RU2507283C1 - Способ получения индия высокой чистоты - Google Patents

Способ получения индия высокой чистоты Download PDF

Info

Publication number
RU2507283C1
RU2507283C1 RU2012156408/02A RU2012156408A RU2507283C1 RU 2507283 C1 RU2507283 C1 RU 2507283C1 RU 2012156408/02 A RU2012156408/02 A RU 2012156408/02A RU 2012156408 A RU2012156408 A RU 2012156408A RU 2507283 C1 RU2507283 C1 RU 2507283C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
indium
impurities
vacuum
stage
heat treatment
Prior art date
Application number
RU2012156408/02A
Other languages
English (en)
Inventor
Ахмедали Амералы оглы Гасанов
Георгий Георгиевич Кознов
Александр Николаевич Почтарёв
Олег Викторович Аникин
Original Assignee
Открытое акционерное общество "Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности ОАО "Гиредмет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Открытое акционерное общество "Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности ОАО "Гиредмет" filed Critical Открытое акционерное общество "Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности ОАО "Гиредмет"
Priority to RU2012156408/02A priority Critical patent/RU2507283C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2507283C1 publication Critical patent/RU2507283C1/ru

Links

Landscapes

  • Manufacture And Refinement Of Metals (AREA)

Abstract

Изобретение относится к технологии редких и рассеянных элементов. Способ получения индия высокой чистоты включает вакуум-термическую обработку индия. При этом вакуум-термическую обработку проводят в две стадии. На первой стадии ее проводят при температуре 1000-1350°С, получают три конденсированные фракции, одна из которых обогащена труднолетучими примесями, другая содержит сконденсированные возгоны, обогащенные легколетучими примесями, а третья очищена от труднолетучих и легколетучих примесей. Третью фракцию направляют на вторую стадию вакуум-термической обработки, которую осуществляют при температуре 1100-1200°С и на которой металлический индий очищают от примесей со средней степенью летучести. Техническим результатом является получение продукта, содержащего индия не менее 99,9999% мас. 1 ил., 1 пр.

Description

Изобретение относится к технологии редких и рассеянных элементов и может быть использовано при получении индия высокой чистоты.
При использовании индия для синтеза соединений, применяемых в электронной промышленности, предъявляются высокие требования к чистоте материала. Чистота металлического индия определяется по содержанию индия. Для электронной промышленности требуется индий с содержанием индия не менее 99,9999% по массе. Чистота индия напрямую влияет на свойства синтезируемых соединений.
Известны различные способы получения индия высокой чистоты, включающие химические, электрохимические, вакуумную дистилляцию и кристаллофизические методы очистки.
Так, например, известен способ получения индиевого порошка высокой чистоты, включающий перевод индия в хлорид индия (I), последующую обработку вспомогательными веществами, промывку полученного осадка и его сушку, отличающийся тем, что в качестве вспомогательных веществ последовательно используют бидистиллят при объемном соотношении бидистиллят : индий = (3,5 4,5): 1 и раствор уксусной кислоты с рН 2,0-2,5 при объемном соотношении уксусная кислота: индий = (4-5): 1 (см. патент RU №2218244, опубл. 10.02.2004 г., С22В 58/00).
Недостатком способа является его многостадийность и невысокая чистота индиевого порошка - на уровне 99,999% по массе.
Известен способ получения индия и галлия высокой чистоты методом электропереноса в магнитном поле. Метод основан на электропереносе в жидких металлах, помещенных в поперечное постоянное магнитное поле, получены индий и галлий высокой чистоты (7N). Определены значения относительного остаточного сопротивления (интегральной характеристики чистоты материалов) полученных индия (25000 отн. ед.) и галлия (85000 отн. ед.) и проведено их сравнение с другими марками этих металлов. Разработан способ эффективной финишной очистки высокочистых материалов для микро - и наноэлектроники с помощью поперечного электропереноса в магнитном поле. (Preparation of high-purity indium and gallium via electrotransfer in a magnetic field. Trunin E.B., Trunina O.E. Inorganic Materials. 2003. Т. 39. №8. С.798-801.).
Недостатками способа являются невозможность использования в качестве исходного металла индия марки чистотой 99,99% по массе и более грязного, низкая производительность.
Имеется информация о возможности получения высокочистого индия сочетанием вакуумной дистилляции и зонной плавки. Удаление примесей активизируется, во-первых, по причине различной скорости испарения компонентов, во-вторых, паровой перегонкой примесей вблизи конденсирующей подложки в условиях осаждения примесей при определенной температуре. По теоретическим оценкам, приведенным в работе, достижимая интегральная чистота индия при содержании примесей в рафинируемом индии более 1·10-1 весовых процентов будет на уровне 99,91% по массе. (Журнал «Труды молодых ученых», №1, 2009 г., РАН, Владикавказский научный центр, Ачеева Э.А., Созаев В.А., Гринюк В.Н. «О возможности получения высокочистого индия сочетанием вакуумной дистилляции и зонной плавки»).
Недостатком этого процесса является низкая чистота очищенного индия - на уровне 99,91% по массе.
Известен способ вакуум-термической (дистилляционной) очистки индия. Способ используется в качестве завершающей стадии получения индия высокой чистоты. При вакуум-термической (дистилляционной) очистке индия, описанной в данном способе, примеси более летучие, чем индий, прежде всего примеси с достаточно высоким парциальным давлением при температурах 600-1000°С, при которых испарение индия незначительно, испаряются из индия и удаляются. Очистка индия от труднолетучих примесей по этому способу не происходит. («Индий. Технологии получения». Л.А.Казанбаев, П.А.Козлов, В.Л.Кубасов, В.Ф.Травкин (ИД "Руда и Металлы", 2004 г., с.145-153).
Недостатком способа является необходимость глубокой очистки индия, подвергаемого вакуум-термической (дистилляционной) очистке от трудноудаляемых примесей, таких как Sn, Pb, Сu и др.
Способ принят за прототип.
Техническим результатом заявленного изобретения является получение металлического индия с содержанием индия не менее 99,9999% по массе.
Технический результат достигается тем, что в способе получения индия высокой чистоты вакуум-термической обработкой индия, согласно изобретению вакуум-термическую обработку проводят в две стадии: на первой стадии при температуре 1000-1350°С получают три конденсированные фракции, одну фракцию, обогащенную труднолетучими примесями, другую - сконденсированные возгоны, обогащенные легколетучими примесями, и третью фракцию, очищенную от труднолетучих и легколетучих примесей, которую направляют на вторую стадию и подвергают вакуум-термической обработке при температуре 1100-1200°С, где металлический индий очищается от примесей со средней степенью летучести с получением продукта, содержащего 99,9999% масс. индия.
Сущность способа заключается в следующем. Металлический индий подвергают вакуум-термической обработке в вакуумной камере (рис.1) с нагревателем (4), графитовыми тиглями, расположенными в ней один над другом (1,2), в две стадии: на первой стадии индий (3), размещенный в тигле №1, подвергают термообработке при температуре 1100-1350°С в вакууме с остаточным давлением 5х10-2-5х10-3 мм рт.ст. и получают три фракции: одну фракцию в тигле №1 (кубовый остаток), обогащенную труднолетучими примесями, другую - сконденсированные возгоны в тигле №2, очищенную от труднолетучих и легколетучих примесей, и третью фракцию, обогащенную легколетучими примесями, сконденсированными на холодной поверхности вакуумной камеры (5). На первой стадии осуществляется очистка металлического индия от труднолетучих примесей, таких как Sn и Сu, и концентрирование их в кубовом остатке, и от легколетучих As, Cd, Zn, сконденсированных на холодной поверхности вакуумной камеры. Сконденсированные возгоны на первой стадии в тигле №2, содержащие примеси (Pb, Sb, Tl, Bi), после охлаждения перемещают в тигель №1, предварительно выгрузив из него кубовый остаток и подвергают вакуум-термической обработке на второй стадии при температуре 1100-1200°С в вакууме с остаточным давлением 5х10-2-5х10-3 мм рт.ст. На этой стадии индий очищается от примесей, очистка от которых не происходит на первой стадии (Pb, Sb, Tl, Bi).
Продолжительность вакуум-термической обработки зависит от количества загружаемого металлического индия и должна обеспечивать на первой стадии очистки количество возгонов не более 90% от исходного количества, загруженного на вакуум-термическую обработку индия. А на второй стадии вакуум-термической обработки индия количество возгонов не менее 10% от исходного количества, загруженного на вторую стадию вакуум-термической обработки индия.
В результате проведения вакуум-термической дистилляционной очистки индия получают индий с содержанием индия не менее 99,9999% по массе.
Обоснование заявленных параметров процесса
Проведение первой стадии термообработки индия при температуре ниже 1000°С не позволяет отделить труднолетучие примеси от основной массы очищаемого индия из-за низкой летучести индия при температуре ниже 1000°С, что приводит к снижению производительности процесса. Увеличение температуры выше 1350°С приводит к повышению концентрации труднолетучих примесей в очищенной фракции на первой стадии и повышенной концентрации труднолетучих примесей в очищенном металле на второй стадии. Содержание металлического индия в очищенном индии при температуре выше 1350°С не превышает 99,999% по массе.
Проведение второй стадии термообработки индия при температуре ниже 1100°С приводит к повышению среднелетучих примесей в очищенном индии, и содержание металлического индия в очищенном индии не превышает 99,999% по массе. Увеличение температуры выше 1200°С приводит к снижению выхода очищенного индия из-за его перераспределения с возгонами, содержащими примеси.
Пример осуществления способа
Вакуум-термическую дистилляционную очистку индия проводили в графитовых тиглях, соосно расположенных друг над другом. Схематически вакуумная камера с нагревателем и графитовыми тиглями представлена на рис.1. Пять килограммов индия с содержанием индия 99,9% по массе загружали в тигель №1 и откачивали вакуум до степени 5х10-2 мм рт.ст. Температуру в зоне тигля №1 поднимали до 1300°С. Процесс вакуум-термической обработки проводили в течение 6 часов. После охлаждения сконденсированный материал из тигля №2 в количестве четырех килограммов 567 граммов перемещали в тигель №1, предварительно выгрузив из него кубовый остаток. Вторую стадию вакуум-термической обработки индия проводили при температуре 1100°С, в вакууме 5х10-2 мм рт.ст. и продолжительности процесса 2 часа. Полученный в тигле №1 индий в количестве четырех килограммов 145 граммов анализировали методом масс-спектроскопии. Содержание индия в металле после дистилляционной очистки не менее 99,9999% по массе, а уровень лимитируемых примесей не превышает уровня соответствующего металлическому индию марки Ин0000.
Из приведенных данных видно, что использование предлагаемого способа по сравнению с известным позволяет получать металлический индий с содержанием индия не менее 99,9999% по массе, а уровень лимитируемых примесей не превышает уровня примесей, соответствующих металлическому индию марки Ин0000.

Claims (1)

  1. Способ получения индия высокой чистоты, включающий вакуум-термическую обработку индия, отличающийся тем, что вакуум-термическую обработку проводят в две стадии, причем на первой стадии при температуре 1000-1350°С получают три конденсированные фракции, одна из которых обогащена труднолетучими примесями, другая содержит сконденсированные возгоны, обогащенные легколетучими примесями, а третья очищена от труднолетучих и легколетучих примесей, при этом третью фракцию направляют на вторую стадию вакуум-термической обработки при температуре 1100-1200°С, на которой металлический индий очищают от примесей со средней степенью летучести с получением продукта, содержащего индия не менее 99,9999 мас. %.
RU2012156408/02A 2012-12-25 2012-12-25 Способ получения индия высокой чистоты RU2507283C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012156408/02A RU2507283C1 (ru) 2012-12-25 2012-12-25 Способ получения индия высокой чистоты

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012156408/02A RU2507283C1 (ru) 2012-12-25 2012-12-25 Способ получения индия высокой чистоты

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2507283C1 true RU2507283C1 (ru) 2014-02-20

Family

ID=50113288

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012156408/02A RU2507283C1 (ru) 2012-12-25 2012-12-25 Способ получения индия высокой чистоты

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2507283C1 (ru)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU1786155C (ru) * 1990-11-15 1993-01-07 Научно-исследовательский технологический институт Способ очистки металлов
SU1490998A1 (ru) * 1987-10-16 2000-02-20 Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов АН СССР Способ получения индия высокой чистоты
US6932852B2 (en) * 2002-01-30 2005-08-23 Dowa Mining Co., Ltd. Method and apparatus for enhanced purification of high-purity metals
EP1335030B1 (en) * 2002-01-28 2006-03-08 Dowa Mining Co., Ltd. Process and apparatus for producing high purity metals by enhanced purification
WO2006080565A1 (ja) * 2005-01-31 2006-08-03 Dowa Metals & Mining Co., Ltd. インジウムの回収方法
RU2400548C1 (ru) * 2009-10-06 2010-09-27 Виталий Евгеньевич Дьяков Способ извлечения индия из отходов сплавов, электролит для извлечения индия из отходов сплавов и аппарат для осуществления способа

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1490998A1 (ru) * 1987-10-16 2000-02-20 Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов АН СССР Способ получения индия высокой чистоты
RU1786155C (ru) * 1990-11-15 1993-01-07 Научно-исследовательский технологический институт Способ очистки металлов
EP1335030B1 (en) * 2002-01-28 2006-03-08 Dowa Mining Co., Ltd. Process and apparatus for producing high purity metals by enhanced purification
US6932852B2 (en) * 2002-01-30 2005-08-23 Dowa Mining Co., Ltd. Method and apparatus for enhanced purification of high-purity metals
WO2006080565A1 (ja) * 2005-01-31 2006-08-03 Dowa Metals & Mining Co., Ltd. インジウムの回収方法
RU2400548C1 (ru) * 2009-10-06 2010-09-27 Виталий Евгеньевич Дьяков Способ извлечения индия из отходов сплавов, электролит для извлечения индия из отходов сплавов и аппарат для осуществления способа

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
КАЗАНБАЕВ Л.А. и др. Индий. Технология получения, ИД "Руда и металлы", 2004, с.145-153. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100584972C (zh) 金属锂真空蒸馏提纯方法
US4362560A (en) Process for producing high-purity gallium
JP6483226B2 (ja) シクロヘキサシラン
JP2008057043A (ja) 水性エッチング混合物からの酸回収方法
JP5641481B2 (ja) Si系クラスレートの製造方法
JP2023107868A (ja) 高純度マンガンの製造方法および高純度マンガン
TWI542705B (zh) Production method of high purity calcium
RU2507283C1 (ru) Способ получения индия высокой чистоты
CN101672573B (zh) 金属锂真空蒸馏提纯装置
FR2641269A1 (fr) Procede continu de separation d'impuretes d'avec du chlorure de zirconium et/ou de hafnium a l'etat de vapeur
TWI491559B (zh) 藉由分步結晶來純化磷酸之方法和裝置
JP2015212257A (ja) 脂肪酸クロライドの製造方法および脂肪酸クロライド
RU2583574C1 (ru) Способ получения галлия высокой чистоты
JP3382561B2 (ja) 高純度リン酸
TWI542544B (zh) 純化矽之方法
CN101668701B (zh) 金属硅的精制方法和硅块的制造方法
JP3838744B2 (ja) 高純度セレンの製造方法
US716878A (en) Process of making caffein.
RU2078842C1 (ru) Способ переработки галлиймышьяксодержащих отходов
JP3838713B2 (ja) 亜鉛の精製方法
Volodin et al. Liquid-vapor phase equilibrium in a tin-selenium system
JPH01156437A (ja) インジウムの精製方法
Konig et al. Purification potential of melt crystallisation
JP3134414B2 (ja) フラーレン類の精製方法及び装置
Rambabu et al. Purification of gallium from Indian raw material sources from 4N/5N to 6N5 purity