RU94043357A - Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления - Google Patents

Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления

Info

Publication number
RU94043357A
RU94043357A RU94043357/25A RU94043357A RU94043357A RU 94043357 A RU94043357 A RU 94043357A RU 94043357/25 A RU94043357/25 A RU 94043357/25A RU 94043357 A RU94043357 A RU 94043357A RU 94043357 A RU94043357 A RU 94043357A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
radiation
image
penetrating radiation
generation
reflection
Prior art date
Application number
RU94043357/25A
Other languages
English (en)
Inventor
А.В. Курбатов
П.И. Лазарев
Original Assignee
А.В. Курбатов
П.И. Лазарев
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by А.В. Курбатов, П.И. Лазарев filed Critical А.В. Курбатов
Priority to RU94043357/25A priority Critical patent/RU94043357A/ru
Priority to PCT/RU1995/000268 priority patent/WO1996023209A1/en
Priority to US08/569,031 priority patent/US5805662A/en
Publication of RU94043357A publication Critical patent/RU94043357A/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20075—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by measuring interferences of X-rays, e.g. Borrmann effect
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/419—Imaging computed tomograph

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относится к способу неразрушающего контроля объектов с помощью проникающего излучения путем получения изображения объекта 2 на детекторе 5, передаваемого потоком проникающего излучения с высоким пространственным разрешением за счет фокусирования излучения с использованием угловой селективности интерференционного отражения излучения под углами Брегга от регулярной системы рассеивающих поверхностей. При этом передача изображения возможна с изменением масштаба по одному или двум направлениям за счет использования асимметричного отражения от кристаллических плоскостей.

Claims (1)

  1. Изобретение относится к способу неразрушающего контроля объектов с помощью проникающего излучения путем получения изображения объекта 2 на детекторе 5, передаваемого потоком проникающего излучения с высоким пространственным разрешением за счет фокусирования излучения с использованием угловой селективности интерференционного отражения излучения под углами Брегга от регулярной системы рассеивающих поверхностей. При этом передача изображения возможна с изменением масштаба по одному или двум направлениям за счет использования асимметричного отражения от кристаллических плоскостей.
    Figure 00000001
RU94043357/25A 1994-12-08 1994-12-08 Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления RU94043357A (ru)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU94043357/25A RU94043357A (ru) 1994-12-08 1994-12-08 Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления
PCT/RU1995/000268 WO1996023209A1 (en) 1994-12-08 1995-12-07 X-ray imaging system including a transforming element that selects radiation that forms an image
US08/569,031 US5805662A (en) 1994-12-08 1995-12-07 Using deflected penetrating radiation to image an object's internal structure

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU94043357/25A RU94043357A (ru) 1994-12-08 1994-12-08 Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU94043357A true RU94043357A (ru) 1996-10-27

Family

ID=20163023

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU94043357/25A RU94043357A (ru) 1994-12-08 1994-12-08 Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5805662A (ru)
RU (1) RU94043357A (ru)
WO (1) WO1996023209A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003075286A1 (fr) * 2002-03-05 2003-09-12 Muradin Abubekirovich Kumakhov Microscope a rayons x

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5696806A (en) * 1996-03-11 1997-12-09 Grodzins; Lee Tomographic method of x-ray imaging
US5933473A (en) * 1996-04-04 1999-08-03 Hitachi, Ltd. Non-destructive inspection apparatus and inspection system using it
US6175117B1 (en) 1998-01-23 2001-01-16 Quanta Vision, Inc. Tissue analysis apparatus
US6281503B1 (en) 1998-05-06 2001-08-28 Quanta Vision, Inc. Non-invasive composition analysis
US6577708B2 (en) 2000-04-17 2003-06-10 Leroy Dean Chapman Diffraction enhanced x-ray imaging of articular cartilage
NL1019398C2 (nl) * 2001-11-20 2003-05-27 Havatec B V Werkwijze en inrichting voor het inspecteren van bloemen, takken en planten.
JP3674006B2 (ja) * 2002-06-19 2005-07-20 株式会社リガク イオン交換膜の評価方法及び有機物の評価方法
JP3666862B2 (ja) * 2002-06-19 2005-06-29 株式会社リガク イオン交換膜の評価方法及び有機物の評価方法
US6921896B2 (en) * 2002-10-24 2005-07-26 Northrop Grumman Corporation Automatic backscatter gauge
US6895072B2 (en) 2003-03-26 2005-05-17 Heimann Systems Corp. Apparatus and method for non-destructive inspection of material in containers
US7076025B2 (en) 2004-05-19 2006-07-11 Illinois Institute Of Technology Method for detecting a mass density image of an object
US7330530B2 (en) * 2004-10-04 2008-02-12 Illinois Institute Of Technology Diffraction enhanced imaging method using a line x-ray source
DE102004060609A1 (de) * 2004-12-16 2006-06-29 Yxlon International Security Gmbh Verfahren zum Messen des Impulsübertragungsspektrums von elastisch gestreuten Röntgenquanten
US8842808B2 (en) 2006-08-11 2014-09-23 American Science And Engineering, Inc. Scatter attenuation tomography using a monochromatic radiation source
MY144438A (en) * 2006-08-23 2011-09-15 American Science & Eng Inc Scatter attenuation tomography
US7924979B2 (en) * 2006-08-23 2011-04-12 American Science And Engineering, Inc. Scatter attenuation tomography
US7646850B2 (en) * 2007-01-18 2010-01-12 The Research Foundation Of State University Of New York Wide-field, coherent scatter imaging for radiography using a divergent beam
US7469037B2 (en) * 2007-04-03 2008-12-23 Illinois Institute Of Technology Method for detecting a mass density image of an object
US8204174B2 (en) * 2009-06-04 2012-06-19 Nextray, Inc. Systems and methods for detecting an image of an object by use of X-ray beams generated by multiple small area sources and by use of facing sides of adjacent monochromator crystals
CA2763367C (en) * 2009-06-04 2016-09-13 Nextray, Inc. Strain matching of crystals and horizontally-spaced monochromator and analyzer crystal arrays in diffraction enhanced imaging systems and related methods
CN102033075B (zh) 2009-09-25 2013-05-01 清华大学 用于物体安全检查的辐射检查设备及其检查方法
US10403435B2 (en) 2017-12-15 2019-09-03 Capacitor Sciences Incorporated Edder compound and capacitor thereof

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4075492A (en) * 1974-11-29 1978-02-21 The Board Of Trustees Of Leland Stanford Junior University Fan beam X- or γ-ray 3-D tomography
SU1318870A1 (ru) * 1986-01-02 1987-06-23 Центральный научно-исследовательский институт черной металлургии им.И.П.Бардина Рентгеновский дефектоскоп
SU1402871A1 (ru) * 1986-11-13 1988-06-15 Предприятие П/Я А-1758 Способ получени теневых картин внутренней структуры объекта с помощью проникающего излучени
RU2012872C1 (ru) * 1991-05-14 1994-05-15 Виктор Натанович Ингал Способ получения изображения внутренней структуры объекта
WO1995005725A1 (en) * 1993-08-16 1995-02-23 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Improved x-ray optics, especially for phase contrast imaging

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003075286A1 (fr) * 2002-03-05 2003-09-12 Muradin Abubekirovich Kumakhov Microscope a rayons x

Also Published As

Publication number Publication date
US5805662A (en) 1998-09-08
WO1996023209A1 (en) 1996-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU94043357A (ru) Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления
US9651477B1 (en) Method and apparatus for simultaneous observation of three-degrees of vibrational freedom using single heterodyne beam
KR920010261A (ko) 3차원계측방법
JP2002022678A5 (ru)
EP0396409A3 (en) High resolution ellipsometric apparatus
WO2009064495A3 (en) Schlieren-type radiography using a line source and focusing optics
Flett et al. First results from a submillimetre polarimeter on the James Clerk Maxwell Telescope
JPS6036003B2 (ja) 被検査表面の検査方法
JPS5642205A (en) Focus detecting method
SE9800965D0 (sv) Analysing Device
JP6702788B2 (ja) 放射線の位相変化検出方法
TWI274843B (en) System and method for obtaining measurement data on objects via processing images thereof
Campana et al. Reverberation by a relativistic accretion disc
US20190385281A1 (en) System and method for monitoring a sample with at least two wavelengths
KR100936746B1 (ko) Χ-선 토포그래피에 의한 결함의 3-차원 분포의 분석
EP0971318A3 (en) Device for extrapolation from cone beam projection data
RU94043356A (ru) Способ получения изображения внутренней структуры объекта с помощью проникающего излучения
KR100871270B1 (ko) 광학 간섭계를 이용한 샘플 시료의 이미지 정보 생성 방법및 장치
FR2429439A1 (fr) Appareil de formation de tomogrammes
Mihara et al. Three-dimensional sound pressure field measurement using photoelastic computer tomography method
EP0869375A3 (en) Spatial de-aliasing of the 3-D Kirchhoff DMO operator
Siewert et al. Evaluation and qualification standards for an X-ray laminography system
JP2016161284A (ja) 回折ｘ線を用いた三次元定量方法及び装置
JPH0112187Y2 (ru)
RU2095753C1 (ru) Устройство измерения взаимного углового положения отражателей