RU97102046A - Тестирование содержимого памяти - Google Patents

Claims (17)

1. Способ тестирования правильной работы памяти, изменяемой электрическим способом, объединенной с интегральной схемой, способ, заключающийся в записи данных тестирования в память, подаче предварительно заданных данных на вход интегральной схемы, сравнении данных внутри интегральной схемы с данными тестирования, записанными в память и выдаче сигнала проверки из интегральной схемы, посредством чего можно проверить правильность работы функции записи и характеристик памяти.

2. Способ по п. 1, в котором вышеупомянутые предварительно заданные данные пересылают на первый вход устройства сравнения, являющегося частью вышеупомянутой интегральной схемы, в котором содержимое памяти пересылают на второй вход в вышеупомянутое устройство сравнения и где вышеупомянутое устройство сравнения сравнивает данные с двух входов и выдает на выход сигнал проверки, показывающий положительный или отрицательный результат сравнения.

3. Способ по п. 2, в котором вышеупомянутая память имеет записывающий вход и в котором вышеупомянутые данные тестирования пересылают на вышеупомянутый записывающий вход и временно записывают в вышеупомянутую память перед пересылкой на второй записывающий вход на вышеупомянутое устройство сравнения, как было упомянуто ранее.

4. Способ по любому из перечисленных выше пунктов, в котором сигнал проверки выдают на выход с задержкой.

5. Способ по любому из перечисленных выше пунктов, включающий далее шифровку вышеупомянутых заранее определенных данных, выполняемую перед сравнением.

8. Способ по любому из перечисленных выше пунктов, в котором интегральная схема включает микропроцессор, запрограммированный для выполнения сравнения вышеупомянутых данных.

7. Способ по любому из пп. 1-5, в котором вышеупомянутая интегральная сема образована как часть модуля, включающего одну или более интегральных схем, которые включают в себя вышеупомянутую память и микропроцессор.

8. Способ по п. 7, в котором вышеупомянутая интегральная схема или схемы реализованы на интеллектуальной плате.

9. Способ тестирования содержимого памяти, объединенной с микропроцессором в модуль, способ, состоящий из подачи заранее определенных данных на вход модуля, шифровки заранее определенных данных, сравнении зашифрованных данных внутри модуля с данными, записанными в память и выводе сигнала проверки, показывающего положительный или отрицательный результат сравнения.

10. Способ по п. 9, в котором вышеупомянутые заранее определенные данные подают на первый вход устройства сравнения, образующего часть вышеупомянутого модуля, содержимое памяти подают на второй вход вышеупомянутого устройства сравнения, а устройство сравнения сравнивает данные, поданные на его два входа и выдает сигнал проверки, показывающий положительный или отрицательный результат сравнения.

11. Способ по п. 9 или 10, в котором вышеупомянутые данные, записанные в памяти включают данные, находящиеся в памяти.

12. Способ по п. 9 или 10 для тестирования функции записи памяти, где вышеупомянутые данные, записанные в память, включают данные тестирования, подаваемые на вход модуля и записываемые в память перед сравнением.

13. Способ по п. 10 или 12, в котором вышеупомянутую память изменяют электрическим способом и она имеет вход записи и в которой вышеупомянутые данные тестирования подают на вышеупомянутый вход записи и временно сохраняют в вышеупомянутой памяти перед передачей на второй вход вышеупомянутого устройства сравнения, как было упомянуто ранее.

14. Способ по любому из пп. 9-13, в котором сигнал проверки выдают на выход с задержкой.

15. Способ по любому из пп. 9-14, в котором вышеупомянутый микропроцессор запрограммирован для выполнения сравнения упомянутых данных.

16. Способ по любому из пп. 9-15, в котором вышеупомянутый модуль включает одну или более интегральных схем, которые включают в себя память и микропроцессор.

17. Способ по п. 16, в котором вышеупомянутая интегральная схема или схемы размещены на интеллектуальной плате.