RU2492494C2 - Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем - Google Patents

Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем Download PDF

Info

Publication number
RU2492494C2
RU2492494C2 RU2010130603/28A RU2010130603A RU2492494C2 RU 2492494 C2 RU2492494 C2 RU 2492494C2 RU 2010130603/28 A RU2010130603/28 A RU 2010130603/28A RU 2010130603 A RU2010130603 A RU 2010130603A RU 2492494 C2 RU2492494 C2 RU 2492494C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
batches
reliability
frequency
integrated circuits
low
Prior art date
Application number
RU2010130603/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2010130603A (ru
Inventor
Митрофан Иванович Горлов
Дмитрий Юрьевич Смирнов
Роман Михайлович Тихонов
Original Assignee
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" filed Critical Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет"
Priority to RU2010130603/28A priority Critical patent/RU2492494C2/ru
Publication of RU2010130603A publication Critical patent/RU2010130603A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2492494C2 publication Critical patent/RU2492494C2/ru

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности интегральных схем (ИС), и может быть использовано для сравнительной оценки надежности партий ИС как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Предложен способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем, в соответствии с которым на одинаковых произвольных выборках схем из партий проводят измерения значений среднеквадратичного напряжения шума. При этом измерения низкочастотного шума проводят по выводам «вход - общая точка» на частоте до 200 Гц. Сравнение партий проводят по среднему значению низкочастотного шума в выборке. Технический результат - повышение функциональных возможностей способа. 1 ил., 1 табл.

Description

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности интегральных схем (ИС), и может быть использовано для сравнительной оценки надежности партий ИС как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры.
Из техники известно [1], что низкочастотный шум в полупроводниковых изделиях зависит от частоты, но разброс значений среднеквадратичного напряжения зависит от конкретного изделия, и этот разброс тем больше, чем меньше частота. На рис.1 представлена зависимость среднего значения U ¯ ш 2
Figure 00000001
(мкВ2) от частоты и разброс значений для ИС типа КР537РУ13 (статические ОЗУ, КМОП-технология). Значение U ¯ ш 2
Figure 00000001
измерялось методом прямого измерения по выводам «питание - общая точка» на частотах 100, 200, 500 и 1000 Гц.
Известен способ сравнительной оценки надежности партий транзисторов [2], в соответствии с которым проводят выборочные испытания партий транзисторов воздействием электростатических разрядов. На каждый прибор выборки подают электростатические разряды потенциалом вдвое большим, чем допустимый по техническим условиям, каждый раз повышая его на 20-30 В до появления параметрического или катастрофического отказа.
Недостаток данного способа - испытание является разрушающим. Предлагаемое изобретение направлено на устранение этого недостатка и повышение функциональных возможностей способа.
Достоинством предложенного способа является то, что сравнительная оценка партий ИС основывается на измерении низкочастотного шума на частотах до 200 Гц.
Способ осуществляется следующим образом: от каждой партии одного типа (количество партий не ограничено) методом случайной выборки отбирают по 10-20 схем и измеряют среднеквадратичное напряжение низкочастотного шума U ¯ ш 2
Figure 00000001
на частоте до 200 Гц методом прямого измерения по выводам «питание - общая точка». Подсчитывают среднее значение U ¯ ш 2
Figure 00000001
по выборке и сравнивают эти значения.
Способ был опробован на выборках по 10 шт. из двух партий ИС типа КР537РУ13. Значения U ¯ ш 2
Figure 00000001
на частоте 100 Гц представлены в таблице.
Таблица
№ схемы Значение U ¯ м 2
Figure 00000002
, мкВ2, схем из партии
1 2
1 1016 836
2 498 951
3 939 478
4 490 560
5 1013 901
6 418 834
7 1067 746
8 1088 832
9 1172 914
10 1207 634
Среднее 890,8 768,6
Из таблицы видно, что среднее значение U ¯ ш 2
Figure 00000001
для ИС второй партии значительно меньше среднего значения первой партии, меньше и размах: 473 мкВ2 для партии 2 и 789 мкВ2 для партии 1. Поэтому партия 2 будет более надежной, чем партия 1.
Источники информации
1. Горлов М.И., Ануфриев Л.И., Достанко А.И., Смирнов Д.Ю. Диагностика твердотельных полупроводниковых структур по параметрам низкочастотного шума. - Минск: Интегралполиграф, 2006. - 112 с.
2. Патент РФ N2226698, G01R 31/26, опубл. 10.04.2004. Бюл. №10.

Claims (1)

  1. Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем, в соответствии с которым на одинаковых произвольных выборках схем из партий проводят измерения значений среднеквадратичного напряжения шума, отличающийся тем, что измерения низкочастотного шума проводят по выводам «вход - общая точка» на частоте до 200 Гц и сравнение партий проводят по среднему значению низкочастотного шума в выборке.
RU2010130603/28A 2010-07-20 2010-07-20 Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем RU2492494C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2010130603/28A RU2492494C2 (ru) 2010-07-20 2010-07-20 Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2010130603/28A RU2492494C2 (ru) 2010-07-20 2010-07-20 Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2010130603A RU2010130603A (ru) 2012-01-27
RU2492494C2 true RU2492494C2 (ru) 2013-09-10

Family

ID=45786268

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2010130603/28A RU2492494C2 (ru) 2010-07-20 2010-07-20 Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2492494C2 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2554675C1 (ru) * 2014-02-14 2015-06-27 Федеральное государственное унитарное предприятие "18 Центральный научно-исследовательский институт" Министерства обороны Российской Федерации Способ контроля идентичности изделий в партии однотипных микросхем
RU2813473C1 (ru) * 2023-07-06 2024-02-12 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный технический университет" Способ сравнительной оценки партий полупроводниковых изделий по качеству и надежности

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4855672A (en) * 1987-05-18 1989-08-08 Shreeve Robert W Method and process for testing the reliability of integrated circuit (IC) chips and novel IC circuitry for accomplishing same
US6184048B1 (en) * 1999-11-03 2001-02-06 Texas Instruments Incorporated Testing method and apparatus assuring semiconductor device quality and reliability
RU2311653C1 (ru) * 2006-03-09 2007-11-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" Способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности
RU2386975C1 (ru) * 2008-11-11 2010-04-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4855672A (en) * 1987-05-18 1989-08-08 Shreeve Robert W Method and process for testing the reliability of integrated circuit (IC) chips and novel IC circuitry for accomplishing same
US6184048B1 (en) * 1999-11-03 2001-02-06 Texas Instruments Incorporated Testing method and apparatus assuring semiconductor device quality and reliability
RU2311653C1 (ru) * 2006-03-09 2007-11-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" Способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности
RU2386975C1 (ru) * 2008-11-11 2010-04-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2554675C1 (ru) * 2014-02-14 2015-06-27 Федеральное государственное унитарное предприятие "18 Центральный научно-исследовательский институт" Министерства обороны Российской Федерации Способ контроля идентичности изделий в партии однотипных микросхем
RU2813473C1 (ru) * 2023-07-06 2024-02-12 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный технический университет" Способ сравнительной оценки партий полупроводниковых изделий по качеству и надежности

Also Published As

Publication number Publication date
RU2010130603A (ru) 2012-01-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MY124258A (en) Method of testing electronic components and testing apparatus for electronic components
SG126130A1 (en) Probing card and inspection apparatus for microstructure
CN103941171B (zh) 半导体测试结构及测试方法
US20120158346A1 (en) Iddq testing of cmos devices
RU2492494C2 (ru) Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем
RU2386975C1 (ru) Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем
RU2538032C2 (ru) Способ сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых изделий
RU2311653C1 (ru) Способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности
RU2490655C2 (ru) Способ сравнительной оценки надежности полупроводниковых изделий
RU2702962C1 (ru) Способ сравнительной оценки партий полупроводниковых изделий по надежности
RU2309418C2 (ru) Способ разделения полупроводниковых изделий по надежности
RU2324194C1 (ru) Способ разделения интегральных схем по надежности
RU2365930C1 (ru) Способ выделения интегральных схем повышенной надежности
RU2511617C2 (ru) Способ сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых изделий
Chen et al. The study on application of HALT for DC/DC converter
RU2467339C2 (ru) Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем
RU2546998C2 (ru) Способ сравнительных испытаний по надежности партий интегральных схем
RU2269790C1 (ru) Способ выделения интегральных схем повышенной надежности
RU2258234C1 (ru) Способ разделения полупроводниковых приборов по надежности
RU2472171C2 (ru) Способ разбраковки полупроводниковых изделий
RU2511633C2 (ru) Способ отбраковки полупроводниковых изделий пониженного уровня качества из партий изделий повышенной надежности
RU2278392C1 (ru) Способ разделения интегральных схем
RU2507525C2 (ru) Способ разделения транзисторов по надежности
RU2292052C1 (ru) Способ разделения полупроводниковых изделий по надежности
Azaïs et al. A methodology and design for effective testing of voltage-controlled oscillators (VCOs)

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20130804