RU94043357A - Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления - Google Patents
Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществленияInfo
- Publication number
- RU94043357A RU94043357A RU94043357/25A RU94043357A RU94043357A RU 94043357 A RU94043357 A RU 94043357A RU 94043357/25 A RU94043357/25 A RU 94043357/25A RU 94043357 A RU94043357 A RU 94043357A RU 94043357 A RU94043357 A RU 94043357A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- radiation
- image
- penetrating radiation
- generation
- reflection
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/20075—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by measuring interferences of X-rays, e.g. Borrmann effect
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Изобретение относится к способу неразрушающего контроля объектов с помощью проникающего излучения путем получения изображения объекта 2 на детекторе 5, передаваемого потоком проникающего излучения с высоким пространственным разрешением за счет фокусирования излучения с использованием угловой селективности интерференционного отражения излучения под углами Брегга от регулярной системы рассеивающих поверхностей. При этом передача изображения возможна с изменением масштаба по одному или двум направлениям за счет использования асимметричного отражения от кристаллических плоскостей.
Claims (1)
- Изобретение относится к способу неразрушающего контроля объектов с помощью проникающего излучения путем получения изображения объекта 2 на детекторе 5, передаваемого потоком проникающего излучения с высоким пространственным разрешением за счет фокусирования излучения с использованием угловой селективности интерференционного отражения излучения под углами Брегга от регулярной системы рассеивающих поверхностей. При этом передача изображения возможна с изменением масштаба по одному или двум направлениям за счет использования асимметричного отражения от кристаллических плоскостей.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU94043357/25A RU94043357A (ru) | 1994-12-08 | 1994-12-08 | Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления |
PCT/RU1995/000268 WO1996023209A1 (en) | 1994-12-08 | 1995-12-07 | X-ray imaging system including a transforming element that selects radiation that forms an image |
US08/569,031 US5805662A (en) | 1994-12-08 | 1995-12-07 | Using deflected penetrating radiation to image an object's internal structure |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU94043357/25A RU94043357A (ru) | 1994-12-08 | 1994-12-08 | Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU94043357A true RU94043357A (ru) | 1996-10-27 |
Family
ID=20163023
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU94043357/25A RU94043357A (ru) | 1994-12-08 | 1994-12-08 | Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5805662A (ru) |
RU (1) | RU94043357A (ru) |
WO (1) | WO1996023209A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003075286A1 (fr) * | 2002-03-05 | 2003-09-12 | Muradin Abubekirovich Kumakhov | Microscope a rayons x |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5696806A (en) * | 1996-03-11 | 1997-12-09 | Grodzins; Lee | Tomographic method of x-ray imaging |
US5933473A (en) * | 1996-04-04 | 1999-08-03 | Hitachi, Ltd. | Non-destructive inspection apparatus and inspection system using it |
US6175117B1 (en) | 1998-01-23 | 2001-01-16 | Quanta Vision, Inc. | Tissue analysis apparatus |
US6281503B1 (en) | 1998-05-06 | 2001-08-28 | Quanta Vision, Inc. | Non-invasive composition analysis |
US6577708B2 (en) | 2000-04-17 | 2003-06-10 | Leroy Dean Chapman | Diffraction enhanced x-ray imaging of articular cartilage |
NL1019398C2 (nl) * | 2001-11-20 | 2003-05-27 | Havatec B V | Werkwijze en inrichting voor het inspecteren van bloemen, takken en planten. |
JP3674006B2 (ja) * | 2002-06-19 | 2005-07-20 | 株式会社リガク | イオン交換膜の評価方法及び有機物の評価方法 |
JP3666862B2 (ja) * | 2002-06-19 | 2005-06-29 | 株式会社リガク | イオン交換膜の評価方法及び有機物の評価方法 |
US6921896B2 (en) * | 2002-10-24 | 2005-07-26 | Northrop Grumman Corporation | Automatic backscatter gauge |
US6895072B2 (en) | 2003-03-26 | 2005-05-17 | Heimann Systems Corp. | Apparatus and method for non-destructive inspection of material in containers |
US7076025B2 (en) | 2004-05-19 | 2006-07-11 | Illinois Institute Of Technology | Method for detecting a mass density image of an object |
US7330530B2 (en) * | 2004-10-04 | 2008-02-12 | Illinois Institute Of Technology | Diffraction enhanced imaging method using a line x-ray source |
DE102004060609A1 (de) * | 2004-12-16 | 2006-06-29 | Yxlon International Security Gmbh | Verfahren zum Messen des Impulsübertragungsspektrums von elastisch gestreuten Röntgenquanten |
US8842808B2 (en) | 2006-08-11 | 2014-09-23 | American Science And Engineering, Inc. | Scatter attenuation tomography using a monochromatic radiation source |
MY144438A (en) * | 2006-08-23 | 2011-09-15 | American Science & Eng Inc | Scatter attenuation tomography |
US7924979B2 (en) * | 2006-08-23 | 2011-04-12 | American Science And Engineering, Inc. | Scatter attenuation tomography |
US7646850B2 (en) * | 2007-01-18 | 2010-01-12 | The Research Foundation Of State University Of New York | Wide-field, coherent scatter imaging for radiography using a divergent beam |
US7469037B2 (en) * | 2007-04-03 | 2008-12-23 | Illinois Institute Of Technology | Method for detecting a mass density image of an object |
US8204174B2 (en) * | 2009-06-04 | 2012-06-19 | Nextray, Inc. | Systems and methods for detecting an image of an object by use of X-ray beams generated by multiple small area sources and by use of facing sides of adjacent monochromator crystals |
CA2763367C (en) * | 2009-06-04 | 2016-09-13 | Nextray, Inc. | Strain matching of crystals and horizontally-spaced monochromator and analyzer crystal arrays in diffraction enhanced imaging systems and related methods |
CN102033075B (zh) | 2009-09-25 | 2013-05-01 | 清华大学 | 用于物体安全检查的辐射检查设备及其检查方法 |
US10403435B2 (en) | 2017-12-15 | 2019-09-03 | Capacitor Sciences Incorporated | Edder compound and capacitor thereof |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4075492A (en) * | 1974-11-29 | 1978-02-21 | The Board Of Trustees Of Leland Stanford Junior University | Fan beam X- or γ-ray 3-D tomography |
SU1318870A1 (ru) * | 1986-01-02 | 1987-06-23 | Центральный научно-исследовательский институт черной металлургии им.И.П.Бардина | Рентгеновский дефектоскоп |
SU1402871A1 (ru) * | 1986-11-13 | 1988-06-15 | Предприятие П/Я А-1758 | Способ получени теневых картин внутренней структуры объекта с помощью проникающего излучени |
RU2012872C1 (ru) * | 1991-05-14 | 1994-05-15 | Виктор Натанович Ингал | Способ получения изображения внутренней структуры объекта |
WO1995005725A1 (en) * | 1993-08-16 | 1995-02-23 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | Improved x-ray optics, especially for phase contrast imaging |
-
1994
- 1994-12-08 RU RU94043357/25A patent/RU94043357A/ru unknown
-
1995
- 1995-12-07 WO PCT/RU1995/000268 patent/WO1996023209A1/en active Application Filing
- 1995-12-07 US US08/569,031 patent/US5805662A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003075286A1 (fr) * | 2002-03-05 | 2003-09-12 | Muradin Abubekirovich Kumakhov | Microscope a rayons x |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5805662A (en) | 1998-09-08 |
WO1996023209A1 (en) | 1996-08-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU94043357A (ru) | Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления | |
US9651477B1 (en) | Method and apparatus for simultaneous observation of three-degrees of vibrational freedom using single heterodyne beam | |
KR920010261A (ko) | 3차원계측방법 | |
JP2002022678A5 (ru) | ||
EP0396409A3 (en) | High resolution ellipsometric apparatus | |
WO2009064495A3 (en) | Schlieren-type radiography using a line source and focusing optics | |
Flett et al. | First results from a submillimetre polarimeter on the James Clerk Maxwell Telescope | |
JPS6036003B2 (ja) | 被検査表面の検査方法 | |
JPS5642205A (en) | Focus detecting method | |
SE9800965D0 (sv) | Analysing Device | |
JP6702788B2 (ja) | 放射線の位相変化検出方法 | |
TWI274843B (en) | System and method for obtaining measurement data on objects via processing images thereof | |
Campana et al. | Reverberation by a relativistic accretion disc | |
US20190385281A1 (en) | System and method for monitoring a sample with at least two wavelengths | |
KR100936746B1 (ko) | Χ-선 토포그래피에 의한 결함의 3-차원 분포의 분석 | |
EP0971318A3 (en) | Device for extrapolation from cone beam projection data | |
RU94043356A (ru) | Способ получения изображения внутренней структуры объекта с помощью проникающего излучения | |
KR100871270B1 (ko) | 광학 간섭계를 이용한 샘플 시료의 이미지 정보 생성 방법및 장치 | |
FR2429439A1 (fr) | Appareil de formation de tomogrammes | |
Mihara et al. | Three-dimensional sound pressure field measurement using photoelastic computer tomography method | |
EP0869375A3 (en) | Spatial de-aliasing of the 3-D Kirchhoff DMO operator | |
Siewert et al. | Evaluation and qualification standards for an X-ray laminography system | |
JP2016161284A (ja) | 回折x線を用いた三次元定量方法及び装置 | |
JPH0112187Y2 (ru) | ||
RU2095753C1 (ru) | Устройство измерения взаимного углового положения отражателей |