RU2324194C1 - Способ разделения интегральных схем по надежности - Google Patents

Способ разделения интегральных схем по надежности Download PDF

Info

Publication number
RU2324194C1
RU2324194C1 RU2006132770/28A RU2006132770A RU2324194C1 RU 2324194 C1 RU2324194 C1 RU 2324194C1 RU 2006132770/28 A RU2006132770/28 A RU 2006132770/28A RU 2006132770 A RU2006132770 A RU 2006132770A RU 2324194 C1 RU2324194 C1 RU 2324194C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
noise intensity
value
measured
noise
common point
Prior art date
Application number
RU2006132770/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Митрофан Иванович Горлов (RU)
Митрофан Иванович Горлов
Дмитрий Леонидович Ануфриев (RU)
Дмитрий Леонидович Ануфриев
Дмитрий Юрьевич Смирнов (RU)
Дмитрий Юрьевич Смирнов
Original Assignee
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" filed Critical Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет"
Priority to RU2006132770/28A priority Critical patent/RU2324194C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2324194C1 publication Critical patent/RU2324194C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам разделения партии интегральных схем (ИС) на надежные и потенциально ненадежные схемы. Изобретение может быть использовано на выходном контроле у изготовителей, а также на входном контроле при производстве радиоаппаратуры. Сущность: у интегральных схем измеряют интенсивность шума по выводам питание-общая точка до и после воздействия электростатического разряда с последующим температурным отжигом. Предварительно на ИС данного типа снимают зависимость интенсивности
Figure 00000001
по выводам «питание-общая точка» от напряжения питания в диапазоне напряжений питания, допустимых по техническим условиям, и определяют значение напряжения питания, соответствующее середине участка постоянного значения интенсивности шума. При этом значении напряжения питания проводят измерение интенсивности шума на представительной выборке ИС. Вычисляют безразмерную величину
Figure 00000002
где
Figure 00000003
Figure 00000004

Description

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам разделения партии интегральных схем (ИС) на надежные и потенциально ненадежные схемы, и может быть использовано как на этапе производства, так и на этапе применения.
Известен способ [1], применимый для определения потенциально нестабильных полупроводниковых приборов, состоящий в том, что на представительной выборке полупроводниковых приборов одного типа проводят измерение интенсивности шума до и после воздействия на прибор допустимым по техническим условиям потенциалом электростатического разряда (ЭСР) и последующего изотермического или изохронного отжига. По относительной величине коэффициента нестабильности параметров выделяют группу приборов, отличающихся меньшим уровнем качества.
Недостатками данного способа является отсутствие выбора режима измерения интенсивности шума для получения наиболее стабильных результатов измерения и его неприменимость для разделения интегральных схем по надежности.
Изобретение направлено на повышение достоверности и расширение функциональных возможностей. Это достигается тем, что в предлагаемом способе разделения интегральных схем по надежности контроль интенсивности шума проводят на середине участка постоянного значения интенсивности шума по выводам "питание - общая точка" при напряжении питания допустимого по техническим условиям диапазона питающих напряжений.
Способ осуществляется следующим образом.
На представительной выборке ИС одного типа проводят измерение интенсивности шума в диапазоне допустимых напряжений питания по ТУ по выводам "питание - общая точка". Для последующих измерений шума выбирается напряжение питания, при котором наблюдается середина участка постоянного значения интенсивности шума. Высокая степень достоверности определяется тем, что при выбранном напряжении питания достигаются стабильные результаты измерений после последующих внешних воздействий.
Пример осуществления способа.
Методом случайной выборки было отобрано 12 интегральных схем типа ОР37 (операционный усилитель, выполненный по биполярной технологии) с диапазоном допустимых значений напряжения питания по ТУ - 4...22 В. Среднеквадратичное напряжение шума
Figure 00000010
измерялось методом прямого измерения [2] по выводам "питание - общая точка" на частоте 1000 Гц. Схема включения ИС - повторитель (инвертирующий вход соединен с выходом) с заземленным неинвертирующим входом.
Для предварительной оценки шума был проведен эксперимент на ИС данного типа по снятию зависимости
Figure 00000011
на частоте 1000 Гц от напряжения питания. На чертеже представлена данная зависимость у ИС с наибольшим и наименьшим значением шума. Середина участка постоянного значения
Figure 00000011
наблюдается у ИС типа ОР37 при питании 15 В. Именно это напряжение выбрано для измерений
Figure 00000011
в эксперименте.
В качестве внешних воздействий был выбран цикл ЭСР + отжиг. В эксперименте применяется воздействие допустимым по техническим условиям потенциалом ЭСР на выводы "питание - общая точка" по модели тела человека. Количество разрядов равно: пять одной полярности и пять другой, что принимается за один цикл воздействия ЭСР. Температура отжига - 100°С, время отжига 4 ч. Режим отжига выбран так, чтобы происходило наибольшее восстановление информативного параметра. На основе результатов измерений вычислялись безразмерные величины относительного изменения
Figure 00000012
, где
Figure 00000013
,
Figure 00000014
,
Figure 00000015
- значение интенсивности шумов до, после воздействия ЭСР и после 4 ч отжига (табл.).
Таблица
Значение шумов в цепи питания интегральных схем ОР37 при воздействии ЭСР и последующего отжига
№ ИС Значения
Figure 00000011
, мкВ2
Figure 00000016
Нач. значение После ЭСР После 4 ч отжига
1 0,96 1,28 0,96 0
2 1,44 2,00 1,54 0,18
3 1,39 1,96 1,46 0,12
4 1,76 2,46 1,95 0,27
5 1,33 1,85 1,40 0,13
6 1,02 1,49 1,02 0
7 1,47 1,96 1,52 0,10
8 1,34 1,94 1,45 0,18
9 1,26 1,90 1,34 0,13
10 0,97 1,79 1,08 0,13
11 1,64 2,38 1,85 0,28
12 0,97 1,73 1,08 0,14
По таблице ИС типа ОР37 №4, 11, у которых К>0,2, будут потенциально ненадежными.
Экспериментально это подтверждено следующим образом. При проведении испытаний на безотказность (500 ч, 85°С) ИС типа ОР37 №4, 11 (таблица) имели параметрические отказы.
Источники информации
1. Патент РФ №2234104, 7 G01R 31/26.
2. Ван дер Зил А. Шум (источники, описание, измерение). М.: Советское радио, 1973, 178 с.

Claims (1)

  1. Способ разделения интегральных схем (ИС) по надежности, в соответствии с которым у интегральных схем измеряют интенсивность шума по выводам питание-общая точка до и после воздействия электростатического разряда (ЭСР) с последующим температурным отжигом, отличающийся тем, что предварительно на ИС данного типа снимают зависимость интенсивности шума по выводам "питание-общая точка" от напряжения питания в диапазоне напряжений питания, допустимом по техническим условиям, и определяют значение напряжения питания, соответствующее середине участка постоянного значения интенсивности шума, проводят дальнейшие измерения интенсивности шума ИС при определенном напряжении питания, соответствующем середине участка постоянного значения интенсивности шума, вычисляют безразмерную величину
    Figure 00000017
    ,
    где
    Figure 00000018
    ,
    Figure 00000019
    ,
    Figure 00000020
    - значения интенсивности шумов до, после воздействия ЭСР и после отжига и при значении К>0,2 ИС относят к потенциально ненадежным.
RU2006132770/28A 2006-09-12 2006-09-12 Способ разделения интегральных схем по надежности RU2324194C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2006132770/28A RU2324194C1 (ru) 2006-09-12 2006-09-12 Способ разделения интегральных схем по надежности

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2006132770/28A RU2324194C1 (ru) 2006-09-12 2006-09-12 Способ разделения интегральных схем по надежности

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2324194C1 true RU2324194C1 (ru) 2008-05-10

Family

ID=39800040

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2006132770/28A RU2324194C1 (ru) 2006-09-12 2006-09-12 Способ разделения интегральных схем по надежности

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2324194C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2467339C2 (ru) * 2009-12-02 2012-11-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2467339C2 (ru) * 2009-12-02 2012-11-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7145356B2 (en) Circuits for transistor testing
RU2324194C1 (ru) Способ разделения интегральных схем по надежности
US20150212131A1 (en) Apparatuses and Methods for Measuring Flicker Noise
JP2008256695A (ja) 欠陥率を低くするための組み立てられたpwa上のタンタルコンデンサの処理
RU2386975C1 (ru) Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем
KR20090100303A (ko) 콘덴서의 절연성 검사 방법
RU2258234C1 (ru) Способ разделения полупроводниковых приборов по надежности
US20150212145A1 (en) Noise Measurement System
Wan et al. Embedded instruments for enhancing dependability of analogue and mixed-signal IPs
RU2538032C2 (ru) Способ сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых изделий
RU2702962C1 (ru) Способ сравнительной оценки партий полупроводниковых изделий по надежности
RU2511633C2 (ru) Способ отбраковки полупроводниковых изделий пониженного уровня качества из партий изделий повышенной надежности
CN113092977A (zh) 一种经时击穿测试结构、方法及经时击穿测试试样
RU2278392C1 (ru) Способ разделения интегральных схем
RU2249227C1 (ru) Способ определения потенциально нестабильных полупроводниковых приборов
RU2511617C2 (ru) Способ сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых изделий
RU2490655C2 (ru) Способ сравнительной оценки надежности полупроводниковых изделий
RU2467339C2 (ru) Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем
RU2234104C1 (ru) Способ определения потенциально нестабильных полупроводниковых приборов
RU2309418C2 (ru) Способ разделения полупроводниковых изделий по надежности
RU2492494C2 (ru) Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем
RU2529675C2 (ru) Способ разделения интегральных схем "по надежности"
RU2739480C1 (ru) Способ сравнительной оценки партий транзисторов по качеству и надежности
RU2269790C1 (ru) Способ выделения интегральных схем повышенной надежности
RU2292052C1 (ru) Способ разделения полупроводниковых изделий по надежности

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20080913