PT93453A - Circuito de transistor monolitico integravel para a limitacao de tensoes elevadas temporarias negativas,por exemplo os chamados impulsos esd que aparecem devidos a descargas electrostaticas em condutores electricos - Google Patents
Circuito de transistor monolitico integravel para a limitacao de tensoes elevadas temporarias negativas,por exemplo os chamados impulsos esd que aparecem devidos a descargas electrostaticas em condutores electricos Download PDFInfo
- Publication number
- PT93453A PT93453A PT9345390A PT9345390A PT93453A PT 93453 A PT93453 A PT 93453A PT 9345390 A PT9345390 A PT 9345390A PT 9345390 A PT9345390 A PT 9345390A PT 93453 A PT93453 A PT 93453A
- Authority
- PT
- Portugal
- Prior art keywords
- diode
- substrate
- npn transistor
- transistor
- capacity
- Prior art date
Links
- 239000004020 conductor Substances 0.000 title claims description 23
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 12
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims 3
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 claims 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 claims 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 claims 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 3
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/0203—Particular design considerations for integrated circuits
- H01L27/0248—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection
- H01L27/0251—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection for MOS devices
- H01L27/0259—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection for MOS devices using bipolar transistors as protective elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/0203—Particular design considerations for integrated circuits
- H01L27/0248—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection
- H01L27/0251—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection for MOS devices
- H01L27/0255—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection for MOS devices using diodes as protective elements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Bipolar Integrated Circuits (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Description
Descrição referente à patente âe invenção de SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; alemã, industrial e comercial, com sede em Wittelsbacherplatz 2, D-8000 Munique, República Federal Alemã, (inventores: Hans Kriedt e Andreas Dietze, residentes na Alemanha Ocidental) , para "CIRCUITO DE TRANSÍSTOR MONOLÍTICO INTEGRÁVEL PARA A LIMITAÇÃO DE TENSÕES ELEVADAS TEMPORÁRIAS NEGATIVAS, POR EXEMPLO OS CHAMADOS IMPULSOS ESD QUE APARECEM DEVIDOS A DESCARGAS ELECTROSTÃTICAS EM CONDUTORES ELÉCTRICOS":
DESCRIÇÃO A presente invenção refere-se a um circuito de transistor monolítico integrável de acordo com o preâm bulo da reivindicação 1, bem como a estruturas de semicondutores para a realização fácil de um tal circuito de transistor.
Da patente DE-OS 26 54 419 são conheoi dos circuitos para a limitação de tensão em condutores elêctri-cos, nos quais um trajecto susceptível de ser comandado, de um dispositivo semicondutor, em especial o trajecto colector-emis-sor de um transistor, ê colocado entre o condutor a proteger e o potencial de referência. A partir da entrada de comando do circuito semicondutor estão ligadas cadeias de díodos no sentido de bloqueio para o condutor a proteger ou para o potencial de referência. Para a protecção de tensões elevadas positivas no condutor a proteger, a cadeia de díodos respectiva ê ligada 1
no sentido de condução do condutor a proteger para a entrada de comando do circuito semicondutor/ determinando o numero de díodos a tensão máxima admissível. No caso de circuitos integrados tais cadeias de díodos devem evitar-se o mais possível, devido â grande área que ocupam. Além disso, o valor da tensão para a qual deve verificar-se a limitação de tensão s5 com imprecisão pode prever-se e a impedância com a qual um tal circuito carrega o condutor a proteger está sujeita a grandes dispersões e li mita consideravelmente a frequência dos sinais que podem ser processados.
Da patente DE-OS 31 25 198, em especial da Fig. 3, ê conhecido um circuito de transístor para a pro-tecção de condutores contra tensões elevadas positivas passagei_ ras, no qual o emissor de um transístor PNP estã ligado ao condutor a proteger, estando o colector deste transístor PNP ligado ao potencial de referência, a base deste transístor PNP liga da, através de um díodo polarizado no sentido de condução, ao potencial de referência e sendo excitado com a tensão do potencial de referência. A Fig. 2 da patente DE-OS 31 25 198 representa o mesmo circuito com um transistor NPN que ê ligado ao po tencial de alimentação positivo, protegendo portanto as tensões elevadas negativas passageiras. Quando o condutor a proteger estã ligado por exemplo a uma linha omnibus ou a uma porta de um sistema de dados ou a uma saída de uma antena, pode suceder que apareçam no condutor tensões do sinal e mesmo impulsos ESD, embora um circuito semicondutor a proteger e que contêm o circuito do transistor esteja fora de serviço. Neste caso, no entanto, um tal circuito de protecção de transistores conhecido da patente DE-OS 31 25 198 estã também fora de serviço, pois não existe nenhum potencial de referência.
Para a protecção de condutores electri cos contra tensões elevadas negativas passageiras deu bons resultados a utilização de díodos de substrato. Os díodos de subjs trato, que não sõ podem derivar as correntes apropriadas como também apresentam uma pequena resistência, carregam um condutor a proteger com uma capacidade que ê usualmente maior que 1 pF. • Um circuito de protecção das tensões elevadas negativas conheci_ 2
do da patente DE-OS 33 01 800 possui melhores características âs altas frequências. Um tal circuito de protecção e constituído por dois transístores complementares, cujos elêctrodos das bases estão ligados entre si, estando o emissor do transístor NPN ligado com a entrada do sinal do circuito a proteger e o seu colector ligado ao terminal para o potencial de referência, estando o emissor e o colector do transistor PNP ligados em con junto a um potencial fixo. Um tal circuito carrega a linha a proteger com uma capacidade adicional de cerca de 1 pF. Mas quanto na linha a proteger deve transmitir-se um sinal de alta frequência, não pode admitir-se em muitos casos uma capacidade adicional de 1 pF como carga. A presente invenção tem por objecto proporcionar um circuito de transistor integrado monolítico para a limitação de tensões elevadas negativas passageiras em con dutores elêctricos, que carregam esses condutores a proteger com uma carga capacitiva muito pequena, de modo que se torna possível a transmissão de sinais de alta frequência nesses condutores.
Segundo a presente invenção, o problema resolve-se por meio de um circuito de transistor de acordo com a reivindicação.
Descreve-se a seguir com mais pormenores a construção e o modo de funcionamento de um circuito de transistor integrado monolítico, com referência ao exemplo de realização ilustrado na figura. A figura mostra um esquema de um circuito de transistor segundo a presente invenção para protecção do condutor (Ll) que estã ligado com o emissor de um transistor NPN (Tl). O colector do transistor NPN (Tl) está ligado ao potencial de alimentação positivo (Ul), o terminal de ligação da base do transistor NPN (Tl) estã ligado ao cátodo de um díodo de substrato (Ds) e o ânodo deste díodo (Ds) estã ligado ao potencial de referência da massa. Ha então que ter em atenção que o díodo de substrato ê realizado por meio de uma zona de e-. pitaxia o menor possível. 3
Claims (1)
- Usualmente um tal díodo de substrato ê constituído a partir de uma zona de epitaxia com impurezas N, no substrato com impurezas P, envolvida por uma moldura de isolamento, prevendo-se uma ãrea com elevada percentagem de impure zas com o mesmo tipo de condutividade que a referida zona. Esta ãrea com elevada percentagem de contaminação pode ser de penetração relativamente pequena, mas podem também atingir o substrato. Pela utilização de um díodo de substra to com dimensões correspondentemente pequenas, obtêm-se um circuito de transístor segundo a presente invenção que, realizado numa tecnologia bipolar média, carrega o condutor a proteger com uma capacidade adicional menor que 0,1 pF. Nos circuitos segundo a presente inven ção, o condutor (Ll) ê carregado com uma capacidade adicional constituída pela ligação em serie da capacidade da camada de bloqueio base-emissor do transístor NPN (Tl) e da capacidade da camada de bloqueio do díodo do substrato (Ds). A capacidade de substrato (Ds) determina portanto decisivamente a carga capaci-tiva adicional do condutor elictrico (Ll). Se em vez do díodo de substrato (Ds), se previsse, como na patente DE-OS 33 01 800 um transístor, então a sua capacidade seria consideravelmente maior devido à superfície consideravelmente maior da zona de e-pitaxia. A zona de epitaxia de um díodo de subs trato (Ds) nos circuitos segundo a presente invenção apenas tem de conduzir a corrente de base do transístor NPN (Tl), de modo que a resistência deste díodo de substrato não é crítica. REIVINDICAÇÕES a - 1 Circuito de transístor monolítico inte 4 grãvel para a limitação de tensões elevadas temporárias negativas num condutor elêctrico (Ll), estando o terminal de ligação do emissor de um transístor NPN (Tl) ligado com o condutor elêc trico (Ll), estando o terminal de ligação do colector deste transístor NPN (Tl) ligado a um potencial de alimentação (Ul) e estando este transístor NPN (Tl) condutor apenas quando fôr ultrapassado um valor de limiar de potencial negativo prê-deter-minado relativamente ao potencial de referência (massa), carac-terizado por o terminal de ligação da base do transístor NPN (Tl) estar ligado ao terminal de ligação do cátodo de um díodo (Ds), por o terminal de ligação do ânodo deste díodo (Ds) estar ligado a um potencial de referência (massa) e por o díodo (Ds) ser realizado por um díodo do substrato. A requerente reivindica a prioridade do pedido de patente europeia apresentado em 16 de Março de 19-§9 sob o No. 89 104712.8.5
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP89104712 | 1989-03-16 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
PT93453A true PT93453A (pt) | 1990-11-07 |
Family
ID=8201094
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PT9345390A PT93453A (pt) | 1989-03-16 | 1990-03-15 | Circuito de transistor monolitico integravel para a limitacao de tensoes elevadas temporarias negativas,por exemplo os chamados impulsos esd que aparecem devidos a descargas electrostaticas em condutores electricos |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0387798B1 (pt) |
JP (1) | JPH02280622A (pt) |
DE (1) | DE59002872D1 (pt) |
ES (1) | ES2044281T3 (pt) |
FI (1) | FI901305A0 (pt) |
PT (1) | PT93453A (pt) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0903828A1 (en) * | 1997-09-23 | 1999-03-24 | STMicroelectronics S.r.l. | Improved device for the protection of an integrated circuit against electrostatic discharges |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2654419C2 (de) * | 1976-12-01 | 1983-06-09 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Schaltungsanordnung zur Spannungsbegrenzung |
US4302792A (en) * | 1980-06-26 | 1981-11-24 | Rca Corporation | Transistor protection circuit |
DE3301800A1 (de) * | 1983-01-20 | 1984-08-23 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Integrierbare schutzschaltung |
-
1990
- 1990-03-12 JP JP6088490A patent/JPH02280622A/ja active Pending
- 1990-03-13 DE DE90104734T patent/DE59002872D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-03-13 ES ES90104734T patent/ES2044281T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-13 EP EP90104734A patent/EP0387798B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-15 PT PT9345390A patent/PT93453A/pt not_active Application Discontinuation
- 1990-03-15 FI FI901305A patent/FI901305A0/fi not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02280622A (ja) | 1990-11-16 |
EP0387798B1 (de) | 1993-09-29 |
EP0387798A1 (de) | 1990-09-19 |
FI901305A0 (fi) | 1990-03-15 |
DE59002872D1 (de) | 1993-11-04 |
ES2044281T3 (es) | 1994-01-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0255125B1 (en) | Integrated circuit having two circuit blocks therein independently energized through different power supply terminals | |
US5557128A (en) | Insulated-gate type bipolar transistor | |
US7570467B2 (en) | Electrostatic protection circuit | |
US3967295A (en) | Input transient protection for integrated circuit element | |
US6157066A (en) | Semiconductor aggregate substrate and semiconductor device with fuse structure to prevent breakdown | |
PT93454A (pt) | Circuito integrado monolitico de transistor para limitacao de tencoes positivas elevadas transitorias, tais como os chamados impulsos esd provocados por descargas electrostaticas em condutores electricos | |
US5530277A (en) | Insulated-gate bipolar transistor | |
TW201807802A (zh) | 通用序列匯流排c型負荷開關的靜電放電保護裝置 | |
IT8322946A1 (it) | Circuito di protezione per dispositivi a circuito integrato | |
KR910005468A (ko) | 반도체 집적회로장치 | |
US5574618A (en) | ESD protection using SCR clamping | |
US6441679B1 (en) | Semiconductor active fuse operating at higher supply voltage employing current oscillation | |
US5371392A (en) | Semiconductor apparatus and horizontal register for solid-state image pickup apparatus with protection circuit | |
US3748547A (en) | Insulated-gate field effect transistor having gate protection diode | |
US5737200A (en) | Semiconductor device protection method | |
US5081514A (en) | Protection circuit associated with input terminal of semiconductor device | |
US4048584A (en) | Input protection circuit for cmos oscillator | |
PT93453A (pt) | Circuito de transistor monolitico integravel para a limitacao de tensoes elevadas temporarias negativas,por exemplo os chamados impulsos esd que aparecem devidos a descargas electrostaticas em condutores electricos | |
US20030141545A1 (en) | Semiconductor device | |
KR100206675B1 (ko) | 반도체 집적 회로 장치 | |
US4587656A (en) | High voltage solid-state switch | |
JP2892754B2 (ja) | サージ保護装置 | |
JPH08162631A (ja) | Igbtモジュール構造 | |
JPH09162391A (ja) | 絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ | |
JPH11150235A (ja) | 静電保護装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FC3A | Refusal |
Effective date: 19951212 |