及 接觸位置資料產生器150。
圖4的觸控感應器的結構將參考圖3予以說明。
時脈訊號產生器110產生時脈訊號CLK且予以輸出到時脈輸出腳位out。
因為圖3的銦錫氧化物(ITO)薄膜120的觸控墊P1_1如上所述連接到時脈輸出腳位out，所以輸入到觸控墊P1_1的時脈訊號CLK經由多個觸控墊P1_1至P1_(n)而傳送到時脈輸入腳位in。當時脈訊號CLK被輸入到觸控圖案時，將因多個觸控墊P1_1至P1_(n)及多條連接線CL1_1至CL1_(n-1)的電阻與接觸了觸控墊P1_1至P1_(n)的物體的電容而延遲及失真，由此產生延遲時脈訊號D_CLK。
延遲訊號偵測器130接收該延遲時脈訊號D_CLK，偵測該延遲時脈訊號D_CLK的準位，以及產生一脈衝時脈訊號P_CLK。
比較器140比較該延遲訊號偵測器130之脈衝時脈訊號P_CLK與時脈訊號產生器110之時脈訊號CLK，並且輸出與時脈訊號CLK有關之脈衝時脈訊號P_CLK的延遲時間DT。
接觸位置資料產生器150從比較器140接收該延遲時間DT，並且輸出對應於該延遲時間DT之座標作為物體的接觸位置資料TS_OUT。
一種圖4的觸控感應器藉以偵測物體的接觸位置之方法將參考圖3予以說明。
在此，假設串列連接的觸控墊P1_1至P1_(n)之觸控 墊P1_2接觸到物體。
首先，時脈訊號產生器110產生時脈訊號CLK且經由時脈輸出腳位out予以輸出到觸控圖案的觸控墊P1_1，並輸出到觸控感應器100之比較器140。
輸入到觸控圖案的時脈訊號CLK因多個觸控墊P1_1至P1_(n)及多條連接線CL1_1至CL1_(n-1)的電阻與物體的電容而轉換成延遲時脈訊號D_CLK，並且經由最後的觸控墊P1_(n)而輸出。
該延遲訊號偵測器130經由時脈輸入腳位in接收時脈訊號CLK因多個觸控墊P1_1至P1_(n)而延遲及失真所獲得的延遲時脈訊號D_CLK，感應該延遲時脈訊號D_CLK的準位，以及輸出脈衝時脈訊號P_CLK。在此，延遲訊號偵測器130可包括邏輯元件，例如偶數個反相器(inverters)或緩衝器(buffers)，或一個比較器。
比較器140比較該延遲訊號偵測器130之脈衝時脈訊號P_CLK與時脈訊號產生器110之時脈訊號CLK以獲得兩個訊號之間的延遲時間差，並且輸出一延遲時間DT。
接觸位置資料產生器150接著從比較器140接收該延遲時間DT，獲得對應於該延遲時間DT之座標，以及輸出此座標作為接觸位置資料TS_OUT。
如上所述，利用根據本發明之偵測接觸位置之方法可偵測物體的接觸位置，其方式為輸入時脈訊號CLK到銦錫氧化物(ITO)薄膜120上的觸控圖案的一個端子，偵測受到觸控圖案之觸控墊P1_1至P1_(n)及多條連接線CL1_1至 CL1_(n-1)的電阻與物體的電容延遲之訊號的延遲時間DT，以及獲得對應於延遲時間DT之座標。因此，能夠只用一個配置於銦錫氧化物(ITO)薄膜120的一整個表面上之觸控圖案及一個觸控感應器來感應物體的接觸位置。
然而，在偵測一接觸位置之方法中，因為觸控感應器100輸出時脈訊號CLK到觸控圖案的一個端子且從其他端子接收延遲時脈訊號D_CLK，所以當產生雜訊時將無法偵測物體的精確接觸位置。因為雜訊被測量以作為一種時序抖動(timing jitter)，所以可藉由雜訊移除濾波器(noise removal filter)或計算該接觸位置的精確偵測的平均值來予以移除。例如，接觸位置資料產生器150可額外包括像是用以移除雜訊之無限脈衝響應(Infinite Impulse Response,IIR)濾波器之類的數位濾波器。另一方面，該接觸位置資料產生器150可包括累積及儲存平均值之平均值儲存單元，以便藉由將目前計算的接觸位置資料TS_OUT加或減所累積之平均值來移除雜訊。
圖5繪示根據本發明的第二實施例之觸控面板裝置。在圖5中，形成於銦錫氧化物(ITO)薄膜220上之觸控圖案與圖3的觸控圖案相同。圖3的觸控感應器100包括時脈輸出腳位out及時脈輸入腳位in，以便輸出時脈訊號CLK到觸控圖案的一個端子且從其他端子接收延遲時脈訊號D_CLK，而圖5的觸控感應器單元200則包括第一時脈輸入/輸出腳位(clock input/output pin)out1/in2及第二時脈輸入/輸出腳位in1/out2，以便交替地輸出時脈訊號CLK 到觸控圖案的兩端子且從端子接收延遲時脈訊號D_CLK1及D_CLK2。亦即，圖5的觸控感應器可交替地施加時脈訊號CLK至相同的觸控圖案，且交替地接收第一及第二延遲時脈訊號D_CLK1及D_CLK2。顯然可將第一時脈輸入/輸出腳位out1/in2區分為第一輸入腳位與第一輸出腳位(未繪示)且可將第二時脈輸入/輸出腳位in1/out2區分為第二輸入腳位與第二輸出腳位(未繪示)來輸出或接收第一及第二延遲時脈訊號D_CLK1及D_CLK2，以便代替使用第一時脈輸入/輸出腳位out1/in2及第二時脈輸入/輸出腳位in1/out2來輸入/輸出時脈訊號CLK。雖然連接線CL1_1至CL1_(n-1)與觸控墊P1_1至P1_(n)分開，但是顯然能以一種例如單桿之連續結構來形成連接線及觸控墊。
圖6是解釋圖5的觸控感應器的結構及一種偵測接觸位置的方法之方塊圖。在圖6中，觸控感應器包括時脈訊號產生器210、延遲訊號偵測器230、比較器240以及接觸位置資料產生器250，類似於圖3的觸控感應器。首先，圖6的觸控感應器的結構將參考圖5予以說明。
時脈訊號產生器210產生時脈訊號CLK且經由時脈輸入/輸出腳位out1/in2及in1/out2予以交替地輸出到觸控圖案的第一觸控墊P1_1或最後的觸控墊P1_(n)，並輸出到觸控感應器單元200的比較器240。延遲訊號偵測器230經由時脈輸入/輸出腳位out1/in2而從第一觸控墊P1_1接收第二延遲時脈訊號D_CLK2，或經由時脈輸入/輸出腳位in1/out2而從最後的觸控墊P1_(n)接收第一延遲 時脈訊號D_CLK1。
延遲訊號偵測器230經由觸控圖案接收第一延遲時脈訊號D_CLK1及第二延遲時脈訊號D_CLK2，感應第一延遲時脈訊號D_CLK1及第二延遲時脈訊號D_CLK2的準位，以及產生及輸出第一脈衝時脈訊號P_CLK1及第二脈衝時脈訊號P_CLK2。
比較器240比較該延遲訊號偵測器230之第一脈衝時脈訊號P_CLK1及第二脈衝時脈訊號P_CLK2與時脈訊號產生器210之時脈訊號CLK，測量與時脈訊號CLK有關的第一脈衝時脈訊號P_CLK1及第二脈衝時脈訊號P_CLK2的延遲時間，以及輸出第一延遲時間DT1及第二延遲時間DT2。
接觸位置資料產生器250從比較器240接收第一延遲時間DT1及第二延遲時間DT2且輸出對應於第一延遲時間DT1及第二延遲時間DT2之座標以作為物體的接觸位置資料TS_OUT。
一種圖6的觸控感應器藉以偵測物體的接觸位置之方法將參考圖5予以說明。
假設串列連接的觸控墊P1_1至P1_(n)之一個觸控墊P1_2接觸到物體。
首先，時脈訊號產生器210產生時脈訊號CLK且經由第一時脈輸入/輸出腳位out1/in2予以輸出到觸控圖案的第一觸控墊P1_1，並輸出到比較器240。
輸入到觸控圖案的時脈訊號CLK因多個觸控墊P1_1 至P1_(n)及多條連接線CL1_1至CL1_(n-1)的電阻與接觸到觸控墊P1_2的物體的電容而延遲及失真，並且第一延遲時脈訊號D_CLK1經由最後的觸控墊P1_(n)而輸出。
延遲訊號偵測器230感應第一延遲時脈訊號D_CLK1的準位且輸出第一脈衝時脈訊號P_CLK1。
比較器240比較該延遲訊號偵測器230之第一脈衝時脈訊號P_CLK1與時脈訊號產生器210之時脈訊號CLK，測量與時脈訊號CLK有關的第一脈衝時脈訊號P_CLK1的延遲時間，以及輸出第一延遲時間DT1。
接觸位置資料產生器250從比較器240接收第一延遲時間DT1且予以儲存。
時脈訊號產生器210接著經由第二時脈輸入/輸出腳位in1/out2輸出所產生的時脈訊號CLK到觸控圖案的最後觸控墊P1_(n)，並輸出到比較器240。
輸入到觸控圖案的時脈訊號CLK因多個觸控墊P1_1至P1_(n)及多條連接線CL1_1至CL1_(n-1)的電阻與接觸了觸控墊P1_2的物體的電容而延遲及失真，並且第二延遲時脈訊號D_CLK2經由第一觸控墊P1_1而輸出。
延遲訊號偵測器230感應第二延遲時脈訊號D_CLK2的準位且輸出第二脈衝時脈訊號P_CLK2。
比較器240比較該延遲訊號偵測器230之第二脈衝時脈訊號P_CLK2與時脈訊號產生器210之時脈訊號CLK，測量與時脈訊號CLK有關的第二脈衝時脈訊號P_CLK2的延遲時間，以及輸出第二延遲時間DT2。
接觸位置資料產生器250從比較器240接收延遲時間DT2，比較首先儲存的延遲時間DT1與其後輸入的延遲時間DT2以獲得相對應的座標，以及輸出此座標來作為接觸位置資料TS_OUT。在此，接觸位置資料產生器250可計算對應於第一延遲時間DT1及第二延遲時間DT2之座標且使用兩個座標的平均來獲得該接觸位置資料TS_OUT。並且，接觸位置資料產生器250計算第一延遲時間DT1與第二延遲時間DT2之間的差異以直接獲得該接觸位置資料TS_OUT。
如上所述，圖6的觸控感應器交替地輸出時脈訊號CLK到銦錫氧化物(ITO)薄膜220上的觸控圖案的兩端子，並且偵測因多個觸控墊P1_1至P1_(n)及多條連接線CL1_1至CL1_(n-1)的電阻與接觸各觸控墊P1_1至P1_(n)的物體的電容而延遲之時脈訊號CLK的延遲時間兩次。因為使用兩個延遲時間DT1及DT2來獲得座標，所以縱使銦錫氧化物(ITO)薄膜220與顯示器面板之間有雜訊或偏移(offset)電容也可獲得物體的精確接觸位置。
圖7繪示根據本發明的第三實施例之觸控面板裝置。
圖7的觸控感應器單元200與圖5的觸控感應器單元相同。然而，圖5的觸控圖案包括串列連接的多個觸控墊P1_1至P1_(n)及串列連接的多條連接線CL1_1至CL1_(n-1)，而圖7的銦錫氧化物(ITO)薄膜221的結構則是多個觸控墊以水平方向且多個觸控墊以垂直方向直接串列連接而無連接線。亦即，在圖7的觸控圖案PP1中，多 個觸控墊直接串列連接且均勻地配置於銦錫氧化物(ITO)薄膜221的一個表面上。雖然本發明已經針對多個觸控墊予以說明，但是配置於銦錫氧化物(ITO)薄膜221上的觸控墊構成一根棒。只包括觸控墊而無連接線之觸控圖案的形狀並未侷限於圖7所示之觸控圖案PP1。換言之，能以各種形狀來實施觸控圖案的形狀。
圖8是根據利用圖6的觸控感應器所獲得之物體的接觸位置來繪示延遲時間的曲線圖。
現在將參考圖5來說明圖8的曲線。
在圖8的曲線中，X軸上的物體的接觸位置(亦即觸控點)是指在形成於銦錫氧化物(ITO)薄膜220上的觸控圖案中串列連接的八個觸控墊1至8。當物體接觸八個觸控墊1至8之每一個時，交替地施加於觸控圖案的兩端子之時脈訊號CLK的延遲時間將表示於Y軸上。因此，對於X軸上的八個接觸位置1至8之每一個將獲得兩個延遲時間。為了參考起見，X軸上的接觸位置NT表示無接觸。
在圖8中，將繪示當施加時脈訊號CLK於觸控圖案的觸控墊1至8之第一觸控墊1且物體依序接觸各觸控墊1至8時所測量的延遲時間之曲線301，當施加時脈訊號CLK於觸控圖案的觸控墊1至8之最後的觸控墊8且物體依序接觸各觸控墊1至8時所測量的延遲時間之曲線302，以及利用電腦模擬程式以如同兩條曲線301及302的設定來繪製之曲線311及312。曲線311是對應於曲線301之模擬而曲線312則是對應於曲線302之模擬。測量 值(301及302)與模擬值(311及312)之間的差異主要是由外部雜訊及偏移電容所引起。
現在將參考圖8來說明一種圖6的接觸位置資料產生器藉以偵測物體的接觸位置之方法。
在此，如圖6所示因為本發明的觸控感應器單元200交替地輸出時脈訊號CLK到配置於觸控圖案的兩端子之觸控墊1與觸控墊8，所以將經由觸控墊1至8來偵測兩個延遲時間DT1及DT2且予以使用。
首先，一種利用兩個偵測的延遲時間之間的差異來偵測接觸位置之方法將更詳細地予以說明。
例如，當物體接觸各觸控墊1至8之一時，第一延遲時間DT1被測量為26.5奈秒(ns)且第二延遲時間DT2被測量為24.8奈秒(ns)，則觸控感應器單元200可計算第一延遲時間DT1與第二延遲時間DT2之間的差異且獲得對應於所計算的延遲時間差1.7奈秒(ns)之觸控墊的位置。在圖8的曲線中，物體接觸第二觸控墊2。觸控感應器單元200接著利用對應於觸控墊1至8之已設定的物體的接觸位置資料TS_OUT來輸出對應於第二觸控墊2之物體的接觸位置資料TS_OUT。因此，因為對應於延遲時間之物體的接觸位置資料TS_OUT已設定，所以該觸控感應器單元200可直接輸出對應於所計算的延遲時間1.7奈秒(ns)之物體的接觸位置資料TS_OUT。
在此，第一延遲時間DT1與第二延遲時間DT2之間的差異在觸控圖案的中央觸控墊變成0，並且在位於中央 觸控墊兩邊的觸控墊上其正負號相反。在圖8的曲線中，觸控墊1至8之所計算的延遲時間差是介於大約-3奈秒(ns)與大約3奈秒(ns)之間的值。
使用延遲時間差可降低雜訊的影響，這是因為自動移除延遲時間的偏移。
其次，一種利用兩個偵測的延遲時間之比例來偵測接觸位置之方法將予以說明。
例如，當物體接觸串列連接的觸控墊1至8時，第一延遲時間DT1被測量為27奈秒(ns)且第二延遲時間DT2被測量為24奈秒(ns)，則該觸控感應器單元200將計算第一延遲時間DT1與第二延遲時間DT2之比例，如運算式1所示。
運算式1 DT1/DT2×100
所計算的延遲時間是112.5。可獲得對應於112.5之觸控墊的位置。在圖8的曲線中，物體接觸第一觸控墊1。在這種情況下，觸控感應器100可設定對應於所計算的延遲時間比之物體的接觸位置資料TS_OUT，且直接輸出對應於所計算的延遲時間比112.5之物體的接觸位置資料TS_OUT。觸控感應器100接著利用對應於觸控墊1至8之已設定的物體的接觸位置資料TS_OUT來輸出對應於第 一觸控墊1之物體的接觸位置資料TS_OUT。
在此，第一延遲時間與第二延遲時間之比例在觸控墊1至8的中央觸控墊變成1(在運算式1中是100)，並且第一觸控墊1至第八觸控墊8的延遲時間比依序遞減。在圖8的曲線中，所計算的觸控墊之延遲時間比(ratio)變成介於大約113與大約89之間的值。
使用延遲時間比來增加所計算的延遲時間值，因而可更精確地獲得物體的接觸位置TS_OUT。
在本發明的觸控圖案中，多個觸控墊的大小與多條連接線的大小不同，以便利用預定的單位區域來偵測接觸位置。因此，縱使如上所述使用延遲時間差或延遲時間比也可精確地感應到接觸位置。雖然使用第一延遲時間與第二延遲時間之差異及比例(ratio)作為簡化的例子，但是自然可使用差異與比例的組合或其他的數學方法(例如但不限於對數運算)。
圖9及圖10繪示根據本發明的另一實施例之配置於銦錫氧化物(ITO)薄膜上的觸控圖案。
在圖3或圖5所示之銦錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220上的觸控圖案中，觸控墊之間的間隔較窄可增加觸控面板的解析度，然而物體接觸多個觸控墊P1_1至P1_(n)之兩個或更多個可能導致錯誤的接觸位置資料TS_OUT。因此，多個觸控墊P1_1至P1_(n)最好具有足夠的間隔以便物體不會同時接觸兩個或更多個觸控墊。具有一個觸控圖案之圖3或圖5所示之銦錫氧化物(ITO) 薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220無法增加觸控面板的解析度。
圖9繪示並列配置於一個銦錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220的相同表面上之兩個圖案P1及P2。
因為並列配置第一觸控圖案P1與第二觸控圖案P2，所以第一觸控圖案P1及第二觸控圖案P2的多個觸控墊具有足夠的間隔來避免物體同時接觸第一觸控圖案P1的多個觸控墊P1_1至P1_(n)或第二觸控圖案P2的多個觸控墊P2_1至P2_(n)。當並列配置兩個觸控圖案P1及P2時，第一觸控圖案P1的連接線CL1_1至CL1_(n-1)與第二觸控圖案P2的連接線CL2_1至CL2_(n-1)將彼此絕緣以便兩條連接線的交叉點BP不會短路。並且，第一觸控圖案P1與第二觸控圖案P2之間的最小化間隔可增加觸控面板的解析度。雖然只有兩個觸控圖案P1及P2繪示於圖9，但是顯然可包括更多個觸控圖案。
因此，在圖9中，可避免物體同時接觸相同觸控圖案的多個觸控墊，且可利用多個觸控圖案來獲得高解析度。
在此，CL1_1至CL1_(n-1)與CL2_1至CL2_(n-1)的交叉點BP可在銦錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220之內絕緣。然而，顯然可配置連接線CL且在銦錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220之外部予以絕緣。縱使連接線CL在銦錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220之內部被絕緣，此絕緣不應該 影響顯示器。一般而言，銦錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220大於顯示裝置的視訊顯示器區域。因此，在銦錫氧化物(ITO)薄膜120及銦錫氧化物(ITO)薄膜220之外部的絕緣不影響顯示器。
在圖10中，兩個觸控圖案逐一配置於銦錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220的兩表面上。在觸控感應器當中，藉由偵測電容變化來偵測物體的接觸之電容感應型觸控感應器在結構上類似於電容感應型趨近感應器(proximity sensor)。亦即，藉由將電容感應型觸控感應器的感應度設定為高準位，則可使用電容感應型觸控感應器作為趨近感應器。因此，雖然物體並未直接接觸該觸控感應器，但是電容感應型觸控感應器可偵測物體的接觸。在圖10中，第一觸控圖案P1與第三觸控圖案P3配置於銦錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220的不同表面上。亦即，第一觸控圖案P1配置於銦錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220的上表面上，而第三觸控圖案P3則配置於銦錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220的下表面上。如上所述當兩個觸控圖案P1及P3配置於銦錫氧化物(ITO)薄膜的不同表面上時，不存在圖9的交叉點BP且不需要絕緣。同樣地，顯然多個銦錫氧化物(ITO)薄膜之每一個可包括一個觸控圖案。對於非常高解析度的觸控面板而言，可同時應用圖9及圖10的結構。亦即，可配置多個觸控圖案且用於至少一個銦錫氧化物(ITO)薄膜的一個或兩個表面上。
圖11及圖12是解釋根據本發明之觸控面板裝置的插補(interpolation)的示意圖。
一般而言，觸控面板附著在顯示視訊訊號於螢幕上之顯示器的外部螢幕，或形成於顯示器的外部玻璃板上。然而，因為觸控面板的解析度不同於顯示器的解析度，所以觸控面板的接觸位置需要對應到(轉換成)顯示器螢幕的相對應位置。在這種情況下，將使用插補以將觸控面板的位置對應到顯示器螢幕的位置以便更平順地表示接觸位置變化。
圖11繪示時域(time domain)之插補。
假設物體依序接觸串列連接的觸控墊P1的第三觸控墊P1_3、第九觸控墊P1_9以及第二十三觸控墊P1_23。對應於個別的觸控墊P1_3、P1_9以及P1_23的位置之位置將依序且不連續地顯示於顯示器螢幕上。最後，將只顯示對應於第二十三觸控墊P1_23之位置。
另一方面，根據包含觸控面板的裝置的用途可能存在連續而非不連續地表示接觸位置之情況。例如，若是電腦的指標(pointer)，則必須連續顯示一接觸位置的位移路徑。在這種情況下，將依照時間來分割顯示器螢幕(而非銦錫氧化物(ITO)薄膜120)上的多個觸控墊之間的位置，例如第三觸控墊P1_3與第九觸控墊P1_9之間的位置以及第九觸控墊P1_9與第二十三觸控墊P1_23之間的位置，以產生顯示器螢幕上的個別觸控墊之間的位置且予以輸出以作為插補訊號。亦即，當物體接觸該觸控墊P1_3且接著接 觸該觸控墊P1_9時，指標在指示觸控墊P1_3的位置之後將不直接指示觸控墊P1_9的位置，而是指示一種依照時間而從觸控墊P1_3的位置到觸控墊P1_9的位置之循序位移。
圖12繪示空間域(spatial domain)之插補。
當並列配置第一觸控圖案P1及第三觸控圖案P3之銦錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220上的第一觸控圖案P1的第三觸控墊P1_3及第三觸控圖案P3的第三觸控墊P3_3同時與物體接觸時，將輸出利用第一觸控圖案P1所計算的接觸位置與利用第三觸控圖案P3所計算的接觸位置之間的中央位置以作為物體的接觸位置資料TS_OUT。雖然本發明已經針對圖10所示之觸控圖案予以說明，但是顯然即使是圖9所示之觸控圖案也可執行空間域之插補。
此外，上述之插補使用插補訊號輸出單元(未繪示)從圖3或圖5的觸控感應器接收物體的接觸位置資料TS_OUT且予以插補及輸出以便輸出插補訊號。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
綜上所述，在根據本發明之觸控面板裝置及偵測接觸位置之方法中，因為串列連接多個觸控墊以形成觸控圖案，所以能夠只用一個觸控感應器來感應整個觸控面板的 接觸位置。並且，觸控墊的面積大於連接線的面積以便觸控墊與連接線之間存在顯著的電阻差異，因而縱使有雜訊也可輕易地感應物體的接觸位置。此外，觸控感應器交替地輸入時脈訊號到串列連接的觸控墊的兩端子，並且利用輸出訊號的延遲時間來計算物體的接觸位置，藉以最小化雜訊的影響。此外，使用多個觸控圖案可增加觸控面板的解析度。
10、120、220、221‧‧‧銦錫氧化物(ITO)薄膜
11、12‧‧‧棒狀觸控墊
20、100、200‧‧‧觸控感應器單元
30、110、210‧‧‧時脈訊號產生器
31‧‧‧第一訊號放大器
32‧‧‧第二訊號放大器
41‧‧‧第一訊號比較器
42‧‧‧第二訊號比較器
51、150、250‧‧‧接觸位置資料產生器
130、230‧‧‧延遲訊號偵測器
140、240‧‧‧比較器
301、302、311、312‧‧‧曲線
A‧‧‧接觸點
BP‧‧‧交叉點
CL1_1、CL1_2、CL1_(n-1)、CL2_1、CL3_1‧‧‧連接線
CLK‧‧‧時脈訊號
DT‧‧‧延遲時間
DT1‧‧‧第一延遲時間
DT2‧‧‧第二延遲時間
D_CLK‧‧‧延遲時脈訊號
D_CLK1、ts1_sig1‧‧‧第一延遲時脈訊號
D_CLK2、ts1_sig2‧‧‧第二延遲時脈訊號
in‧‧‧時脈輸入腳位
in1/out2‧‧‧第二時脈輸入/輸出腳位
NT‧‧‧接觸位置
out‧‧‧時脈輸出腳位
out1/in2‧‧‧第一時脈輸入/輸出腳位
P1‧‧‧第一觸控圖案
P1_1、P1_2、P1_3、P1_6、P1_9、P1_23、P1_(n-1)、P1_(n)、P2_1、P2_(n)、P3_1、P3_3、P3_(n)‧‧‧觸控墊
P2‧‧‧第二觸控圖案
P3‧‧‧第三觸控圖案
PP1‧‧‧觸控圖案
P_CLK‧‧‧脈衝時脈訊號
P_CLK1‧‧‧第一脈衝時脈訊號
P_CLK2‧‧‧第二脈衝時脈訊號
sig1‧‧‧第一訊號
sig2‧‧‧第二訊號
TS_OUT‧‧‧接觸位置資料
X‧‧‧X軸
Y‧‧‧Y軸
圖1是習知之一種使用銦錫氧化物(ITO)的觸控面板裝置的結構的示意圖。
圖2是一種使用圖1的觸控墊對的觸控感應器單元之例子的示意圖。
圖3是依照本發明之第一實施例之一種觸控面板裝置的示意圖。
圖4是用以解釋圖3之觸控感應器之結構及偵測接觸位置之方法的方塊圖。
圖5是依照本發明之第二實施例之一種觸控面板裝置的示意圖。
圖6是用以解釋圖5之觸控感應器之結構及偵測接觸位置之方法的方塊圖。
圖7是依照本發明之第三實施例之一種觸控面板裝置的示意圖。
圖8是根據利用圖6的觸控感應器所獲得之物體的接觸位置來繪示延遲時間的曲線圖。
圖9及圖10是依照本發明之另一實施例之一種配置於銦錫氧化物(ITO)薄膜上的觸控圖案的示意圖。
圖11及圖12是用以解釋依照本發明之觸控面板裝置的插補的示意圖。
210‧‧‧時脈訊號產生器
230‧‧‧延遲訊號偵測器
240‧‧‧比較器
250‧‧‧接觸位置資料產生器
CLK‧‧‧時脈訊號
DT1‧‧‧第一延遲時間
DT2‧‧‧第二延遲時間
D_CLK1‧‧‧第一延遲時脈訊號
D_CLK2‧‧‧第二延遲時脈訊號
P1_1、P1_(n)‧‧‧觸控墊
P_CLK1‧‧‧第一脈衝時脈訊號
P_CLK2‧‧‧第二脈衝時脈訊號
TS_OUT‧‧‧接觸位置資料

Claims (38)

  1. 一種觸控面板裝置，包括：觸控面板，包括第一觸控圖案，所述第一觸控圖案具有串列連接的多個第一觸控墊；以及觸控感應器，施加時脈訊號至所述第一觸控圖案的一個端子，從所述第一觸控圖案的其他端子接收第一延遲時脈訊號，以及利用所述時脈訊號與所述第一延遲時脈訊號之間的延遲時間差來產生對應於物體的接觸位置之接觸位置資料。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板裝置，其中所述觸控感應器包括：時脈產生器，產生所述時脈訊號且予以輸出到所述第一觸控圖案的一個端子；延遲訊號偵測器，由所述第一觸控圖案的其他端子而感應所述第一延遲時脈訊號的準位且輸出第一脈衝時脈訊號；比較器，計算所述時脈訊號與所述第一脈衝時脈訊號之間的延遲時間差且輸出第一延遲時間；以及接觸位置資料產生器，計算對應於所述第一延遲時間之接觸位置且輸出所述接觸位置資料。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之觸控面板裝置，其中所述接觸位置資料產生器更包括雜訊移除器以避免因雜訊而錯誤地計算所述接觸位置資料。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之觸控面板裝置，其中 所述雜訊移除器包括數位濾波器。
  5. 如申請專利範圍第3項所述之觸控面板裝置，其中所述雜訊移除器包括用以儲存所述接觸位置資料的累積平均值且利用所述累積平均值來移除雜訊之平均值儲存器。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板裝置，其中所述觸控感應器施加所述時脈訊號至所述第一觸控圖案的其他端子，從所述第一觸控圖案的一個端子接收第二延遲時脈訊號，以及利用所述時脈訊號與所述第一延遲時脈訊號及所述第二延遲時脈訊號之每一個之間的延遲時間差來產生對應於所述物體的所述接觸位置之所述接觸位置資料。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之觸控面板裝置，其中所述觸控感應器包括：時脈產生器，產生所述時脈訊號且予以交替地輸出到所述第一觸控圖案的一個端子與其他端子；延遲訊號偵測器，當延遲所述時脈訊號時感應從所述第一觸控圖案的其他端子輸出之所述第一延遲時脈訊號的準位，且感應從所述第一觸控圖案的一個端子輸出之所述第二延遲時脈訊號的準位，以及輸出第一脈衝時脈訊號及第二脈衝時脈訊號；比較器，計算所述時脈訊號與所述第一脈衝時脈訊號之間的延遲時間差且輸出第一延遲時間，以及計算所述時脈訊號與所述第二脈衝時脈訊號之間的延遲時間差且輸出第二延遲時間；以及 接觸位置資料產生器，計算對應於所述第一延遲時間及所述第二延遲時間之接觸位置且輸出所述接觸位置資料。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之觸控面板裝置，其中所述接觸位置資料產生器利用所述第一延遲時間與所述第二延遲時間之間的差異來產生所述接觸位置資料。
  9. 如申請專利範圍第7項所述之觸控面板裝置，其中所述接觸位置資料產生器利用所述第一延遲時間與所述第二延遲時間之比例來產生所述接觸位置資料。
  10. 如申請專利範圍第7項所述之觸控面板裝置，其中所述接觸位置資料產生器計算對應於所述第一延遲時間之第一接觸位置且計算對應於所述第二延遲時間之第二接觸位置，獲得所計算之所述接觸位置的中央位置，以及產生對應於所述中央位置之接觸位置資料。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板裝置，其中所述觸控面板包括第一銦錫氧化物(ITO)薄膜，其中所述第一觸控圖案的多個所述第一觸控墊均勻地分佈於所述第一銦錫氧化物(ITO)薄膜的一整個表面上。
  12. 如申請專利範圍第10項所述之觸控面板裝置，其中所述第一觸控圖案更包括配置在多個所述第一觸控墊之間用以串列連接多個所述第一觸控墊之多條第一連接線，所述第一連接線的形成方式是利用導電材料來繪製圖案於比多個所述第一觸控墊之每一個還窄的區域上。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之觸控面板裝置，其 中將所述觸控面板配置成所述第一觸控圖案的多個所述第一觸控墊不會同時與物體接觸。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之觸控面板裝置，其中所述觸控面板更包括至少一第二觸控圖案。
  15. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板裝置，其中所述至少一第二觸控圖案包括所述第一銦錫氧化物(ITO)薄膜的相同表面上之多個第二觸控墊，其中每一個第二觸控墊配置於所述第一觸控圖案的多個所述第一觸控墊之間，並且所述至少一第二觸控圖案包括串列連接多個所述第二觸控墊之多條第二連接線。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之觸控面板裝置，其中所述觸控面板更包括絕緣所述第一觸控圖案與所述第二觸控圖案以免在交叉點彼此短路之絕緣構件，並且所述絕緣構件配置於所述第一銦錫氧化物(ITO)薄膜的邊緣區域或所述第一銦錫氧化物(ITO)薄膜的外部。
  17. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板裝置，其中所述至少第二觸控圖案包括均勻地分佈於所述第一銦錫氧化物(ITO)薄膜的整個其他表面上之多個第二觸控墊，且包括串列連接多個所述第二觸控墊之多條第二連接線。
  18. 如申請專利範圍第17項所述之觸控面板裝置，其中所述觸控面板更包括絕緣所述第一觸控圖案與所述第二觸控圖案以免在交叉點彼此短路之絕緣構件，並且所述絕緣構件配置於所述第一銦錫氧化物(ITO)薄膜的邊緣區域或所述第一銦錫氧化物(ITO)薄膜的外部。
  19. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板裝置，其中所述觸控面板更包括至少第二銦錫氧化物(ITO)薄膜，並且所述至少第二觸控圖案包括均勻地分佈於所述至少第二銦錫氧化物(ITO)薄膜的一整個表面上之多個第二觸控墊，且包括串列連接多個所述第二觸控墊之多條第二連接線。
  20. 如申請專利範圍第19項所述之觸控面板裝置，其中所述觸控面板更包括絕緣所述第一觸控圖案與所述第二觸控圖案以免在交叉點彼此短路之絕緣構件，並且所述絕緣構件配置於所述第一銦錫氧化物(ITO)薄膜及所述第二銦錫氧化物(ITO)薄膜的邊緣區域或所述第一銦錫氧化物(ITO)薄膜及所述第二銦錫氧化物(ITO)薄膜的外部。
  21. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板裝置，其中所述觸控面板更包括至少第二銦錫氧化物(ITO)薄膜，並且所述至少第二觸控圖案包括均勻地分佈於所述第二銦錫氧化物(ITO)薄膜的整個其他表面上之多個第二觸控墊，且包括串列連接多個所述第二觸控墊之多條第二連接線。
  22. 如申請專利範圍第21項所述之觸控面板裝置，其中所述觸控面板更包括絕緣所述第一觸控圖案與所述第二觸控圖案以免在交叉點彼此短路之絕緣構件，並且所述絕緣構件配置於所述第一銦錫氧化物(ITO)薄膜及所述第二銦錫氧化物(ITO)薄膜的邊緣區域或所述第一銦錫氧化物(ITO)薄膜及所述第二銦錫氧化物(ITO)薄膜的外部。
  23. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板裝置，其 中所述觸控感應器包括：時脈產生器，產生所述時脈訊號且予以輸出到所述第一觸控圖案及所述第二觸控圖案的一個端子；延遲訊號偵測器，感應從所述第一觸控圖案及所述第二觸控圖案的其他端子輸出之所述第一延遲時脈訊號的準位且輸出第一脈衝時脈訊號；比較器，計算所述時脈訊號與所述第一脈衝時脈訊號之每一個之間的延遲時間差且輸出多個第一延遲時間；以及接觸位置資料產生器，計算對應於多個所述第一延遲時間之接觸位置且輸出所述接觸位置資料。
  24. 如申請專利範圍第23項所述之觸控面板裝置，其中所述接觸位置資料產生器更包括雜訊移除器以避免因雜訊而錯誤地計算所述接觸位置資料。
  25. 如申請專利範圍第24項所述之觸控面板裝置，其中所述雜訊移除器包括數位濾波器。
  26. 如申請專利範圍第24項所述之觸控面板裝置，其中所述雜訊移除器包括用來儲存所述接觸位置資料的累積平均值且利用所述累積平均值來移除雜訊之平均值儲存器。
  27. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板裝置，其中所述觸控感應器包括：時脈產生器，產生所述時脈訊號且予以交替地輸出到所述第一觸控圖案及所述第二觸控圖案的一個端子與其他 端子；延遲訊號偵測器，感應從所述第一觸控圖案及所述第二觸控圖案的其他端子輸出之多個所述第一延遲時脈訊號的準位，且感應從所述第一觸控圖案及所述第二觸控圖案的一個端子輸出之多個所述第二延遲時脈訊號的準位，以及輸出多個第一脈衝時脈訊號及第二脈衝時脈訊號；比較器，計算所述時脈訊號與多個所述第一脈衝時脈訊號之每一個之間的延遲時間差且輸出多個第一延遲時間，以及計算所述時脈訊號與多個所述第二脈衝時脈訊號之每一個之間的延遲時間差且輸出多個第二延遲時間；以及接觸位置資料產生器，計算對應於多個所述第一延遲時間及所述第二延遲時間之接觸位置且輸出所述接觸位置資料。
  28. 如申請專利範圍第27項所述之觸控面板裝置，其中所述接觸位置資料產生器利用多個所述第一延遲時間之每一個與對應於多個所述第一延遲時間之多個所述第二延遲時間之每一個之間的差異來輸出所述接觸位置資料。
  29. 如申請專利範圍第27項所述之觸控面板裝置，其中所述接觸位置資料產生器利用多個所述第一延遲時間與對應於多個所述第一延遲時間之多個所述第二延遲時間之比例來輸出所述接觸位置資料。
  30. 如申請專利範圍第27項所述之觸控面板裝置，其中若計算對應於多個第一延遲時間及第二延遲時間之多個 接觸位置，則所述接觸位置資料產生器將計算多個所述接觸位置之間的中央位置且輸出對應於所述中央位置之所述接觸位置資料。
  31. 如申請專利範圍第27項所述之觸控面板裝置，其中若所述物體依序接觸多個所述第一至第五觸控墊的不同觸控圖案，則所述觸控感應器將輸出對應於所述物體首先接觸的所述觸控墊之接觸位置資料，以及在輸出對應於隨後接觸的所述觸控墊之接觸位置資料之前至少輸出對應於首先接觸的所述觸控墊與隨後接觸的所述觸控墊之間的位置之接觸位置資料。
  32. 一種偵測觸控面板裝置上的接觸位置之方法，所述方法包括：配置第一觸控圖案，所述第一觸控圖案具有串列連接的多個第一觸控墊；以及施加時脈訊號至所述第一觸控圖案的一個端子，從所述第一觸控圖案的其他端子接收第一延遲時脈訊號，以及利用所述時脈訊號與所述第一延遲時脈訊號之間的延遲時間差來產生對應於物體的接觸位置之接觸位置資料。
  33. 如申請專利範圍第32項所述之偵測觸控面板裝置上的接觸位置之方法，其中配置所述第一觸控圖案之步驟更包括配置多條第一連接線以便串列連接多個所述第一觸控墊，多條所述第一連接線的形成方式是在多個所述第一觸控墊之間利用導電材料來繪製圖案於比多個所述第一觸控墊還窄的區域上。
  34. 如申請專利範圍第33項所述之偵測觸控面板裝置上的接觸位置之方法，其中產生所述接觸位置資料之步驟包括：產生所述時脈訊號且予以輸出到所述第一觸控圖案的一個端子；感應從所述第一觸控圖案的其他端子輸出之所述第一延遲時脈訊號的準位，且輸出第一脈衝時脈訊號；計算所述時脈訊號與所述第一脈衝時脈訊號之間的延遲時間差且輸出第一延遲時間；以及計算對應於所述第一延遲時間之接觸位置且輸出所述接觸位置資料。
  35. 如申請專利範圍第34項所述之偵測觸控面板裝置上的接觸位置之方法，其中輸出所述接觸位置資料之步驟更包括移除雜訊。
  36. 如申請專利範圍第32項所述之偵測觸控面板裝置上的接觸位置之方法，更包括藉由所述觸控感應器：產生所述時脈訊號且予以交替地輸出到所述第一觸控圖案的一個端子或其他端子；當延遲所述時脈訊號時感應從所述第一觸控圖案的其他端子輸出之第一延遲時脈訊號的準位，且感應從所述第一觸控圖案的一個端子輸出之第二延遲時脈訊號的準位，以及輸出第一及第二脈衝時脈訊號；計算所述時脈訊號與所述第一脈衝時脈訊號之間的延遲時間差以輸出第一延遲時間，且計算所述時脈訊號與 所述第二脈衝時脈訊號之間的延遲時間差以輸出第二延遲時間；以及計算對應於所述第一延遲時間及所述第二延遲時間之接觸位置且輸出所述接觸位置資料。
  37. 如申請專利範圍第36項所述之偵測觸控面板裝置上的接觸位置之方法，其中輸出所述接觸位置資料之步驟包括利用所述第一延遲時間與所述第二延遲時間之間的差異或比例來產生所述接觸位置資料。
  38. 如申請專利範圍第36項所述之偵測觸控面板裝置上的接觸位置之方法，其中輸出所述接觸位置資料之步驟包括計算對應於所述第一延遲時間之接觸位置與對應於所述第二延遲時間之接觸位置，以及獲得所計算之所述接觸位置之間的中央位置以便產生所述接觸位置資料。
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Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2113827B8 (en) * 2008-04-30 2018-09-19 InnoLux Corporation Touch input device
WO2010013951A2 (ko) * 2008-07-29 2010-02-04 Cho Han Yong 연속된 하나의 선으로 구성된 저항 패턴을 구비한 터치 센서 및 터치 센서를 이용한 터치 위치 감지 방법
KR100971501B1 (ko) 2008-10-24 2010-07-21 주식회사 애트랩 접촉센서 장치
KR101007049B1 (ko) * 2008-12-15 2011-01-12 주식회사 애트랩 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 계산 방법
KR101103825B1 (ko) * 2009-10-19 2012-01-06 주식회사 애트랩 멀티 터치를 감지할 수 있는 터치 패널 및 이 장치의 멀티 터치 감지 방법
TWI414988B (zh) * 2010-03-02 2013-11-11 Sitronix Technology Corp Touch sensing device with capacitive effect
TWI413921B (zh) * 2010-04-16 2013-11-01 Au Optronics Corp 觸控位置修正方法
CN102221944B (zh) * 2010-04-16 2013-04-17 瑞鼎科技股份有限公司 触控输入电子装置
TWI410851B (zh) 2010-04-27 2013-10-01 Htc Corp 手持裝置及其觸控感測裝置
CN102236483B (zh) * 2010-05-04 2016-03-30 宸鸿科技(厦门)有限公司 一种触控面板、制造方法及其扫描方法
JP5670124B2 (ja) * 2010-08-23 2015-02-18 株式会社ジャパンディスプレイ タッチ検出機能付き表示装置、駆動回路、タッチ検出機能付き表示装置の駆動方法および電子機器
JP5755752B2 (ja) * 2010-11-09 2015-07-29 ティーピーケイ タッチ ソリューションズ インコーポレーテッド タッチパネルデバイス
US9563315B2 (en) 2010-11-09 2017-02-07 Tpk Touch Solutions Inc. Capacitive touch panel and method for producing the same
TWI421756B (zh) * 2010-12-23 2014-01-01 Au Optronics Corp 觸控顯示面板及觸控面板
KR101166649B1 (ko) 2011-04-04 2012-07-18 한국과학기술원 스트링 형태의 터치 센서 모듈
KR101327886B1 (ko) * 2011-06-10 2013-11-11 (주)멜파스 터치 패널 시스템과 지연 보상 방법
CN102902391B (zh) * 2011-07-28 2015-12-02 国民技术股份有限公司 一种单触点感应定位方法及装置
TWI453644B (zh) * 2011-10-14 2014-09-21 Chunghwa Picture Tubes Ltd 電容式觸控面板及其觸控偵測方法
KR20130056081A (ko) 2011-11-21 2013-05-29 삼성전기주식회사 접촉 감지 장치 및 접촉 감지 방법
US9484013B1 (en) * 2012-02-20 2016-11-01 Mary Elizabeth McCulloch Speech simulation system
US9274643B2 (en) 2012-03-30 2016-03-01 Synaptics Incorporated Capacitive charge measurement
JP5919995B2 (ja) * 2012-04-19 2016-05-18 富士通株式会社 表示装置、表示方法および表示プログラム
US8884898B2 (en) * 2012-04-19 2014-11-11 Innovation & Infinity Global Corp. Touch sensing device and touch sensing method thereof
US8884635B2 (en) * 2012-06-01 2014-11-11 Synaptics Incorporated Transcapacitive charge measurement
US8890544B2 (en) * 2012-06-01 2014-11-18 Synaptics Incorporated Transcapacitive charge measurement
KR102023938B1 (ko) * 2012-12-26 2019-09-23 엘지디스플레이 주식회사 터치 센싱 장치 및 방법
CN103902125A (zh) * 2014-03-28 2014-07-02 上海交通大学 一种基于单层触摸传感器的投射电容式触控面板及其定位方法
CN104808859B (zh) * 2015-05-08 2019-04-23 厦门天马微电子有限公司 一种内嵌式触摸面板和触摸显示装置
KR102408687B1 (ko) * 2015-07-16 2022-06-14 엘지이노텍 주식회사 방향 감지 장치
US10764027B2 (en) * 2016-07-07 2020-09-01 Cisco Technology, Inc. Deterministic calibrated synchronized network interlink access
CN111103998B (zh) * 2018-10-26 2024-06-14 泰科电子(上海)有限公司 触控检测装置
CN111055892B (zh) * 2019-12-26 2021-11-30 中国铁道科学研究院集团有限公司通信信号研究所 一种基于阈值延时处理的铁路信号采集信息容错方法

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5376947A (en) * 1992-03-09 1994-12-27 Pioneer Electronic Corporation Touch-type input terminal apparatus for pointing or specifying position on display device
TW319848B (zh) * 1995-06-12 1997-11-11 Samsung Electronics Co Ltd
US5777604A (en) * 1994-10-31 1998-07-07 Sharp Kabushiki Kaisha Touch panel input apparatus performing a sampling operation intermittently
US6236386B1 (en) * 1997-12-22 2001-05-22 Nec Corporation Liquid crystal display apparatus with touch panel
TWI251782B (en) * 2003-07-14 2006-03-21 Egalax Inc Control method of capacitive type touch-controlled panel and its apparatus
TWI261159B (en) * 2000-06-09 2006-09-01 Cirrus Logic Inc Clock generator circuitry
TW200701639A (en) * 2005-06-16 2007-01-01 Atlab Inc Touch sensor and signal generation method thereof
TWM317050U (en) * 2007-02-12 2007-08-11 Young Fast Optoelectronics Co Capacitive touch sensing device
TW200802057A (en) * 2006-06-20 2008-01-01 Egalax Inc Compensation control method and device of a capacitive touch panel
TW200802058A (en) * 2006-06-20 2008-01-01 Egalax Inc Scanning control device for capacitive touch panel
TW200802059A (en) * 2006-03-30 2008-01-01 Apple Inc Force and location sensitive display
US20080012837A1 (en) * 2003-11-25 2008-01-17 Apple Computer, Inc. Touch pad for handheld device

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05340709A (ja) * 1992-06-05 1993-12-21 Sony Corp ３次元形状測定装置
JPH0934627A (ja) * 1995-07-21 1997-02-07 Seiko Epson Corp タブレット装置
JPH1091350A (ja) * 1996-09-10 1998-04-10 Tokyo Cosmos Electric Co Ltd タッチパネル
JP4270931B2 (ja) * 2003-05-08 2009-06-03 アルプス電気株式会社 タッチセンサ
WO2006043660A1 (ja) * 2004-10-22 2006-04-27 Sharp Kabushiki Kaisha タッチセンサ付き表示装置およびその駆動方法
EP2069894B1 (en) * 2006-09-26 2018-02-21 Koninklijke Philips N.V. Touch sensor
TWI323571B (en) * 2006-11-30 2010-04-11 Realtek Semiconductor Corp Touch apparatus and analog-to-digital converting apparatus and method thereof
TWI346890B (en) * 2007-05-16 2011-08-11 Hannstar Display Corp Light pointing device employed in input apparatus, driving method thereof, and lcd using the same
CN100495139C (zh) * 2007-10-10 2009-06-03 友达光电股份有限公司 触控面板及其制作方法
US8004500B2 (en) * 2007-10-26 2011-08-23 Apple Inc. Switched capacitor projection scan multi-touch sensor array
KR100921813B1 (ko) * 2007-11-07 2009-10-16 주식회사 애트랩 터치 패널 장치 및 이의 접촉위치 검출방법

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5376947A (en) * 1992-03-09 1994-12-27 Pioneer Electronic Corporation Touch-type input terminal apparatus for pointing or specifying position on display device
US5777604A (en) * 1994-10-31 1998-07-07 Sharp Kabushiki Kaisha Touch panel input apparatus performing a sampling operation intermittently
TW319848B (zh) * 1995-06-12 1997-11-11 Samsung Electronics Co Ltd
US6236386B1 (en) * 1997-12-22 2001-05-22 Nec Corporation Liquid crystal display apparatus with touch panel
TWI261159B (en) * 2000-06-09 2006-09-01 Cirrus Logic Inc Clock generator circuitry
TWI251782B (en) * 2003-07-14 2006-03-21 Egalax Inc Control method of capacitive type touch-controlled panel and its apparatus
US20080012837A1 (en) * 2003-11-25 2008-01-17 Apple Computer, Inc. Touch pad for handheld device
TW200701639A (en) * 2005-06-16 2007-01-01 Atlab Inc Touch sensor and signal generation method thereof
TW200802059A (en) * 2006-03-30 2008-01-01 Apple Inc Force and location sensitive display
TW200802057A (en) * 2006-06-20 2008-01-01 Egalax Inc Compensation control method and device of a capacitive touch panel
TW200802058A (en) * 2006-06-20 2008-01-01 Egalax Inc Scanning control device for capacitive touch panel
TWM317050U (en) * 2007-02-12 2007-08-11 Young Fast Optoelectronics Co Capacitive touch sensing device

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