SU1144154A1 - Устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти - Google Patents
Устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти Download PDFInfo
- Publication number
- SU1144154A1 SU1144154A1 SU833579376A SU3579376A SU1144154A1 SU 1144154 A1 SU1144154 A1 SU 1144154A1 SU 833579376 A SU833579376 A SU 833579376A SU 3579376 A SU3579376 A SU 3579376A SU 1144154 A1 SU1144154 A1 SU 1144154A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- control
- inputs
- outputs
- output
- input
- Prior art date
Links
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ ШКРОСХЕМ ПАМЯТИ, содержащее генераторы импульсов, подключенные к первому блоку управлени , последовательно соединенные первьй и второй формирователи управл ющих сигналов, входы первого из которых соединены с выходами генераторов импульсов и одним из выходов первого блока управлени , выход второго формировател управл ютЕих сигналов вл етс первым выходом устрой ства, первым входом которого вл етс вход одного из генераторов импульсов , программируемый блок питани и датчик температуры-, вккоды которых вл ютс соответственно вторым и третьим выходами устройства, триггер, выход которого подключен к входу третьего формировател управл ющих сигналов, пульт управлени , соединенный с первым и вторым блоками управлени , первый счетчик и группы счетчиков, одни из выходов которых подключень соответственно к управл кщим вхЬдам первого и второго формирователей управл ющих сигналов , программируемого блока пита- i ни и датчика температуры и к информационному входу печатающего блока, один из управл ющих входов которого соединен с выходом третьего формировател управл ющих сигналов, выходы второго блока управлени подключены соответственно к входам триггера, первого счетчика, счетчиков групп, одному из входов первого блока управлени и другому управл ющему входу печатающего блока, а входы - к другим выходам первого счет (Л С чика и счетчиков групп, о т л и- . чающеес тем, что, с целью повьшени достоверности контрол , в него введены регистр, элемент ИЛИ, элементы И-ИЛИ и второй счетчик, тактовый вход которого соединен с одним из выходов первого формировател управл кшщх сигналов, информационн вход - с выходой регистра, rtb вход управлени параллельной запи7 СЬЮ - с выходом элемента ИЖ, информационньй .выход - с информационным входом печатающего блока, выход переноса - с одними, из входов элемента ИЛИ и элементов И-ИЛИ, выхода которьпЕ соединены с тактовыми входами счетчиков одной из групп, вход регистра и другие входы элемента ИШ и элементов И-ИЛИ подключены к одним из выходов- второго блока управлени ..
Description
I Изобретение относитс к вычисли тельной технике. Известно устройство дл контрол блоков пам ти, в котором генера ци эталонных данных и адресаци . провер емого блока пам ти осуществ л етс блоком управлени , вырабатывающим совокупность команд специального назначени , определ ющих программу теста дл проверки блока пам ти, причем блок управлени позвол ет формировать специальные дл данного типа блоков пам ти т желые кодовые последовательности и адресные переходы il.. . Недостатком этого устройства в л етс однозначность определени работоспособности провер емого бло ка пам ти дл решени поставленной задачи по принципу годен-брак- С по мощью этого устройства невозможно также проводить достоверные испытани современных больших интегральных микросхем запоминающих устройст так как отсутствует возможность создавать внешние услови проверки характерные дл про влени дефектов . Наиболее близким техническим решением к изобретению вл етс устро ство дл контрол блоков пам ти, содержащее генераторы импульсов, подключенные к первому блоку управлени , последовательно соединенные формирователи управл ющих сигналов входы первого из которых соединены с выходами первого блока управлени и генераторов импульсов, а выход второго формировател управл ющих сигналов подключен к первому выходу устройства-, вход .которого соединен с входом одного из генераторов импульсов, блок питани и дат чик температуры, выходы которых подключены соответственно к второму и третьему выходам устройства-, второй блок управлени , выходы кото рого соединены с входом триггера, подключенного к третьему блоку управлени , печатающий блок, пульт управлени , соединенный с первым и вторым блоками управлени , счетчи ки, информационные которых подключены соответственно к управл ющим входам формирователей управл ющих сигналов, блока питани , дат чика температуры и информационным входам печатающего блока, управл ющие входы и выходы счетчиков соединены с выходами и входами второго блока управлени , а выход третьего блока управлени соединен с управл ют щим входом печатающего блока f2j. Это устройство устанавливает пригодность провер емой пам ти дл применени в заданных услови х эксплуатации и позвол ет оценивать его работоспособность по следующим параметрам: временные соотношени и амплитуда управл ющих сигналов, частота обращени , напр жени питани , температурный диапазон Однако это устройство не позвол ет проводить испытани блоков пам ти с требуемой степенью достоверности . Это объ сн етс тем, что тенденци к повьш1ению быстродействи , информационной емкости и увеличению плотности компоновки современных больших интегральных микросхем запоминающих устройств (БИС ЗУ) привод т к по влению новых типов дефектов , которые возникают при функционировании элементов субмикронных размеров в монолитном кристалле. Специфика контрол БИС ЗУ состоит в том, что необходимо вы вить не только вные отказы элементов, вход щих, в состав запоминающего устройства, но и дефекты, обусловленные паразитными св з ми, которые возникают в процессе функционировани при изменении внешних воздействий, в частности , величины питающих напр жений. Известное устройство осуществл ет построение области работоспособности по точкам при фиксированных значени х напр жени питани . Такой режим испытани не гарантирует работоспособности провер емой пам ти в услови х, когда будет происходить плавное изменение уровн напр жени питани даже в допустимом диапазоне , что имеет место при нестабильности источника питани или постепенном выходе его из стро . Изменение питани в процессе функционировани БИС ЗУ приводит к перезар ду паразитных емкостей, изменению параметров протекающих токов , возникают сбои в работе усилителей записи-считывани и происходит потер информации в чейках пам ти . Кроме того, известное устройство в процессе построени области рабо3
тоспособности не оценивает такой параметр как врем , в течении которого можно гарантировать работоспособность провер емой пам ти в случае катастрофического отказа источника питани , когда он выходит из стро и происходит постепенный разр д фильтрующих емкостей-. Такой параметр вл етс важным в том cлyf чае, когда необходимо избежать потери информации, записанной в пам ть. Величина времени хранени информации позвол ет рассчитать схему аварийного подключени резервного истоника питани или произвести перезапись информации в другой массив пам ти.
Целью изобретени вл етс повышение достоверности контрол .
Поставленна цель достигаетс тем, что в устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти, содежаа;ее генераторы импульсов, подключенные к первому блоку управлени , последовательно соединенные первый и второй формирователи управл ющих сигналов, входы первого из которых соединены с выходами генераторов импульсов и одним из выходов первого блока управлени , выход второго формировател управл ющих сигналов вл етс первым выходом устройства , первым входом которого вл етс вход одного из генераторов импульсов, программируемый блок питани и датчик температуры, выходы которых вл ютс соответственно вторым и третьим выходами устройства , триггер, выход которого подключен к входу третьего формировател управл ющих сигналов, пульт управлени , соединенный с первым и вторым блоками управлени , первый счетчик и группы счетчиков, одни из вьпсодов которых подключены соответственно к управл ющим входам первого и второго формирователей управл ющих сигналов, программируемого блока питани и датчика температуры и к информационному входу печатающего блока, один из управл ющих входов которого соединен с выходом третьего формировател управл ющих сигналов, выходы второго блока управлени подключены соответственно к входам триггера , первого счетчика, счетчиков групп, одному из входов первого
4415А4
блока управлени и другому управл ющему входу печатающего блока, а входы - к другим выходам первого счетчика и счетчиков групп, введены регистр, элемент ИЛИ, элементы И-Шта и второй счетчик, тактовый вход которого соединен с одним из выходов первого формировател управл ющих сигналов, информационный
10 вход - с выходом регистра, вход управлени параллельной записью с выходом элемента ИЛИ, информационный выход - с информационным входом печатающего блока, выход переноса 15 с одним из входов элемента И-ИЖ, выходы которых соединены с тактовыми входами счетчиков одной из групп, вход регистра и другие входы элемента ИЛИ и элементов И-ИЛИ подключены к одним из выходов второго блока управлени .
На фиг. 1 изображена структурна схема устройства дл контрол интегральных микросхем пам ти, на
5 фиг. 2 - схема отдельных блоков устройства .
Устройство содержит (фиг. 1) первый блок t управлени , генераторы 2 и 3 импульсов, первый формироваQ тель 4 управл ющих сигналов, группу счетчиков 5, второй формирователь 6 управл ющих сигналов, группу счетчиков 7, программируемый блок 8 питани , группу счетчиков 9, датчик 10 температуры, первый счетчик 11, второй блок 12 управлени . Триггер 13, третий формирователь 14 управл ющих сигналов, печатающий блок 15, пульт 16 управлени , элементы
И-ИЛИ 17, регистр 18, элемент ИЛИ 19, второй счетчик 20.
Устройство подключаетс к контролируемой интегральной микросхеме 21 пам ти.
Программируемь1й блок 8 питани (фиг. 2) содержит цифроаналоговый преобразователь 22, операционный усилитель 23, резисторы 24 и 25, конденсаторы 26-29.
Устройство работает следующим образом.
Дл построени многомерных областей работоспособности микросхем пам ти устройство имеет два режима функционировани : режим задани управл ющих воздействий и режим тестировани .
В режиме задани управл ющих воздействий из пульта 16 управлени в блок 1 управлени вводитс программа генерации теста. Блок 12 управлени в соответствии с программой также записанной с пульта 16 управлени задает исходное значение параметров, определ дах область работоспособности провер емой микросхемы . Таким образом, временное положение и длительность управл ющих сигналов, которые будут реализованы формирователем 4, соответствуют кодам, занесенньм в счетчики 5 Амплитуда управл юпщх сигналов определ етс кодами счетчиков 7. Зада ние температуры окружающей среды, когда провер ема микросхема 21 загружена в термостат, осуществл етс датчиком 10 температуры в соответствии с кодами счетчика 11. Исходный уровень напр жени тштани задаетс кодом счетчика 9, который записываетс из блока 12 управлени , при этом тактовые импульсы поступают на счетчики 9 через элементы И-ИЖ 17.
Дл реализации изменени напр жени питани в режиме тестировани блок 12 управлени задает число К, которое заноситс в регистр 18 в двоичном коде, а затем через элемент ИЛИ 19 записывает его в счетчик 20. Значение числа К определ етс из услови , что счетчик 9 за врем прохождени провер кицего теста должен изменить свое состо ние на Р импульсов. Соответственно измен етс и напр жение питани , задаваемое блоком 12.
После установлени исходных условий блок 12 управлени по команде с пульта 16 управлени переводит триггер 13 из 1 в О. При этом формирователь 14 разрешает работу печатающего блока 15, который фиксирует исходное состо ние счетчиков 5, 7, 9, 11, 20. После чего триггер 13 вновь переводитс в 1.
В режиме тестировани блок 1 управлени в соответствии с введенной программой вьфабатьгоает совокупность управл ющих сигналов дл генераторов 2 и 3 импульсов и формировател 4 управл ющих сигналов. Данна совокупность управл ющих сигналов определ ет реализацию теста проверки и задает код данных, адрес и род работы дл провер емой микросхемы в каждом цикле обращени . Генератор 2 импульсов формирует эталонный код данных дл записи в провер емую микросхему 12 или дл сравнени со cчитanны ш из микросхемы 21 данньми. Результаты сравнени считанного и эталонного кодов
поступают в блок 7 управлени . Генератор 3 импульсов формирует код адреса провер емой микpocxe ш 21. Информаци о СОСТОЯНИИ счетчика адреса генератора 3 поступает в
блок 1 управлени , задава условные переходы в алгоритме провер ющего теста. Формирователь 4 управл ющих сигналов в зависимости от заданного блоком 1 управлени режима формирует временную диаграмму
записи, считывани или регенерации. I
С момента начала и до окончани генерации теста проверки импульсы
Выбор микросхем (ВМ) (наличие импульса соответствует обращению к провер емой микросхеме) поступают с выхода форш1ровател 4 на тактовый вход 1 счетчика 20. После каждых к импульсов счетчик 20 оказьгоаетс в состо нии нуль и на выходе обратного переноса по вл етс импульс, КОТ01И11Й через элемент ИЛИ 19 поступает на вход параллельНой записи счетчика 20 и осуществл ет очередную запись числа К из регистра 18 в счетчик 20. Если за-.дан ре ;ш4 изменени напр жени питани , то импульс переноса с выхода счетчика 20 поступает через элементы И-ИЛИ 17 (фиг. 2). на один из тактовых входов счетчика 9. В результате состо ние счетчика 9 изменитс на Р импульсов за врем проверки микросхемы даиньм тестом, а напр жение питани будет линейно измен тьс относительно исходного в сторону увеличени или уменьшени . Блок 16 управлени информирует блок 12 управлени о результате тестировани . По окончании теста или в случае отказа провер емой микросхемы блок 12 управлени останавливает работу блока 1 управлени и через триггер 13 и формирователь 14 разрешает работу печатаю«чего блока 15, который фиксирует состо ние счетчика 5, 7, 9, 11 и 20 в момент останова. Блок 12 управлени измен ет исходное состо ние счетчиков 5, 7, 9, 11 и содержимое регистра 18, мен тем самым значени параметров управл ющих воздействий. В свою очередь счетчики информируют блок 12 управлени о своем текущем состо нии, формиру услови переходов алгоритма построени области работоспособности.
Таким образом, предлагаемое устройство дп контрол интегральных Ш11{росхем пам ти позвол ет реализовать режим изменени напр жени питани 1фовер емой микросхемы зо врем прохождени провер емого тес та, что повышает достдверность контрол интегральных микросхем пам ти
в процессе построени многомерных областей работоспособности, так как создаютс услови дл про влени скрытых дефектов интегральных струкТУР , которые могут щ ивести к нарушени}Ш исправного функционировани запоминающего устройстваt Количественна оценка интервала времени, в течении которого провер ема микросхема сохран ет информацию при отказе источника питани , расщир ет область применени предлагаемого устройства, поскольку этот параметр вл етс необходимым в том случае
когда требуетс избежать потери
информации при аварийном отключении питани .
Фиг. f
Claims (1)
- УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ ЬШКРОСХЕМ ПАМЯТИ, содержащее генераторы импульсов, подключенные к первому блоку управления , последовательно соединенные первый и второй формирователи управляющих сигналов·, входы первого из которых соединены с выходами генераторов импульсов и одним из выходов первого блока управления, выход второго формирователя управляющих сигналов является первым выходом устройства, первым входом которого является вход одного из генераторов импульсов, программируемый блок питания и датчик температуры·, выходы которых являются соответственно вторым и третьим выходами устройства, триггер, выход которого подключен к входу третьего формирователя управляющих сигналов, пульт управления , соединенный с первым и вторым блоками управления, первый счетчик и группы счетчиков, одни из выходов которых подключены соответственно к управляющим вхЪдам первого и второго формирователей управляющих сигналов , программируемого блока пита- , ния и датчика температуры и к информационному входу печатающего блока, один из управляющих входов которого соединен с выходом третьего формирователя управляющих сигналов, выходы второго блока управления подключены соответственно к входам триггера, первого счетчика, счетчиков групп, одному из входов первого' блока управления и другому управляющему входу печатающего блока, а входы - к другим выходам первого счетчика и счетчиков групп, о т л и- . чающееся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, в него введены регистр, элемент ИЛИ, элементы И-ИЛИ и второй счетчик, тактовый вход которого соединен с одним из выходов первого формирователя управляющих сигналов, информационный вход - с выходом регистра, вход управления параллельной запиз сью - с выходом элемента ИЛИ, информационный. выход - с информационным входом печатающего блока, выход переноса - с одними, из входов элемента ИЛИ и элементов И-ИЛИ, выхода которых соединены с тактовыми входами счетчиков одной из групп, вход регистра и другие входы элемента ИЛИ и элементов И-ИЛИ подключены к одним из выходов· второго бло- ка управления.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833579376A SU1144154A1 (ru) | 1983-04-11 | 1983-04-11 | Устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833579376A SU1144154A1 (ru) | 1983-04-11 | 1983-04-11 | Устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1144154A1 true SU1144154A1 (ru) | 1985-03-07 |
Family
ID=21059119
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833579376A SU1144154A1 (ru) | 1983-04-11 | 1983-04-11 | Устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1144154A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2524858C2 (ru) * | 2012-10-29 | 2014-08-10 | Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "Цифровые решения" | Система функционального тестирования карт полупроводниковой памяти |
-
1983
- 1983-04-11 SU SU833579376A patent/SU1144154A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Патент US № 3751649, кл. 235-153, 1975. 2. Авторское свидетельство СССР № 646375, .кл. G 11 С 29/00, 1976 (прототип). * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2524858C2 (ru) * | 2012-10-29 | 2014-08-10 | Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "Цифровые решения" | Система функционального тестирования карт полупроводниковой памяти |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2868710B2 (ja) | 集積回路装置及びその試験方法 | |
KR20040008185A (ko) | 데이터 저장장치를 테스트하기 위한 테스트 방법 | |
SU1144154A1 (ru) | Устройство дл контрол интегральных микросхем пам ти | |
JPH1079200A (ja) | 半導体メモリ装置のテスト方法および半導体メモリ装置 | |
KR100200481B1 (ko) | 테스트 회로 | |
JPH03268266A (ja) | フロッピーディスク装置 | |
JPH033200A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPS5897195A (ja) | ダイナミツク半導体記憶装置 | |
JP3039631B2 (ja) | 信号線監視装置 | |
JP2588244B2 (ja) | 半導体装置 | |
SU1663627A2 (ru) | Устройство дл контрол блоков пам ти | |
SU918904A1 (ru) | Устройство дл контрол больших интегральных схем (БИС) | |
KR100388976B1 (ko) | 메모리용 비아이에스티 회로 | |
RU2002301C1 (ru) | Устройство дл определени показателей надежности объектов | |
SU1667280A1 (ru) | Устройство дл контрол и резервировани информационно-измерительных систем | |
SU842978A1 (ru) | Устройство дл контрол блоков па-М Ти | |
SU1405059A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых блоков | |
SU796916A1 (ru) | Устройство дл контрол блокапАМ Ти | |
SU1103292A1 (ru) | Устройство дл контрол оперативных накопителей | |
SU1376121A2 (ru) | Устройство дл записи и контрол программируемой посто нной пам ти | |
SU1048521A1 (ru) | Устройство дл контрол накопителей | |
SU1151977A1 (ru) | Устройство дл ввода информации | |
SU579658A1 (ru) | Устройство дл контрол блоков пам ти | |
SU1324068A1 (ru) | Устройство дл контрол посто нной пам ти | |
SU1280636A1 (ru) | Устройство дл отладки программ |