SE453017B - Sett och anordning for bestemning av parametrar for gasformiga emnen som er nervarande vid forbrenningsprocesser och andra processer som sker vid hog temperatur - Google Patents

Sett och anordning for bestemning av parametrar for gasformiga emnen som er nervarande vid forbrenningsprocesser och andra processer som sker vid hog temperatur

Info

Publication number
SE453017B
SE453017B SE8502946A SE8502946A SE453017B SE 453017 B SE453017 B SE 453017B SE 8502946 A SE8502946 A SE 8502946A SE 8502946 A SE8502946 A SE 8502946A SE 453017 B SE453017 B SE 453017B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
light
processes
recording
temperature
spectral
Prior art date
Application number
SE8502946A
Other languages
English (en)
Other versions
SE8502946L (sv
SE8502946D0 (sv
Inventor
L Uneus
S Wallin
Original Assignee
Opsis Ab Ideon
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Opsis Ab Ideon filed Critical Opsis Ab Ideon
Priority to SE8502946A priority Critical patent/SE453017B/sv
Publication of SE8502946D0 publication Critical patent/SE8502946D0/sv
Priority to JP61503444A priority patent/JP2638595B2/ja
Priority to PCT/SE1986/000282 priority patent/WO1986007455A1/en
Priority to EP86903700A priority patent/EP0262140B1/en
Priority to US07/030,838 priority patent/US4790652A/en
Priority to AT86903700T priority patent/ATE55645T1/de
Priority to DE8686903700T priority patent/DE3673527D1/de
Publication of SE8502946L publication Critical patent/SE8502946L/sv
Priority to DK056087A priority patent/DK167987B1/da
Priority to NO870556A priority patent/NO171385C/no
Priority to FI875445A priority patent/FI90693C/sv
Publication of SE453017B publication Critical patent/SE453017B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/268Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light using optical fibres
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0014Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiation from gases, flames
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0014Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiation from gases, flames
    • G01J5/0018Flames, plasma or welding
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/60Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature
    • G01J5/601Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature using spectral scanning
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J2003/2853Averaging successive scans or readings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/02Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0205Investigating particle size or size distribution by optical means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Description

20 25 30 455 017 2 à andra sidan blir för låg bildas dioxin, som är ett fruktat miljögift. Med en lämplig styrning av temperatu- ren sà att denna hålls vid ett mellanliggande värde kan utsläppen av dessa båda farliga föreningar mini- meras. Dessa exempel visar alltsá att mycket stora eko- nomiska och miljömässiga värden kan sparas med effektiv styrning och reglering.
Tyvärr har tekniken pá omrâdet inte utvecklats i samma takt som råvarukostnaderna och de miljömässiga problemen. En av anledningarna till detta är givetvis de höga temperaturerna som omöjliggör användning av normala givare och mätinstrument. En annan anledning är att mätmiljön i exempelvis ett kolkraftverk ställer mycket höga krav på mätutrustningen, som måste tåla smuts, vibrationer osv. Fram till för ett par är sedan fanns det därför endast otillförlitliga metoder. Tempe- raturen mättes med termoelement, vilka störde processerna och därför inte gav säkra resultat. Vidare registrerades de vid förbränningen närvarande ämnenas koncentration genom att gas sögs ut fràn förbränningszonen och in i en masspektrometer. Även dessa koncentrationsmätningar blev osäkra, eftersom processerna stördes vid utsugningen av provet, det utsugna gasprovet avkyldes i masspektra- metern och risken fanns att ämnena kunde reagera med varandra i masspektrometern och att mätningen därmed inte skedde på samma ämnen som fanns närvarande vid processen.
Nyligen har det emellertid utvecklats en teknik som möjliggör beröringsfri mätning av koncentration och temperatur vid förbränningsprocesser och som därmed vilken kallas CARS (Coherent Anti-Stokes Raman Scattering), presenteras i Elteknik med aktuell elektronik l985:4 sid 76-80. Vid mätning med CARS används två lasrar, den ena avstämbar och den inte stör dessa. Tekniken, andra med fixerad frekvens. Strålarna från dessa båda lasrar fokuseras och inställs så att de korsar varandra under en speciell vinkel. Det område till vilket de båda 10 15 20 25 30 453 017 3 laserstrálarna skall fokuseras har en yta av ca 3 umz.
Om fokuseringen misslyckas fungerar inte metoden. Frek- vensskillnaden mellan strålarna måste vidare exakt mot- svara skillnaden mellan två interna energinivàer i den molekyl, som man önskar undersöka. Sásom omedelbart framgår av denna korta beskrivning rör det sig om en teknisk mycket komplicerad anordning, vilken endast specialutbildade tekniker kan installera och utföra mätningar med. Kostnaden för en sådan anordning är natur- ligtvis mycket stor, i artikeln nämns summan 2 miljoner kronor per system, och eftersom det rör sig om högeffekts- lasrar förväntas denna summa inte sjunka.
Olyckligtvis har lasertekniken även andra nackdelar.
För det första kan problem uppstå med att få fram en tillräckligt stark mätsignal vid mätningar i processer med hög partikelhalt. För det andra är lasern en brusig ljuskälla, vilket leder till att mätnoggrannheten i många fall inte blir speciellt bra. För det tredje måste olika mätuppställningar (lasrar) användas för mätningar i olika frekvensomráden. För det fjärde uppstår säker- hetsproblem, eftersom ljus som reflekteras från ytor som reflekterar så lite som ett par procent kan medföra obotliga skador om det träffar ögat.
För att tillgodose samhällets intresse för rávaru- besparingar och begränsningar av miljöfarliga utsläpp finns det sålunda ett stort behov av en enklare, till- förlitligare och billigare teknik, som kan utnyttjas av vem som helst utan stora fackkunskaper, men vilken ändå klarar de stora påfrestningar som en miljö med höga temperaturer och mycket föroreningar innebär. Ändamålet med föreliggande uppfinning är således att åstadkomma ett billigt och enkelt sätt att mäta parametrar hos gasformiga ämnen, som är närvarande vid förbränningsprocesser och andra processer, som sker vid hög temperatur. Ett speciellt intressant område är mätning inuti flammor. Ett annat ändamål med före- liggande uppfinning är att åstadkomma en anordning 455 017 10 15 20 25 .30 35 4 för genomförande av sättet. Ändamålet uppnås medelst ett sätt, vilket känne- tecknas av att det transmitterade ljuset är spektralt bredbandigt ljus fràn en yttre ljuskälla; att registre- ringen görs ett stort antal gånger och under så kort tid att den sammanlagda ljusintensiteten för hela våg- längdsintervallet är konstant under varje registrering; de registrerade spektralfördelningarna medelvärdesbil- das och de sökta parametrarna beräknas på grundval av medelvärdesspektralfördelningen, varvid dennas utseen- de och för kända betingelser beräknade eller regist- rerade spektra utnyttjas för denna beräkning.
För genomförande av sättet enligt uppfinningen utnyttjas en anordning, vilken kännetecknas av en spekt- ralt bredbandig ljuskälla, fràn vilken ljus transmit- teras mot gaserna, av att registreringen utförs ett stort antal gånger och på så kort tid att den samman- lagda ljusintensiteten för hela vâglängdsintervallet är konstant under varje registrering, och av en medel- värdesbildare samt datororgan för beräkning av de sökta parametrarna.
Med föreliggande uppfinning kan mätningar utföras pá alla gasformiga ämnen genom vilka ljus kan transmit- teras.
Vidare kan parametrarna för flera ämnen bestämmas vid en och samma mätning.
Genom att ett stort antal spektra upptas och genom att varje spektrum upptas under så kort tid att mät- betingelserna är konstanta kan mycket små absorptioner detekteras.
I det följande skall föreliggande uppfinning beskriv- as genom ett utföringsexempel under hänvisning till bifogade ritningar. Fig l visar schematiskt en anordning enligt uppfinningen. Pig 2 visar schematiskt en variant av anordningen i fig 1. Fig 3A och 3B visar vid olika 10 15 20 25 30 35 455 017 5 temperaturer upptagna absorptionsspektra för ett och samma ämne. Fig 4 är en absorptionsprofil och visar dennas av temperaturen respektive trycket beroende bredd- ning.
I fig 1 visas en anordning, vilken är avsedd att användas för mätning av parametrar för gaser, som finns närvarande vid förbränningsprocesser och andra processer, som sker vid hög temperatur. En lampa l, vilken måste ha åtminstone samma frekvensomfáng som det vàglängds- intervall som man önskar undersöka och vilken exempel- vis kan vara en 450 Watts Xenonlampa, är placerad i en parabolisk spegels 4 fokus och i närheten av det mätobjekt 2 pà vilket mätningarna skall utföras. Mitt för lampan l och på andra sidan av mätobjekten 2, som i det visade fallet utgöres av en flamma, är en mottagar- anordning bestående av en parabolisk spegel 5 och en snedställd spegel 3 anordnad. En spektrometer 6 är sà placerad att den mottar ljus från mottagaranord- ningen. Alternativt kan ljuset frán mätobjektet ledas direkt in i spektrometern 6, varvid mottagaranordning- en är överflödig. För mätningar i det synliga omrâdet och i UV-området kan spektrometern lämpligen vara en allmänt känd gitterspektrometer. I IR-området erford- ras en Michelsoninterferometer, som ger mycket hög upplösning. Spektrometern 6 innefattar en anordning för snabb omvandling av det av det spektraluppdela- de ljuset bestående spektrat till elektriska signaler.
Denna anordning kan exempelvis bestå av en inuti spekt- rometern 6 placerad roterande spegel 7, som sveper spektromet över en fix utgångsspalt, och en fotomul- tiplikator 8 för omvandling av intensiteten hos det genom spalten transmitterade ljuset till elektriska signaler. Alternativt kan anordningen utgöras av en diodarray. De idag på marknaden tillgängliga diod- arrayerna är emellertid inte tillräckligt känsliga utan signalen störs av brus. Andra anordningar är också tänk- bara under förutsättning att spektrumet registreras så 10 15 20 25 30 35 453 017 6 snabbt att den sammanlagda ljusintensiteten för hela våglängdsintervallet är konstant under varje registre- ring. Däremot kan den sammanlagda ljusintensiteten vara olika vid olika registreringar, eftersom signalnivàn fluktuerar i beroende av turbulens i mätobjektet, varia- tioner i lampans utsignal, vibrationer, etc. Anordningens utgång är kopplad till en snabb A/D-omvandlare, vilken omvandlar den analoga signalen från fotomultiplikatorn eller diodarrayen till digitalt format, varefter signalen lagras i en dator 9. I datorn 9 finns lagrat program för medelvärdesbildning av de registrerade spektrana, för beräkning av de sökta parametrarna och för styrning av den roterande spegeln samt vid kända betingelser upptagna referensspektra. Datorn har också minnesutrymme för lagring av de registrerade spektrana. Till datorn kan en skrivare 10 eller någon annan lämplig presentations- enhet vara kopplad. Vidare kan datorn 9 vara kopplad till ej visade styr- och reglerorgan, vilka mottar styrsignaler i beroende av resultatet av mätningarna.
Mätanordningen fungerar på följande sätt. Ljus från lampan l reflekteras i den paraboliska spegeln 4 och lämnar denna som ett parallellt ljusknippe, vilket trans- mitteras genom mätobjektet 2. Det transmitterade ljuset mottas av den paraboliska spegeln 5, reflekteras till den snedställda spegeln 3 och vidare till spektrometerns 6 ingång. I spektrometern 6 spektraluppdelas ljuset.
Den roterande spegeln 7 sveper spektrumet över den fixa spalten pà spektrometerns utgång, varvid fotomultiplika- torn 8 sekventiellt mottar det genom spalten transmitte- rade ljuset från spektrumets olika váglängdsintervall och avger en mot intensiteten för detta ljus svarande analog signal. Den analoga signalen A/D-omvandlas och lagras i datorn 9. Genom upprepning av dessa operationer registreras på kort tid ett stort antal spektra (l0000- 100000 st), vilka därefter medelvärdesbildas i datorn.
För att kompensera för vàglängdsberoende variationer i lampans utsignal och reflektionen i speglar, etc och Uf 10 15 20 25 30 35 453 017 7 för att få fram de intressanta absorptionsprofilerna divideras medelvärdesspektrumet med en härför lämplig funktion. På grundval av det sålunda erhållna spektrumet beräknar datorn i realtid, såsom kommer att beskrivas närmare nedan, de sökta parametrarna.
I fig 2 visas en variant av uppställningen i fig 1.
Enligt denna variant leds ljuset från ljuskällan l till mätobjektet 2 och/eller från mätobjektet 2 till spektro- metern 6 medelst optiska fibrer ll. För att föra in lju- set i de optiska fibrerna utnyttjas en speciell anord- ning l2, vilken består av en plan, snedställd spegel och en fokuserande spegel. (Anordningen är patentsökt, SE 8406025-0.) Denna mätuppställning är främst avsedd att användas vid mätning i svårt tillgängliga miljöer och vid mätning över korta och väldefinierade sträckor, exempelvis inuti en flamma.
De i datorn utförda beräkningarna grundar sig pà att elektroner bara kan kretsa i vissa bestämda skal eller banor i atomer. Varje sådan elektronbana motsvarar ett bestämt energitillstånd. I molekyler är situationen mer komplicerad. Förutom de elektrontillstánd som finns i atomerna finns det också vibrations- och rotations- tillstånd, som beror på att molekylerna kan vibrera längs resp rotera kring en axel. Principen är dock den- samma: varje molekyl har ett begränsat antal tillåtna energitillstånd. Om en atom eller en molekyl träffas av fotoner, dvs av ljus, vars frekvens exakt motsvarar energiskillnaden mellan två tillstànd i atomen eller molekylen, absorberas en foton med viss sannolikhet, varvid atomen eller molekylen i så fall övergår från ett energitillstånd till ett annat. Genom att sända ljus med visst frekvensinneháll och viss intensitet genom exempelvis en gas och genom att studera hur mycket ljus som absorberats vid en viss frekvens vid trans- missionen genom gasen kan man få många informationer om de i gasen ingående ämnena.
I det följande skall.översikt1igt beskrivas hur 453 017 10 15 20 25 30 35 8 beräkning av koncentration, temperatur, tryck, partikel- storleksfördelning och partikelantal gär till med utgångs- punkt från de upptagna spektrana.
TEMPERATUR Elektronerna i en atom besätter olika tillstànd beroende av temperaturen. På samma sätt är olika elektron-, vibra- tions- och rotationstillstánd i en molekyl besatta i beroende av temperaturen. Detta leder till att atomer och molekyler absorberar fotoner med olika frekvens i beroende av temperaturen, vilket i sin tur medför att ett ämnes absorptionsspektrum ser olika ut vid olika temperaturer. I fig 3A och 3B visas tvâ olika spektra, vilka upptagits vid olika temperaturer, för ett och samma ämne. Skillnaderna framgår tydligt. Genom att jämföra ett spektrum som upptagits med anordningen enligt föreliggande uppfinning med spektra som upptagits under (eller beräk- nats för) kända betingelser kan temperaturen bestämmas.
KONCENTRATION Koncentrationen bestäms genom utnyttjande av Lambert-Beers lag I=I0e_°lC, där I är lika med det transmitterade ljusets intensitet, I0 är lika med ljuskällans intensitet, 0 är lika med absorptionstvärsnittet för ämnet i fråga, l är lika med absorptionsträckan och c är lika med koncen- trationen. Denna koncentrationsbestämning förutsätter emellertid att temperaturen är känd, eftersom absorptions- tvärsnittet är temperaturberoende. Med sättet enligt före- liggande uppfinning kan dock temperaturen enkelt bestäm- mas. Den sålunda bestämda koncentrationen är medelkoncen- trationen för ämnet i fråga längs absorptionssträckan.
Om temperaturen är olika på olika ställen längs absorp- tionssträckan kan ytterligare information erhållas. _ IBXSK I fig 4 visas en absorptionsprofil och speciellt dennas breddning till följd av tryck och temperatur. Kurvan A visar det rena temperaturbidraget, sk Dopplerbreddning.
Halvvärdesbredden för denna kurva är proportionell mot roten ur temperaturen. Kurva B visar hur absorptions- ll l0 15 20 25 30 35 453 017 9 profilen ser ut vid tryckbreddning. Halvvärdesbredden för denna kurva är direkt proportionell mot trycket och proportionell mot roten ur temperaturen. Kurvorna visar alltså breddningsfenomenen var för sig. En verklig absorptionsprofil kommer att vara en sammansättning av de båda. Med kännedom om temperaturen kan således trycket bestämmas som en funktion av absorptionsprofilens breddning och vice versa.
ANTAL PARTIKLAR OCH DESSAS STORLEKSFÖRDELNING När antalet partiklar i en gas och dessas storleksför- fördelning skall bestämmas upptages ett spektrum för hela det optiska omrâdet från UV till IR. Sá kallad Mie-spridning medför att ljus av olika våglängd sprids olika mycket mot partiklar i gasen och därmed att olika mycket ljus i olika vàglängdsområden kommer att nå mot- tagaranordningen. Genom att jämföra det transmitterade ljusets intensitet i olika våglängdsomráden i spektrumet kan man bestämma partiklarnas storleksfördelning och genom att titta pà nivån för intensiteten för hela väg- längdsområdet kan antalet partiklar bestämmas.
Förutsättningarna för att de ovan beskrivna beräk- ningarna skall kunna genomföras är att ett spektrum med tillräckligt hög noggrannhet kan registreras. Detta blir möjligt genom tekniken med den snabba svepningen och registreringen av spektrumet på spektrometerns utgång.
Ju större antal registreringar som görs desto bättre blir naturligtvis noggrannheten. Bruset minskar närmare bestämt med roten ur antalet registreringar som görs.
Fördelarna med denna teknik är många. Den är väsent- ligen billigare än den tidigare beskriva laserbaserade metoden. Noggrannheten är mycket hög. I många fall är den bättre än vad som kan åstadkommas vid mätningar med någon annan metod. Det är en generell teknik. Samma anordning kan användas för mätningar på olika ämnen och för olika tillämpningar. Mättekniken är också enkel och tillförlitlig och det erfordras inte några special- utbildade tekniker för att hantera anordningen. Tekniken 10 15 20 25 30 453 017 10 0 lämpar sig vidare för làngtidsmätningar eftersom den inte kräver ständig övervakning. Den lämpar sig också för mätningar på svårtillgängliga ställen, eftersom ljuset kan föras till och från mätstället medelst optiska fibrer, vilket inte är möjligt med laserljuset i den tidigare kända tekniken. Det är dessutom möjligt att MN med en och samma mätanordning övervaka flera processer eller flera mätpunkter i en process genom att ljus från en eller flera lampor förs till de olika mätpunkterna och från de olika mätpunkterna till själva mätanordningen medelst optiska fibrer, varvid anordningen styrs till att cykliskt beräkna parametrarna för de olika mätningar- na. Om flera absorptionssträckor registreras samtidigt i olika riktningar genom mätobjektet kan tredimensionella kartbilder över de sökta mätvärdena genereras med tomo- grafiteknik. _ Föreliggande uppfinning är avsedd för realtidsövervak- ning av och mätning vid förbränningsprocesser, speciellt flammor, och alla processor, där hög temperatur omöjlig- gör användning av konventionell teknik. Föreliggande upp- finning är även avsedd att fungera som givare för styrning och reglering av processer av den ovannämnda typen.
Exempel pà tillämpningsomrâden är värme- och kraftindu- stri (förbränning av olika bränslen, flamövervakning) kemiska processindustri (temperaturövervakning i salt- syraugnar) pappers- och massaindustri (bestämning av partikelhalt, detektion av gaser vid höga temperaturer) järn- och stâlindustri (temperaturmätning i ugnar och konvertrar, analys av tunga element i gasflöden), bil- industri (avgasanalys, speciellt vid katalytisk avgas- rening) etc.
Föreliggande uppfinning är naturligtvis inte begränsad f) till de visade utföringsformerna utan många modifieringar kan göras inom ramen för de efterföljande patentkraven.

Claims (2)

1. l0 l5 20 25 30 453 m7 ll PATENTKRAV l. Sätt att bestämma parametrar, speciellt tryck, temperatur, koncentration, partikelantal och partikel- storleksfördelning, för gasformiga ämnen, som är när- varande vid förbränningsprocesser och andra processer, som sker vid hög temperatur, vid vilket sätt genom gaserna transmitterat ljus spektraluppdelas; ljusets spektrala fördelning i det studerade våglängdsintervallet registre- ras, varvid varje registrering sker sekventiellt genom att det spektraluppdelade ljuset svepes relativt en en-kanalsdetektor, k ä n n e t e c k n a t av att det transmitterade ljuset är spektralt bredbandigt ljus från en yttre ljuskälla; att registreringen görs ett stort antal gånger och under så kort tid att den samman- lagda ljusintensiteten för hela váglängdsintervallet är konstant under varje registrering; de registrerade spektralfördelningarna medelvärdesbildas och de sökta parametrarna beräknas pà grundval av medelvärdesspektral- fördelningen, varvid dennas utseende'och för kända beting- elser beräknade eller registrerade spektra utnyttjas för denna beräkning.
2. Anordning för bestämning av parametrar, speciellt tryck, temperatur, koncentration, partikelstorleksfördel- ning och partikelantal, för gaser, som är närvarande vid förbränningsprocesser eller andra processer med hög temperatur, innefattande ett organ (6) för spektral- uppdelning av ljus som transmitterats genom gaserna; organ (7, 8) för sekventiell registrering av ljusets spektrala fördelning i det studerade vàglängdsinter- vallet vilka innefattar en en-kanalsdetektor (8), vars utsignal är proportionell mot det mottagna ljusets in- tensitet, och organ för svepning av det spektraluppde- lade ljuset relativt en-kanalsdetektorn, k ä n n e - t e c k n a d av en spektralt bredbandig ljuskälla (1), från vilken ljus transmitteras mot gaserna, av att 453 017 12 registreringen utförs ett stort antal gånger och på så kort tid att den sammanlagda ljusintensiteten för hela våglängdsintervallet är konstant under varje registrering, och av en medelvärdesbildare samt dator- organ (9) för beräkning av de sökta parametrerna. (J N;
SE8502946A 1985-06-13 1985-06-13 Sett och anordning for bestemning av parametrar for gasformiga emnen som er nervarande vid forbrenningsprocesser och andra processer som sker vid hog temperatur SE453017B (sv)

Priority Applications (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8502946A SE453017B (sv) 1985-06-13 1985-06-13 Sett och anordning for bestemning av parametrar for gasformiga emnen som er nervarande vid forbrenningsprocesser och andra processer som sker vid hog temperatur
DE8686903700T DE3673527D1 (de) 1985-06-13 1986-06-12 Verfahren und vorrichtung zur bestimmung von parametern gasfoermiger substanzen.
US07/030,838 US4790652A (en) 1985-06-13 1986-06-12 Method and apparatus for determining parameters of gaseous substances
PCT/SE1986/000282 WO1986007455A1 (en) 1985-06-13 1986-06-12 Method and apparatus for determining parameters of gaseous substances
EP86903700A EP0262140B1 (en) 1985-06-13 1986-06-12 Method and apparatus for determining parameters of gaseous substances
JP61503444A JP2638595B2 (ja) 1985-06-13 1986-06-12 ガス状物質のパラメーターの測定方法及び装置
AT86903700T ATE55645T1 (de) 1985-06-13 1986-06-12 Verfahren und vorrichtung zur bestimmung von parametern gasfoermiger substanzen.
DK056087A DK167987B1 (da) 1985-06-13 1987-02-03 Fremgangsmaade og apparat til at bestemme parametre for gasformige stoffer
NO870556A NO171385C (no) 1985-06-13 1987-02-12 Fremgangsmaate og anordning for bestemmelse av parametre for gassformige stoffer
FI875445A FI90693C (sv) 1985-06-13 1987-12-11 Sätt och anordningen för bestämning av parametrar för gasformiga ämnen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8502946A SE453017B (sv) 1985-06-13 1985-06-13 Sett och anordning for bestemning av parametrar for gasformiga emnen som er nervarande vid forbrenningsprocesser och andra processer som sker vid hog temperatur

Publications (3)

Publication Number Publication Date
SE8502946D0 SE8502946D0 (sv) 1985-06-13
SE8502946L SE8502946L (sv) 1986-12-14
SE453017B true SE453017B (sv) 1988-01-04

Family

ID=20360570

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE8502946A SE453017B (sv) 1985-06-13 1985-06-13 Sett och anordning for bestemning av parametrar for gasformiga emnen som er nervarande vid forbrenningsprocesser och andra processer som sker vid hog temperatur

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4790652A (sv)
EP (1) EP0262140B1 (sv)
JP (1) JP2638595B2 (sv)
DE (1) DE3673527D1 (sv)
DK (1) DK167987B1 (sv)
FI (1) FI90693C (sv)
SE (1) SE453017B (sv)
WO (1) WO1986007455A1 (sv)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5517314A (en) * 1991-12-04 1996-05-14 Opsis Ab Optical analysing equipment for determining parameters of gaseous substances flowing through a duct

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE462934B (sv) * 1989-05-19 1990-09-17 Opsis Ab Ideon Anordning foer utsaendning och mottagning av ljus
US5118200A (en) * 1990-06-13 1992-06-02 Varian Associates, Inc. Method and apparatus for temperature measurements
US5303710A (en) * 1992-11-03 1994-04-19 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Apparatus for imaging an object in or through a scattering medium using coherent anti-Stokes Raman scattering
FR2713768B1 (fr) * 1993-12-10 1996-02-09 Sextant Avionique Procédé et appareil de mesure optique de la température d'un mélange gazeux.
DE19632174C2 (de) * 1996-08-09 2002-02-07 Abb Research Ltd Temperaturmessverfahren
US5984998A (en) * 1997-11-14 1999-11-16 American Iron And Steel Institute Method and apparatus for off-gas composition sensing
FR2773879B1 (fr) * 1998-01-20 2001-01-26 Auxitrol Sa Capteur de mesure d'une temperature
DE19809791C1 (de) * 1998-03-09 1999-07-15 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren zum ortsaufgelösten Messen der Temperatur in einem Medium
US6246474B1 (en) 1998-04-29 2001-06-12 Particle Measuring Systems, Inc. Method and apparatus for measurement of particle size distribution in substantially opaque slurries
DE19821956A1 (de) * 1998-05-16 1999-11-18 Deutsch Zentr Luft & Raumfahrt Verfahren zur quantitativen Analyse von Gasvolumina, insbesondere von Abgasen aus Verbrennungseinrichtungen oder -anlagen, sowie Einrichtungen zur Durchführung des Verfahrens
DE19840794C1 (de) * 1998-09-08 2000-03-23 Deutsch Zentr Luft & Raumfahrt Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von Infrarot-Strahlungseigenschaften von Abgasen
DE19945640A1 (de) * 1999-09-23 2001-04-05 Abb Research Ltd Verfahren und Vorrichtung zur Gastemperaturmessung mit laserinduzierter Weissglut-Pyrometrie
FI109149B (sv) 1999-09-29 2002-05-31 Valtion Teknillinen Spektrometer och förfarande för mätning av optiskt spektrum
SE515046C2 (sv) * 1999-10-12 2001-06-05 Vattenfall Ab Förfarande och inrättning för att medelst fotospektroskopi mäta koncentrationen av skadliga gaser i rökgaserna genom värmeproducerande anläggning
US6841778B1 (en) 2001-11-09 2005-01-11 Environmental Systems Products Holdings Inc. Method and apparatus for measuring particulates in vehicle emissions
DE10202999B4 (de) * 2002-01-26 2004-04-15 Palas Gmbh Partikel- Und Lasermesstechnik Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Größenverteilung und Konzentration von Partikeln in einem Fluid
GB0221221D0 (en) * 2002-09-13 2002-10-23 Delphi Tech Inc Exhaust gas sensor
DE102004001748B4 (de) * 2004-01-12 2006-04-20 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Verfahren zum Analysieren von beliebigen, vorzugsweise gasförmigen Medien
US8544279B2 (en) * 2005-11-04 2013-10-01 Zolo Technologies, Inc. Method and apparatus for spectroscopic measurements in the combustion zone of a gas turbine engine
CA2541092A1 (en) * 2006-03-28 2007-09-28 Murray Thomson Infrared light sensors for diagnosis and control of industrial furnace gases
WO2009106078A1 (en) * 2008-02-25 2009-09-03 Nkt Flexibles I/S A pipe system, a fluid sensing system for a pipe system, and a method of determining a fluid component in an annulus cavity of a pipe
JP5856058B2 (ja) 2009-08-10 2016-02-09 ゾロ テクノロジーズ,インコーポレイティド マルチモード送光ファイバを用いた光信号ノイズの緩和
WO2011072730A1 (en) * 2009-12-16 2011-06-23 Abb Research Ltd Optical flame sensor
JP5347983B2 (ja) * 2010-01-19 2013-11-20 株式会社島津製作所 ガス分析装置
US9366621B2 (en) 2012-04-19 2016-06-14 Zolo Technologies, Inc. In-furnace retro-reflectors with steerable tunable diode laser absorption spectrometer
CN102680429B (zh) * 2012-05-30 2013-11-06 四川大学 超小型微腔气体传感器
US9007592B2 (en) 2012-07-18 2015-04-14 Shimadzu Corporation Gas analyzer
US9196032B1 (en) 2014-06-04 2015-11-24 Honeywell International Inc. Equipment and method for three-dimensional radiance and gas species field estimation
DE102016223440A1 (de) * 2016-11-25 2018-05-30 Robert Bosch Gmbh Partikelmessvorrichtung und Verfahren zur Bestimmung charakteristischer Größen eines Aerosols
US10619107B2 (en) 2017-06-22 2020-04-14 Honeywell International Inc. Heater coil
CN109443445B (zh) * 2018-12-18 2023-10-27 苏州同阳科技发展有限公司 一种颗粒物在线监测装置与方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2406318A (en) * 1941-03-04 1946-08-27 Westinghouse Electric Corp Supervisory apparatus
US3565567A (en) * 1968-06-25 1971-02-23 Bausch & Lomb Method of and apparatus for measuring the presence and/or concentration of an element in an atomic vapor
JPS5099789A (sv) * 1973-12-31 1975-08-07
US4214835A (en) * 1979-01-02 1980-07-29 Baird Corporation Spectrometer sequential readout system
DE3031959A1 (de) * 1979-08-28 1981-03-19 Ishikawajima-Harima Heavy Industries Co., Ltd., Tokyo Verfahren und anordnung zum messen der temperatur und des spektralen faktors von proben
JPS5890149A (ja) * 1981-11-25 1983-05-28 Nippon Steel Corp 小形状金属試料の直接溶解発光分光分析方法及び装置
JPS59178339A (ja) * 1983-03-29 1984-10-09 Toshiba Corp 吸光度測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5517314A (en) * 1991-12-04 1996-05-14 Opsis Ab Optical analysing equipment for determining parameters of gaseous substances flowing through a duct

Also Published As

Publication number Publication date
EP0262140A1 (en) 1988-04-06
DE3673527D1 (de) 1990-09-20
FI90693C (sv) 1994-03-10
DK167987B1 (da) 1994-01-10
FI875445A (sv) 1987-12-11
DK56087D0 (da) 1987-02-03
JP2638595B2 (ja) 1997-08-06
US4790652A (en) 1988-12-13
DK56087A (da) 1987-02-12
SE8502946L (sv) 1986-12-14
FI90693B (sv) 1993-11-30
SE8502946D0 (sv) 1985-06-13
EP0262140B1 (en) 1990-08-16
FI875445A0 (sv) 1987-12-11
WO1986007455A1 (en) 1986-12-18
JPS63500118A (ja) 1988-01-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SE453017B (sv) Sett och anordning for bestemning av parametrar for gasformiga emnen som er nervarande vid forbrenningsprocesser och andra processer som sker vid hog temperatur
JP2603119B2 (ja) ガス分析のための方法および装置
CN204086105U (zh) 一种气体传感器系统
AU2004227359B2 (en) Method and apparatus for the monitoring and control of combustion
CN102183316B (zh) 可调谐半导体激光吸收光谱温度实时监测仪
US4017186A (en) Electro-optical method and system for in situ measurements of particulate mass density
US20070018104A1 (en) Machine for detecting sulfur hexafluoride (SF6) leaks using a carbon dioxide laser and the differential absorption lidar ( DIAL) technique and process for making same
JP6128361B2 (ja) 多成分用レーザ式ガス分析計
US4120200A (en) Method and device for pyrometric temperature measurements
JP4183370B2 (ja) トルク計測装置
Scholz et al. MID-IR led-based, photoacoustic CO2 sensor
JPH0682098B2 (ja) 応力評価装置
JPS63140927A (ja) 分布温度センサ
JPH10148613A (ja) ガス濃度計測装置
KR101682112B1 (ko) 자동 광 정렬 기능을 갖는 연소가스 측정 시스템
Levick et al. A fibre-optic based laser absorption radiation thermometry (LART) instrument for surface temperature measurement
JPH0688745A (ja) 光検出器の直線性決定方法および精密測光機器
JPS6340824A (ja) 燃焼状態の診断方法
US5796481A (en) Suspended particle concentration monitor
CA1283558C (en) Method and apparatus for determining parameters of gaseous substances
JP2755418B2 (ja) 光センサの分光感度測定方法
JP6028889B2 (ja) レーザ式ガス分析計
KR100985341B1 (ko) 반도체 레이저를 이용한 강재의 온도 측정장치
WO2023154942A2 (en) System and method for temperature profiling with raman scattering
KR100508912B1 (ko) 전자식 광단속광원 및 반도체 광검출기 기반으로 구성된가스농도 고속 측정장치

Legal Events

Date Code Title Description
NAL Patent in force

Ref document number: 8502946-0

Format of ref document f/p: F

NUG Patent has lapsed