SU1144154A1 - Устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти - Google Patents

Устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти Download PDF

Info

Publication number
SU1144154A1
SU1144154A1 SU833579376A SU3579376A SU1144154A1 SU 1144154 A1 SU1144154 A1 SU 1144154A1 SU 833579376 A SU833579376 A SU 833579376A SU 3579376 A SU3579376 A SU 3579376A SU 1144154 A1 SU1144154 A1 SU 1144154A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
control
inputs
outputs
output
input
Prior art date
Application number
SU833579376A
Other languages
English (en)
Inventor
Леонид Викторович Дербунович
Владислав Федорович Бохан
Владимир Иванович Кимарский
Юрий Иванович Кузовлев
Игорь Геннадьевич Либерг
Игорь Владимирович Черняк
Original Assignee
Организация П/Я А-3106
Харьковский политехнический институт им.В.И.Ленина
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Организация П/Я А-3106, Харьковский политехнический институт им.В.И.Ленина filed Critical Организация П/Я А-3106
Priority to SU833579376A priority Critical patent/SU1144154A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1144154A1 publication Critical patent/SU1144154A1/ru

Links

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ ШКРОСХЕМ ПАМЯТИ, содержащее генераторы импульсов, подключенные к первому блоку управлени  , последовательно соединенные первьй и второй формирователи управл ющих сигналов, входы первого из которых соединены с выходами генераторов импульсов и одним из выходов первого блока управлени , выход второго формировател  управл ютЕих сигналов  вл етс  первым выходом устрой ства, первым входом которого  вл етс  вход одного из генераторов импульсов , программируемый блок питани  и датчик температуры-, вккоды которых  вл ютс  соответственно вторым и третьим выходами устройства, триггер, выход которого подключен к входу третьего формировател  управл ющих сигналов, пульт управлени  , соединенный с первым и вторым блоками управлени , первый счетчик и группы счетчиков, одни из выходов которых подключень соответственно к управл кщим вхЬдам первого и второго формирователей управл ющих сигналов , программируемого блока пита- i ни  и датчика температуры и к информационному входу печатающего блока, один из управл ющих входов которого соединен с выходом третьего формировател  управл ющих сигналов, выходы второго блока управлени  подключены соответственно к входам триггера, первого счетчика, счетчиков групп, одному из входов первого блока управлени  и другому управл ющему входу печатающего блока, а входы - к другим выходам первого счет (Л С чика и счетчиков групп, о т л и- . чающеес  тем, что, с целью повьшени  достоверности контрол , в него введены регистр, элемент ИЛИ, элементы И-ИЛИ и второй счетчик, тактовый вход которого соединен с одним из выходов первого формировател  управл кшщх сигналов, информационн вход - с выходой регистра, rtb вход управлени  параллельной запи7 СЬЮ - с выходом элемента ИЖ, информационньй .выход - с информационным входом печатающего блока, выход переноса - с одними, из входов элемента ИЛИ и элементов И-ИЛИ, выхода которьпЕ соединены с тактовыми входами счетчиков одной из групп, вход регистра и другие входы элемента ИШ и элементов И-ИЛИ подключены к одним из выходов- второго блока управлени ..

Description

I Изобретение относитс  к вычисли тельной технике. Известно устройство дл  контрол  блоков пам ти, в котором генера ци  эталонных данных и адресаци  . провер емого блока пам ти осуществ л етс  блоком управлени , вырабатывающим совокупность команд специального назначени , определ ющих программу теста дл  проверки блока пам ти, причем блок управлени  позвол ет формировать специальные дл  данного типа блоков пам ти т желые кодовые последовательности и адресные переходы il.. . Недостатком этого устройства  в л етс  однозначность определени  работоспособности провер емого бло ка пам ти дл  решени  поставленной задачи по принципу годен-брак- С по мощью этого устройства невозможно также проводить достоверные испытани  современных больших интегральных микросхем запоминающих устройст так как отсутствует возможность создавать внешние услови  проверки характерные дл  про влени  дефектов . Наиболее близким техническим решением к изобретению  вл етс  устро ство дл  контрол  блоков пам ти, содержащее генераторы импульсов, подключенные к первому блоку управлени , последовательно соединенные формирователи управл ющих сигналов входы первого из которых соединены с выходами первого блока управлени  и генераторов импульсов, а выход второго формировател  управл ющих сигналов подключен к первому выходу устройства-, вход .которого соединен с входом одного из генераторов импульсов, блок питани  и дат чик температуры, выходы которых подключены соответственно к второму и третьему выходам устройства-, второй блок управлени , выходы кото рого соединены с входом триггера, подключенного к третьему блоку управлени , печатающий блок, пульт управлени , соединенный с первым и вторым блоками управлени , счетчи ки, информационные которых подключены соответственно к управл ющим входам формирователей управл ющих сигналов, блока питани , дат чика температуры и информационным входам печатающего блока, управл ющие входы и выходы счетчиков соединены с выходами и входами второго блока управлени , а выход третьего блока управлени  соединен с управл ют щим входом печатающего блока f2j. Это устройство устанавливает пригодность провер емой пам ти дл  применени  в заданных услови х эксплуатации и позвол ет оценивать его работоспособность по следующим параметрам: временные соотношени  и амплитуда управл ющих сигналов, частота обращени , напр жени  питани , температурный диапазон Однако это устройство не позвол ет проводить испытани  блоков пам ти с требуемой степенью достоверности . Это объ сн етс  тем, что тенденци  к повьш1ению быстродействи , информационной емкости и увеличению плотности компоновки современных больших интегральных микросхем запоминающих устройств (БИС ЗУ) привод т к по влению новых типов дефектов , которые возникают при функционировании элементов субмикронных размеров в монолитном кристалле. Специфика контрол  БИС ЗУ состоит в том, что необходимо вы вить не только  вные отказы элементов, вход щих, в состав запоминающего устройства, но и дефекты, обусловленные паразитными св з ми, которые возникают в процессе функционировани  при изменении внешних воздействий, в частности , величины питающих напр жений. Известное устройство осуществл ет построение области работоспособности по точкам при фиксированных значени х напр жени  питани . Такой режим испытани  не гарантирует работоспособности провер емой пам ти в услови х, когда будет происходить плавное изменение уровн  напр жени  питани  даже в допустимом диапазоне , что имеет место при нестабильности источника питани  или постепенном выходе его из стро . Изменение питани  в процессе функционировани  БИС ЗУ приводит к перезар ду паразитных емкостей, изменению параметров протекающих токов , возникают сбои в работе усилителей записи-считывани  и происходит потер  информации в  чейках пам ти . Кроме того, известное устройство в процессе построени  области рабо3
тоспособности не оценивает такой параметр как врем , в течении которого можно гарантировать работоспособность провер емой пам ти в случае катастрофического отказа источника питани , когда он выходит из стро  и происходит постепенный разр д фильтрующих емкостей-. Такой параметр  вл етс  важным в том cлyf чае, когда необходимо избежать потери информации, записанной в пам ть. Величина времени хранени  информации позвол ет рассчитать схему аварийного подключени  резервного истоника питани  или произвести перезапись информации в другой массив пам ти.
Целью изобретени   вл етс  повышение достоверности контрол .
Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройство дл  контрол  интегральных микросхем пам ти, содежаа;ее генераторы импульсов, подключенные к первому блоку управлени , последовательно соединенные первый и второй формирователи управл ющих сигналов, входы первого из которых соединены с выходами генераторов импульсов и одним из выходов первого блока управлени , выход второго формировател  управл ющих сигналов  вл етс  первым выходом устройства , первым входом которого  вл етс  вход одного из генераторов импульсов, программируемый блок питани  и датчик температуры, выходы которых  вл ютс  соответственно вторым и третьим выходами устройства , триггер, выход которого подключен к входу третьего формировател  управл ющих сигналов, пульт управлени , соединенный с первым и вторым блоками управлени , первый счетчик и группы счетчиков, одни из вьпсодов которых подключены соответственно к управл ющим входам первого и второго формирователей управл ющих сигналов, программируемого блока питани  и датчика температуры и к информационному входу печатающего блока, один из управл ющих входов которого соединен с выходом третьего формировател  управл ющих сигналов, выходы второго блока управлени  подключены соответственно к входам триггера , первого счетчика, счетчиков групп, одному из входов первого
4415А4
блока управлени  и другому управл ющему входу печатающего блока, а входы - к другим выходам первого счетчика и счетчиков групп, введены регистр, элемент ИЛИ, элементы И-Шта и второй счетчик, тактовый вход которого соединен с одним из выходов первого формировател  управл ющих сигналов, информационный
10 вход - с выходом регистра, вход управлени  параллельной записью с выходом элемента ИЛИ, информационный выход - с информационным входом печатающего блока, выход переноса 15 с одним из входов элемента И-ИЖ, выходы которых соединены с тактовыми входами счетчиков одной из групп, вход регистра и другие входы элемента ИЛИ и элементов И-ИЛИ подключены к одним из выходов второго блока управлени .
На фиг. 1 изображена структурна  схема устройства дл  контрол  интегральных микросхем пам ти, на
5 фиг. 2 - схема отдельных блоков устройства .
Устройство содержит (фиг. 1) первый блок t управлени , генераторы 2 и 3 импульсов, первый формироваQ тель 4 управл ющих сигналов, группу счетчиков 5, второй формирователь 6 управл ющих сигналов, группу счетчиков 7, программируемый блок 8 питани , группу счетчиков 9, датчик 10 температуры, первый счетчик 11, второй блок 12 управлени . Триггер 13, третий формирователь 14 управл ющих сигналов, печатающий блок 15, пульт 16 управлени , элементы
И-ИЛИ 17, регистр 18, элемент ИЛИ 19, второй счетчик 20.
Устройство подключаетс  к контролируемой интегральной микросхеме 21 пам ти.
Программируемь1й блок 8 питани  (фиг. 2) содержит цифроаналоговый преобразователь 22, операционный усилитель 23, резисторы 24 и 25, конденсаторы 26-29.
Устройство работает следующим образом.
Дл  построени  многомерных областей работоспособности микросхем пам ти устройство имеет два режима функционировани : режим задани  управл ющих воздействий и режим тестировани .
В режиме задани  управл ющих воздействий из пульта 16 управлени  в блок 1 управлени  вводитс  программа генерации теста. Блок 12 управлени  в соответствии с программой также записанной с пульта 16 управлени  задает исходное значение параметров, определ   дах область работоспособности провер емой микросхемы . Таким образом, временное положение и длительность управл ющих сигналов, которые будут реализованы формирователем 4, соответствуют кодам, занесенньм в счетчики 5 Амплитуда управл юпщх сигналов определ етс  кодами счетчиков 7. Зада ние температуры окружающей среды, когда провер ема  микросхема 21 загружена в термостат, осуществл етс  датчиком 10 температуры в соответствии с кодами счетчика 11. Исходный уровень напр жени  тштани  задаетс  кодом счетчика 9, который записываетс  из блока 12 управлени , при этом тактовые импульсы поступают на счетчики 9 через элементы И-ИЖ 17.
Дл  реализации изменени  напр жени  питани  в режиме тестировани  блок 12 управлени  задает число К, которое заноситс  в регистр 18 в двоичном коде, а затем через элемент ИЛИ 19 записывает его в счетчик 20. Значение числа К определ етс  из услови , что счетчик 9 за врем  прохождени  провер кицего теста должен изменить свое состо ние на Р импульсов. Соответственно измен етс  и напр жение питани , задаваемое блоком 12.
После установлени  исходных условий блок 12 управлени  по команде с пульта 16 управлени  переводит триггер 13 из 1 в О. При этом формирователь 14 разрешает работу печатающего блока 15, который фиксирует исходное состо ние счетчиков 5, 7, 9, 11, 20. После чего триггер 13 вновь переводитс  в 1.
В режиме тестировани  блок 1 управлени  в соответствии с введенной программой вьфабатьгоает совокупность управл ющих сигналов дл  генераторов 2 и 3 импульсов и формировател  4 управл ющих сигналов. Данна  совокупность управл ющих сигналов определ ет реализацию теста проверки и задает код данных, адрес и род работы дл  провер емой микросхемы в каждом цикле обращени . Генератор 2 импульсов формирует эталонный код данных дл  записи в провер емую микросхему 12 или дл  сравнени  со cчитanны ш из микросхемы 21 данньми. Результаты сравнени  считанного и эталонного кодов
поступают в блок 7 управлени . Генератор 3 импульсов формирует код адреса провер емой микpocxe ш 21. Информаци  о СОСТОЯНИИ счетчика адреса генератора 3 поступает в
блок 1 управлени , задава  условные переходы в алгоритме провер ющего теста. Формирователь 4 управл ющих сигналов в зависимости от заданного блоком 1 управлени  режима формирует временную диаграмму
записи, считывани  или регенерации. I
С момента начала и до окончани  генерации теста проверки импульсы
Выбор микросхем (ВМ) (наличие импульса соответствует обращению к провер емой микросхеме) поступают с выхода форш1ровател  4 на тактовый вход 1 счетчика 20. После каждых к импульсов счетчик 20 оказьгоаетс  в состо нии нуль и на выходе обратного переноса по вл етс  импульс, КОТ01И11Й через элемент ИЛИ 19 поступает на вход параллельНой записи счетчика 20 и осуществл ет очередную запись числа К из регистра 18 в счетчик 20. Если за-.дан ре ;ш4 изменени  напр жени  питани , то импульс переноса с выхода счетчика 20 поступает через элементы И-ИЛИ 17 (фиг. 2). на один из тактовых входов счетчика 9. В результате состо ние счетчика 9 изменитс  на Р импульсов за врем  проверки микросхемы даиньм тестом, а напр жение питани  будет линейно измен тьс  относительно исходного в сторону увеличени  или уменьшени . Блок 16 управлени  информирует блок 12 управлени  о результате тестировани . По окончании теста или в случае отказа провер емой микросхемы блок 12 управлени  останавливает работу блока 1 управлени  и через триггер 13 и формирователь 14 разрешает работу печатаю«чего блока 15, который фиксирует состо ние счетчика 5, 7, 9, 11 и 20 в момент останова. Блок 12 управлени  измен ет исходное состо ние счетчиков 5, 7, 9, 11 и содержимое регистра 18, мен   тем самым значени  параметров управл ющих воздействий. В свою очередь счетчики информируют блок 12 управлени  о своем текущем состо нии, формиру  услови  переходов алгоритма построени  области работоспособности.
Таким образом, предлагаемое устройство дп  контрол  интегральных Ш11{росхем пам ти позвол ет реализовать режим изменени  напр жени  питани  1фовер емой микросхемы зо врем  прохождени  провер емого тес та, что повышает достдверность контрол  интегральных микросхем пам ти
в процессе построени  многомерных областей работоспособности, так как создаютс  услови  дл  про влени  скрытых дефектов интегральных струкТУР , которые могут щ ивести к нарушени}Ш исправного функционировани  запоминающего устройстваt Количественна оценка интервала времени, в течении которого провер ема  микросхема сохран ет информацию при отказе источника питани , расщир ет область применени  предлагаемого устройства, поскольку этот параметр  вл етс  необходимым в том случае
когда требуетс  избежать потери
информации при аварийном отключении питани .
Фиг. f

Claims (1)

  1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ ЬШКРОСХЕМ ПАМЯТИ, содержащее генераторы импульсов, подключенные к первому блоку управления , последовательно соединенные первый и второй формирователи управляющих сигналов·, входы первого из которых соединены с выходами генераторов импульсов и одним из выходов первого блока управления, выход второго формирователя управляющих сигналов является первым выходом устройства, первым входом которого является вход одного из генераторов импульсов, программируемый блок питания и датчик температуры·, выходы которых являются соответственно вторым и третьим выходами устройства, триггер, выход которого подключен к входу третьего формирователя управляющих сигналов, пульт управления , соединенный с первым и вторым блоками управления, первый счетчик и группы счетчиков, одни из выходов которых подключены соответственно к управляющим вхЪдам первого и второго формирователей управляющих сигналов , программируемого блока пита- , ния и датчика температуры и к информационному входу печатающего блока, один из управляющих входов которого соединен с выходом третьего формирователя управляющих сигналов, выходы второго блока управления подключены соответственно к входам триггера, первого счетчика, счетчиков групп, одному из входов первого' блока управления и другому управляющему входу печатающего блока, а входы - к другим выходам первого счетчика и счетчиков групп, о т л и- . чающееся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, в него введены регистр, элемент ИЛИ, элементы И-ИЛИ и второй счетчик, тактовый вход которого соединен с одним из выходов первого формирователя управляющих сигналов, информационный вход - с выходом регистра, вход управления параллельной запиз сью - с выходом элемента ИЛИ, информационный. выход - с информационным входом печатающего блока, выход переноса - с одними, из входов элемента ИЛИ и элементов И-ИЛИ, выхода которых соединены с тактовыми входами счетчиков одной из групп, вход регистра и другие входы элемента ИЛИ и элементов И-ИЛИ подключены к одним из выходов· второго бло- ка управления.
SU833579376A 1983-04-11 1983-04-11 Устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти SU1144154A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833579376A SU1144154A1 (ru) 1983-04-11 1983-04-11 Устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833579376A SU1144154A1 (ru) 1983-04-11 1983-04-11 Устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1144154A1 true SU1144154A1 (ru) 1985-03-07

Family

ID=21059119

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833579376A SU1144154A1 (ru) 1983-04-11 1983-04-11 Устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1144154A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2524858C2 (ru) * 2012-10-29 2014-08-10 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "Цифровые решения" Система функционального тестирования карт полупроводниковой памяти

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Патент US № 3751649, кл. 235-153, 1975. 2. Авторское свидетельство СССР № 646375, .кл. G 11 С 29/00, 1976 (прототип). *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2524858C2 (ru) * 2012-10-29 2014-08-10 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "Цифровые решения" Система функционального тестирования карт полупроводниковой памяти

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2868710B2 (ja) 集積回路装置及びその試験方法
KR20040008185A (ko) 데이터 저장장치를 테스트하기 위한 테스트 방법
SU1144154A1 (ru) Устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти
JPH1079200A (ja) 半導体メモリ装置のテスト方法および半導体メモリ装置
KR100200481B1 (ko) 테스트 회로
JPH03268266A (ja) フロッピーディスク装置
JPH033200A (ja) 半導体記憶装置
JPS5897195A (ja) ダイナミツク半導体記憶装置
JP3039631B2 (ja) 信号線監視装置
JP2588244B2 (ja) 半導体装置
SU1663627A2 (ru) Устройство дл контрол блоков пам ти
SU918904A1 (ru) Устройство дл контрол больших интегральных схем (БИС)
KR100388976B1 (ko) 메모리용 비아이에스티 회로
RU2002301C1 (ru) Устройство дл определени показателей надежности объектов
SU1667280A1 (ru) Устройство дл контрол и резервировани информационно-измерительных систем
SU842978A1 (ru) Устройство дл контрол блоков па-М Ти
SU1405059A1 (ru) Устройство дл контрол цифровых блоков
SU796916A1 (ru) Устройство дл контрол блокапАМ Ти
SU1103292A1 (ru) Устройство дл контрол оперативных накопителей
SU1376121A2 (ru) Устройство дл записи и контрол программируемой посто нной пам ти
SU1048521A1 (ru) Устройство дл контрол накопителей
SU1151977A1 (ru) Устройство дл ввода информации
SU579658A1 (ru) Устройство дл контрол блоков пам ти
SU1324068A1 (ru) Устройство дл контрол посто нной пам ти
SU1280636A1 (ru) Устройство дл отладки программ