RU2150160C1 - Способ коммутации термоэлемента - Google Patents

Способ коммутации термоэлемента Download PDF

Info

Publication number
RU2150160C1
RU2150160C1 RU99102684A RU99102684A RU2150160C1 RU 2150160 C1 RU2150160 C1 RU 2150160C1 RU 99102684 A RU99102684 A RU 99102684A RU 99102684 A RU99102684 A RU 99102684A RU 2150160 C1 RU2150160 C1 RU 2150160C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
ion
layer
deposited
thermoelectric
branches
Prior art date
Application number
RU99102684A
Other languages
English (en)
Inventor
Ю.И. Штерн
В.С. Пичугин
Original Assignee
Московский государственный институт электронной техники
Координационно-аналитический центр по межвузовским инновационным и научно-техническим программам
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский государственный институт электронной техники, Координационно-аналитический центр по межвузовским инновационным и научно-техническим программам filed Critical Московский государственный институт электронной техники
Priority to RU99102684A priority Critical patent/RU2150160C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2150160C1 publication Critical patent/RU2150160C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

Изобретение относится к технологии изготовления термоэлектрических устройств и может быть использовано при производстве термоэлектрических охладителей и генераторов. Способ коммутации термоэлемента включает ионно-плазменное нанесение на ветви термоэлемента слоя никеля или кобальта со скоростью 0,5-4
Figure 00000001
/c, чередующееся с обработкой нанесенного слоя ионами инертного газа с энергией 0,4-0,8 КэВ и дозой 1015-1017 ион/см2 с интервалами 2-10 с, вакуумный отжиг нанесенных контактов в течение 30-60 мин, нанесение припоя и пайку ветвей термоэлемента к коммутационным шинам. Перед нанесением слоя никеля или кобальта ионно-плазменным методом наносят слой молибдена или вольфрама со скоростью 0,5-2
Figure 00000002
/с, с чередующейся обработкой нанесенного слоя ионами инертного газа с энергией 0,4-0,8 КэВ и дозой 1015-1017 ион/см2 с интервалами 2-10 с. Вакуумный отжиг нанесенных металлических слоев проводят при температурах 150-220°С для ветвей n-типа проводимости и 150-220°С для ветвей p-типа проводимости. 1 табл.

Description

Изобретение относится к технологии изготовления термоэлектрических устройств и может быть использовано при производстве термоэлектрических охладителей и генераторов.
Известен "Способ изготовления ветвей термоэлемента" по патенту RU N 2007787, H 01 L 35/34, 15.02.94, в котором для повышения качества ветвей термоэлементов за счет уменьшения переходного сопротивления, элементы коммутации предварительно помещают в трубу и, одновременно с заполнением, осуществляют соединение термоэлектрического материала с элементами коммутации.
Известен также способ коммутации термоэлемента ("Исследование процесса металлизации термоэлектрических материалов", Материалы III Всесоюзной конференции, Москва, МИЭТ, с. 351), включающий ионно-плазменное нанесение на ветви термоэлемента слоя никеля или кобальта со скоростью 0,5-4
Figure 00000005
/с, чередующееся с ионной обработкой при ускоряющемся напряжении 0,4-0,8 КэВ и дозе 1015-1017 ион/см2 с интервалом 2-10 с, нанесение слоя припоя и пайку ветвей термоэлемента к коммутационным шинам.
Однако указанные известные способы изготовления термоэлементов и коммутации термоэлемента не позволяют получить термостабильные контакты с достаточно высокой прочностью.
Техническим результатом, который может быть достигнут при использовании заявленного способа изготовления термоэлементов, является повышение термостабильности и прочности контактов.
Технический результат достигается тем, что в способе коммутации термоэлемента, включающем ионно-плазменное нанесение на ветви термоэлемента слоя никеля или кобальта со скоростью (05-4)
Figure 00000006
/с, чередующееся с обработкой нанесенного слоя ионами инертного газа с энергией 0,4-0,8 КэВ и дозой 1015-1017 ион/см2 с интервалами 2-10 сек, вакуумный отжиг нанесенных контактов в течение 30-60 мин, нанесение припоя и пайку ветвей термоэлемента к коммутационным шинам, перед нанесением слоя никеля или кобальта ионно-плазменным методом наносят слой молибдена или вольфрама со скоростью (0,5-2)
Figure 00000007
/с с чередующейся обработкой нанесенного слоя ионами инертного газа с энергией 0,4-0,8 КэВ и дозой 1015-1017 ион/см2 с интервалами 2-10 сек, а вакуумный отжиг нанесенных металлических слоев проводят при температурах 150-220oC для ветвей n-типа проводимости и 150-200oC для ветвей p-типа проводимости.
Формирование дополнительного слоя молибдена или вольфрама препятствует интенсивному (чрезмерному) проникновению никеля или кобальта в полупроводниковый материал термоэлемента при отжиге и повышенных температурах эксплуатации. Негативное влияние повышенных температур заключается в том, что происходит взаимодействие никеля или кобальта с термоэлектрическим материалом с образованием в области контакта переходных слоев, состоящих из твердых растворов. При незначительной величине переходных слоев это приводит к увеличению адгезии контакта, так как имеет место химическая связь между материалом контакта и материалом ветви термоэлемента. Однако с ростом температуры происходит увеличение переходного слоя и, так как твердые растворы имеют пониженную механическую прочность, это приводит к уменьшению прочности контактов. Кроме того, интенсивная диффузия никеля или кобальта при повышенных температурах в полупроводниковый материал термоэлемента приводит к снижению его термоэлектрической добротности. Молибден или вольфрам, обладая низкой диффузионной способностью, даже при повышенных температурах образуют переходные слои незначительной величины, поэтому прочность контакта не снижается. Так как диффузия металла в полупроводниковый материал ветви термоэлемента практически отсутствует, не уменьшается и величина термоэлектрической добротности термоэлемента, т. е. имеет место повышенная термостабильность термоэлемента. Использование молибдена или вольфрама позволяет увеличить температуру отжига наносимых металлических слоев на 10-30%, что способствует более эффективному снятию внутренних напряжений в этих слоях, увеличивая механическую прочность контактов (см. таблицу).
В таблице приведены значения прочности контактов (F) и термоэлектрической добротности (Z), зависящей от термостабильности термоэлементов, после высокотемпературного воздействия (термотренировки) и без него. В таблице также приведены значения прочности контактов и термоэлектрической добротности при наличии слоев молибдена или вольфрама.
Исследовались термоэлектрические материалы n-типа проводимости - твердый раствор Bi2Te3 (90 мол. %) - Bi2Se3 (10 мол.%), легированный HgCl2 - 0,12 мол. %, p-типа проводимости - твердый раствор Bi2Te3 (25 мол.%) - Sb2Te3 (75 мол. %), легированный избытком теллура - 2 мас.%. Процесс изготовления термоэлементов во всех приведенных примерах включал следующие операции:
1. Резку слитков термоэлектрических материалов на диске.
2. Двухкратную обработку дисков в кипящем толуоле в течение 5 минут.
3. Сушку в парах изопропилового спирта.
4. Загрузку в установку распыления материалов УРМ-3.279.026, откачку вакуумной камеры до давления 5•10-6 мм.рт.ст., заполнение камеры аргоном до давления 5•10-4 мм рт.ст.
5. Предварительную ионную обработку в течение 3 минут.
6. Нанесение слоя молибдена или вольфрама ионно-плазменным методом со скоростью 1,5
Figure 00000008
/с, чередующееся с обработкой нанесенных слоев ионами инертного газа энергией 0,6 КэВ и дозой 1016 ион/см2 с интервалом 5 сек.
7. Нанесение слоя никеля или кобальта ионно-плазменным методом со скоростью 2,5
Figure 00000009
/с, чередующееся с обработкой нанесенных слоев ионами инертного газа энергией 0,6 КэВ и дозой 1016 ион/см2 с интервалом 5 сек.
8. Разгерметизацию камеры и перезагрузку дисков термоэлектрического материала для нанесения металлических слоев на противоположную поверхность дисков.
9-12. Повторение операций 4-7.
13. Откачку вакуумной камеры до давления 5•10-6 мм рт.ст.
14. Отжиг дисков термоэлектрических материалов при температурах 200oC для материала n-типа и 180oC для материалов p-типа проводимости в течение 40 мин.
15. Разгерметизацию камеры и разгрузку дисков.
16. Залуживание нанесенного слоя металлизации припоями ОВи или ПОС-60.
17. Резку дисков на ветви термоэлементов.
18. Измерение прочности контактов методом прямого отрыва на установке контроля прочности 12 МП 0,05/100. Средняя прочность контактов оценивалась по выборке 10 контактов. Воспроизводимость значений прочности находилась в пределах 5%.
19. Сборку термоэлементов.
20. Измерение термоэлектрической добротности термоэлементов методом Хармана. Термоэлектрическая добротность рассчитывалась как среднее значение измерений, проведенных на 10 термоэлементах. Воспроизводимость значений Z находилась в пределах 5%.
21. Сборку из термоэлементов термоэлектрических модулей.
Контактное сопротивление оценивалось по максимальному перепаду температур на термомодулях, коммутация термоэлементов которых проводилась согласно предлагаемому способу и способу-прототипу. Различие значений максимального перепада температур не выходило за пределы ошибки измерений (0,3oC), что позволяет утверждать, что контактное сопротивление находится на уровне способа-прототипа.
Использование способа позволяет:
1. Увеличить прочность контактов термоэлементов почти на 9% без термотренировки и на 30% с термотренировкой, то есть при высокотемпературном воздействии. Высокотемпературное воздействие возможно: при пайке термоэлементов припоями ПОС, при сборке термоэлементов в термоэлектрический модуль, при эксплуатации термоэлектрических устройств при повышенных температурах.
2. Повысить термостабильность термоэлементов, т.е. исключить снижение термоэлектрической добротности (деградацию термоэлементов) после высокотемпературного воздействия.
Таким образом, использование предлагаемого способа коммутации термоэлемента обеспечивает повышение надежности термоэлектрических устройств при работе в условиях значительных механических перегрузок и высокотемпературных воздействий.

Claims (1)

  1. Способ коммутации термоэлемента, включающий ионно-плазменное нанесение на ветви термоэлемента слоя никеля или кобальта со скоростью 0,5 - 4
    Figure 00000010
    /с, чередующееся с обработкой нанесенного слоя ионами инертного газа с энергией 0,4 - 0,8 КэВ и дозой 1015 - 1017 ион/см2 с интервалами 2 - 10 с, вакуумный отжиг нанесенных контактов в течение 30 - 60 мин, нанесение припоя и пайку ветвей термоэлемента к коммутационным шинам, отличающийся тем, что перед нанесением слоя никеля или кобальта ионно-плазменным методом наносят слой молибдена или вольфрама со скоростью 0,5 - 2
    Figure 00000011
    /с с чередующейся обработкой нанесенного слоя ионами инертного газа с энергией 0,4 - 0,8 КэВ и дозой 1015 - 1017 ион/см2 с интервалами 2 - 10 с, а вакуумный отжиг нанесенных металлических слоев проводят при температурах 150 - 220oС для ветвей n-типа проводимости и 150 - 200oС для ветвей p-типа проводимости.
RU99102684A 1999-02-16 1999-02-16 Способ коммутации термоэлемента RU2150160C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU99102684A RU2150160C1 (ru) 1999-02-16 1999-02-16 Способ коммутации термоэлемента

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU99102684A RU2150160C1 (ru) 1999-02-16 1999-02-16 Способ коммутации термоэлемента

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2150160C1 true RU2150160C1 (ru) 2000-05-27

Family

ID=20215766

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU99102684A RU2150160C1 (ru) 1999-02-16 1999-02-16 Способ коммутации термоэлемента

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2150160C1 (ru)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2601243C1 (ru) * 2015-06-25 2016-10-27 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" (МИЭТ) Способ получения термоэлектрического элемента
RU2727061C1 (ru) * 2019-10-21 2020-07-17 Федеральное государственное бюджетное образовательной учреждение высшего образования "Воронежский государственный технический университет" Способ повышения добротности термоэлектрического материала на основе твердого раствора Bi2Te3-Bi2Se3
RU2757681C1 (ru) * 2020-12-17 2021-10-20 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" Способ изготовления высокотемпературного термоэлемента
RU2798440C1 (ru) * 2022-06-15 2023-06-22 Акционерное общество "Научно-исследовательский институт микроэлектронной аппаратуры "Прогресс" (АО "НИИМА "Прогресс") Способ снятия внутренних напряжений тонких пленок топологии СВЧ-микрополосковых плат с помощью вакуумного отжига

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Штерн Ю.И. и др. Исследование процесса металлизации термоэлектрических материалов. - Материалы III Всесоюзной конференции "Термодинамика и материаловедение полупроводников". - М.: МИЭТ, 1986, с.351. *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2601243C1 (ru) * 2015-06-25 2016-10-27 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" (МИЭТ) Способ получения термоэлектрического элемента
RU2727061C1 (ru) * 2019-10-21 2020-07-17 Федеральное государственное бюджетное образовательной учреждение высшего образования "Воронежский государственный технический университет" Способ повышения добротности термоэлектрического материала на основе твердого раствора Bi2Te3-Bi2Se3
RU2757681C1 (ru) * 2020-12-17 2021-10-20 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" Способ изготовления высокотемпературного термоэлемента
RU2798440C1 (ru) * 2022-06-15 2023-06-22 Акционерное общество "Научно-исследовательский институт микроэлектронной аппаратуры "Прогресс" (АО "НИИМА "Прогресс") Способ снятия внутренних напряжений тонких пленок топологии СВЧ-микрополосковых плат с помощью вакуумного отжига
RU2820509C1 (ru) * 2023-12-27 2024-06-04 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" Способ коммутации высокотемпературных термоэлементов

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2151450C1 (ru) Термоэлектрический модуль и способ его изготовления
US7915144B2 (en) Methods for forming thermotunnel generators having closely-spaced electrodes
US8283783B2 (en) Solder material, method for manufacturing the same, joined body, method for manufacturing the same, power semiconductor module, and method for manufacturing the same
US9871179B2 (en) Thermoelectric power module
US10224472B2 (en) Thermoelectric power module
KR102125051B1 (ko) 열전 모듈
KR102487993B1 (ko) 열전 모듈
RU2150160C1 (ru) Способ коммутации термоэлемента
JPS6016096B2 (ja) 半導体装置の製造法
US2965519A (en) Method of making improved contacts to semiconductors
EP2184769A2 (fr) Procédé de préparation d'une couche comprenant du monosiliciure de nickel NiSi sur un substrat comprenant du silicium
Gromov et al. Mo/Ni and Ni/Ta–W–N/Ni thin-film contact layers for (Bi, Sb) 2 Te 3-based intermediate-temperature thermoelectric elements
CN109994376B (zh) 碳化硅衬底上形成的欧姆接触结构及其形成方法
KR20180022611A (ko) 열전소자 및 이를 포함하는 열전모듈
FR2545986A1 (fr) Procede pour former des contacts ohmiques d'argent pur sur des materiaux d'arseniure de gallium de type n et de type p
RU2538932C2 (ru) СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ КОНТАКТНЫХ ПЛОЩАДОК К YBA2CU3O7-x ПЛЕНКАМ
US3707429A (en) Thermoelectric element
KR102340798B1 (ko) 열전 소자 및 이를 포함하는 열전 모듈
US3978517A (en) Titanium-silver-palladium metallization system and process therefor
Lin et al. Bonding/barrier layers on bismuth telluride (Bi 2 Te 3) for high temperature applications
RU2757681C1 (ru) Способ изготовления высокотемпературного термоэлемента
Lue Formation of nickel and palladium silicides by a short-pulse light-flash and its application in the metallization of solar cells
KR102626845B1 (ko) 열전 모듈 및 그 제조 방법
US20220301886A1 (en) Method for Thermally Spraying Conductor Paths, and Electronic Module
JP5293260B2 (ja) 熱電素子の成膜方法