TW200521454A - A testing device and a cable-guide unit - Google Patents

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TW200521454A
TW200521454A TW093133619A TW93133619A TW200521454A TW 200521454 A TW200521454 A TW 200521454A TW 093133619 A TW093133619 A TW 093133619A TW 93133619 A TW93133619 A TW 93133619A TW 200521454 A TW200521454 A TW 200521454A
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cable
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optical
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test
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TW093133619A
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Masashi Shibata
Toshiyuki Okayasu
Tsutomu Akiyama
Original Assignee
Advantest Corp
Furukawa Electric Co Ltd
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Description

200521454 15251pif.doc 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 ,發明是關於測試裝置以及電纜導引單元,特別a 發明是為了滿足多條光纜的曲率限制的纜線排設技貧疋 【先前技術】 又何。 近年,伴隨著電子元件的高速化,在測試電子 測試裝置巾’也希望其動作高速化。為此,近年為目 測試信號和控制信號的高速傳送,而提出了方案:將在 試元件中外加檢測模型的檢測頭與控制檢測頭的檢測程= 的主要框架湘域減接。但是’由於還未發現先前技 術文獻的存在,所以,便省略_先前技術讀的記 【發明内容】 …當利用光纜作為信號傳送回路時,必須要滿足光纜的 曲率限制,特別是連接像檢測頭那種會動的機器時,會存 在重大問題。另外,在檢測頭的狹小的空間裏,要滿足多 條光纜的曲率限制,是重要的課題。 _為此,本發明之目的就是為了解決上述問題而提供測 試裝置和電纜導引單元。這個目的是經由在申請專利範圍 中獨立項所記載的特徵組合來達成的,而附屬項則是規定 本發明較佳具體實施例。 根據本發明的第1實施例,在測試被測試元件的測試 2置中,配備外加檢測模型於被測試元件的檢測頭,控制 别纪檢測頭檢測程序的主要框架,和用光連接主要框架和 檢測頭的光纖纜器。光纖纜器是包含按排列方向並排排列 200521454 15251pif.doc 的多條光纖芯線的光纜,其具有 的纜線組,以及能保持多層重二&向被多層重疊 動,並適於向前記相同的方組之間相互滑 放鍵的最小管曲半徑以比光境的線存 光纖纜器,設置在多層排心夕弓料仏大為佳。 有能保持前記多條光社間相滑===佳且以具 組包括第!纜線層和第2纜線層:=== 圭:境線 方向並排排列的多條光纜。第2 二曰已括知排列 :f 層上。滑動座以設置在第丨缙綠知4, 見琛 ^ 、、見線、、且和第2纜線組之間為佳。 U ;則°己夕條光_前記欖線存放鏈中存放 分,整前記多條光纜之間的周長差,並且吸 别,條光_周長差,以配備周長差㈣mm Γί佳實f例中,周長差吸收裝置固定m線存放 1 ί於在别s己多條光_前記纔線存放鍵中存放不下的 p刀以各自不同的曲率將多條平坦型規線分別彎曲放 置保持、對於在刖記多條光繞的青曲部分,經由前記多條 光系見之間形成的間隙,吸收前記多條光纜的周長差。 『根據本發明的第2實施例,電纜導引單元對於具有光 系見連接基板、在按排列方向排列的多個連接接續器中,各 自與光纜連接,保持此光纜彎曲,電纔導引單元的最小彎 ,半梭比光瘦容許的彎曲半徑大並具有各自保持多條光纜 、彎曲的多個繞線支架構件。纜線支架構件具有比前記光繞 容許的、彎曲半徑大、約1/4圓的圓弧形狀,並沿著從前記 200521454 15251pif.doc 連接接續器連接到前記光纜的前記配置方向,彎曲保持著 月’J記光纜。纜線支架構件,按照前記配置排列方向,與前 記多個連接接續器略同的配置排列間隔進行配置。多 線支木構件,按照刖§己連接方向,相對於前記配置方向, 比前記配置間隔更狹小的位置進行配置。 電繞導引單元包括第1纖線支架構件組與第2纜線支 架構件組。第1纜線支架構件組包括前記多個纜線支架構 件,而第2纜線支架構件組包括前記多個纜線支架構件。 其中,第1纜線支架構件組沿前記配置排列的方向,在比 第2纜線支架構件組更高的位置上進行配置;經由第1纜 線支架構件組而被彎曲的光纜,通過第2纜線支架構件= 的側部,而導引到該電纜導引單元的外部。 ^ 包含在别§己第2纟覽線支架構件組的前記繞線支架構件 $幅度,比包含在前記第1纜線支架構件組的前記纜線支 架構件狹小;經由前記第1纜線支架構件組而被彎曲的前 記光纜,通過前記第2纜線支架構件組的側部,而導引= 該電㈣引單it的外部。魏導引單元更包括夾持部件, 5亥夾持部件將經由第1纜線支架構件組被彎曲的光纜以及 麵由第2纜線支架構件組被彎曲的光纜捆成一束,而導 到該電纜導引單元的外部。 而且上記的發明,不僅是舉例全部本發明的必要特 徵,而且是這些特徵組的局部組合也還是屬於發明的。、 根據本發明,能提供滿足多條光纜的曲率限制 挪設技術。 200521454 15251pif.doc 【實施方式】 以下,通過發明的實施例來說明本發明。以下的實施 例不僅限定於與申請專利範圍相關的發明,而且,還必^ 包括實施例中被說明的發明的解決手段的全部混合特徵 圖1繪示了與本發明的一個實施例相關的測試裝置 100的構成的-實施例。在與本實施例相關的測試裝置刚 中,滿足檢測頭1〇2和主要框架刚之間進行信號傳輪的 光鏡的曲率限制,由於滿;^ 了曲率限制,達到防止光規破 損的目的。還有,特別是像檢測頭搬這樣會動的機器, 要調整連接多條光纜間的周長差,以及像主要框架刚 樣在狹小的空間巾,滿足了排設的多條光_曲率限為 目的。 π 測成裝置100包括,具有在測試元件中外加檢測模型 的多。塊檢測基板的檢測頭1G2,經由檢卿1G2而控制檢 測,序的主要框架104、具有用光連接檢測頭脆和主要 框4 104的多條平坦型纜線醜賴器觸以 光纜應、連接具有不同構造的光纖緵器1〇6和多條光規 108的光塞1〇7、吸收光纖臀” 之間的周長差的周長差吸收^置線_ 架104的檢測基板612的光雙1〇8伴括Z連接主要框 元112。 %、見108保持彎曲的電纜導引單 經由與本實施例相關的測試裝置1〇〇,當盘檢測頭搬 板脫落Γ經由從被測試元件的操作連結 裝置脫洛時的檢測頭1()2的動作,即使在多條平坦型鐵線 15251pif.doc 200521454 200之間產生周長差的時候,經由周長差的吸收褒置】^, 也能吸收多條平坦型纜線200之間產生的周長差。還有, 經由電緵導引單元112,保持連接主要框架謝的檢測基 板612的光纜1〇8,而滿足了光纜1〇8的曲率限制並防止 破損,以降低傳送信號的損失。 。圖2(a)〜圖2(e) ♦示了與本實施例相關的光纖 繞器106的構成的一個例子。圖2(a)、圖2⑻繪示了 光纖境器106的側面圖,圖2(c)|會示了光纖纜器^的 AA斷面圖。但是’圖2 (a)繪示了光纖欖器1〇6沒彎曲 的狀態,圖2 (b)繪示了光纖纜器1〇6彎曲的狀態。 光纖規器106包括平坦型繞線2〇〇是按重疊方向被多 層重疊的平板型纟覽線組2〇2、被多層重疊後的平坦型繞線 2〇〇的相互之間能保持滑動、能朝重疊方向彎曲的繞線存 放鏈204。規線存放鏈是為了覆蓋在傳輸電力信號或光作 號的纜線的周圍以保護纜線並防止纜線的損傷而設計的: 在圖2 (a)與圖2 (b)中,纜線存放鏈2〇4是由多 個相互之間能回轉的次構件施連接而構成。在多個次構 件206的左右兩旁各自設計了定位溝2〇8和定位爪21〇, 相鄰的次構件206的定位溝208與其他次構件2〇6的定位 爪210相嵌合。這樣,經由一個次構件2〇6的定位爪 的移動被相鄰的次構件206的定位溝2〇8的範圍所限制, ,鄰嵌合的次構件206之間的彎角就被限制。據此,、繞線 存放鏈204的最小彎曲半徑被限制。纜線存放鏈 小弯曲半徑比存放在纜線存放鏈綱的多條平坦型規線 200521454 15251pif.doc 200的容許半徑大為佳。據此,就能保持多條平坦 200的、弓曲半徑比容許半徑大。平坦型纜線2⑽ 本 徑例如是5〇mm。 W谷才+ 另外,在圖2(c)巾,平坦型纜線2〇〇是包括沿 方向c並排排列的多條光纖芯線的光欖以排列方向c的方 向將多條擰成一股。還有,緵線存放鏈2〇4,在重疊方向 Β的纜線存放鏈204的側面,沿纜線存放鏈2〇4的較長; 向,具有一個開口的背面劃開部212。據此,在纜線 鏈2〇4中,能柔軟地對待光纖纜器1〇6的扭曲。 但是,對纜線存放鏈204,沿重疊方向β,殘留著平 坦型纜線200沒有排滿的空間,以保持重疊排滿平坦型纜 線=〇〇為佳。對纜線存放鏈204,例如纜線存放鏈2〇4沿 重@方向Β,以保持未排滿的空間的幅度在6〇%以下重疊 排列平坦型纜線2〇〇為佳。經由纜線存放鏈2〇4沿重疊方 向Β,保有排列重疊排列平坦型纜線2〇〇的餘量,而使平 垣型纜線200能自由地滑動,以及當纜線存放鏈2〇4中發 生扭曲時,能減輕由於這扭曲帶來對平坦型纜線2〇〇的影 響。 圖3繪示了與本實施例相關的周長差吸收裝置11〇的 ,成的一個實施例。周長差吸收裝置11〇,在多條平坦型 矣見線200a以及200b在纜線存放鏈2〇4中有放置不下部分 的σ卩分的情況下,調整多條平坦型纜線200a以及200b 的周長,吸收多條平坦型纜線2〇〇a以及200b的全長的周 長差。 200521454 15251pif.doc 在周長差吸收裝置UO中,固定欖線存放鏈2〇4的端 邛把夕條平坦型規線2〇〇a以及2〇〇b在纟覽線存放鏈2〇4 中放置不下部分的一部分,從纜線存放鏈2〇4導入周長差 吸收裝置110。還有,騎周長差吸收裝置11〇,在周長差 吸收裝置110 _部中,對於多條平坦麵線細&以及 •2〇〇b在纜線存放鏈2〇4中有放置不下部分的一部分,以各 自不同的曲率將多條平坦型纜線200a以及200b分別彎曲 放置。還有,周長差吸收裝置110,用夾持部件550把多 條平坦型纜線2〇〇a以及2〇〇b束缚住,導向周長差吸收 置110的外部。然後,在主要框架1〇4巾,固定多條作 型纜線200a以及200b。 ' 周長差吸收裝置110,對於多條平坦型纜線2〇〇a以及 2〇〇b的彎曲部分,經由多條平坦型纜線200a以及200b之 間形成的間隙,吸收有光纖纜器1〇6的多條平坦型纜線 2〇〇a以及200b的引起彎曲半徑差異的周長差。在這裏, 對於周長差吸收裝置11〇,多條平坦型纜線2〇〇a以及2〇沘 的間隙間隔D是根據光纖纜器1〇6可彎曲的彎曲角度計算 出來的。例如,光纖纜器1〇6的彎曲角度是18〇度=情況 下,為了使平坦型纜線2〇〇a以及2〇〇b相互間以逆方向移 動。’對於間隔D的平坦型纜線2〇〇&和2〇〇b的周長差相隔 50%,就能防止平坦型纜線2〇〇a和2〇〇b相互 相互碰撞。 时一圖4(a)〜圖4(c)繪示了與本實施形態相關的電纜導引 單元112的構成的一個例子。圖4(a)繪示了電纜導引單元 12 200521454 15251pif.doc 112的立體圖、圖4(b)繪示了電纜導引單元ll2的前視圖、 4(c)中顯示了電纜導引單元112的側視圖。 電繞導引單元112中具備,在有多個連接接續器614 的檢測基板612中,使多條光纜108沿同一方向保持彎曲 的各自連接的的緵線支架構件600以及604、依靠多個纜 線支架構件600以及604,把各自彎曲的多條光繞1〇8捆 紮成一束,導向電纜導引單元112的夾持部件6〇8、纜線 支架構件600以及604和用於夾持部件6〇8與檢測基板6丨2 _ 連接的規線支架固定器610。檢測基板612是本發明的光 繞連,基板的-個例子,具有沿並排方向£排列的多個連 接接續H 614。而且,主要框架1〇4巾,朝檢測基板612 的基板方向,保持能讓多塊檢測基板612安装脫卸。 纜線支架構件600以及604,最小曲率半徑比光⑽ 的容許f曲半徑A、並且㈣持統108的曲率限制狀 態。具體地說,欖線支架構件6〇〇以及6〇4從比光緵1〇8 的容許、彎曲半徑大的圓筒中切出約1/4圓弧形狀。保持光 纜108從連接接續器614即光雙1〇8的連接方向f朝排歹4 · 方向E彎曲。例如,纜線支架構件6〇〇以及6〇4的容許彎 曲半徑是30mm,纜線支架構件6〇〇以及6〇4就是半徑為 30mm以上的約1/4圓弧形狀。 二‘ 如圖4(^)所繪示,多個纜線支架構件600以及6〇4, 以相互間重豐來排列。具體地說,在多雜線支架構件_ 以及604沿排列方向E排列時,以多個連接接續器614相 近的間隔排列。還有,在多個·支架構件_以及綱 13 200521454 15251pif.doc 按排列方向F排列時,以比排列方向E的間隔狹小的間隔 位置排列。據此,對於沿多條光纜108的連接方向F,可 使排設範圍更佳狹小。 還有,電緵導引單元112具有,包括多個纜線支架構 1牛600在内的第1纜線支架構件組602和包括多個纜線支 架構件604在内的第2纜線支架構件組606。第1纜線支 架構件組602,設置在離夾持部件608較遠的位置,第2 纜線支架構件606,設置在離夾持部件6〇8較近的位置。 即是’第1纜線支架構件組602,沿排列方向e,設置在 比第2纟覽線支架構件組606高的位置。例如,第1纟覽線支 架構件組602,設置在比第2纜線支架構件組6〇6的2倍 兩的位置。 然後,請參照圖4 (b)和圖4 (c)所繪示,經由包 含在第1鏡線支架構件組602内的多個繞線支架構件6〇〇 而彎曲的多條光纜108,通過包含在第2纜線支架構件組 606在内的多個纜線支架構件6〇4,而導引到電纜導引單元 112的外部。然後,夾持部件608,將經由第丨纜線支架構 件602被彎曲的多條光纜1〇8以及經由第2纜線支架構件 606被彎曲的多條光纜1〇8捆紮成一束並固定,再導向電 纜導引單元112的外部。因自重而垂下的光纜1〇8,經由 被夾持部件608夾持住,而能維持滿足多條光纜1〇8的曲 率限制。 ' 而且,如圖4 (c)所繪示,包含在第2纜線支架構件 606内的多個、纜線支架構件604,比起包含在第1瘦線支架 200521454 15251pif.doc 構件602内的多個纜線支架構件60〇,其光纜1〇8的保持 部分的幅度較為狹小。因此,光纟覽1〇8的排設領域能變小, 對於多塊檢測基板612並排排列的狹小環境,也能適當地 排設多條光纜108。還有,包含在第丨纜線支架構件6〇2 内的多個纟覽線支架構件600的寬度,比檢測基板6丨2的寬 度狹小為佳。這樣,能不影響相鄰檢測基板612的插拔。 按照與本實施例相關的測試裝置1〇〇,經由上述的光 纖纜器106以及電纜導引單元112,能滿足平坦型纜線2〇〇 以及光纜108的曲率限制以防止纜線的裂縫和折斷等的破 損、同時能減少轉送信號的損失。還有,對於周長差吸收 裝置110,經由吸收多條平坦型纜線200之間的周長差, 在纜線存放鏈204内部,多條平坦型纜線2〇〇能自由地滑 動、也能防止平坦型纜線200的應力集中。而且,周長差 吸收裝置11G以及麟存放鏈綱,能在有限的自由空間 中,限制纜線的自由度,保護纜線,還由於電纜導引單元 112在狹小的空間,具傷了滿足在狹小空間内的彎曲率, 因此,在光纜以外的纜線排設中也能有效地應用。 ▲ /圖5繪示了與本實施形態相關的光纖纜器1〇6構成的 變形例。但是,除以下的說明部分以外,與本變形例子相 關的光纖規器1〇6,由於具有與圖2顯示的光纖缆器ι〇6 一樣的構成以及機能,所以省略了一部分說明。 在與本變形例子相關的光纖纜器106中,按並排排列 方向C排列的為包括多條光纖芯線的光、覺,在沿著多 層重且方向的多層重豐纜線組7G6和重疊的多條镜線7〇6 15 200521454 15251pif.doc 相互之間適於保持滑動,並設置於可朝重疊方向B彎曲的 纜線存放鏈204和多層重疊的多條纜線7〇〇之間,並且擁 有多1纜線700相互之間能保持滑動的滑動座7〇4。 纜線組706,就是包括研並排排列方向c排列,且將 包含多條光纜芯線光纜700、在内的多纜線層7〇2。多纜線 ^ 702沿重疊方向B被多層堆積。滑動座7〇4,設置在多 纔線層702之間,使在規線存放鏈204能保持多麟層7〇2 相互之間滑動。而且,滑動座7〇4的摩擦係數,比光纔彻 的,面摩擦係數較小為佳。還有,滑動座7〇4的最小彎曲 半徑,要比光纜700的容許半徑大。即,滑動座7〇4可依 照光纔700而擁有可繞性。 夕即,、圖2繪示的光纖纜器106是以光纜排列方向c把 多條擰成一股的平坦型纜線200,按重疊方向B重疊堆積 ,成。圖5 !會示的光纖㈣1G6是以不擰成—股的多條光 ^ 700以排列方向C排列,而且中間夾入滑動座704後, 按重疊方向B被重疊堆積。這樣,經由沿重疊方向b、在 光€ 700之間夾入滑動7〇4座,不是平坦型縵線2⑻的多 ,光欖700 ’也可以在插入纔線存放鏈綱的時候,保持 多條光緵700的排列不混亂,並且保持多條光規7〇〇間能 滑動。 雖r、、;、本啦明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以 限定本發明’任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之精神 ί範圍内’當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之保護 範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 200521454 15251pif.doc 【圖式簡單說明】 圖1繪示測試裝置100的構成的一實施例。 圖2(a)〜圖2(c)繪示光纖纜器106的構成的一實施例。 圖3繪示周長差吸收裝置110的構成的一實施例。 圖4(a)〜圖4(c)繪示電纜導引單元112的構成的一實施 例0 圖5繪示光纖纜器106的構成的一實施例。 【主要元件符號說明】
100 測試裝置 102 檢測頭 104 主要框架 106 光纖纜器 107 光塞 108 光纜 110 周長差吸收裝置 112 電纜導引單元 200 平坦型纜:線 202 平坦型緵線組 204 纜線存放鏈 206 接頭 208 定位溝 210 定位片 212 :背面劃開部 17 200521454 15251pif.doc
550 爽持部件 600 光纜支架構件 602 第1纜線支架構件 604 纜線支架構件 606 第2纜線支架構件 608 爽持部件 610 纜線支架固定器 612 檢測基板 614 連接接續器 700 光鏡 702 纜線層 704 滑動保護皮層 706 緵線組
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Claims (1)

  1. 20052J454 十、申請專利範圍: 1·一種測試裝置,用於測試被測試元件,包括: 檢測頭,在前記被測試元件中,外加檢測模型; 主要框架,控制前記檢測頭的檢測程序;以及 二光纖纜器,光性連接前記主要框架和前記檢測頭;其 中剞纪光纖鐵裔是包括沿並排排列方向排列的多條光纖芯 線的光纜,其具有按照重疊方向被多層重疊的纜線組,以 及能保持多層重疊的前記纜線組之間相互滑動,並適於向 剷記相同的方向彎曲的纟覽線存放鏈。 2·如申請專利範圍第1項所述之測試裝置,其中前記 光纖繞器’設置在被多層重疊的前記的多條光纜之間,並 且有能保持前記多條光纜之間相互滑動的滑動座。 3·如申請專利範圍第2項所述之測試裝置,其中前記 纖線組包括: 第1纜線層,包括按前記排列方向並排排列的多條前 記光纜; 第2纜線層,包括按前記排列方向並排排列的多條前 記光纜,沿前記的重疊方向,重疊在前記第1纜線層;以 及 前記滑動座,設置在第1纜線層和第2纜線層之間。 4·如申請專利範圍第1項所述之測試裝置,其中前記 纜線存放鏈的最小彎曲半徑比前記光纜的容許彎曲半徑 大。 5·如申請專利範圍第1項所述之測試裝置,更包括周 200521454
    差,並且吸收前記多條光纜的周長差。 用1對於在前記多條減的前n線存放 一部分,調整前記多條光纜之間的周長 之測試裝置
    前記多條光緵的彎曲部分, 線分別彎曲放置保持、對於在 經由前記多條光、纟覽之間形成的 間隙,吸收前記多條光纜的周長差。 7.-種電料引單元,對於具有光纜連接基板、在沿 排列方向排列的多個連接接續器中,各自與光_接,保 持此光_曲,該電纜導料元的最小料半徑比前記光 繞容許的彎曲半徑大並具有各自鱗前記純紐彎曲的 多個纜線支架構件。 8·如申請專利範圍第7項所述之魏導引單元,其中 剞§己鏡線支架構件具有比前記光鏡容許的彎曲半徑大、約 1/4圓的圓弧形狀,並沿著從前記連接接續器連接到前記 光纜的前記配置方向,彎曲保持著前記光纜。 9·如申請專利範圍第7項所述之電纜導引單元,其中 如§己纜線支采構件,按照前記配置排列方向,與前記多個 連接接續器略同的配置排列間隔進行配置。 10·如申請專利範圍第9項所述之電纜導引單元,其中 前記多個纜線支架構件,按照前記連接方向,相對於前記 配置方向,比前記配置間隔更狹小的位置進行配置。 200521454 15251pif.doc ·· I1•如申請專利範圍第7項所述之電纜導引單元,更包 之第1、、讀相構件組,包括前記多铺線支架構件; 、、見,支架構件組,包括前記多個·線支架構件; 6i 則5己第1纜線支架構件組沿前記配置排列的方 置·’經記第2纜線支架構件組更高的位置上進行配 通過前記己Ϊ!欖線支架構件組而被彎曲的前記光纜, 引單元❸卜部 架構件組_部,而導5丨到該電雙導 2·如7請專利範圍第11項所述之電纜導引單元,其 -在如σ己第2镜線支架構件組的前記魔線支架構件的 媒:朴比包含在前記第1欖線支架構件組的前記纜線支架 稱仵狹小;以及 ’、 、、i由則°己第1燒線支架構件組而被幫曲的前記光境, δ己第2纜線支架構件組的侧部,而導引到該電纜導 勹I3·如申請專利範圍第11項所述之電纜導引單元,更 匕括,持部件,該夾持部件將經由前記第1纜線支架構件 =被4、曲的前記光繞以及經由前記第2、纜線支架構件組被 彎曲的前記光纜捆成一束,而導引到該電纜導引單元的外 部。 21
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