RU2009110284A - Способ определения характеристик объекта - Google Patents

Способ определения характеристик объекта Download PDF

Info

Publication number
RU2009110284A
RU2009110284A RU2009110284/28A RU2009110284A RU2009110284A RU 2009110284 A RU2009110284 A RU 2009110284A RU 2009110284/28 A RU2009110284/28 A RU 2009110284/28A RU 2009110284 A RU2009110284 A RU 2009110284A RU 2009110284 A RU2009110284 A RU 2009110284A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
penetrating radiation
incident beam
propagation
radiation
scattered
Prior art date
Application number
RU2009110284/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2428680C2 (ru
Inventor
Питер Дж. РОТШИЛЬД (US)
Питер Дж. РОТШИЛЬД
Original Assignee
Эмерикэн Сайэнс энд Энджиниэринг, Инк. (US)
Эмерикэн Сайэнс Энд Энджиниэринг, Инк.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Эмерикэн Сайэнс энд Энджиниэринг, Инк. (US), Эмерикэн Сайэнс Энд Энджиниэринг, Инк. filed Critical Эмерикэн Сайэнс энд Энджиниэринг, Инк. (US)
Publication of RU2009110284A publication Critical patent/RU2009110284A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2428680C2 publication Critical patent/RU2428680C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/12—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a flowing fluid or a flowing granular solid
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V5/00—Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
    • G01V5/20—Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
    • G01V5/22—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
    • G01V5/222—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays measuring scattered radiation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Geophysics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

1. Способ определения характеристик объекта на основе средней длины свободного пробега проникающего излучения, включающий формирование падающего пучка проникающего излучения, характеризующегося направлением распространения и распределением энергии, размещение группы детекторных элементов в зоне пучка проникающего излучения, в которой каждый из детекторных элементов характеризуется полем обзора, коллимирование поля обзора каждого детекторного элемента, детектирование излучения, рассеянного группой вокселей проверяемого объекта, в котором каждый воксель является пересечением поля обзора по меньшей мере одного из детекторных элементов с направлением распространения падающего пучка проникающего излучения, и вычисление ослабления рассеянного проникающего излучения между парами вокселей, в котором каждый воксель из указанной пары соответствует по меньшей мере одному из двух направлений распространения падающего пучка проникающего излучения. ! 2. Способ по п.1, в котором дополнительно изменяют направление распространения падающего пучка проникающего излучения, последовательно облучая проверяемый объект в точках падения. ! 3. Способ по п.1, в котором детектирование излучения включает детектирование отдельных компонентов энергии рассеянного проникающего излучения падающего пучка. ! 4. Способ по п.1, в котором дополнительно сканируют падающим пучком в направлении, перпендикулярном направлению его распространения посредством облучения падающим пучком проверяемого объекта в точках падения. ! 5. Способ по п.1, в котором дополнительно представляют ослабление проникающего излучения посредством функци

Claims (14)

1. Способ определения характеристик объекта на основе средней длины свободного пробега проникающего излучения, включающий формирование падающего пучка проникающего излучения, характеризующегося направлением распространения и распределением энергии, размещение группы детекторных элементов в зоне пучка проникающего излучения, в которой каждый из детекторных элементов характеризуется полем обзора, коллимирование поля обзора каждого детекторного элемента, детектирование излучения, рассеянного группой вокселей проверяемого объекта, в котором каждый воксель является пересечением поля обзора по меньшей мере одного из детекторных элементов с направлением распространения падающего пучка проникающего излучения, и вычисление ослабления рассеянного проникающего излучения между парами вокселей, в котором каждый воксель из указанной пары соответствует по меньшей мере одному из двух направлений распространения падающего пучка проникающего излучения.
2. Способ по п.1, в котором дополнительно изменяют направление распространения падающего пучка проникающего излучения, последовательно облучая проверяемый объект в точках падения.
3. Способ по п.1, в котором детектирование излучения включает детектирование отдельных компонентов энергии рассеянного проникающего излучения падающего пучка.
4. Способ по п.1, в котором дополнительно сканируют падающим пучком в направлении, перпендикулярном направлению его распространения посредством облучения падающим пучком проверяемого объекта в точках падения.
5. Способ по п.1, в котором дополнительно представляют ослабление проникающего излучения посредством функции положения проверяемого объекта.
6. Способ по п.1, в котором размещение детекторов в зоне падающего пучка проникающего излучения включает размещение детекторных матриц рассеянного излучения в направлениях, составляющая вектора которых параллельна направлению распространения падающего пучка.
7. Способ по п.1, в котором размещение детекторов рядом с падающим пучком проникающего излучения включает размещение детекторов на плоскости, перпендикулярной пучку проникающего излучения.
8. Способ по п.1, в котором вычисление ослабления проникающего излучения включает определение средней длины свободного пробега рассеянного излучения посредством функции положения проверяемого объекта.
9. Способ по п.1, в котором коллимирование включает ограничение поля обзора каждого детекторного элемента направлением, включающим определенный диапазон углов относительно направления распространения падающего пучка.
10. Способ по п.1, в котором дополнительно изменяют распределение энергии падающего пучка проникающего излучения.
11. Способ по п.1, в котором включают сканирование апертуры относительно рентгеновской трубки.
12. Способ по п.1, в котором сканирование включает активизацию дискретных элементов матрицы излучателей.
13. Способ по п.1, в котором дополнительно идентифицируют материал как представляющее угрозу вещество посредством сравнения средней длины свободного пробега с таблицей измеренных значений.
14. Способ по п.1, в котором дополнительно подтверждают правильность вычисления ослабления посредством повторного зондирования векселя детекторными элементами с противолежащими полями обзора.
RU2009110284/28A 2006-08-23 2007-08-22 Способ определения характеристик объекта RU2428680C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US82332806P 2006-08-23 2006-08-23
US60/823,328 2006-08-23

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2009110284A true RU2009110284A (ru) 2010-09-27
RU2428680C2 RU2428680C2 (ru) 2011-09-10

Family

ID=39107624

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2009110284/28A RU2428680C2 (ru) 2006-08-23 2007-08-22 Способ определения характеристик объекта

Country Status (10)

Country Link
US (1) US7551718B2 (ru)
EP (1) EP2054741B1 (ru)
JP (1) JP2010501860A (ru)
KR (1) KR20090046849A (ru)
CN (1) CN101506688B (ru)
IL (1) IL196756A (ru)
MX (1) MX2009001939A (ru)
MY (1) MY144438A (ru)
RU (1) RU2428680C2 (ru)
WO (1) WO2008024825A2 (ru)

Families Citing this family (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7963695B2 (en) 2002-07-23 2011-06-21 Rapiscan Systems, Inc. Rotatable boom cargo scanning system
US8503605B2 (en) 2002-07-23 2013-08-06 Rapiscan Systems, Inc. Four sided imaging system and method for detection of contraband
US8275091B2 (en) 2002-07-23 2012-09-25 Rapiscan Systems, Inc. Compact mobile cargo scanning system
US9958569B2 (en) 2002-07-23 2018-05-01 Rapiscan Systems, Inc. Mobile imaging system and method for detection of contraband
US8223919B2 (en) 2003-04-25 2012-07-17 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items
US8243876B2 (en) 2003-04-25 2012-08-14 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners
GB0525593D0 (en) 2005-12-16 2006-01-25 Cxr Ltd X-ray tomography inspection systems
US6928141B2 (en) 2003-06-20 2005-08-09 Rapiscan, Inc. Relocatable X-ray imaging system and method for inspecting commercial vehicles and cargo containers
US7856081B2 (en) 2003-09-15 2010-12-21 Rapiscan Systems, Inc. Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence
US7471764B2 (en) 2005-04-15 2008-12-30 Rapiscan Security Products, Inc. X-ray imaging system having improved weather resistance
US7526064B2 (en) 2006-05-05 2009-04-28 Rapiscan Security Products, Inc. Multiple pass cargo inspection system
US8737704B2 (en) 2006-08-08 2014-05-27 The Procter And Gamble Company Methods for analyzing absorbent articles
US8253778B2 (en) * 2008-03-21 2012-08-28 Takahashi Atsushi Three-dimensional digital magnifier operation supporting system
GB0809110D0 (en) 2008-05-20 2008-06-25 Rapiscan Security Products Inc Gantry scanner systems
US9310323B2 (en) 2009-05-16 2016-04-12 Rapiscan Systems, Inc. Systems and methods for high-Z threat alarm resolution
KR101296275B1 (ko) * 2009-09-15 2013-08-14 캐논 아네르바 가부시키가이샤 평균 자유 경로를 측정하는 장치, 진공계 및 평균 자유 경로를 측정하는 방법
US10393915B2 (en) 2010-02-25 2019-08-27 Rapiscan Systems, Inc. Integrated primary and special nuclear material alarm resolution
US8766764B2 (en) 2010-09-23 2014-07-01 Rapiscan Systems, Inc. Automated personnel screening system and method
US8908831B2 (en) 2011-02-08 2014-12-09 Rapiscan Systems, Inc. Covert surveillance using multi-modality sensing
PL3252506T3 (pl) 2011-02-08 2021-05-31 Rapiscan Systems, Inc. Tajny nadzór przy użyciu wykrywania multimodalnego
US9218933B2 (en) 2011-06-09 2015-12-22 Rapidscan Systems, Inc. Low-dose radiographic imaging system
US9244022B2 (en) 2011-06-16 2016-01-26 The Procter & Gamble Company Mannequins for use in imaging and systems including the same
PL3242315T3 (pl) 2012-02-03 2024-02-19 Rapiscan Systems, Inc. Rentgenowski układ inspekcyjny do skanowania obiektu
KR20200044997A (ko) 2012-02-14 2020-04-29 아메리칸 사이언스 앤 엔지니어링, 인크. 파장-편이 섬유-결합 신틸레이션 검출기를 사용한 x-선 검사
US10670740B2 (en) 2012-02-14 2020-06-02 American Science And Engineering, Inc. Spectral discrimination using wavelength-shifting fiber-coupled scintillation detectors
US8989342B2 (en) 2012-04-18 2015-03-24 The Boeing Company Methods and systems for volumetric reconstruction using radiography
US20130315368A1 (en) * 2012-05-22 2013-11-28 Aribex, Inc. Handheld X-Ray System for 3D Scatter Imaging
KR101270674B1 (ko) * 2012-10-11 2013-06-05 (주) 뉴캐어메디컬시스템 방사선 영상화 방법
EP2941775A4 (en) 2013-01-07 2016-08-24 Rapiscan Systems Inc X-RAY SCANNING DEVICE WITH PARTIAL ENERGY DISCRIMINATION DETECTOR ARRAY
CA2898654C (en) 2013-01-31 2020-02-25 Rapiscan Systems, Inc. Portable security inspection system
DE102013211526A1 (de) * 2013-06-19 2014-12-24 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Gewichtsbestimmung insbesondere eines mit Produkt befüllten Behältnisses
US9557427B2 (en) 2014-01-08 2017-01-31 Rapiscan Systems, Inc. Thin gap chamber neutron detectors
WO2016003547A1 (en) 2014-06-30 2016-01-07 American Science And Engineering, Inc. Rapidly relocatable modular cargo container scanner
PL3271709T3 (pl) 2015-03-20 2023-02-20 Rapiscan Systems, Inc. Ręczny przenośny system kontroli rozpraszania wstecznego
US10345479B2 (en) 2015-09-16 2019-07-09 Rapiscan Systems, Inc. Portable X-ray scanner
EP3516351A1 (de) * 2016-09-26 2019-07-31 LaVision BioTec GmbH Messeinrichtung und verfahren zur charakterisierung eines strahlungsfeldes, insbesondere von laserstrahlung
MX2019012365A (es) 2017-04-17 2020-02-07 Rapiscan Systems Inc Metodos y sistemas de inspeccion de tomografia por rayos x.
CN107479102A (zh) * 2017-09-19 2017-12-15 北京君和信达科技有限公司 辐射检查系统及方法
WO2019245636A1 (en) 2018-06-20 2019-12-26 American Science And Engineering, Inc. Wavelength-shifting sheet-coupled scintillation detectors
US12181422B2 (en) 2019-09-16 2024-12-31 Rapiscan Holdings, Inc. Probabilistic image analysis
US11594001B2 (en) 2020-01-20 2023-02-28 Rapiscan Systems, Inc. Methods and systems for generating three-dimensional images that enable improved visualization and interaction with objects in the three-dimensional images
US11193898B1 (en) 2020-06-01 2021-12-07 American Science And Engineering, Inc. Systems and methods for controlling image contrast in an X-ray system
US11175245B1 (en) 2020-06-15 2021-11-16 American Science And Engineering, Inc. Scatter X-ray imaging with adaptive scanning beam intensity
US11340361B1 (en) 2020-11-23 2022-05-24 American Science And Engineering, Inc. Wireless transmission detector panel for an X-ray scanner
US12019035B2 (en) 2021-07-16 2024-06-25 Rapiscan Holdings, Inc. Material detection in x-ray security screening
CN114399564B (zh) * 2022-03-25 2022-08-12 康达洲际医疗器械有限公司 一种基于散射识别的锥束计算机断层扫描成像方法与系统

Family Cites Families (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2670401A (en) * 1948-06-15 1954-02-23 Weinberg Marvin X-ray diagnostic apparatus
USRE28544E (en) * 1971-07-07 1975-09-02 Radiant energy imaging with scanning pencil beam
DE2538517A1 (de) * 1974-08-28 1976-03-11 Emi Ltd Radiologisches geraet
US3955089A (en) * 1974-10-21 1976-05-04 Varian Associates Automatic steering of a high velocity beam of charged particles
US4144457A (en) * 1976-04-05 1979-03-13 Albert Richard D Tomographic X-ray scanning system
US4149076A (en) * 1976-04-05 1979-04-10 Albert Richard D Method and apparatus producing plural images of different contrast range by X-ray scanning
DE2639631A1 (de) * 1976-08-31 1978-03-02 Frithjof Prof Dr Aurich Diagnostikeinrichtung zur herstellung von schichtbildern mit hilfe durchdringender strahlung
JPS53117396A (en) * 1977-03-24 1978-10-13 Toshiba Corp Radiation tomograph
DE2713581C2 (de) * 1977-03-28 1983-04-14 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Anordnung zur Darstellung einer Ebene eines Körpers mit Gamma- oder Röntgenstrahlung
US4196351A (en) * 1977-06-03 1980-04-01 Albert Richard David Scanning radiographic apparatus
US4194123A (en) * 1978-05-12 1980-03-18 Rockwell International Corporation Lithographic apparatus
DE2944147A1 (de) * 1979-11-02 1981-05-14 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Anordnung zur ermittlung der streudichteverteilung in einem ebenen untersuchungsbereich
US4357535A (en) * 1980-04-30 1982-11-02 North American Philips Corporation Apparatus for inspecting hand-held articles and persons carrying same
US4672615A (en) * 1982-07-20 1987-06-09 Unisearch Limited Ion and electron beam steering and focussing system
US4598415A (en) * 1982-09-07 1986-07-01 Imaging Sciences Associates Limited Partnership Method and apparatus for producing X-rays
US4535243A (en) * 1983-03-17 1985-08-13 Imatron Associates X-ray detector for high speed X-ray scanning system
GB8521287D0 (en) * 1985-08-27 1985-10-02 Frith B Flow measurement & imaging
US4730350A (en) * 1986-04-21 1988-03-08 Albert Richard D Method and apparatus for scanning X-ray tomography
DE3764315D1 (de) * 1986-05-28 1990-09-20 Heimann Gmbh Roentgenscanner.
US4799247A (en) * 1986-06-20 1989-01-17 American Science And Engineering, Inc. X-ray imaging particularly adapted for low Z materials
US4809312A (en) * 1986-07-22 1989-02-28 American Science And Engineering, Inc. Method and apparatus for producing tomographic images
US5097492A (en) * 1987-10-30 1992-03-17 Four Pi Systems Corporation Automated laminography system for inspection of electronics
US4864142A (en) * 1988-01-11 1989-09-05 Penetron, Inc. Method and apparatus for the noninvasive interrogation of objects
US5022062A (en) * 1989-09-13 1991-06-04 American Science And Engineering, Inc. Automatic threat detection based on illumination by penetrating radiant energy using histogram processing
US5179581A (en) * 1989-09-13 1993-01-12 American Science And Engineering, Inc. Automatic threat detection based on illumination by penetrating radiant energy
US5181234B1 (en) * 1990-08-06 2000-01-04 Rapiscan Security Products Inc X-ray backscatter detection system
WO1992003722A1 (en) * 1990-08-15 1992-03-05 Massachusetts Institute Of Technology Detection of explosives and other materials using resonance fluorescence, resonance absorption, and other electromagnetic processes with bremsstrahlung radiation
US5153900A (en) * 1990-09-05 1992-10-06 Photoelectron Corporation Miniaturized low power x-ray source
US5428658A (en) * 1994-01-21 1995-06-27 Photoelectron Corporation X-ray source with flexible probe
US5247561A (en) * 1991-01-02 1993-09-21 Kotowski Andreas F Luggage inspection device
JPH04353792A (ja) * 1991-05-31 1992-12-08 Toshiba Corp 散乱線映像装置及びそれに用いる散乱線検出器
JPH04364454A (ja) * 1991-06-11 1992-12-16 Toshiba Corp 散乱ｘ線測定装置
US5182764A (en) * 1991-10-03 1993-01-26 Invision Technologies, Inc. Automatic concealed object detection system having a pre-scan stage
US5430787A (en) * 1992-12-03 1995-07-04 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Compton scattering tomography
US5682412A (en) * 1993-04-05 1997-10-28 Cardiac Mariners, Incorporated X-ray source
US5712889A (en) * 1994-08-24 1998-01-27 Lanzara; Giovanni Scanned volume CT scanner
DE4433133C1 (de) * 1994-09-16 1995-12-07 Siemens Ag Röntgenstrahler mit einer Elektronenquelle zum Senden eines Bündels von Elektronen entlang einer langgestreckten Anode
US5504796A (en) * 1994-11-30 1996-04-02 Da Silveira; Enio F. Method and apparatus for producing x-rays
RU94043357A (ru) * 1994-12-08 1996-10-27 А.В. Курбатов Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления
US6052433A (en) * 1995-12-29 2000-04-18 Advanced Optical Technologies, Inc. Apparatus and method for dual-energy x-ray imaging
US5696806A (en) * 1996-03-11 1997-12-09 Grodzins; Lee Tomographic method of x-ray imaging
US5642394A (en) * 1996-04-03 1997-06-24 American Science And Engineering, Inc. Sidescatter X-ray detection system
DE19618749A1 (de) * 1996-05-09 1997-11-13 Siemens Ag Röntgen-Computertomograph
EP0910807B1 (en) 1996-07-12 2003-03-19 American Science & Engineering, Inc. Side scatter tomography system
DE19710222A1 (de) 1997-03-12 1998-09-17 Siemens Ag Röntgenstrahlerzeuger
US6111974A (en) * 1998-02-11 2000-08-29 Analogic Corporation Apparatus and method for detecting sheet objects in computed tomography data
CA2348150C (en) * 2000-05-25 2007-03-13 Esam M.A. Hussein Non-rotating x-ray system for three-dimensional, three-parameter imaging
US7227982B2 (en) * 2002-04-15 2007-06-05 General Electric Company Three-dimensional reprojection and backprojection methods and algorithms for implementation thereof
DE10244180B4 (de) * 2002-09-23 2009-08-27 Siemens Ag Verfahren zur Bilderstellung in der Computertomographie eines periodisch bewegten Untersuchungsobjektes und CT-Gerät zur Durchführung des Verfahrens
US7330528B2 (en) * 2003-08-19 2008-02-12 Agilent Technologies, Inc. System and method for parallel image reconstruction of multiple depth layers of an object under inspection from radiographic images
JP2005110722A (ja) * 2003-10-02 2005-04-28 Shimadzu Corp Ｘ線管およびｘ線撮影装置
CA2513990C (en) * 2004-08-27 2010-09-14 Paul Jacob Arsenault X-ray scatter image reconstruction by balancing of discrepancies between detector responses, and apparatus therefor

Also Published As

Publication number Publication date
IL196756A (en) 2012-06-28
US20080049899A1 (en) 2008-02-28
JP2010501860A (ja) 2010-01-21
WO2008024825A3 (en) 2008-10-02
IL196756A0 (en) 2009-11-18
MX2009001939A (es) 2009-03-05
EP2054741A2 (en) 2009-05-06
US7551718B2 (en) 2009-06-23
KR20090046849A (ko) 2009-05-11
CN101506688B (zh) 2011-12-21
MY144438A (en) 2011-09-15
CN101506688A (zh) 2009-08-12
RU2428680C2 (ru) 2011-09-10
EP2054741B1 (en) 2017-01-11
WO2008024825A2 (en) 2008-02-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2009110284A (ru) Способ определения характеристик объекта
JP5054518B2 (ja) 物質の平均原子番号及び質量を求めるための方法及びシステム
JP5347896B2 (ja) 非破壊検査方法及びその装置
RU2011111443A (ru) Построение изображения по заряженным частицам, создаваемым космическими лучами
JP6306738B2 (ja) 検査デバイス、方法およびシステム
EP2221847A2 (en) Compact multi-focus x-ray source, x-ray diffraction imaging system, and method for fabricating compact multi-focus x-ray source
US7283613B2 (en) Method of measuring the momentum transfer spectrum of elastically scattered X-ray quanta
KR950703139A (ko) 금속시트의 온라인 단층촬영 측정방법 및 장치(online tomographic gauging of sheet metal)
CN106896121B (zh) 检测系统和方法
CN203929678U (zh) 检查设备和系统
CN102272861A (zh) X射线成像装置和x射线成像的方法
US20190025231A1 (en) A method of detection of defects in materials with internal directional structure and a device for performance of the method
JP3989836B2 (ja) サンプル状態検査装置及び方法
US8976936B1 (en) Collimator for backscattered radiation imaging and method of using the same
CN113939732B (zh) 具有减少视差效应的x射线测量装置
JP5504502B2 (ja) Ｘ線及び中性子線の反射率曲線測定方法及び測定装置
JP6441184B2 (ja) 構造物の検査装置及びその検査方法
Cozzini et al. Modeling scattering for security applications: a multiple beam x-ray diffraction imaging system
KR102549594B1 (ko) 다관절을 이용한 xrf 검사장치
CA2771499C (en) A method for calibrating at least one detector array formed by a plurality of detectors
CN103424415B (zh) X光定位检测装置及定位检测方法
CN113560218A (zh) 一种用于色选机的x射线散射校正系统及方法
RU2470287C1 (ru) Система неразрушающего контроля изделий
RU2472138C1 (ru) Способ неразрушающего контроля изделий
Selvagumar et al. Modelling of a new X-ray backscatter imaging system: simulation investigation

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20120823