TW200840106A - Organic thin film transistor and organic thin film light-emitting transistor - Google Patents

Organic thin film transistor and organic thin film light-emitting transistor Download PDF

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TW200840106A TW096143044A TW96143044A TW200840106A TW 200840106 A TW200840106 A TW 200840106A TW 096143044 A TW096143044 A TW 096143044A TW 96143044 A TW96143044 A TW 96143044A TW 200840106 A TW200840106 A TW 200840106A
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Masatoshi Saito
Yuki Nakano
Hiroaki Nakamura
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Description

200840106 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於具有有機半導體層之有機薄 有機薄膜發光電晶體,特別是關於含有具有高 合物,且可高速運轉之有機薄膜電晶體及使用 元件使用之有機薄膜發光電晶體。 【先前技術】 薄膜電晶體(TFT),被廣泛使用於作爲液 等的顯示用的開關元件,代表性的T F T的截 於圖2,同圖所表示,TFT係於基板上依序具 絶緣層,絶緣體層上具有間隔所定的距離而形 及汲電極,包括雙方的電極的一部份表面,露 之絶緣體層上,半導體層被形成。如此構成的 體層形成有通道區域,藉由外加於閘電極的電 電極與汲電極間所流動的電流而產生開/關動作 先前技術之TFT係使用非晶形或多結晶 但會有使用如此的矽製作TFT所使用的CVD 非常貴,以及使用TFT的顯示裝置的大型化 成本的大幅增加等伴隨而來的問題。此外,因 多結晶的矽進行成膜的製程在高溫下進行,故 使用的材料的種類受到限制,會有無法使用輕 板等的問題。 爲了解決此等問題,提議使用有機物取代 膜電晶體及 遷移度之化 其作爲發光 晶顯示裝置 面結構列示 有閘電極及 成的源電極 出於電極間 TFT,半導 壓而控制源 〇 的矽製作, 裝置,價格 ,而使製造 爲非晶形或 可作爲基板 量的樹脂基 非晶形或多 -5- 200840106 結晶的矽之TFT,以有機物形成TFT時所使用的成膜方 法,已知有真空蒸鍍法或塗佈法,但依據此等的成膜方 法,可在抑制製造成本的上昇下實現元件的大型化,可使 成膜時所必須的製程溫度處於較低的低溫。因此,使用有 機物的TFT,具有選擇基材所使用的材料時限制較少的優 點,其實用化可期,關於使用有機物的TFT,有許多報告 被提出,可列舉例如非專利文獻1〜2 0等。 此外,TFT的有機化合物層中所使用的有機物,p型 係共軛系聚合物或噻吩等多聚物(專利文獻1〜5等)、金屬 酞菁化合物(專利文獻6等)、戊省等縮合芳香族烴(專利 文獻7及8等)等,以單體或與其他化合物的混合物的狀 態被使用,此外,η型的FET的材料,例如專利文獻9中 揭示1,4,5,8-萘四羧基二脫水物^1^0八)、11,11,12,12-四 氰萘並-2,6-蓖嗦二甲烷(TCNNQD)、l,4,5,8-萘四羧基二醯 亞胺(NTCDI)等,專利文獻10中揭示氟化酞菁。 而且,專利文獻12中記載著關於芳基亞乙基取代芳 香族化合物及使用於有機半導體,惟對絶緣層施以單分子 膜處理後,藉由一邊加熱一邊形成半導體層等複雜的步驟 製作有機TFT元件。 再者,非專利文獻19中記載著苯撐乙烯聚合物(poly-p-phenylenevinylene(PPV))的電子遷移度,但爲 1CT 4cm2/Vs非常小,未達到實用性。亦即高分子化合物之 P P V,因爲主鏈結構長所造成的彎折、或因爲所具有的分 子量分佈所造成的結晶結構的混亂’而使電場效果遷移度 -6 - 200840106 變小。 另一方面,雖有同樣是作爲使用電傳導的裝置之有有 機電致發光(EL)元件,但有機EL元件,一般相對於在 10 0nm以下的超薄膜的膜厚方向上施加105V/cm以上的強 電場而使電荷強制地流動,在有機TFT時必須於數μιη以 上的距離以105V/cm以下的電場使電荷高速地流動,有機 物本身必須具有更上一層的導電性,惟,於先前技術的 TFT ’上述化合物係電場效果遷移度小、應答速度慢,在 作爲電晶體的高速應答性上有問題,此外,開/關比亦 小。此處所言的開/關比之意,係指施加閘電壓時(開)的 源-汲間流動的電流,除以未施加閘電壓時(關)的源-汲間 流動的電流之値,而開電流之意,係指通常在增加閘電壓 時’源-汲間流動的電流呈飽和時的電流値(飽和電流)。 專利文獻1 :特開平8-228034號公報 專利文獻2:特開平8-228035號公報 專利文獻3 :特開平9 - 2 3 2 5 8 9號公報 專利文獻4:特開平1〇_125924號公報 專利文獻5:特開平10-190001號公報 專利文獻6:特開2000-174277號公報 專利文獻7 :特開平5 - 5 5 5 6 8號公報 專利文獻8 :特開2 0 0 1 - 9 4 1 0 7號公報 專利文獻9 ··特開平1 〇 - 1 3 5 4 8 1號公報 專利文獻1 〇 :特開平1 1 - 2 5 1 6 0 1號公報 專利文獻1 1 :特開2005- 1 4223 3號公報 200840106 專利文獻12 :國際公開W02006/1 1 3205號公報 非專利文獻 1 : F. Ebisawa 等人,Journal of Applied Physics,54 卷,3 25 5 頁,1 983 年 非專利文獻 2: A. Assadi 等人,Applied Physics Letter,53 卷,195 頁,1988 年 非專利文獻 3: G. Guillaud 等人,Chemical Physics Letter,167 卷,5 03 頁,1 990 年 非專利文獻 4 : X. Peng 等人,Applied Physics Letter, 57 卷,2013 頁,1990 年 非專利文獻 5 : G. Horowitz 等人,Synthetic Metals, 41-43 卷,1127 頁,1991 年 非專利文獻 6: S· Miyauchi 等人,Synthetic Metals, 41-43 卷,1991 年 非專利文獻 7: H. Fuchigami 等人,Applied Physics Letter,63 卷,1 3 72 頁,1 993 年 非專利文獻 8 : H. Koezuka 等人,Applied Physics Letter,62 卷,1 794 頁,1 993 年 非專利文獻 9: F· Garnier等人,Science, 265卷, 1684 頁,1994 年 非專利文獻 10: A. R. Brown 等人,Synthetic Metals, 68 卷,65 頁,1994 年 非專利文獻 11 : A. Dodabalapur 等人,Science,268 卷,270頁,1 995年 非專利文獻 12: T. Sumimoto 等人,Synthetic Metals, 200840106 86 卷,2259 頁,1997 年 非專利文獻 13 : K. Kudo 等人,Thin Solid Films,331 卷,51頁,1998年 非專利文獻 14: K. Kudo 等人,Synthetic Metals, 102 卷,900頁,1 999年 非專利文獻 15: K· Kudo 等人,Synthetic Metals, 111-112 卷,11 頁,2000 年 非專利文獻 16: Advanced Materials 13 卷,16 號, 2001 年,1273 頁 非專利文獻 17: Advanced Materials 1 5 卷,6 號, 2003 年,478 頁 非專利文獻 18: W. Geens 等人,Synthetic Metals, 122 卷,191 頁,2001 年 非專利文獻 19: Lay-Lay Chua 等人,Nature, 434 卷, 2005年3月10日號,194頁 非專利文獻 20: Hong Meng 等人,Journal of American Chemical Society, 128 卷,93 04 頁,2006 年 【發明內容】 [發明所欲解決之課題] 本發明係爲了解決上述課題而完成的發明,其目的在 於提供應答速度(驅動速度)高速,且開/關比大之有機薄膜 電晶體及利用其之有機薄膜發光電晶體。 200840106 [用以解決課題之手段] 本發明者等人,爲了達成上述目的而重複精心硏究的 結果’發現藉由於有機薄膜電晶體的有機半導體層中使用 具有下述一般式(a)所表示的結構之有機化合物,可使應 答速度(驅動速度)高速化,因而完成本發明。 亦即,本發明係提供有機薄膜電晶體,其爲基板上至 少設置閘電極、源電極與汲電極的3端子、絶緣體層及有 機半導體層,藉由對閘電極外加電壓而控制源-汲間電流 之有機薄膜電晶體,其特徵係有機半導體層含有具有下述 一般式(a)的結構之有機化合物, [化1]
R8 [式中,A爲碳數的2價的芳香族雜環基; Rrlo各自獨立地爲氫原子、鹵素原子、氰基、碳數 1〜30的烷基、碳數 1〜30的鹵烷基、碳數 1〜30的烷氧 基、碳數1〜30的鹵烷氧基、碳數1〜30的烷基硫基、碳數 1〜30的鹵烷基硫基、碳數1〜30的烷基胺基、碳數2〜60 的二烷基胺基(烷基可互相鍵結而形成含氮原子的環結 構)、碳數1〜30的烷基磺醯基、碳數1〜30的鹵烷基磺醯 基、碳數6〜60的芳香族烴基、碳數1〜60的芳香族雜環 -10- 200840106 基’此等各基可具有取代基,此外,亦可互相連結形成碳 數6〜60的芳香族烴基、或碳數的芳香族雜環基]。 此外’本發明係提供有機薄膜發光電晶體,其係於有 機薄膜電晶體中,利用在源-汲間流動的電流而獲得發 光,藉由對閘電極外加電壓而控制發光。 [發明效果] 本發明的有機薄膜電晶體,係應答速度(驅動速度)被 高速化,且開/關比大,作爲電晶體的性能高者,亦可作 爲可發光之有機薄膜發光電晶體使用。 [實施發明之最佳形態] 本發明的有機薄膜電晶體,其爲基板上至少設置閘電 極、源電極與汲電極的3端子、絶緣體層及有機半導體 層,藉由對閘電極外加電壓而控制源-汲間電流之有機薄 膜電晶體,其特徵係有機半導體層含有具有下述一般式(a) 的結構之有機化合物, [化2]
上述一般式(a)中,A爲碳數1〜60的2價的芳香族雜 -11 - 200840106 環基;含有6員環的芳香族雜環之芳香族雜環基或含有5 員環的芳香族雜環之芳香族雜環基較佳;含有6員環的芳 香族雜環之芳香族雜環基爲含有1個以上氮原子者,或含 有5員環的芳香族雜環之芳香族雜環基爲含有5員環的芳 香族雜環與苯環者更佳;含有5員環的芳香族雜環之芳香 族雜環基爲含有5員環的芳香族雜環與苯環者,而5員環 的芳香族雜環具有1個以上之氧原子或硫原子,且該苯環 上連接烯烴基之芳香族雜環基,或者3環以上經縮合的芳 香族雜環基特別佳。 該A的碳數1〜60的2價的芳香族雜環基的具體例 子,可列舉吡啶、吡嗪、喹啉、萘錠、喹喔啉、吩嗪、重 氮蒽、吡哆喹啉、嘧啶並喹唑啉、吡嗪並喹喔啉、菲繞 啉、咔唑、6,12 -二氫-6,12 -二氮雜茚並芴、二苯並噻吩、 二噻苯並二茚、二噻茚並茚、噻吩並噻吩、二噻吩並噻 吩、二苯並呋喃、苯並二呋喃、二苯並硒吩、二硒苯並二 節(diselenaindacene)、二硒節並節(diselenaindenoindene) 、二苯並矽咯(dibenzosilol)、苯醯噻吩並苯並噻吩 (benzothienobenzotiophene)等之 2 價的殘基。以 〇比曉、二 苯並噻吩、苯醯噻吩並苯並噻吩的2價的殘基較佳,此 外,2個烯烴基鍵結於相對於A而言爲對稱的位置之結構 較佳,使A與烯烴基所構成的結構成爲平面的狀態下進 行鍵結更佳,使A與烯烴基所構成的7Γ電子系變長的狀 態下進行鍵結又更佳。 此外,一般式(a)中,烯烴部份的立體結構混合亦 -12- 200840106 可’但以具有共軛主鏈爲配置於反式之立體結構作爲主成 份較佳。 因爲藉由具有如此的結構,分子的平面性變高,此 外,分子間的相互作用變大,故可得到高的性能。 一般式(a)中,各自獨立地爲氫原子、鹵素原 子、氰基、碳數1〜30的烷基、碳數1〜30的鹵烷基、碳數 1〜30的烷氧基、碳數1〜30的鹵烷氧基、碳數1〜3〇的烷 基硫基、碳數1〜30的鹵烷基硫基、碳數1〜30的烷基胺 基、碳數2〜60的二烷基胺基(烷基可互相鍵結而形成含氮 原子的環結構)、碳數1〜30的烷基磺醯基、碳數1〜30的 鹵烷基磺醯基、碳數6〜60的芳香族烴基、碳數1〜60的芳 香族雜環基,此等各基可具有取代基,此外,亦可互相連 結形成碳數6〜60的芳香族烴基、或碳數1〜60的芳香族雜 環基。 一般式(a)中,Ri、R5、R6及Rio各自獨立地爲氫原 子或氟原子較佳。 一般式(a)中,各自獨立地爲氫原子或碳數 1〜30的烷基;或者各自獨立地爲氫原子、鹵素原子、氰 基或碳數1〜3〇的鹵烷基較佳。 像這樣,使R2〜R4及R7〜R9爲選自上述之基,若使碳 數爲 30以下,一般式(a)中規則性控制部位(R2〜R4及 R7〜R9)所佔的比率不會變得太大,具有賦予電流控制之結 構的密度變大’可控制膜的規則性,可得到高的電場效果 遷移度與開/關比。 -13- 200840106 而且,上述一般式(a)中,R2〜R4及R7〜R9各自獨立地 爲氫原子、鹵素原子、氰基、碳數1〜30的烷基或碳數 1〜30的鹵烷基更佳。 此外’本發明的有機薄膜電晶體所使用的具有特定的 結構之有機化合物,基本上顯示出p型(電洞傳導)及η型 (電子傳導)之兩極性,藉由後述源、汲電極之組合,可ρ 型元件或η型元件進行驅動,但上述一般式(a)中,藉由 適當地選擇及取代於A的碳數1〜60的2價的芳香 族雜環基上之基,可更強化作爲ρ型及η型的性能。亦 即,藉由使用電子受容性的基,作爲及取代於A 的碳數1〜60的2價的芳香族雜環基上之基,降低最低非 佔有軌道(LUMO)階級而可使其作爲n型半導體之功能。 作爲電子受容性的基,較佳爲氫原子、鹵素原子、氰基、 碳數1〜30的鹵烷基、碳數1〜30的鹵烷氧基、碳數1〜30 的鹵烷基硫基、及碳數1〜3 0的鹵烷基磺醯基。此外,藉 由使用電子授與性的基,作爲及取代於Α的碳數 1〜6 0的2價的芳香族雜環基上之基,提高最高佔有軌道 (HOMO)階級而可使其作爲ρ型半導體之功能。作爲電子 授與性的基,較佳爲氫原子、碳數1〜3 0的烷基、碳數 1〜30的烷氧基、碳數1〜30的烷基硫基、碳數1〜30的烷 基胺基、碳數2〜60的二烷基胺基(烷基可互相鍵結而形成 含氮原子的環結構)。 以下,說明一般式(a)的所表示的各基的具體 例子。 -14- 200840106 上述鹵素原子可列舉例如氟、氯、溴及碘原子。 上述烷基可列舉甲基、乙基、丙基、異丙基、η-丁 基、s-丁基、異丁基、t-丁基、Π-戊基、η-己基、η-庚 基、η-辛基等。 上述鹵烷基,可列舉例如氯甲基、1-氯乙基、2-氯乙 基、2-氯異丁基、1,2-二氯乙基、1,3-二氯異丙基、2,3-二 氯-t-丁基、1,2,3-三氯丙基、溴甲基、1-溴乙基、2-溴乙 基、2-溴異丁基、1,2 -二溴乙基、1,3-二溴異丙基、2,3 -二 溴-t-丁基、1,23-三溴丙基、碘甲基、1-碘乙基、2-碘乙 基、2-碘異丁基、1,2-二碘乙基、1,3-二碘異丙基、2,3-二 碑-t-丁基、1,2,3 -三碑丙基、氟甲基、丨-氟甲基、2 -氟甲 基、2-氟異丁基、1,2-二氟乙基、二氟甲基、三氟甲基、 五氟乙基、全氟異丙基、全氟丁基、全氟環己基等。 上述烷氧基,爲以_0χ1表示之基’ χ1之例可列舉上 述烷基所說明的相同例子,上述的鹵烷氧基,爲以- 〇χ2 表示之基’ X2之例可列舉上述鹵院基所§兌明的相同例 子。 上述的烷基硫基,爲以-sxl表示之基’ χ1之例可列 舉上述院基所說明的相同例子,上述的鹵垸基硫基,爲 以_ S X 2表示之基,X 2之例可列舉上述鹵院基所說明的相 同例子。 上述烷基胺基,爲以_ΝΗΧ1表示之基’二院基胺基爲 以-NX1 X3表示之基,χ1及χ3之例可列舉上述院基所說明 的相同例子,再者’二院基胺基的院基可互相鍵結而形成 -15- 200840106 含氮原子的環結構,環結構可列舉例如吡咯烷、哌啶。 上述的烷基磺醯基,爲以-S02X1表示之基,χι之例 可列舉上述烷基所說明的相同例子,上述的鹵烷基磺醯 基,爲以-S〇2X2表示之基,X2之例可列舉上述鹵烷基所 說明的相同例子。 上述芳香族烴基,可列舉例如苯基、萘基、蒽基、菲 基、芴基、茈基、戊省基等。 上述芳香族雜環基,可列舉例如呋喃基、噻吩基、吡 咯基、吡唑基、咪唑基、三唑基、四唑基、噁唑基、異噁 唑基、噻唑基、噻二唑基、吡啶基、嘧啶基、苯並呋喃 基、苯並噻吩基、吲哚基、喹啉基、咔唑基、二苯並呋喃 基、二苯並噻吩基等。 再取代該一般式(a)中所表示的各基亦可之取代基, 可列舉芳香族烴基、芳香族雜環基、烷基、烷氧基、芳烷 基、芳基氧基、芳基硫基、烷氧基羰基、胺基、鹵素原 子、氰基、硝基、羥基、羰基等。 以下,可列舉本發明的有機薄膜電晶體的有機半導體 層所使用的具有特定的結構之有機化合物的具體例子,但 並非限定於此等具體例子。 -16- 200840106 [化3]
(A-1) (A-2) (A.3) (A-4) (A-5) (A-6) (A-7) (A-8) (A-9) (A-10) (A-11) (A-12) (A-13) 17- 200840106 [化4]
(A-14) (A-15) (A-16) (A-17) (A-18) (A-19) (A-20) (A-21) (A-22) (A-23) (A-24) (A-25) -18- 200840106 [化5]
(Β·1) (Β-2) (Β·3) (Β-4) (Β-5) (Β-6) (Β-7) (Β-6) (Β-9) (Β·10) (Β.11) (Β-12) (Β-13) 19 200840106 [化6]
(Β·14) (Β·15) (Β·16) (Β-17) (Β-18) (Β-19) (Β-20) (Β-21) (Β-22) (Β-23) (Β-24) (Β-25) (Β-26) (Β-27) (Β·28> 本發明的有機薄膜電晶體的有機半導體層所使用的化 合物,可用各種方法合成,例如可藉由Organic Reactions -20- 200840106
Volume 14.3 (John Wiley&Sons,Inc.)、Organic Reactions Volume 2 5.2 (John Wiley&Sons, Inc.)、Organic Reactions Volume 2 7.2 (John Wiley&Sons, Inc.)、Organic Reactions Volume 50.1 (John Wiley&Sons,Inc.)的文獻中所記載的方 法進行合成。此外,必要時可利用熱反應、光反應、加成 反應等使烯烴部份的立體一致成爲單一的位置異構物。 在如電晶體的電子裝置中,藉由使用材料的純度高 者,可得到電場效果遷移度或開/關比高的裝置。所以必 要時,希望藉由柱層析儀、再結晶、蒸餾、昇華等的手法 加以純化;較佳係可重複此等的純化方法,藉由組合複數 的方法提高純度,而且必要時希望重複至少2次以上的昇 華純化作爲純化的最終步驟。藉由使用經由使用此等的手 法之以HP LC測量的純度90 %以上的材料較佳,更佳爲使 用95%以上,特別佳爲使用99%以上的材料,可提高有機 薄膜電晶體的電場效果遷移度或開/關比,而引出材料原 本所具有的性能。 以下,說明關於本發明的有機薄膜電晶體的元件構 成。 作爲本發明的有機薄膜電晶體的元件構成,只要是基 板上至少設置閘電極、源電極與汲電極的3端子、絶緣體 層及有機半導體層,藉由對閘電極外加電壓而控制源-汲 間電流之有機薄膜電晶體,並沒有限制,亦可爲具有習知 的元件構成。 此等中’作爲代表的有機薄膜電晶體的元件構成之元 -21 - 200840106 件A〜D列示於圖1〜4,已知像這樣藉由電極的位置、層的 層合順序等而成的幾個構成,本發明的有機薄膜電晶體, 具有電場效果電晶體(FET : Field Effect Transistor)結 構,有機薄膜電晶體具有有機半導體層(有機化合物層), 與互相間隔所定的距離而對向形成的源電極及汲電極,與 各自與源電極、汲電極間隔所定的距離而形成的閘電極, 藉由對閘電極外加電壓而控制源-汲電極間流動的電流。 其中,源電極與汲電極的間隔依使用本發明的有機薄膜電 晶體的用途而決定,一般爲 Ο.ΐμπι〜1mm,較佳爲 Ιμηι 〜ΙΟΟμηι,更佳爲 5μηι 〜100μηιο 元件 A〜D中,以圖2的元件Β爲例子更詳細地說 明,元件B的有機薄膜電晶體,於基板上依序具有閘電極 及絶緣體層,於絶緣體層上具有間隔所定的距離所形成的 一對的源電極及汲電極,於其上形成有機半導體層。有機 半導體層形成通道區域,藉由對閘電極外加的電壓而控制 源電極與汲電極間流動的電流,產生開/關運轉。 本發明的有機薄膜電晶體,對於上述元件A〜D以外 的元件構成,亦提議作爲有機薄膜電晶體的各種構成,只 要藉由對閘電極外加的電壓而控制源電極與汲電極間流動 的電流,表現出開/關運轉或增強的效果之結構即可,對 於此等的元件構成並沒有限制。例如可爲由產業技術總合 硏究所的吉田等人於第49回應用物理學關係連合演講會 演講預稿集27a-M-3(2002年3月)中所提議的top/buttom 導電型有機薄膜電晶體(參考圖5),或可爲於由千葉大學 -22- 200840106 的工籐等人於電學會論文誌118-A(1998)1440頁中所提議 之如縱形的有機薄膜電晶體(參考圖6 )之元件構成。 (基板) 本發明的有機薄膜電晶體中的基板,擔任支持有機薄 fl旲電晶體的結構的任務,材料除了玻璃之外,可使用金屬 氧化物或氮化物等的無機化合物、塑膠薄膜(PET,peg, P C)或金屬基板或此等的複合物或層合物等,此外,可藉 由基板以外的構成要素,充分支持有機薄膜電晶體時,亦 可不使用基板。此外,多半使用矽(Si)晶圓作爲基板的材 料’此時’ Si本身可作爲閘電極兼基板使用,此外,亦 可氧化si的表面,形成si〇2而作爲絶緣層活用。此時, 如圖8所示’基板兼閘電極的Si基板上可形成au等金屬 層作爲導線連接用的電極。 (電極) 本發明的有機薄膜電晶體中,作爲閘電極、源電極與 汲電極的材料,只要是導電性材料即可,並沒有特別的限 制,可使用鉑、金、銀、鎳、鉻、銅、鐵、錫、銻鉛、 鉅、銦、鈀、締、銶、銥、鋁、釕、鍺、鉬、鎢、氧化 錫•銻、氧化銦•錫(IT〇)、氟摻雜氧化鋅、鋅、碳、石 墨、玻璃碳、銀膏及碳膏、鋰、鈹、鈉、鎂、鉀、鈣、 銃、鈦、錳、鉻、鎵、鈮、鈉、鈉_鉀合金、鎂、鋰、 鋁、鎂/銅混合物、鎂/銀混合物、鎂/鋁混合物、鎂/銦混 -23- 200840106 合物、鋁/氧化鋁混合物、鋰/鋁混合物等,使用此等時可 藉由濺鍍法或真空蒸鍍法進行成膜而形成電極。 有發明的有機薄膜電晶體中,作爲源電極、汲電極, 亦可利用使用含有上述的導電性材料之溶液、糊料、油 墨、分散液等的流動性電極材料所形成者。此外,作爲溶 劑或分散溶劑,爲了抑制對有機半導體的損害,以含有 6 〇質量%以上,較佳爲含有9 0質量%以上的溶劑或分散 溶劑爲佳。作爲含有金屬微粒子之分散物,例如可使用習 知的導電性糊料,但通常以含有粒徑爲〇.5nm〜5〇nm、 lnm〜10nm的金屬微粒子之分散物較佳。作爲此金屬微粒 子的材料,可使用例如鉛、金、銀、鎳、鉻、銅、鐵、 錫、鍊鉛、鉬、銦、銷、鈴、銶、銥、錦、釘、鍺、鉬、 鶴、鋅等。 使用主要由有機材料所成的分散安定劑,將此等的金 屬微粒子分散於水或任意的有機溶劑之分散劑中的分散物 形成電極較佳。如此的金屬微粒子的分散物的製造方法, 可列舉例如氣體中蒸發法、濺鍍法、金屬蒸氣合成法等的 物理的生成法,或膠體法、共沈澱法等之以液相還原金屬 離子而生成金屬微粒子的化學生成法。較佳爲藉由特開平 1 1 -76800號公報、特開平1 1 - 80647號公報、特開平11-3 1 9 5 3 8號公報、特開 2 000-23 9 8 5 3號公報中所揭示的膠 體法、特開200 1 -254 1 85號公報、特開200 1 -5 3 028號公 報、特開 2001-35255號公報、特開 2000-124157號公 報、特開2000- 1 23 634號公報等所記載的氣體中蒸發法所 -24- 200840106 製造的金屬微粒子的分散物。 使用此等的金屬微粒子分散物成形爲上述電極,使溶 劑乾燥後,必要時藉由以1 〇 〇。〇〜3 0 0 °c,較佳爲1 5 0 °C 〜2 0 0 °C的範圍加熱成形狀樣,使金屬微粒子熱熔著,形成 具有目標形狀的電極圖型。 而且,作爲閘電極、源電極與汲電極的材料,使用以 摻雜物等提高導電率之習知的導電性聚合物較佳,例如較 適合使用導電性聚苯胺、導電性聚吡略、導電性聚噻吩 (聚乙撐二氧基噻吩與聚苯乙烯磺酸的錯合物等)、聚乙撐 二氧基噻吩(P E D Ο T)與聚苯乙烯磺酸的錯合物等。藉由此 等的材料可降低源電極與汲電極之與有機半導體層的接觸 電阻。 形成源電極與汲電極的材料,上述例子中又以與有機 半導體層的接觸面中電阻較少者爲佳,此時的電阻,亦即 製作電流控制裝置時對應於電場效果遷移度,故爲了得到 大的遷移度必須儘可能減少阻抗,這點一般決定於電極材 料的功函數與有機半導體層的能量準位的大小關係。 電極材料的功函數(W)爲a,有機半導體層的電離電 勢(IP)爲b,有機半導體層的電子親和力(Af)爲^,則符 合以下的關係式較佳,其中,a、b及c皆爲以真空準位 爲基準之正的値。 P型有機薄膜電晶體時,爲b-a<1.5eV(式(I))較佳, 更佳爲b-a< l.OeV。與有機半導體層的關係中若可維持上 述關係,可得到高性能的裝置,特別佳爲選擇電極材料的 -25- 200840106 功函數儘量較大者,功函數4.OeV以上較佳,更佳爲功函 數4.2eV以上。 金屬的功函數的値,可選自例如化學便覧基礎11-493 頁(改訂3版日本化學會編九善股份有限公司發行1983 年)所記載之具有4.0eV或4.0eV以上的功函數之有效金 屬的上述內容較佳,高功函數金屬主要爲Ag(4.26,4.52, 4.64, 4.74eV)、Α1(4·06,4.24, 4.4e V)、Au(5 · 1,5.37, 5.47eV) 、 Be(4.98eV) 、 Bi(4.34eV) 、 Cd(4.08eV)、 Co(5.0eV) 、 Cu(4.65eV) 、 Fe(4.5, 4.67, 4.81eV)、
Ga(4.3eV)、Hg(4.4eV)、Ir(5.42,5.76eV)、Mn(4.1eV)、 Mo(4.53,4.55,4.95eV)、Nb(4.02,4.36,4.87eV)、Ni(5.04, 5.22, 5.3 5 eV)、Os(5.93eV)、Pb(4.25eV)、Pt(5.64eV)、
Pd(5.55eV)、Re(4.72eV)、Ru(4.71eV)、S b (4 · 5 5,4.7 e V)、 Sn(4.42eV) 、 Ta(4.0, 4.15, 4.8eV) 、 Ti(4.33eV)、 V(4.3eV)、W(4.47,4.63,5.25 eV)、Zr(4.05eV)此等中又以 貴金屬(Ag、Au、Cu、Pt)、Ni、Co、Os、Fe、Ga、Ir、 Mn、Mo、Pd、Re、Ru、V、W較佳。金屬以外,以如 ITO、聚苯胺或PEDOT : PSS的導電性聚合物及碳數爲 佳。即使含有1種或複數的此等高功函數的物質作爲電極 材料,只要功函數符合上述式(I)即可,並沒有特別的限 制。 η型有機薄膜電晶體時,爲a-c<1.5eV(式(II))較佳, 更佳爲a-c< 1 .OeV。與有機半導體層的關係中若可維持上 述關係’可得到高性能的裝置,但特別佳爲選擇電極材料 -26- 200840106 的功函數儘量較小者,功函數4.3eV以下較佳,更佳爲功 函數3.7eV以下。 低功函數金屬的具體例子’可選自例如化學便覧基礎 11 - 4 9 3頁(改訂3版曰本化學會編九善股份有限公司發 行1 98 3年)所記載之具有4.3 eV或4.3eV以下的功函數之 有效金屬的上述內容較佳,可列舉Ag(4.26eV)、Α1(4·06, 4.28eV) 、 Ba(2.52eV) 、 Ca(2.9eV) 、 Ce(2.9eV)、
Cs(l .95eV) 、 Er(2.97eV) Eu(2.5 e V) 、 Gd(3 . 1 e V)
Hf(3.9eV) 、 In(4.09eV) 、 K(2.28) 、 La(3.5eV)、
Li(2.93eV)、Mg(3.66eV)、Na(2.36eV)、Nd(3.2eV)、 Rb(4.25eV)、Sc(3 .5eV)、Sm(2.7eV)、T a (4 · 0,4.1 5 e V)、 Y(3.1eV)、Yb(2.6eV)、Zn(3.63eV)等,此等中又以 Ba、 Ca、Cs、Er、Eu、Gd、Hf、K、La、Li、Mg、Na、Nd、 Rb、Y、Yb、Zn較佳。即使含有1種或複數的此等低功 函數的物質作爲電極材料,只要功函數符合上述式(II)即 可,並沒有特別的限制。惟,低功函數金屬因爲與大氣中 的水分或氧接觸容易劣化,故必要時以在如Ag或Au的 空氣中爲安定的金屬進行被覆較佳,被覆所需要的膜厚必 須爲1 Onm以上,膜厚變厚則可受到保護而不受到氧及水 的影響’在實用上、提高生產性等的理由而言,較希望爲 1 μπι以下。 上述電極的形成方法,例如藉由蒸鍍、電子束蒸鍍、 濺鍍法、大氣壓電漿法、離子被覆、化學氣相蒸鍍、電 鍍、無電解鍍敷、旋轉塗佈、印刷或噴墨等手段而形成。 -27- 200840106 此外,必要時的圖型化之方法,有將使用上述方法所形成 的導電性薄膜,使用習知的微影術法或舉離法(lift-off method)進行電極形成之方法,於鋁或銅等金屬箔上藉由 熱轉印、噴墨等形成光阻而蝕刻之方法。此外,將導電性 聚合物的溶液或含有分散液、金屬微粒子的分散液等藉由 直接噴墨法而圖型化亦可,從塗佈膜藉由微影術或雷射消 熔法(laser ablation method)等形成亦可。而且亦可使用含 有導電性聚合物或金屬微粒子之導電性油墨、導電性糊料 等用凸版、平版、網版印刷等的印刷法進行圖型化之方 法。 如此作法所形成的電極的膜厚只要有電流的導通即 可,並沒特別的限制,較佳爲 0.2nm〜ΙΟμιη,更佳爲 4nm〜3 0 0nm的範圍。只要在此較佳的範圍內,不會發生 因爲膜厚薄而阻抗變高及電壓降低,此外,因爲未過厚, 故膜形成未花太多時間,層合保護層及有機半導體層等其 他層時,可在無產生段差下順利形成層合膜。 此外,本實施的有機薄膜電晶體,例如爲了提高注入 效率,可於有機半導體層及源電極與汲電極之間,設置緩 衝層。緩衝層係對於η型有機薄膜電晶體而言以有機EL 元件的陰極所使用的 LiF、Li20、CsF、NaC03、KC1、 MgF2、CaC03等鹼金屬、鹼土類金屬離子鍵之化合物爲 佳。此外,亦可插入Alq等之於有機EL元件中作爲電子 注入層、電子輸送層使用的化合物。 對於P型有機薄膜電晶體而言,以FeCl3、TCNQ、 -28 - 200840106 F4-TCNQ、HAT 等的氰化合物、CFx 及 Ge〇2、Si02、 M0O3、V2O5、VO2、V2O3、MnO、Mn3〇4、Zr02、WO3、 Ti〇2、In2〇3、ZnO、NiO、Hf02、Ta2〇5、Re03、pb〇2 等 鹼金屬、鹼土類金屬以外的金屬氧化物、ZnS、ZnSe等無 機化合物爲佳。此等氧化物有許多情況會引起氧損失,這 點適合電洞注入。而且,TPD或NPD等之胺系化合物及 CuPc(銅酞菁)等之於有機EL元件中作爲電洞注入層、電 洞輸送層使用之化合物亦可。此外,由上述的化合物二種 類以上所成者較佳。 已知緩衝層具有藉由降低載子的注入障壁而降低臨界 値電壓,低電壓驅動電晶體的效果,但,我等發現本發明 的化合物不僅低電壓效果,亦具有提高遷移度的效果。這 是因爲有機半導體與絶緣體層的界面中存在載子阱 (carrier trap),外加電壓後引起載子注入,則最初被注入 的載子被使用於埋住阱,但藉由插入緩衝層,以低電壓埋 住阱而提高遷移度。緩衝層只要以薄的厚度存在於電極與 有機半導體層之間即可,其厚度爲0.1 nm〜3 Onm,較佳爲 〇 . 3 nm〜2 0 nm 〇 (絶緣體層) 作爲本發明的有機薄膜電晶體中之絶緣體層的材料, 只要是具有電絶緣性且可形成薄膜者即可,並沒有特別的 限制,可使用金屬氧化物(包含矽的氧化物)、金屬氮化物 (包含矽的氮化物)、高分子、有機低分子等之於室溫的電 -29 - 200840106 阻率爲1 〇 Ω cm以上的材料,以電容率高的無機氧化物被 膜較佳。 無機氧化物,可列舉氧化矽、氧化鋁、氧化鉅、氧化 鈦、氧化錫、氧化釩、鈦酸鋇緦、錐酸鈦酸鋇、鉻酸鈦酸 鉛、鈦酸鉛鑭、鈦酸緦、鈦酸鋇、氟化鋇鎂、鑭氧化物、 氟氧化物、鎂氧化物、鉍氧化物、鈦酸鉍、鈮氧化物、鈦 酸緦鉍、鉅酸緦鉍、五氧化鉅、鉅酸鈮酸鉍、三氧化釔及 此等的組合,以氧化矽、氧化鋁、氧化鉅、氧化鈦較佳。 此外,氧化砂(Si3N4、SixNy(x、y>0))、氮化銘等無 機氧化物亦可適用。 而且,絶緣體層以含有烷氧基金屬之前驅物質形成亦 可,將此前驅物質的溶液,例如被覆於基板,將其藉由含 熱處理的化學溶液處理而形成絶緣體層。 上述烷氧基金屬中之金屬,例如選自過渡金屬、鑭 系、或主族元素,具體而言可列舉鋇(Ba)、緦(Sr)、鈦 (Ti)、鉍(Bi)、鉅(Ta)、鉻(Zr)、鐵(Fe)、鎳(Ni)、錳 (Μη)、鉛(Pb)、鑭(La)、鋰(Li)、鈉(Na)、鉀(K)、鉚 (Rb)、鉋(Cs)、鍅(Fr)、鈹(Be)、鎂(Mg)、鈣(Ca)、鈮 (Nb)、鉈(T1)、銀(Hg)、銅(Cu)、鈷(Co) ' 铑(Rh)、銃(Sc) 及釔(Y)等。此等,該烷氧基金屬中之烷氧基,可列舉例 如包含由甲醇、乙醇、丙醇、異丙醇、丁醇、異丁醇等醇 類,包含甲氧基乙醇、乙氧基乙醇、丙氧基乙醇、丁氧基 乙醇、戊氧基乙醇、庚氧基乙醇、甲氧基丙醇、乙氧基丙 醇、丙氧基丙醇、丁氧基丙醇、戊氧基丙醇、庚氧基丙醇 -30- 200840106 之烷氧基醇類等所衍生者。 本發明中,以如上述的材料構成絶緣體層,則絶緣體 層中易發生分極’可減低電晶體運轉的門檻電壓。此外, 上述材料中’又特別以Si3N4、SixNy、SiONx(x、y>0)等 的氮化矽形成絶緣體層,可更易產生空乏層,及更降低電 晶體運轉的門檻電壓。 作爲有機化合物的絶緣體層,可使用聚醯亞胺、聚醯 胺、聚酯、聚丙烯酸酯、光自由基聚合系、光陽離子聚合 系的光硬化性樹脂、含有丙烯腈成份之共聚物、聚乙嫌苯 酚、聚乙烯醇、酚醛清漆樹脂、及氰基乙基普路蘭 (cyanoethylpullulan)等。 另外’蠟、聚乙烯、聚氯芘、聚對苯二甲酸乙二醇 酯、聚甲醛、聚氯乙烯、聚偏氟乙烯、聚甲基丙烯酸甲 酯、聚颯、聚碳酸酯、聚醯亞胺氰基乙基普路蘭、聚(乙 烯苯酚)(PVP)、聚(甲基丙烯酸甲酯)(PMMA)、聚碳酸酯 (PC)、聚苯乙烯(PS)、聚烯烴、聚丙烯醯胺、聚(丙烯 酸)、酚醛清漆樹脂、甲階酚醛樹脂、聚醯亞胺、聚二甲 苯(polyxylyene)、環氧樹脂,再加上普路蘭等具有高電容 率之高分子材料。 作爲絶緣體層,特別佳爲具有撥水性的有機化合物, 藉由具有撥水性,抑制絶緣體層與有機半導體層的互相作 ^,利用有機半導體原本保有的凝聚性,可提高有機半導 體層的結晶性,且提昇裝置性能。如此的例子,可列舉 Yasuda 等人 Jpn. J . App 1. Phys. V ο 1 · 4 2 (2 0 0 3 ) p p · 6 6 14- -31 - 200840106 6618中所記載的聚對二甲苯衍生物及jan0s Veres等人 Chem· Mater·,ν〇1·16(2004)ρρ· 4543-4555 中所記載之 物。 此外,使用如圖1及圖4所示的頂閘結構時,使用如 此的有機化合物作爲絶緣體層的材料,對於可在減少對有 機半導體層所造成的損害下成膜而言爲有效的方法。 該絶緣體層,可爲使用如上述之複數的無機或有機化 合物材料之混合層,亦可爲此等的層合結構物。此時,必 要時可藉由混合、層合電容率高的材料與具有潑水性的材 料,可控制裝置的性能。 此外,該絶緣體層,可含有陽極氧化膜、或含有該陽 極氧化膜作爲構成亦可,陽極氧化膜被進行封孔處理較 佳,陽極氧化膜係將可陽極氧化的金屬藉由習知的方法經 陽極氧化而形成,可陽極氧化處理的金屬,可列舉鋁或 鉅,對於陽極氧化處理的方法並沒有特別的限制,可使用 習知的方法,藉由進行陽極氧化處理而形成氧化被膜。作 爲陽極氧化處理所使用的電解液,只要是可形成多孔質氧 化皮膜者,任何產品皆可使用,一般而言,可使用硫酸、 磷酸、草酸、鉻酸、硼酸、胺磺酸、苯磺酸等或者組合2 種以上此等的混酸或此等的鹽。陽極氧化的處理條件,依 所使用的電解液而有各種變化,故無法籠統的特定,但一 般而言,電解液的濃度爲1〜80%,電解液的溫度5〜70 °C、電流密度0.5〜60A/cm2、電壓1〜100伏特、電壓時間 1 〇秒〜5分的範圍爲適當條件。較佳的陽極氧化處理,係 -32- 200840106 使用硫酸、磷酸或硼酸的水溶液作爲電解液,以直流電流 處理之方法,但亦可使用交流電流。此等酸的濃度爲 5〜45質量%較佳,用電解液的溫度20〜50°C、電流密度 0.5〜20A/cm2電解處理20〜250秒較佳。 絶緣體層的厚度,因爲層的厚度薄則外加於有機半導 體的實效電壓變大,故可降低裝置本身的驅動電壓、臨界 電壓,但相反的在源-閘間的漏電變大,故必須選擇適當 的膜厚,通常爲l〇nm〜5μπι,較佳爲50nm〜2μηι,更佳爲 1 0 0 nm 〜1 μ m 〇 此外,該絶緣體層與有機半導體層之間,可施以任意 的配向處理,其較佳的例子,對絶緣體層表面施以撥水化 處理,降低絶緣體層與有機半導體層的相互作用,提高有 機半導體層的結晶性之方法。具體而言,可列舉將矽烷偶 合劑,例如十八烷基三氯矽烷、三氯甲基矽氮烷、或鏈烷 磷酸、鏈烷磺酸、鏈烷羧酸等的自我組織化配向膜材料, 在液相或氣相狀態下,使接觸於絶緣膜表面而形成自我組 織化膜(self-organization film)後,適當地施以乾燥處理 之方法。此外,爲了使其可使用於液晶的配向,在絶緣膜 表面設置以聚醯亞胺等所構成的膜,將其表面施以刷磨處 理之方法亦佳。 上述絶緣體層的形成方法,可列舉藉由真空蒸鍍法、 分子線外延成長法、離子團束法、低能量離子束法、離子 被覆法、CVD法、濺鍍法、特開平1 1 -6 1 406號公報、特 開平1 1 - 1 3 3 205號公報、特開2000- 1 2 1 804號公報、特開 •33- 200840106 2000-147209號公報、特開2〇〇〇_185362號公報中所記載 的大氣壓電漿法等乾式製程,及噴霧塗佈法、旋轉塗佈 法、刮板塗佈法、浸漬塗佈、澆鑄法、輥軋塗佈法、棒塗 佈、塑模塗佈法等塗佈法,藉由印刷或噴墨等圖型化之方 法等濕式製程’可依材料選擇使用。濕式製程,係使用在 任意的有機溶劑或水’必要時使用界面活性劑等分散輔助 劑分散無機氧化物的微粒子的溶液,進行塗佈、乾燥之方 法;及將氧化物前驅物,例如烷氧基金屬物的溶液,進行 塗佈、乾燥之所謂的溶膠-凝膠法。 本發明的有機薄膜電晶中之有機半導體層的膜厚,並 沒有特別的限制,但通常爲0.5nm〜Ιμπι,較佳爲 2nm〜2 5 Onm 〇 此外’有機半導體層的形成方法並沒有特別的限制, 適合使用習知的方法,例如藉由分子線蒸鍍法(MBE法)、 真空蒸鍍法、化學蒸鍍、將材料溶解於溶劑的溶液的浸漬 法、旋轉塗佈法、澆鐃法、棒塗法、輥軋塗佈法等印刷、 塗佈法或烘烤、電聚合、分子束蒸鍍、從溶液之自我組 成、及此等的組合之手段,用如上述的有機半導體層的材 料形成。 爲了提高有機半導體層的結晶性與提高電場效果遷移 度,使用由氣相的成膜(蒸鍍、濺鍍等)時,希望將成膜中 的基板溫度保持於高溫,此溫度較佳爲50〜25 0 , 7 0〜15 (TC更佳。此外,不論成膜方法,因爲成膜後實施退 火可得到高性能裝置而較佳,退火溫度爲5 0〜2 0 0 °C較 -34 - 200840106 佳,爲70〜200°C更佳,時間爲10分鐘〜12小時較佳,爲 1〜1 0小時更佳。 本發明中,有機半導體層中,可使用選自一般式(a) 材料的一種,亦可組合複數種,使用以戊省或噻吩寡聚物 等習知半導體所成的複數的混合薄膜或層合後使用。 本發明的有機薄膜電晶體的形成方法,並沒有特別的 限制,可依據習知的方法,但依照所希望的元件構成,使 基板投入、閘電極形成、絶緣體層形成、有機半導體層形 成、源電極形成、汲電極形成爲止的一連串的元件製作步 驟,在完全不接觸大氣下形成,因爲可防止經由與大氣接 觸而使大氣中的水分或氧等對元件性能造成阻礙而較佳。 不得已必須一度與大氣接觸時,使有機半導體層成膜以後 的步驟’爲完全不接觸大氣的步驟,在有機半導體層成膜 前’將層合有機半導體層之面(例如元件B時絶緣層上一 部份層合源電極、汲電極之表面),用紫外線照射、紫外 線/臭氧照射、氧電漿、氬電漿等清淨化•活性化後,層 合有機半導體層較佳。 而且,例如考慮大氣中所含的氧、水等對有機半導體 層的影響’亦可在有機電晶體元件的外周面的整面或一部 份’形成阻氣層。作爲形成阻氣層的材料,可使用此領域 常用的材料’例如聚乙烯醇、乙烯—乙烯醇共聚物、聚氯 乙烯、聚偏氟乙烯、聚氯三氟乙烯等。而且,亦可使用該 絶緣體層所列舉之具有絶緣性的無機物。 本發明中,有機薄膜電晶體可使用由源、汲電極注入 -35- 200840106 的電荷而作爲發光元件使用,亦即可將有機薄膜電晶體作 爲兼具發光元件(有機E L元件)的機能之有機薄膜發光電 晶體使用。這一點可藉由以閘電極控制源-汲電極間所流 動的電流而控制發光強度,因爲可統合用於控制發光的電 晶體與發光元件,因爲顯示器的開口率提高及製作製程的 簡易化而可降低成本,在實用上賦予較大的優點。作爲有 機發光電晶體使用時,上述詳細說明中所敍述的內容已足 夠,但爲了使本發明的有機薄膜電晶體作爲有機發光電晶 體運轉,必須由源、汲的其中一方注入電洞,從另外一方 注入電子,爲了提高發光性能,符合以下的條件較佳。 (源、汲) 本發明的有機薄膜發光電晶體,爲了提高電洞的注入 性,至少一方爲電洞注入性電極較佳,電洞注入電極係指 含有上述功函數4.2eV以上的物質之電極。 此外,爲了提高電子的注入性,至少一方爲電子注入 性電極,電洞注入電極係指含有上述功函數4 · 3 eV以下的 物質之電極。而且較佳係具備一方爲電洞注入性,且另一 方爲電子注入性的電極之有機薄膜發光電晶體。 (元件構成) 本發明的有機薄膜發光電晶體,爲了提高電洞的注入 性,在至少一方的電極與有機半導體層之間插入電洞注入 層較佳,電洞注入層中可列舉於有機EL元件作爲電洞注 -36 - 200840106 入材料、電洞輸送材料使用之胺系材料等。 此外,爲了提高電子的注入性,在至少一方的電極與 有機半導體層之間插入電子注入層較佳,與電洞同樣地可 於電子注入層中使用有機EL元件中所使用電子注入材料 等。 而且較佳爲其中一方的電極下具備電洞注入層,而且 另一方的電極下具備電子注入層之有機薄膜發光電晶體。 此外,本實施的有機薄膜發光電晶體,例如基於提高 注入效率之目的,亦可在有機半導體層與源電極及汲電極 之間設置緩衝層。 【實施方式】 接者’使用貫施例更S羊細地δ兌明本發明。 合成例1(化合物(Α-2)的合成) 如下述作法合成上述化合物(Α-2),合成流程如下 述。 [化7]
(Α-2) 將4-甲基苯甲醛2.40g(20mmol)、2,5-二甲基吡嗪 -37- 200840106 1.08g(10mmol)裝入燒瓶中,再加入乙酸酐(30ml),將反 應器在氬氣體環境下加熱回流,反應結束後,蒸餾去除溶 劑,加入氫氧化鈉水溶液,再藉由甲苯進行再結晶,得到 化合物(A-2)1.87g(產率60%)。藉由FD-MS(場解吸附質譜 分析)的測量,確認爲目的物,測量所使用的裝置、測量 條件、及所得到的結果列示如下。 裝置:HX 110(日本電子公司製) 條件:加速電壓 8kV 掃描區間m/z = 50〜1 500 結果:FD-MS,calcd for C22H20N2 = 312,found, m/z = 3 1 2(M + , 10 0) 合成例2(化合物(B-2)的合成) 如下述作法合成上述化合物(B-2),合成流程如下 述。 [化8]
將硼酸 3.24g(20mmol)、3,7-二溴二苯並噻吩 3.42g(10mmol)與肆三苯基膦鈀(0)0.11g(0.09mmol)裝入燒 瓶中,進行氬氣置換,再加入1,2-二甲氧基乙烷(30ml)、 -38- 200840106 2M碳酸鈉水溶液30ml(60mmol),將反應器在氬氣體環境 下,以90 °C加熱回流,反應結束後,進行過濾用己烷、 甲醇洗淨,再藉由甲苯進行再結晶,得到化合物(8_ 2 ) 3 · 3 3 g (產率 8 0 %)。藉由 F D - M S的測量,確認爲目的 物,測量所使用的裝置、測量條件、及所得到的結果列示 如下。 裝置:ΗΧ 110(日本電子公司製) 條件:加速電壓 8kV 掃描區間m/z = 50〜1500 結果:FD-MS, calcd for C3〇H24S = 416, found, m/z = 416(M +,10 0) 實施例1 有機薄膜電晶體依以下的順序製作,首先,將基板用 中性洗淨、純水、丙酮及乙醇各3 0分鐘超音波洗淨後, 用濺鍍法將金(An)成膜爲40nm的膜厚而製作閘電極,接 著,將此基板裝置在熱CVD裝置的成膜部,另一方面, 原料的蒸發部上將絶緣體層的原料的聚對二甲苯 (polyparaxylene)衍生物[聚氯化二甲苯(parylene)](商品 名:diX-C,第三化成股份有限公司製)2 5 0mg放置於器皿 (laboratory dish)而設置,用真空泵將熱CVD抽真空,減 壓至5Pa後,將蒸發部加熱至180 °C,聚合部加熱至680 °C後,放置2小時,在閘電極上形成厚度丨μιη的絶緣體 層。 -39- 200840106 接著’設置於真空蒸鍍裝置(ULVAC公司製,EX-400), 於絶緣 體層上 ,使 上述 化合物 (B_2) 以 0.05nm/s 的 蒸鍍速度成膜爲50nm膜厚的有機半導體層,接著,藉由 透過金屬遮罩將金成膜爲50 nm的膜厚,以使間隔(通道長 L)成爲75 μιη的方式形成互相不連接的源電極及汲電極, 此時使源電極與汲電極的寬(通道寬W)成爲5mm的方式 進行成膜而製作有機薄膜電晶體(參考圖7)。 將所得到的有機薄膜電晶體使用KEITHLEY公司製 (4200-SCS)在室溫下以下述的方法進行評估,於有機薄膜 電晶體的閘電極上外加_40V的閘電壓,於源-汲間外加電 壓而流動電流,此時,電子在有機半導體層的通道區域 (源-汲間)被誘出,以p型電晶體進行運轉。電流飽和區 域中的源-汲電極間的電流的開/關比爲1 X 1 06,此外,電 洞的電場效果遷移度μ,用下述式(A)計算出的結果爲2x 1 0_ 1 cm2/Vs 0 I = (W/2L) .C/i · (V — V )2 (A)
u G T 式中,Id爲源-汲間電流、W爲通道寬度、L爲通道 長、C爲閘絶緣體層的每單位面積之電容量、V τ爲臨界 電壓、V g爲閘電壓。 實施例2(有機薄膜電晶體的製造) 於實施例1中,除了使用化合物(Β-6)取代化合物(2) -40- 200840106 作爲有機半導體層的材料,其餘同樣作法成膜至有機半導 體層,接著,透過金屬遮罩,取代Au將Ca以〇 〇5nm/s 的蒸鍍速度進行20nm真空蒸鍍作爲源汲電極,然後將Ag 以0.05nm/s的蒸鍍速度進行5〇nm蒸鍍,製作被覆ca之 有機薄膜電晶體。封於所得到的有機薄膜電晶體,用+ 40V的閘電壓VG使其n型驅動以外,其餘與實施例1同 樣作法’測量源-汲電極間的電流的開/關比、及將所計算 的電子的電場效果遷移度μ的結果列示於表1。 實施例3〜8(有機薄膜電晶體的製造) 於實施例1中,除了使用第1表中所記載的各化合物 取代化合物(2)作爲有機半導體層的材料以外,其餘同樣 作法製作有機薄膜電晶體。對於所得到的有機薄膜電晶 體,與實施例1同樣作法,用-40V的閘電壓VG使其Ρ型 驅動,測量源-汲電極間的電流的開/關比,所計算的電洞 的電場效果遷移度μ的結果列示於表1。 比較例1 (有機薄膜電晶體的製造) 與實施例1同樣地實施基板的洗淨、閘電極成膜、使 絶緣體層進行成膜。接著,於甲苯中溶解3質量%的聚對 苯撐亞乙烯(ppv)[分子量(Μη)8600(),分子量分佈 (Mw/Mn = 5.1)],在成膜至該絶緣體層爲止的基板之上’以 旋轉塗佈法進行成膜,在氮氣環境下用1 2 0 C使其乾燥而 成膜爲有機半導體層。接著,藉由於真空蒸鍍裝置透過金 -41 - 200840106 屬遮罩將金(Αι〇成膜爲50nm的膜厚,形成互相 源及汲電極而製作有機薄膜電晶體。 對於所得到的有機薄膜電晶體,與實施例 法,用-40V的閘電壓VG使其p型驅動,測量Ϊ 間的電流的開/關比,及將計算的電洞的電場效身 的結果列示於表1。 比較例2(有機薄膜電晶體的製造) 使用聚對苯撐亞乙烯(PPV)作爲有機半導’ 料,與比較例1完全同樣地成膜至有機半導體層 後,與透過金屬遮罩取代Au將Ca以0.05nm/s 度進行 20nm真空蒸鍍作爲源汲電極,然後} 0.05nm/s的蒸鍍速度進行50nm蒸鍍,製作被覆 機薄膜電晶體。 對於所得到的有機薄膜電晶體,與實施例 法,用+ 40V的閘電壓VG使其η型驅動,測量Ϊ 間的電流的開/關比,及將計算的電子的電場效身 的結果列示於表1。 不連接的 1同樣作 冥-汲電極 :遷移度μ 匱層的材 爲止,然 的蒸鍍速 ,Ag以 Ca之有 1同樣作 黄-汲電極 :遷移度μ -42- 200840106 表1 有機半導體層 的化合物種類 電晶體的種類 電場效果遷 (cm2/Vs) 開關化 實施例1 (B-2) P型 2x 1〇4 lx ΙΟ6 實施例2 (B-6) η型 3χ 1〇'2 lx ΙΟ5 實施例3 (A-9) Ρ型 3χ ΙΟ'1 2χ106 實施例4 (A-11) Ρ型 3χ1〇4 ΙχΙΟ6 實施例5 (A-18) Ρ型 2χ ΙΟ·1 5χ105 實施例6 (B-13) Ρ型 2χ 1〇Λ 2χ106 實施例7 (B-18) Ρ型 2χ ΙΟ'1 ΙχΙΟ6 實施例8 (B-28) Ρ型 3χ ΙΟ"1 3χ106 比較例1 PPV Ρ型 1χ ισ5 ΙχΙΟ3 比較例2 PPV η型 1χ 1〇"4 ΙχΙΟ3 實施例9(有機薄膜發光電晶體的製造) 依以下的順序製作有機薄膜發光電晶體’首先,將 Si基板(P型比電阻1 Ω cm閘電極兼用)用熱氧化法使表面 氧化,於基板上製作3 00nm的熱氧化膜後作爲絶緣體 層,而且將成膜於基板的一方的Si02膜以乾蝕完全地去 除後,用濺鍍法將鉻成膜爲20nm的膜厚,而且於其上將 金(Au)用賤鍍法成膜爲lOOnm後取出作爲電極。將此基板 用中性洗劑、純水、丙酮及乙醇各進行3 0分鐘超音波洗 淨。 接著,設置於真空蒸鍍裝置(ULVAC公司製,EX-900),於絶緣體層(Si02)上,將上述化合物(A-2)以 〇.05nm/s的蒸鍍速度成膜爲ι00ηπι膜厚的有機半導體 層,接著,與上述同樣地設置通道長75 μιη、通道寬5mm 的金屬遮卓’藉由在使基板相對於蒸發源傾斜4 5度的狀 -43- 200840106 態下透過遮罩將金成膜爲5 Onm的膜厚,接著在基板於相 反方向上傾斜45度的狀態下將Mg蒸鍍爲lOOnm,製作 互相不連接的源電極及汲電極實質上具備電洞注入性電極 (Au)與電子輸送性電極(Mg)之有機薄膜發光電晶體(參考 圖9)。 於源-汲電極間上外加-1 00V、於閘電極上外加-100V,可得到綠色的發光。 實施例1〇(有機薄膜電晶體的製造) 與實施例1同樣的作法成膜至有機半導體層,接著透 過金屬遮罩在蒸鍍Au前,將緩衝層Mo03以0.0 5nm/s的 蒸鍍速度進行10nm真空蒸鍍,作爲源汲電極,接著蒸鍍 Au,對於所得到的有機薄膜電晶體,與實施例1同樣作 法’用-40V的閘電壓VG使其p型驅動,測量源-汲電極 間的電流的開/關比、及將所計算的電洞的電場效果遷移 度μ的結果,電場效果遷移度SxlO^cn^/Vs、開關比5x 1 Ο5。 產業上的可利用性 如以上詳細地說明,本發明的有機薄膜電晶體,係藉 由使用具有高的電子遷移度之特定結構的化合物作爲有機 半導體層的材料,成爲應答速度(驅動速度)被高速化,且 開/關比大、作爲電晶體的性能高者,亦可利用於作爲可 發光的有機薄膜發光電晶體。 -44- 200840106 【圖式簡單I兌明】 [ffl 1 ]表示本發明的有機薄膜電晶體的元件構成的一 例之圖。 [ffl 2]袠示本發明的有機薄膜電晶體的元件構成的一 例之圖。 [BI 3 ]表示本發明的有機薄膜電晶體的元件構成的一 例之圖。 [圖4]表示本發明的有機薄膜電晶體的元件構成的一 例之圖。 [圖5]表示本發明的有機薄膜電晶體的元件構成的一 例之圖。 [圖6]表示本發明的有機薄膜電晶體的元件構成的一 例之圖。 [圖7]表示本發明的實施例中之有機薄膜電晶體的元 件構成的一例之圖。 [圖8 ]表示本發明的實施例中之有機薄膜電晶體的元 件構成的一例之圖。 [圖9 ]表示本發明的實施例中之有機薄膜發光電晶體 的元件構成的一例之圖。 -45-

Claims (1)

  1. 200840106 十、申請專利範圍 1. 一種有機薄膜電晶體,其爲基板上至少設置閘電 極、源電極與汲電極的3端子、絶緣體層及有機半導體 餍,藉由對閘電極外加電壓而控制源-汲間電流之有機薄 膜電晶體,其特徵係有機半導體層含有具有下述一般式(a) 的結構之有機化合物, [化1]
    r8 [式中,A爲碳數1〜60的2價的芳香族雜環基; 各自獨立地爲氫原子、鹵素原子、氰基、碳數 30的院基、碳數1〜的鹵院基、碳數1〜3Q的院氧 基、碳數1〜3〇的鹵烷氧基、碳數1〜30的院基硫基、碳數 卜30的鹵烷基硫基、碳數1〜30的烷基胺基、碳數2〜60 的二烷基胺基(烷基可互相鍵結而形成含氮原子的環結 構)、碳數1〜30的垸基磺醯基、碳數1〜30的鹵垸基磺醯 _、碳數6〜60的芳香族烴基、碳數1〜60的芳香族雜環 _,此等各基可具有取代基,此外,亦可互相連結形成碳 數6〜6 0的芳香族烴基、或碳數1〜60的芳香族雜環基]。 2.如申請專利範圍第1項之有機薄膜電晶體’其中 _ 一般式(a)中,A爲含有6員環的芳香族雜環之芳香族 雜環基。 3 .如申請專利範圍第2項之有機薄膜電晶體’其中 -46 - 200840106 該一般式(a)中,A爲含有1個以上的氮原子之芳香族雜 環基。 4. 如申請專利範圍第1項之有機薄膜電晶體,其中 該一般式(a)中,A爲含有5員環的芳香族雜環之芳香族 雜環基。 5. 如申請專利範圍第4項之有機薄膜電晶體,其中 該一般式(a)中,A爲含有5員環的芳香族雜環與苯環之 芳香族雜環基。 6. 如申請專利範圍第5項之有機薄膜電晶體,其中 該5員環的芳香族雜環具有1個以上的氧原子或硫原子’ 該苯環上連接烯烴基。 7. 如申請專利範圍第5項之有機薄膜電晶體,其中 該一般式(a)中,A爲3環以上經縮合的芳香族雜環基。 8. 如申請專利範圍第1項之有機薄膜電晶體,其中 該一般式(a)中,2個烯烴基係鍵結於相對於A而言爲對 稱的位置之結構。 9. 如申請專利範圍第1項之有機薄膜電晶體,其中 該一*般式(a)中’ Ri、R5、R6及Rio各自獨1地爲氣原子 或氟原子。 10. 如申請專利範圍第1項之有機薄膜電晶體,其中 該一般式(a)中,各自獨立地爲氫原子或碳數1〜30 的烷基。 1 1 .如申請專利範圍第1項之有機薄膜電晶體,其中 該一般式(a)中,各自獨立地爲氫原子、鹵素原 -47- 200840106 子、氰基或碳數1〜30的鹵烷基。 12.如申請專利範圍第1項之有機薄膜電晶體,其係 源電極與有機半導體層之間及汲電極與有機半導體層之間 具有緩衝層。 1 3 . —種有機薄膜發光電晶體,其特徵係申請專利範 圍第1項之有機薄膜電晶體中,利用在源-汲間流動的電 流而獲得發光,藉由對閘電極外加電壓而控制發光。 1 4 ·如申請專利範圍第1 3項之有機薄膜發光電晶 體,其中源及汲的至少一方由功函數4.2eV以上的物質所 組成,及/或至少一方爲功函數4.3eV以下的物質所組 成。 1 5 .如申請專利範圍第1 3項之有機薄膜發光電晶 體’其係在源電極與有機半導體層之間及汲電極與有機半 導體層之間具有緩衝層。 -48-
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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7718998B2 (en) * 2006-12-14 2010-05-18 Xerox Corporation Thiophene electronic devices
JP5101939B2 (ja) * 2007-07-12 2012-12-19 山本化成株式会社 有機トランジスタ
JP5487655B2 (ja) 2008-04-17 2014-05-07 株式会社リコー [1]ベンゾチエノ[3,2‐b][1]ベンゾチオフェン化合物およびその製造方法、それを用いた有機電子デバイス
KR100963104B1 (ko) * 2008-07-08 2010-06-14 삼성모바일디스플레이주식회사 박막 트랜지스터, 그의 제조 방법 및 박막 트랜지스터를구비하는 평판 표시 장치
KR101468596B1 (ko) 2008-07-09 2014-12-05 삼성전자주식회사 자기 조립 유기겔에 기초한 유기 나노섬유 구조와 이를이용한 유기 나노섬유 트랜지스터 및 이들의 제조방법
KR101622303B1 (ko) * 2008-07-09 2016-05-19 재단법인서울대학교산학협력재단 2,7―비스―(비닐)[1]벤조티에노[3,2―b]벤조티오펜 뼈대에 기초한 고성능 유기 반도체 화합물 및이를 이용한 유기 반도체 박막 및 유기 박막 트랜지스터
GB2462591B (en) * 2008-08-05 2013-04-03 Cambridge Display Tech Ltd Organic thin film transistors and methods of making the same
CN102782858B (zh) 2009-12-25 2015-10-07 株式会社理光 场效应晶体管、半导体存储器、显示元件、图像显示设备和系统
KR101234225B1 (ko) * 2011-04-26 2013-02-18 국민대학교산학협력단 플렉서블 유기 메모리 소자 및 그 제조방법
CN102651401B (zh) * 2011-12-31 2015-03-18 京东方科技集团股份有限公司 一种薄膜晶体管、阵列基板及其制造方法和显示器件
US8901547B2 (en) * 2012-08-25 2014-12-02 Polyera Corporation Stacked structure organic light-emitting transistors
KR101994332B1 (ko) * 2012-10-30 2019-07-01 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 트랜지스터 및 이를 포함하는 표시 장치
EP3261128A1 (en) * 2016-06-23 2017-12-27 Karlsruher Institut für Technologie Vertical field-effect transistor, a method for its manufacture, its use, and electronics comprising said field-effect transistor
CN111370587B (zh) * 2018-12-25 2022-12-20 广东聚华印刷显示技术有限公司 发光晶体管及其制备方法
CN112018257B (zh) * 2019-05-30 2024-02-02 成都辰显光电有限公司 一种显示装置

Family Cites Families (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07119408B2 (ja) * 1989-03-28 1995-12-20 出光興産株式会社 有機エレクトロルミネッセンス素子
JPH0555568A (ja) 1991-08-28 1993-03-05 Asahi Chem Ind Co Ltd 有機薄膜トランジスタ
JP3151997B2 (ja) * 1993-03-18 2001-04-03 東洋インキ製造株式会社 有機エレクトロルミネッセンス素子
JP3223632B2 (ja) * 1993-03-18 2001-10-29 東洋インキ製造株式会社 有機エレクトロルミネッセンス素子
US6278127B1 (en) 1994-12-09 2001-08-21 Agere Systems Guardian Corp. Article comprising an organic thin film transistor adapted for biasing to form a N-type or a P-type transistor
US5574291A (en) 1994-12-09 1996-11-12 Lucent Technologies Inc. Article comprising a thin film transistor with low conductivity organic layer
US6326640B1 (en) 1996-01-29 2001-12-04 Motorola, Inc. Organic thin film transistor with enhanced carrier mobility
KR19980032958A (ko) 1996-10-15 1998-07-25 스코트 리트만 N형 유기 반도체 화합물을 포함한 박막트랜지스터를 구비한 장치
JP4085438B2 (ja) 1996-10-17 2008-05-14 松下電器産業株式会社 有機薄膜トランジスタ及び液晶素子と有機発光素子
US6107117A (en) 1996-12-20 2000-08-22 Lucent Technologies Inc. Method of making an organic thin film transistor
JPH11133205A (ja) 1997-04-21 1999-05-21 Sekisui Chem Co Ltd 反射防止膜の製造方法
JP3594803B2 (ja) 1997-07-17 2004-12-02 日本ペイント株式会社 貴金属又は銅のコロイド溶液及びその製造方法並びに塗料組成物及び樹脂成型物
JP3594069B2 (ja) 1997-07-17 2004-11-24 日本ペイント株式会社 貴金属又は銅の固体ゾル及び製造方法並びに塗料組成物及び樹脂成型物
JPH1161406A (ja) 1997-08-27 1999-03-05 Sekisui Chem Co Ltd 反射・帯電防止膜の製造方法
TW399338B (en) 1997-11-24 2000-07-21 Lucent Technologies Inc Method of making an organic thin film transistor and article made by the method
JPH11319538A (ja) 1998-05-20 1999-11-24 Nippon Paint Co Ltd 貴金属又は銅のコロイドの製造方法
JP2000124157A (ja) 1998-08-10 2000-04-28 Vacuum Metallurgical Co Ltd Cu薄膜の形成法
JP4362173B2 (ja) 1998-08-10 2009-11-11 アルバックマテリアル株式会社 Cu超微粒子独立分散液
JP2000147209A (ja) 1998-09-09 2000-05-26 Sekisui Chem Co Ltd 反射防止フィルム及びその製造方法
JP2000121804A (ja) 1998-10-09 2000-04-28 Sekisui Chem Co Ltd 反射防止フィルム
JP2000174277A (ja) 1998-12-01 2000-06-23 Hitachi Ltd 薄膜トランジスタおよびその製造方法
JP2000185362A (ja) 1998-12-24 2000-07-04 Sekisui Chem Co Ltd 金属元素含有薄膜積層体の製造方法
JP3310234B2 (ja) 1999-02-25 2002-08-05 シャープ株式会社 反射型液晶表示装置用反射板の製造方法
JP4362170B2 (ja) 1999-07-22 2009-11-11 アルバックマテリアル株式会社 銀超微粒子独立分散液
JP2001053028A (ja) 1999-08-11 2001-02-23 Vacuum Metallurgical Co Ltd Cu薄膜の形成法
JP2001094107A (ja) 1999-09-20 2001-04-06 Hitachi Ltd 有機半導体装置及び液晶表示装置
JP2001176666A (ja) * 1999-12-17 2001-06-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 有機電界発光素子
JP2004055654A (ja) * 2002-07-17 2004-02-19 Pioneer Electronic Corp 有機半導体素子
JP2004055652A (ja) * 2002-07-17 2004-02-19 Pioneer Electronic Corp 有機半導体素子
JP2004311182A (ja) * 2003-04-04 2004-11-04 Yamanashi Tlo:Kk 導電性液晶材料を用いた有機エレクトロルミネッセンス素子、薄膜トランジスタおよびその製造方法
JP2007502251A (ja) * 2003-08-15 2007-02-08 ユニヴェルシテ・ラヴァル 2位官能化及び2,7位二官能化カルバゾール類のモノマー類、オリゴマー類、及びポリマー類
JP2005142233A (ja) 2003-11-04 2005-06-02 Yamanashi Tlo:Kk 液晶化合物薄膜の配向制御方法及びこれを用いて形成された液晶化合物薄膜の膜構造、薄膜トランジスタ並びに有機エレクトロルミネッセンス素子
KR100615216B1 (ko) * 2004-04-29 2006-08-25 삼성에스디아이 주식회사 유기 억셉터막을 구비한 유기 박막 트랜지스터
US7372070B2 (en) * 2004-05-12 2008-05-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Organic field effect transistor and method of manufacturing the same
JP2006176494A (ja) * 2004-11-25 2006-07-06 Kyoto Univ ピレン系化合物及びこれを用いた発光トランジスタ素子及びエレクトロルミネッセンス素子
JP4614272B2 (ja) * 2004-12-28 2011-01-19 国立大学法人京都大学 新規チオフェン誘導体及びそれを用いたトランジスタ素子
JP5256568B2 (ja) * 2004-12-28 2013-08-07 住友化学株式会社 高分子化合物およびそれを用いた高分子発光素子
JP5124942B2 (ja) * 2005-01-14 2013-01-23 住友化学株式会社 金属錯体および素子
JP2006273792A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Dainippon Printing Co Ltd 有機電荷輸送性化合物及びその製造方法、並びに有機電子デバイス
KR101347419B1 (ko) * 2005-04-15 2014-02-06 이 아이 듀폰 디 네모아 앤드 캄파니 아릴-에틸렌 치환된 방향족 화합물 및 유기 반도체로서의 이의 용도
JP2007258253A (ja) * 2006-03-20 2007-10-04 Kyoto Univ トランジスタ材料及びこれを用いた発光トランジスタ素子
EP2044082A1 (en) * 2006-07-26 2009-04-08 Merck Patent GmbH Substituted benzodithiophenes and benzodiselenophenes

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