RU2492494C2 - Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем - Google Patents
Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем Download PDFInfo
- Publication number
- RU2492494C2 RU2492494C2 RU2010130603/28A RU2010130603A RU2492494C2 RU 2492494 C2 RU2492494 C2 RU 2492494C2 RU 2010130603/28 A RU2010130603/28 A RU 2010130603/28A RU 2010130603 A RU2010130603 A RU 2010130603A RU 2492494 C2 RU2492494 C2 RU 2492494C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- batches
- reliability
- frequency
- integrated circuits
- low
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности интегральных схем (ИС), и может быть использовано для сравнительной оценки надежности партий ИС как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Предложен способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем, в соответствии с которым на одинаковых произвольных выборках схем из партий проводят измерения значений среднеквадратичного напряжения шума. При этом измерения низкочастотного шума проводят по выводам «вход - общая точка» на частоте до 200 Гц. Сравнение партий проводят по среднему значению низкочастотного шума в выборке. Технический результат - повышение функциональных возможностей способа. 1 ил., 1 табл.
Description
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности интегральных схем (ИС), и может быть использовано для сравнительной оценки надежности партий ИС как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры.
Из техники известно [1], что низкочастотный шум в полупроводниковых изделиях зависит от частоты, но разброс значений среднеквадратичного напряжения зависит от конкретного изделия, и этот разброс тем больше, чем меньше частота. На рис.1 представлена зависимость среднего значения
(мкВ2) от частоты и разброс значений для ИС типа КР537РУ13 (статические ОЗУ, КМОП-технология). Значение
измерялось методом прямого измерения по выводам «питание - общая точка» на частотах 100, 200, 500 и 1000 Гц.
Известен способ сравнительной оценки надежности партий транзисторов [2], в соответствии с которым проводят выборочные испытания партий транзисторов воздействием электростатических разрядов. На каждый прибор выборки подают электростатические разряды потенциалом вдвое большим, чем допустимый по техническим условиям, каждый раз повышая его на 20-30 В до появления параметрического или катастрофического отказа.
Недостаток данного способа - испытание является разрушающим. Предлагаемое изобретение направлено на устранение этого недостатка и повышение функциональных возможностей способа.
Достоинством предложенного способа является то, что сравнительная оценка партий ИС основывается на измерении низкочастотного шума на частотах до 200 Гц.
Способ осуществляется следующим образом: от каждой партии одного типа (количество партий не ограничено) методом случайной выборки отбирают по 10-20 схем и измеряют среднеквадратичное напряжение низкочастотного шума
на частоте до 200 Гц методом прямого измерения по выводам «питание - общая точка». Подсчитывают среднее значение
по выборке и сравнивают эти значения.
Способ был опробован на выборках по 10 шт. из двух партий ИС типа КР537РУ13. Значения
на частоте 100 Гц представлены в таблице.
Таблица | ||
№ схемы | Значение |
|
1 | 2 | |
1 | 1016 | 836 |
2 | 498 | 951 |
3 | 939 | 478 |
4 | 490 | 560 |
5 | 1013 | 901 |
6 | 418 | 834 |
7 | 1067 | 746 |
8 | 1088 | 832 |
9 | 1172 | 914 |
10 | 1207 | 634 |
Среднее | 890,8 | 768,6 |
Из таблицы видно, что среднее значение
для ИС второй партии значительно меньше среднего значения первой партии, меньше и размах: 473 мкВ2 для партии 2 и 789 мкВ2 для партии 1. Поэтому партия 2 будет более надежной, чем партия 1.
Источники информации
1. Горлов М.И., Ануфриев Л.И., Достанко А.И., Смирнов Д.Ю. Диагностика твердотельных полупроводниковых структур по параметрам низкочастотного шума. - Минск: Интегралполиграф, 2006. - 112 с.
2. Патент РФ N2226698, G01R 31/26, опубл. 10.04.2004. Бюл. №10.
Claims (1)
- Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем, в соответствии с которым на одинаковых произвольных выборках схем из партий проводят измерения значений среднеквадратичного напряжения шума, отличающийся тем, что измерения низкочастотного шума проводят по выводам «вход - общая точка» на частоте до 200 Гц и сравнение партий проводят по среднему значению низкочастотного шума в выборке.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2010130603/28A RU2492494C2 (ru) | 2010-07-20 | 2010-07-20 | Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2010130603/28A RU2492494C2 (ru) | 2010-07-20 | 2010-07-20 | Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2010130603A RU2010130603A (ru) | 2012-01-27 |
RU2492494C2 true RU2492494C2 (ru) | 2013-09-10 |
Family
ID=45786268
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2010130603/28A RU2492494C2 (ru) | 2010-07-20 | 2010-07-20 | Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2492494C2 (ru) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2554675C1 (ru) * | 2014-02-14 | 2015-06-27 | Федеральное государственное унитарное предприятие "18 Центральный научно-исследовательский институт" Министерства обороны Российской Федерации | Способ контроля идентичности изделий в партии однотипных микросхем |
RU2813473C1 (ru) * | 2023-07-06 | 2024-02-12 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный технический университет" | Способ сравнительной оценки партий полупроводниковых изделий по качеству и надежности |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4855672A (en) * | 1987-05-18 | 1989-08-08 | Shreeve Robert W | Method and process for testing the reliability of integrated circuit (IC) chips and novel IC circuitry for accomplishing same |
US6184048B1 (en) * | 1999-11-03 | 2001-02-06 | Texas Instruments Incorporated | Testing method and apparatus assuring semiconductor device quality and reliability |
RU2311653C1 (ru) * | 2006-03-09 | 2007-11-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" | Способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности |
RU2386975C1 (ru) * | 2008-11-11 | 2010-04-20 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" | Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем |
-
2010
- 2010-07-20 RU RU2010130603/28A patent/RU2492494C2/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4855672A (en) * | 1987-05-18 | 1989-08-08 | Shreeve Robert W | Method and process for testing the reliability of integrated circuit (IC) chips and novel IC circuitry for accomplishing same |
US6184048B1 (en) * | 1999-11-03 | 2001-02-06 | Texas Instruments Incorporated | Testing method and apparatus assuring semiconductor device quality and reliability |
RU2311653C1 (ru) * | 2006-03-09 | 2007-11-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" | Способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности |
RU2386975C1 (ru) * | 2008-11-11 | 2010-04-20 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" | Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2554675C1 (ru) * | 2014-02-14 | 2015-06-27 | Федеральное государственное унитарное предприятие "18 Центральный научно-исследовательский институт" Министерства обороны Российской Федерации | Способ контроля идентичности изделий в партии однотипных микросхем |
RU2813473C1 (ru) * | 2023-07-06 | 2024-02-12 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный технический университет" | Способ сравнительной оценки партий полупроводниковых изделий по качеству и надежности |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2010130603A (ru) | 2012-01-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
MY124258A (en) | Method of testing electronic components and testing apparatus for electronic components | |
SG126130A1 (en) | Probing card and inspection apparatus for microstructure | |
CN103941171B (zh) | 半导体测试结构及测试方法 | |
US20120158346A1 (en) | Iddq testing of cmos devices | |
RU2492494C2 (ru) | Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем | |
RU2386975C1 (ru) | Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем | |
RU2538032C2 (ru) | Способ сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых изделий | |
RU2311653C1 (ru) | Способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности | |
RU2490655C2 (ru) | Способ сравнительной оценки надежности полупроводниковых изделий | |
RU2702962C1 (ru) | Способ сравнительной оценки партий полупроводниковых изделий по надежности | |
RU2309418C2 (ru) | Способ разделения полупроводниковых изделий по надежности | |
RU2324194C1 (ru) | Способ разделения интегральных схем по надежности | |
RU2365930C1 (ru) | Способ выделения интегральных схем повышенной надежности | |
RU2511617C2 (ru) | Способ сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых изделий | |
Chen et al. | The study on application of HALT for DC/DC converter | |
RU2467339C2 (ru) | Способ сравнительной оценки надежности партий интегральных схем | |
RU2546998C2 (ru) | Способ сравнительных испытаний по надежности партий интегральных схем | |
RU2269790C1 (ru) | Способ выделения интегральных схем повышенной надежности | |
RU2258234C1 (ru) | Способ разделения полупроводниковых приборов по надежности | |
RU2472171C2 (ru) | Способ разбраковки полупроводниковых изделий | |
RU2511633C2 (ru) | Способ отбраковки полупроводниковых изделий пониженного уровня качества из партий изделий повышенной надежности | |
RU2278392C1 (ru) | Способ разделения интегральных схем | |
RU2507525C2 (ru) | Способ разделения транзисторов по надежности | |
RU2292052C1 (ru) | Способ разделения полупроводниковых изделий по надежности | |
Azaïs et al. | A methodology and design for effective testing of voltage-controlled oscillators (VCOs) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20130804 |