TW200947472A - Electrode substrate - Google Patents

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TW200947472A
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Shigeki Miura
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200947472 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明,係爲在透明性基材上形成有導電層之電極基 板,並有關於兼具有透明性與導電性之電極基板。 【先前技術】 被使用在液晶顯示裝置、有機EL (有機光電)、電 φ 子紙中之電極基板,係被要求兼具有透明性與導電性。此 係因爲,當透明性不充分的情況時,顯示畫面會變暗,而 當導電性不充分的情況時,在會使增大顯示畫面之面積一 事成爲困難的同時,亦會使回應速度降低之故。 作爲在此種電極基板中所使用之透明電極,從先前技 術起,係被使用有ITO ( In/ Sn氧化物)或是Zn系氧化 物,但是,在此些之透明電極中,爲了提升導電性,係必 須將厚度變厚,而相反的,若是增加厚度,則透明性會降 G 低,因此,係成爲被要求有無法同時達成之特性。又,此 些之透明電極,由於係使用有高價之金屬的氧化物,因此 ,從削減成本的目的來看,亦成爲有必要以較薄的厚度來 提升導電性。進而,此些之透明電極,由於係由氧化物所 構成,故係容易產生碎裂,而爲了防止由於此所造成之導 電性不良,亦成爲有必要將其之強度作提升。又,此些之 氧化物,若是結晶化並不充分,則會顯示導電性降低之傾 向,但是,當形成電極之基材係由樹脂等所構成的情況時 ,由於氧化物之形成條件係受限,而無法得到充分之結晶 -5- 200947472 化,因此,特別是其之導電性的降低一事,係成爲問題。 爲了解決此些之諸問題,係嘗試有各種之提案(曰本 特開2000-072526號公報、日本特開2000-07253 7號公報 、日本特開 20 03 -078 1 5 3號公報、以及日本特開2004-3 5 5972號公報),且爲了提升該性能,係被要求有更進一 步之改善。 〇 【發明內容】 〔發明所欲解決之課題〕 本發明,係有鑑於上述一般之現狀而進行者,其目的 ,係在於提供一種將透明性與導電性高度地同時達成之電 極基板。 〔用以解決課題之手段〕 本發明,係並非如同先前技術一般地僅藉由1層之導 〇 電層來使透明性與導電性同時達成,而是根據將保證透明 性之導電層與保證導電性之導電層分開爲2層來形成之完 全嶄新的知識所進行者。 亦即是,本發明之電極基板,係爲在透明性基材上被 形成有由第1導電性物質所成之第1導電層和由第2導電 性物質所成之第2導電層的電極基板,其特徵爲:該第1 導電層,係被形成在該透明性基材上,該第2導電層,係 以覆蓋該第1導電層的方式而被形成於該透明性基材上, 該第1導電層以及該第2導電層,係均形成細線狀之配線 -6- 200947472 圖案,該第2導電層之寬幅,當將該第1導電層之寬幅設 爲1的情況時,係爲1.5以上300以下,該第2導電性物 質,係具備有較該第1導電性物質更高之光透過率,但導 電性係較第1導電性物質更低。 於此,係以下述一般之構成爲理想:前述第1導電性 物質’係爲從由Ni、Cu、Ag、A1以及Cr所成之群中所選 擇的至少一種之金屬或是包含有該金屬之合金,前述第2 φ 導電性物質,係爲從由Ru、Re、Pb、Cr ' Sn、In以及Zn 所成之群中所選擇的至少一種之金屬的氧化物。 又,係以下述一般之構成爲理想:前述第1導電層, 其厚度係爲Ο.ΟΟΙμηι以上5μιη以下,其寬幅係爲 1 μιη 以 上3mm以下,前述第2導電層,其厚度係爲〇_〇〇1 μιη以 上Ιμπι以下,其寬幅係爲1.5μιη以上。 又,本發明,係亦有關於包含有上述之電極基板所成 的構件或是製品。 Ο 本發明之電極基板,係藉由具備有如同上述一般之構 成,而成功地同時高度達成了透明性與導電性者。 . 本發明之上述以及其他目的、特徵、局面以及優點, 應可藉由與所添附之圖面相關連地被理解之有關於本發明 之下述詳細說明,而成爲明瞭。 【實施方式】 以下,針對本發明作更詳細之說明。另外,在以下之 實施形態的說明中,雖係使用圖面來作說明,但是,在本 200947472 案之圖面中被附加有相同之參考符號者,係代表相同部分 或是相當之部分。 〈電極基板〉 如同在圖1中之該模式性剖面圖所示一般,本發明之 電極基板1〇〇,係在透明性基材101上形成由第1導電性 物質所成之第1導電層102與由第2導電性物質所成之第 Φ 2導電層103,而形成者,該第1導電層102,係被形成在 透明性基材1〇1上,該第2導電層103,係以覆蓋第1導 電層102之至少一部份的方式,而被形成在透明性基材 101 上。 亦即是,本發明之電極基板1 〇 〇,係以在透明性基材 101上形成有第1導電層102與第2導電層103之2個的 相異導電層一事爲特徵,並爲主要藉由第1導電層102來 保證導電性,並主要藉由第2導電層103來保證透明性者 〇 。藉由設爲此種構成,而成爲能夠將透明性與導電性高度 地同時達成。在本發明中,由此種第1導電層與第2導電 層所成之導電層,通常,多係在透明性基材上形成細線狀 之配線圖案(或是配線電路)。 另外,此種本發明之電極基板’就算是僅在電極基板 之一部分包含有上述一般之構成,亦視爲被包含在本發明 之範圍內者,且就算是例如形成有第1導電層以及第2導 電層以外之其他導電層或是其他電路構成要素,亦並非爲 脫離本發明之範圍者。 -8 - 200947472 〈透明性基材〉 在本發明中所使用之透明性基材,只要是具備有透明 性及絕緣性者,則並不特別作限定,只要是在此種用途中 所使用之先前技術所週知的絕緣性透明基板,則並不特別 限定,可使用任意之物。另外,在本發明中之透明性基材 ,係以波長3 50〜800nm之光透過率成爲50%以上者爲理 〇 想,進而,係以其之光透過率成爲80%以上爲更理想。此 係因爲,若是光透過率未滿50%,則會有無法達成作爲透 明電極之功能的情況之故。 作爲此種透明性基材,係以從由聚對苯二甲酸乙二酯 (PET)、聚萘二甲酸乙二酯(PEN)、聚碳酯(PC)、 丙烯樹脂、醯胺、液晶聚合物、聚醯亞胺等之聚合物類、 玻璃、以及對於此些之表面而將透明性且絕緣性之有機化 合物又或是無機化合物作了塗布者所成之群中而選擇的至 © 少一種作爲素材來選擇爲理想。特別是PET,由於係爲低 價且亦不會產生碎裂等,而在強度上係爲優良,因此,係 . 特別適合於作使用。 又’透明性基材之厚度,係以設爲3 μιη以上5mm以 下爲理想。當該厚度未滿3μιη的情況時,會有強度並不充 分或是使加工成爲困難的情況,而若是超過5mm,則會有 使光透過率惡化的情況。更理想之厚度,其上限係爲3 mm 、更理想係爲1mm,而其下限係爲30μιη,更理想係爲 5 0 μιη。 200947472 〈第1導電層〉 本發明之第1導電層,主要係爲具備對電極基板之導 電性作保證的作用者,而由第1導電性物質所成,並被形 成於上述透明性基材上。此種第1導電層,通常,係以構 成細線狀之配線圖案的方式而被形成。 於此,該第1導電性物質,只要是具備有良好之導電 Φ 性,則係並不作特別限定,而可使用任意之物,但是,特 別是以使用從Ni、Cu、Ag、A1以及Cr所成之群中所選擇 的至少一種之金屬或是包含有該金屬之合金爲理想。此係 因爲,此些之金屬或合金,係在低價的同時,亦具有優良 導電性,並且不會產生碎裂等,而會成爲具有優良之強度 (亦即是安定之品質)者之故。特別是Cu,係低價且電 阻爲低(亦即是導電性係爲良好),且展現有優良之延展 性,又,亦不會產生碎裂,因此,可特別合適地作使用。 G 又,藉由此種第1導電性物質所構成之第1導電層, 雖然亦係依存於該第1導電性物質之種類,但是,較理想 ,其之厚度係爲0.001 μιη以上5μηι以下,其之寬幅係爲 Ιμιη以上3mm以下。當其之厚度成爲未滿0.00 1 μπι的情 況時,由於係容易產生針孔,因此,會有電阻變高的情況 ,而若是超過5μπι,則使寬幅變窄一事係成爲困難,其結 果,會成爲使透明性惡化。另一方面,當其之寬幅成爲未 滿1 μιη的情況時,會有使導電性降低的情況,而若是超過 3mm,則會有使透明性惡化的情況。如此這般,該當第1 -10-
200947472 導電層,雖然並非本身具備有透明性者,但是,傍 厚度以及寬幅降低(亦即是藉由細線化),而謀求 高導電性的同時而防止光遮蔽性(光透過性的降低 此種第1導電層之更理想之厚度,其上限係爲 、更理想係爲〇.3μιη,而其下限係爲Ο.ΟΙμιη,更理 Ο.ίμιη。又,第 1導電層之更理想之寬幅,其上 5 0μιη、更理想係爲15μιη,而其下限係爲3μιη,更 爲 5μιη。 另外,本發明之第1導電層,係亦可藉由相S 第1導電性物質,來作爲複數之層而形成之。例功 舉出:首先在透明性基材上形成藉由Ni與Cr而尽 所構成之層(方便上,記述爲「第1導電層a」) 其上形成由Cu所成之層(方便上,記述爲「第1 b」)者等。於此情況,係將第1導電層a之寬梅 導電層b之寬幅設爲相同,並將第1導電層a之n 1導電層b之厚度的合計設爲第1導電層之厚度。 另外,第1導電層,由於係如此這般地藉由;zf 爲金屬之第1導電性物質所構成,因此,係具備 生遷移(指作爲配線或電極所使用之金屬移動至 上並使絕緣不良或是短路產生的現象)的缺點, 遷移之發生,係可藉由形成後述之第2導電層( 覆蓋第1導電層的方式來形成第2導電層)一事 如此這般,本發明,係藉由具備有本發明之構成 能夠極爲有效地防止在第1導電層處之遷移的產 藉由將 在保持 )0 0.5 μιη .想係爲 限係爲 理想係 相異之 ,可列 之合金 ,並於 導電層 與第1 度與第 質上係 容易產 緣物之 是,此 別是以 防止。 而發揮 之效果 -11 - 200947472 者。 〈第2導電層〉 本發明之第2導電層,主要係爲在具備有導電性的 時’亦具備有對透明性作保證的作用者,而由第2導電 物質所成’並以覆蓋上述第1導電層之至少一部份的方 而被形成於透明性基材上。此種第2導電層,係以將如 0 上述一般而被形成爲細線狀之第1導電層的全面作覆蓋 方式來形成爲理想,但是,就算是第1導電層在表面處 分性的露出,亦並非爲脫離本發明之範圍者。 於此’該第2導電性物質,只要是具備有導電性且 備有透明性者,則係並不作特別限定,但是,特別是以 用從Ru、Re、Pb、Cr、Sn、In以及Zn所成之群中所選 的至少一種之金屬的氧化物爲理想。此係因爲其係成爲 具有導電性的同時亦具備有優良之透明性者之故。作爲 〇 種第2導電性物質,更理想,係可列舉有ITO ( Sn與 之氧化物,質量比時Sn/In/0=2〜15/65〜95/3〜 )、SnO ( Sn之氧化物)、RuO ( Ru之氧化物)、ReO Re之氧化物)、ZnO ( Zn之氧化物)等。 又,藉由此種第2導電性物質所構成之第2導電層 較理想,其之厚度係爲Ο.ΟΟΙμπι以上Ιμηι以下,其之寬 係爲1.5 μιη以上。當其之厚度成爲未滿0.001 μ®的情況 ,由於係容易產生針孔’因此,會有電阻變高的情況, 若是超過1 μι» ’則會成爲使透明性惡化。另一方面’當 同 性 式 同 的 部 具 使 擇 在 此 In 30 幅 時 而 其 -12- 200947472 之寬幅成爲未滿1·5μιη的情況時,相對上第1導電層之比 例係變高,而會使透明性惡化。另一方面,該寬幅之上限 係並未被特別限定,在相對於第1導電層之寬幅而成爲後 述之比例的範圍內,可任意作設定。如此這般,該當第2 導電層’相較於上述第1導電層其導電性係較低,但是, 係謀求透明性之提升。又,藉由以覆蓋第1導電層的方式 來形成此第2導電層,能夠防止第1導電層之遷移的發生 〇 此種第2導電層之更理想之厚度,其上限係爲0.1 μπι 、更理想係爲0.05μιη,而其下限係爲Ο.ΟΙμηι,更理想係 爲0.0 3 μιη。又,第2導電層之更理想之寬幅,其上限係 爲600μηι、更理想係爲3 00μπι,而其下限係爲4.5μπι,更 理想係爲7.5 μ m。 〈第1導電層與第2導電層之特性〉 © 如同上述一般之本發明的第2導電層之寬幅,當將上 述第1導電層之寬幅設爲1的情況時,係需要設爲1.5以 上3 00以下。藉由此’作爲電極基板全體,係成爲能同時 達成充分之導電性與充分之透明性者。當第2導電層之寬 幅成爲未滿1.5的情況時,由於爲了得到特定之導電性而 第1導電層之比例係變高’因此,係無法得到充分之透明 性,又,若是第2導電層之寬幅超過300,則由於第2導 電層之比例係變高,因此,係成爲難以得到充分之導電性 。第2導電層之更理想的寬幅,當將上述第丨導電層之寬 -13- 200947472 幅設爲1的情況時,其上限係爲100,更理想係爲50,又 更理想係爲20。 另外,於此,所謂第1導電層之寬幅,係指相對於被 形成爲細線狀之第1導電層的長度方向之垂直方向(橫方 向)的長度,例如,若以圖1爲例,則係代表以Wi所表 示之長度,而第2導電層之寬幅係同樣的,爲在同圖中以 W2所表示之長度。如此這般,各別之寬幅,係設爲將雨 〇 者被層積的同一地點之寬幅作比較者。 又,如同上述一般所被規定之第1導電層與第2導電 層的寬幅之比例,係以在長度方向上之全區域中均滿足爲 理想,但是,就算是在長度方向之20%以下的區域中包含 有未滿上述比例之部分,亦並非爲脫離本發明之範圍者。 進而,在構成第1導電層之第1導電性物質與構成第 2導電層之第2導電性物質中,該第2導電性物質,係需 要爲:相較於該第1導電性物質而具備有更高之光透過率 Ο ,但是導電性係較該第1導電性物質爲更低。藉由此,能 夠藉由第1導電層而保證導電性,並藉由第2導電層而保 證透明性。另外,在本發明中之所謂導電性,係指電性傳 導度,但是,亦可將電阻値作爲指標。 另外,於此’光透過率以及導電性,係設爲將作比較 之第1導電性物質與第2導電性物質在相同之測定條件下 作測定者’但是’該測定條件,係可爲在先前技術中所週 知之任意的測定條件下所測定者。 -14- 200947472 〈製造方法〉 本發明之電極基板,只要具備有上述一般之構成,則 並不對其之製造方法特別作限定。例如,可藉由下述一般 之製造方法A〜D中的任一者來製造,且並非僅被限定於 此些者。 〈製造方法A〉 © 在透明性基材上,以使第1導電層形成所期望之細線 狀的配線圖案(以下,單純記載爲「細線狀」)的方式, 來塗布光阻劑,並進行曝光、顯像。接下來,藉由將第1 導電性物質濺鏟爲該所期望之細線狀,來形成第1導電層 ,而後,將光阻劑剝離。 接下來,將光阻劑塗布成能夠將如同上述一般而被形 成爲細線狀的第1導電層作覆蓋地來形成第2導電層一般 的圖案,並進行曝光、顯像。接下來,藉由將第2導電性 〇 物質濺鍍爲該所圖案狀,來形成第2導電層,而後,將光 阻劑剝離。如此這般,能夠製造出在透明性基材上形成有 第1導電層與第2導電層所成的電極基板。 〈製造方法B > 藉由在透明性基材上之全面來濺鍍第1導電性物質, 而形成第1導電層。接下來,以使此第1導電層形成所期 望之細線狀一般的圖案,來在該第1導電層上塗布光阻劑 ,並進行曝光、顯像。而後,藉由進行蝕刻,而將不要部 -15 - 200947472 分之第1導電層除去,之後,藉由將光阻劑剝離,而形成 細線狀之第1導電層。 接下來,藉由在如同上述一般而被形成有第1導電層 的透明性基材上之全面來濺鍍第2導電性物質,而形成第 2導電層。接下來,以使此第2導電層成爲將上述第1導 電層作覆蓋者一般的圖案,來在該第2導電層上塗布光阻 劑,並進行曝光、顯像。而後,藉由進行蝕刻,而將不要 0 部分之第2導電層除去,之後,藉由將光阻劑剝離,而以 覆蓋第1導電層的方式來形成第2導電層。如此這般,能 夠製造出在透明性基材上形成有第1導電層與第2導電層 所成的電極基板。 〈製造方法C〉 在透明性基材上,將光阻劑塗布成使第1導電層形成 所期望之細線狀一般的圖案,並進行曝光、顯像。接下來 Ο ,藉由將第1導電性物質濺鍍爲該所期望之細線狀,來形 成第1導電層,而後,將光阻劑剝離。 接下來,藉由在如同上述一般而被形成有第1導電層 的透明性基材上之全面來濺鍍第2導電性物質,而形成第 2導電層。接下來,以使此第2導電層成爲將上述第1導 電層作覆蓋者一般的圖案,來在該第2導電層上塗布光阻 劑,並進行曝光、顯像。而後,藉由進行蝕刻,而將不要 部分之第2導電層除去,之後,藉由將光阻劑剝離,而以 覆蓋第1導電層的方式來形成第2導電層。如此這般,能 -16- 200947472 夠製造出在透明性基材上形成有第1導電層與第 所成的電極基板》 〈製造方法D〉 使用在透明性基材之全面上形成有第1導電 材,並藉由使此第1導電層形成所期望之細線狀 案,來在該第1導電層上塗布光阻劑,並進行曝 〇 。而後,藉由進行蝕刻,而將不要部分之第1導 ,之後,藉由將光阻劑剝離,而形成細線狀之第 〇 接下來,將光阻劑塗布成能夠將如同上述一 成爲細線狀的第1導電層作覆蓋地來形成第2導 的圖案,並進行曝光、顯像。接下來,藉由將第 物質濺鍍爲該圖案狀,來形成第2導電層,而後 劑剝離。如此這般,能夠製造出在透明性基材上 Ο 1導電層與第2導電層所成的電極基板。 另外,在上述之製造方法A〜D中的光阻劑 使用乾薄膜。又,亦可對於形成第1導電層之前 基材上、以及/又或是形成第2導電層前之第1 ,進行洗淨或是陽離子照射等之各種前置處理。 又,在上述之製造方法A〜D中,第1導電 2導電層,係藉由濺鍍而被形成,但是,其之形 係並非爲僅被限定於此者,亦可採用蒸鍍、電鑛 電鍍、印刷等之先前技術中所週知之任意的方法 2導電層 層後的基 一般的圖 光、顯像 電層除去 1導電層 般而被形 電層一般 2導電性 ,將光阻 形成有第 ,係亦可 的透明性 導電層上 層以及第 成方法, 、無電解 。又,第 -17- 200947472 1導電層以及第2導電層之配線圖案的形成方法,亦並未 被特別限定,可爲直接形成圖案之方法,亦可爲藉由飽刻 來形成圖案之方法。 〈用途〉 本發明之電極基板,係可極爲有效地利用爲液晶顯示 裝置、有機EL、電子紙 '太陽電池等的電子製品/電性 Φ 製品之電極。另外,本發明,係亦將包含有此種本發明之 電極基板的液晶顯示裝置、有機EL、電子紙、太陽電池 等的製品又或是構件作爲對象。 更進而,在此種製品又或是構件中,係包含有於其本 身之一部分中包含有本發明之電極基板的電極基板。 〔實施例〕 以下,係列舉實施例,來對本發明作更詳細之說明, © 但是,本發明,係並不被限定爲此些。 〈實施例1〉 作爲透明性基材101,使用具備有ΙΟΟμιη之厚度的薄 膜狀之PET (商品名:LUMINA,TOREI公司製),並於 此上層壓厚度ΙΟμιη之乾薄膜(商品名:RY3310,日立化 成工業公司製)。而後,以使第1導電層成爲所期望之細 線狀的配線圖案的方式,對於此層壓後之乾薄膜104進行 了曝光、顯像(圖2)。 -18- 200947472 接下來,將藉由此乾薄膜而形成了圖案的透明性基材 101投入至濺鍍裝置中’並使用Ar氣體來藉由離子槍而 照射了陽離子。接著’作爲第1導電性物質’而濺鍍Ni/ Cr合金(質量比下,Ni/Cr=80/20),並接著在此Ni /Cr合金上,作爲第1導電性物質而濺鍍Cu’藉由此’ 而形成了第1導電層102(圖3’但是’第1導電層係作 爲1層而展示)。在使用fib (聚焦離子束)裝置而對此 φ 第1導電層之剖面作了觀察後,Ni/ Cr合金層之厚度係爲 Ο.ΟΙμιη,而Cu層之厚度係爲〇.3μιη。 接下來,將形成了此第1導電層102後之透明性基材 1 〇 1,投入至光阻劑剝離裝置中,並藉由吹附上氫氧化鈉 水溶液,而將未形成圖案之部分的乾薄膜104從附著於第 1導電層上之狀態下而剝離,藉由此,而形成了圖案狀之 第1導電層(圖4)。於此,在使用光學顯微鏡而對此透 明性基材1 0 1之表面作了觀察後,能夠確認道:第1導電 ❹ 層102係在透明性基材101上而形成了寬幅ΙΟμιη的細線 狀之配線圖案(配線電路)。 接下來,在如此這般之被形成有第1導電層所致的圖 案之透明性基材101上,層壓與上述相同之乾薄膜105, 並以使第2導電層丨03形成爲將此第丨導電層1〇2作覆蓋 .的方式,來進行了曝光、顯像(圖5)。 接下來’將被層壓有此乾薄膜105的透明性基材1〇1 投入至濺鍍裝置中,並使用Ar氣體來藉由離子槍而照射 了陽離子。接下來,作爲第2導電性物質,而使用ITO( -19- 200947472
Sn、In之氧化物,在質量比下爲Sn/In =10/90),並 進而一面投入少量之氧一面濺鍍,藉由此,而在第1導電 層102上形成了由身爲第2導電性物質之ITO (在質量比 下,Sn/In/0=7.3/73.2/19.5)所成的第 2導電層 103(圖6)。在使用FIB裝置而對此第2導電層103之 剖面作了觀察後,該厚度係爲〇.〇3 μιη。 接下來,將如此這般而形成了第2導電層103後之透 Q 明性基材101,投入至光阻劑剝離裝置中,並藉由吹附上 氫氧化鈉水溶液,而將乾薄膜105從附著於第2導電層 1 03上之狀態下而剝離,藉由此,而形成了在透明性基材 101上形成第1導電層102與第2導電層103所成的本發 明之電極基板(圖1)。在使用光學顯微鏡而對此電 極基板1 0 0之表面作了觀察後,能夠確認:以將在透明性 基材1 0 1上作爲細線狀之配線圖案(配線電路)而被形成 的第1導電層102作覆蓋的方式,而被形成有寬幅250 μιη 〇 之第2導電層103。另外’在配線圖案(配線電路)中’ 係設計爲在相鄰之第2導電層間具備有20μπι之間隔。 〈實施例2〉 準備與實施例1相同之透明性基材1〇1’並將此透明 性基材101投入至濶鍍裝置中’並使用Ar氣體來藉由離 子槍而照射了陽離子。接著,作爲第1導電性物質,而在 透明性基材101之單側全面上濺鍍Ni/ Cr合金(在質量 比下,Ni/Cr= 80/ 20 ),並接著在此Ni/Cr合金上, -20- 200947472 作爲第1導電性物質而濺鍍Cu,藉由此,而在透明性基 材101之單側全面上形成了第1導電層102(圖7,但是 ,第1導電層係作爲1層而展示)。在使用FIB裝置而對 此第1導電層之剖面作了觀察後,Ni/ Cr合金層之厚度係 爲Ο.ΟΙμιη,而Cu層之厚度係爲〇.3μηι。 接下來,在上述所形成之第1導電層102上,層壓與 在實施例1中所使用者相同的乾薄膜104,並對於此層壓 〇 後之乾薄膜104,以使第1導電層102形成爲所期望的細 線狀之配線圖案的方式來進行了曝光、顯像(圖8)。 接下來,將此投入至蝕刻裝置中,並在對第1導電層 102作蝕刻的同時,將乾薄膜104剝離,藉由此,而在透 明性基材101上形成了圖案狀之第1導電層1〇2(圖9) 。於此,在使用光學顯微鏡而對此透明性基材101之表面 作了觀察後,能夠確認道:第1導電層1 02係在透明性基 材101上而形成了寬幅ΙΟμιη的細線狀之配線圖案(配線 Ο 電路)。 接下來,將如此這般而形成了第1導電層102所致之 圖案的透明性基材101投入至濺鍍裝置中,並使用Ar氣 體來藉由離子槍而對其之表面照射了陽離子。接下來,對 於其之表面的全面,作爲第2導電性物質,而使用IT 0( Sn、In之氧化物,在質量比下爲Sn/ In= 10/ 90 ),並 進而一面投入少量之氧一面濺鍍,藉由此,而在以圖案狀 而被形成有第1導電層102之透明性基材101上的全面, 形成了由身爲第2導電性物質之ITO(在質量比下,Sn/ -21 - 200947472
In/ 〇= 7.3/73.2/ 19.5)所成的第 2 導電層 103 (圖 10 )。在使用FIB裝置而對此第2導電層103之剖面作了觀 察後,該厚度係爲〇.〇3μηι。 接下來,在上述所形成之第2導電層103上,層壓與 上述相同的乾薄膜105,並對於此層壓後之乾薄膜105, 以使第2導電層覆蓋第1導電層1〇2並形成爲所期望的細 線狀之配線圖案的方式來進行了曝光、顯像(圖11)。 〇 接下來,將此投入至蝕刻裝置中,並在對不必要部分 之第2導電層103作蝕刻的同時,將乾薄膜105剝離,藉 由此,而得到了在透明性基材1 0 1上形成有第1導電層 102與第2導電層103而成的本發明之電極基板100(圖1 )°在使用光學顯微鏡而對此電極基板〗00之表面作了觀 察後,能夠確認:以將在透明性基材1 0 1上作爲細線狀之 配線圖案(配線電路)狀而被形成的第1導電層102作覆 蓋的方式,而被形成有寬幅250μιη之第2導電層103。另 外,在配線圖案(配線電路)中,係設計爲在相鄰之第2 導電層間具備有2 Ο μπι之間隔。
直到在透明性基材1 〇 1上形成圖案狀之第1導電層 1 02爲止,均和實施例1相同地而進行(圖2〜4 )。 接下來,與實施例2同樣的,以將在透明性基材101 上作爲細線狀之配線圖案(配線電路)狀而被形成的第1 導電層102作覆蓋的方式,而形成第2導電層103 (圖9 -22- 200947472 〜ll),藉由此’而得到了本發明之電極基板1〇〇(圖1 〈實施例4〉 直到在透明性基材101上形成圖案狀之第1導電層 102爲止,均和實施例2相同地而進行(圖7〜9)。 接下來,與實施例1同樣的,以將在透明性基材101 ❹ 上作爲細線狀之配線圖案(配線電路)狀而被形成的第1 導電層102作覆蓋的方式,而形成第2導電層103 (圖4 〜6),藉由此,而得到了本發明之電極基板100(圖1) 〇 〈實施例5〉 在實施例1中,除了將第2導電層之寬幅設爲18 μηι 以外,其他均與實施例1同樣的,而得到了本發明之電極 〇 基板。 〈實施例6〉 在實施例1中,除了將第2導電層之寬幅設爲ι〇〇μιη 以外,其他均與實施例1同樣的,而得到了本發明之電極 基板。 〈實施例7〉 在實施例1中,除了將第2導電層之寬幅設爲500μιη -23- 200947472 以外,其他均與實施例1同樣的,而得到了本發明之電極 基板。 〈實施例8〉 在實施例1中,除了將第2導電層之寬幅設爲 ΙΟΟΟμιη以外’其他均與實施例1同樣的,而得到了本發 明之電極基板。 ❹ 〈實施例9〉 在實施例1中’除了將第2導電層之寬幅設爲 2500μιη以外’其他均與實施例1同樣的,而得到了本發 明之電極基板。 〈實施例1 〇 > 在實施例1中’除了代替構成第1導電層之Cll層, ® 而形成由Ni所成之Ni層(厚度0_3μηι )以外,其他均與 實施例1同樣的’而得到了本發明之電極基板。 〈實施例1 1〉 在實施例1中’除了代替ΙΤ〇,而藉由Sn〇來形成第 2導電層(厚度〇·〇3μιη,寬幅25〇μιη)以外,其他均與實 施例1同樣的,而得到了本發明之電極基板。 〈比較例1 > -24- 200947472 準備與實施例1相同之透明性基材1 0 1,並將此透明 性基材101投入至濺鍍裝置中,並與實施例1同樣的,使 用Ar氣體來藉由離子槍而照射了陽離子。接下來,與實 施例1同樣的,作爲第2導電性物質而使用ITO,並進而 投入少量之氧而進行濺鍍,藉由此,而在透明性基材1〇1 之單側全面上形成了第2導電層103。 接下來,在上述所形成之第2導電層103上,層壓與 ❹ 在實施例1中所使用者相同的乾薄膜104,並對於此層壓 後之乾薄膜104,以使第2導電層103形成爲與實施例1 相同的細線狀之配線圖案的方式來進行了曝光、顯像。 接下來,將此投入至蝕刻裝置中,並在對第2導電層 103作鈾刻的同時,將乾薄膜104剝離,藉由此,而得到 了在透明性基材1 〇 1上僅形成了圖案狀之第2導電層1 03 的比較例之電極基板(圖1 2 )。 在使用FIB裝置而對此電極基板之第2導電層103的 〇 剖面作了觀察後,該厚度係爲0.05 μηι。於此,在使用光 學顯微鏡而對此透明性基材1 0 1之表面作了觀察後,能夠 確認到:第2導電層1 03係形成爲與實施例1相同之寬幅 25 0μηι的細線狀之配線圖案(配線電路)。 〈比較例2〉 在實施例1中,除了將第2導電層之厚度設爲〇·2μιη 以外,其他均與比較例1同樣的’而得到了比較例之電極 基板。 -25- 200947472 〈比較例3 > 在實施例1中,除了並不形成第2導電層,而僅形成 第1導電層以外,其他均與實施例1同樣的,而得到了比 較例之電極基板。 〈比較例4 > ❹ 在實施例1中,除了將第2導電層之寬幅設爲13 μιη 以外,其他均與實施例1同樣的,而得到了比較例之電極 基板。 〈比較例5 > 在實施例 1中,除了將第 2導電層之寬幅設爲 3 5 00 μιη以外,其他均與實施例1同樣的,而得到了比較 例之電極基板。 ❹ 〈評價〉 使用在上述之實施例1〜1 1以及比較例1〜5中所得 到的電極基板,如同以下一般的而對導電性、透明性、耐 遷移性作了評價。將其評價結果展示於表1中。 (導電性之評價一電阻之測定) 使用電阻測定裝置(三菱化學公司製,商品號碼: MCP-T610 ),並藉由四端子法,而將每一點之測定面積 -26- 200947472 設爲直徑20mm的圓圈,並在配線圖案(配線電路)部中 對相異之5點(但是,此5點之測定場所,在各實施例/ 比較例中係爲共通)之電阻値作測定,而於表1中展示其 平均値。在各實施例/比較例間,由於配線圖案係以使第 2導電層間之間隔如上述一般而成爲20μπι的方式而被設 計,因此,在各測定場所處,係成爲因應於第1導電層之 寬幅與第2導電層之寬幅間的比例而存在有兩者。另外, u 該數値爲越小者,則代表導電性係爲越優良。 (導電性之評價一線間電性傳導度之測定) 使用LCR測計(Custom公司製,商品號碼:ELC-100 ),並測定配線圖案(配線電路)部之兩端間的電性傳導 度,並將其結果展示於表1中。在各實施例/比較例間, 由於係以使配線圖案之兩端間的距離成爲相等的方式而被 設計,因此,數値越小者,則代表導電性係越優良。
G (透明性之評價) ' 使用濁度計(日本電色工業公司製,商品號碼: NDH-2000 ),並藉由與上述之電阻測定爲相同的測電面 積以及測定場所(5點),來測定配線圖案(配線電路) 部之光透過率,並將其平均値展示於表1中。在各實施例 /比較例間,由於配線圖案係以使第2導電層間之間隔如 上述一般而成爲20μιη的方式而被設計,因此,在各測定 場所處,係成爲因應於第1導電層之寬幅與第2導電層之 -27- 200947472 寬幅間的比例而存在有兩者。另外,該數値爲越大者,則 代表透明性係爲越優良。 (耐遷移性之評價) 使用遷移試驗裝置(ESPEC公司製,商品號碼:AMI-025-PL-5),而在將電極基板保持爲溫度85°C、濕度85 %的同時,在配線圖案(配線電路)部處將60mV之電壓 〇 持續施加48小時。而後,藉由使用光學顯微鏡來觀察其 之配線圖案部,而確認了遷移之有無。將第1導電層之產 生有遷移者設爲「有」,並將未產生有遷移者設爲「無j 5而將其結果展不於表1中。 -28- 200947472 〔表1〕 (導電性之評價) 透明性之 評價[%] 耐遷移性 之評價 電阻[Ω] 線間電性傳導度[kQ] 實施例1 3.5 0.3 87 ^ΤΓ Μ 實施例2 3.5 0.3 87 4ητ m 實施例3 3.5 0.3 87 4πτ. m 實施例4 3.5 0.3 87 -frrr 無 實施例5 0.5 0.3 55 /ήτρ 無 實施例6 1.6 0.3 69 fte 實施例7 7.0 0.3 89 4rrr 無 實施例8 14.0 0.3 90 4rrr m 實施例9 29.0 0.3 91 yfrrr. M 實施例10 11.0 0.9 87 M 實施例11 3.3 0.3 87 M 比較例1 33.0 60 85 M j\w 比較例2 270.0 400 87 /hr nil 比較例3 3.6 0.3 88 有 比較例4 0.45 0.3 45 M 比較例5 47.5 0.3 91 乂\、' Ο 如同由表1而可明瞭一般,具備有本發明之構成的電 極基板,相較於比較例之電極基板,係將導電性與透明性 高度地同時達成。 雖對此發明而詳細地說明並作了展示’但是’此係僅 爲用以例示者,而並非用以作限定,明顯的’應該理解到 ,發明之精神與範圍,係僅經由所添附之申請專利範圍而 被限定。 【圖式簡單說明】 -29- 200947472 圖1,係爲本發明之電極基板的模式性剖面圖。 圖2,係爲電極基板之製造途中的處理品,並爲在透 明性基材上將乾薄膜作了層壓並曝光、顯像後之狀態的模 式性剖面圖。 圖3,係爲電極基板之製造途中的處理品,並爲在乾 薄膜上形成了第1導電層後之狀態的模式性剖面圖。 圖4,係爲電極基板之製造途中的處理品,並爲在透 〇 明性基材上形成了配線圖案狀之第1導電層後之狀態的模 式性剖面圖。 圖5,係爲電極基板之製造途中的處理品,並爲在透 明性基材上將第2導電層形成用之乾薄膜作了層壓並曝光 、顯像後之狀態的模式性剖面圖。 圖6,係爲電極基板之製造途中的處理品’並爲在第 1導電層上形成了第2導電層後之狀態的模式性剖面圖。 圖7,係爲電極基板之製造途中的處理品,並爲在透 〇 明性基材上之單側全面形成了第1導電層後之狀態的模式 性剖面圖。 圖8,係爲電極基板之製造途中的處理品’並爲在第 1導電層上將乾薄膜作了層壓並曝光、顯像後之狀態的模 式性剖面圖。 圖9,係爲電極基板之製造途中的處理品,並爲在透 明性基材上形成了配線圖案狀之第1導電層後之狀態的模 式性剖面圖。 圖10,係爲電極基板之製造途中的處理品’並爲在第 -30- 200947472 1導電層上形成了第2導電層後之狀態的模式性剖面圖。 圖11,係爲電極基板之製造途中的處理品,並爲在第 2導電層上將乾薄膜作了層壓並曝光、顯像後之狀態的模 式性剖面圖。 圖1 2,係爲比較例之電極基板的模式性剖面圖。 【主要元件符號說明】 〇 1〇〇:電極基板 1 0 1 :透明性基材 102 :第1導電層 103 :第2導電層 104 :乾薄膜 105 :乾薄膜 ❹ -31 -

Claims (1)

  1. 200947472 七、申請專利範圍: 1· 一種電極基板,係爲在透明性基材上被形成有由 第1導電性物質所成之第1導電層和由第2導電性物質所 成之第2導電層的電極基板,其特徵爲: 前述第1導電層,係被形成在前述透明性基材上, 前述第2導電層,係以覆蓋前述第1導電層的方式而 被形成於前述透明性基材上, © 前述第1導電層以及前述第2導電層,係均形成細線 狀之配線圖案, 前述第2導電層之寬幅,當將前述第1導電層之寬幅 設爲1的情況時,係爲1.5以上300以下, 前述第2導電性物質,係具備有較前述第〗導電性物 質更高之光透過率’但導電性係較第1導電性物質更低。 2 ·如申請專利範圍第1項所記載之電極基板,其中 ® 前述第1導電性物質,係爲從由Ni、Cu、Ag、A1以 及Cr所成之群中所選擇的至少一種之金屬或是包含有該 金屬之合金, 前述第2導電性物質,係爲從由Ru、Re、Pb、Cr、 Sn、In以及Zn所成之群中所選擇的至少—種之金屬的氧 化物。 3-如申請專利範圍第1項所記載之電極基板,其中 , 前述第1導電層,其厚度係爲ο.οοίμιη以上5μιη以下 -32- 200947472 ,其寬幅係爲1 μ m以上3 m m以下, 前述第2導電層,其厚度係爲Ο.ΟΟΙμπι以上Ιμιη以下 ,其寬幅係爲1.5μιη以上。 4. 一種構件或是製品,其特徵爲: 係包含有如申請專利範圍第1項中所記載之電極基板 所成。
    -33-
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