PT93453A - Circuito de transistor monolitico integravel para a limitacao de tensoes elevadas temporarias negativas,por exemplo os chamados impulsos esd que aparecem devidos a descargas electrostaticas em condutores electricos - Google Patents

Circuito de transistor monolitico integravel para a limitacao de tensoes elevadas temporarias negativas,por exemplo os chamados impulsos esd que aparecem devidos a descargas electrostaticas em condutores electricos Download PDF

Info

Publication number
PT93453A
PT93453A PT93453A PT9345390A PT93453A PT 93453 A PT93453 A PT 93453A PT 93453 A PT93453 A PT 93453A PT 9345390 A PT9345390 A PT 9345390A PT 93453 A PT93453 A PT 93453A
Authority
PT
Portugal
Prior art keywords
diode
substrate
npn transistor
transistor
capacity
Prior art date
Application number
PT93453A
Other languages
English (en)
Inventor
Hans Kriedt
Andreas Dietze
Original Assignee
Siemens Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Ag filed Critical Siemens Ag
Publication of PT93453A publication Critical patent/PT93453A/pt

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D89/00Aspects of integrated devices not covered by groups H10D84/00 - H10D88/00
    • H10D89/60Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD]
    • H10D89/601Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs
    • H10D89/711Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs using bipolar transistors as protective elements
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D89/00Aspects of integrated devices not covered by groups H10D84/00 - H10D88/00
    • H10D89/60Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD]
    • H10D89/601Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs
    • H10D89/611Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs using diodes as protective elements

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
  • Bipolar Integrated Circuits (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Description

Descrição referente à patente âe invenção de SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; alemã, industrial e comercial, com sede em Wittelsbacherplatz 2, D-8000 Munique, República Federal Alemã, (inventores: Hans Kriedt e Andreas Dietze, residentes na Alemanha Ocidental) , para "CIRCUITO DE TRANSÍSTOR MONOLÍTICO INTEGRÁVEL PARA A LIMITAÇÃO DE TENSÕES ELEVADAS TEMPORÁRIAS NEGATIVAS, POR EXEMPLO OS CHAMADOS IMPULSOS ESD QUE APARECEM DEVIDOS A DESCARGAS ELECTROSTÃTICAS EM CONDUTORES ELÉCTRICOS":
DESCRIÇÃO A presente invenção refere-se a um circuito de transistor monolítico integrável de acordo com o preâm bulo da reivindicação 1, bem como a estruturas de semicondutores para a realização fácil de um tal circuito de transistor.
Da patente DE-OS 26 54 419 são conheoi dos circuitos para a limitação de tensão em condutores elêctri-cos, nos quais um trajecto susceptível de ser comandado, de um dispositivo semicondutor, em especial o trajecto colector-emis-sor de um transistor, ê colocado entre o condutor a proteger e o potencial de referência. A partir da entrada de comando do circuito semicondutor estão ligadas cadeias de díodos no sentido de bloqueio para o condutor a proteger ou para o potencial de referência. Para a protecção de tensões elevadas positivas no condutor a proteger, a cadeia de díodos respectiva ê ligada 1
no sentido de condução do condutor a proteger para a entrada de comando do circuito semicondutor/ determinando o numero de díodos a tensão máxima admissível. No caso de circuitos integrados tais cadeias de díodos devem evitar-se o mais possível, devido â grande área que ocupam. Além disso, o valor da tensão para a qual deve verificar-se a limitação de tensão s5 com imprecisão pode prever-se e a impedância com a qual um tal circuito carrega o condutor a proteger está sujeita a grandes dispersões e li mita consideravelmente a frequência dos sinais que podem ser processados.
Da patente DE-OS 31 25 198, em especial da Fig. 3, ê conhecido um circuito de transístor para a pro-tecção de condutores contra tensões elevadas positivas passagei_ ras, no qual o emissor de um transístor PNP estã ligado ao condutor a proteger, estando o colector deste transístor PNP ligado ao potencial de referência, a base deste transístor PNP liga da, através de um díodo polarizado no sentido de condução, ao potencial de referência e sendo excitado com a tensão do potencial de referência. A Fig. 2 da patente DE-OS 31 25 198 representa o mesmo circuito com um transistor NPN que ê ligado ao po tencial de alimentação positivo, protegendo portanto as tensões elevadas negativas passageiras. Quando o condutor a proteger estã ligado por exemplo a uma linha omnibus ou a uma porta de um sistema de dados ou a uma saída de uma antena, pode suceder que apareçam no condutor tensões do sinal e mesmo impulsos ESD, embora um circuito semicondutor a proteger e que contêm o circuito do transistor esteja fora de serviço. Neste caso, no entanto, um tal circuito de protecção de transistores conhecido da patente DE-OS 31 25 198 estã também fora de serviço, pois não existe nenhum potencial de referência.
Para a protecção de condutores electri cos contra tensões elevadas negativas passageiras deu bons resultados a utilização de díodos de substrato. Os díodos de subjs trato, que não sõ podem derivar as correntes apropriadas como também apresentam uma pequena resistência, carregam um condutor a proteger com uma capacidade que ê usualmente maior que 1 pF. • Um circuito de protecção das tensões elevadas negativas conheci_ 2
do da patente DE-OS 33 01 800 possui melhores características âs altas frequências. Um tal circuito de protecção e constituído por dois transístores complementares, cujos elêctrodos das bases estão ligados entre si, estando o emissor do transístor NPN ligado com a entrada do sinal do circuito a proteger e o seu colector ligado ao terminal para o potencial de referência, estando o emissor e o colector do transistor PNP ligados em con junto a um potencial fixo. Um tal circuito carrega a linha a proteger com uma capacidade adicional de cerca de 1 pF. Mas quanto na linha a proteger deve transmitir-se um sinal de alta frequência, não pode admitir-se em muitos casos uma capacidade adicional de 1 pF como carga. A presente invenção tem por objecto proporcionar um circuito de transistor integrado monolítico para a limitação de tensões elevadas negativas passageiras em con dutores elêctricos, que carregam esses condutores a proteger com uma carga capacitiva muito pequena, de modo que se torna possível a transmissão de sinais de alta frequência nesses condutores.
Segundo a presente invenção, o problema resolve-se por meio de um circuito de transistor de acordo com a reivindicação.
Descreve-se a seguir com mais pormenores a construção e o modo de funcionamento de um circuito de transistor integrado monolítico, com referência ao exemplo de realização ilustrado na figura. A figura mostra um esquema de um circuito de transistor segundo a presente invenção para protecção do condutor (Ll) que estã ligado com o emissor de um transistor NPN (Tl). O colector do transistor NPN (Tl) está ligado ao potencial de alimentação positivo (Ul), o terminal de ligação da base do transistor NPN (Tl) estã ligado ao cátodo de um díodo de substrato (Ds) e o ânodo deste díodo (Ds) estã ligado ao potencial de referência da massa. Ha então que ter em atenção que o díodo de substrato ê realizado por meio de uma zona de e-. pitaxia o menor possível. 3

Claims (1)

  1. Usualmente um tal díodo de substrato ê constituído a partir de uma zona de epitaxia com impurezas N, no substrato com impurezas P, envolvida por uma moldura de isolamento, prevendo-se uma ãrea com elevada percentagem de impure zas com o mesmo tipo de condutividade que a referida zona. Esta ãrea com elevada percentagem de contaminação pode ser de penetração relativamente pequena, mas podem também atingir o substrato. Pela utilização de um díodo de substra to com dimensões correspondentemente pequenas, obtêm-se um circuito de transístor segundo a presente invenção que, realizado numa tecnologia bipolar média, carrega o condutor a proteger com uma capacidade adicional menor que 0,1 pF. Nos circuitos segundo a presente inven ção, o condutor (Ll) ê carregado com uma capacidade adicional constituída pela ligação em serie da capacidade da camada de bloqueio base-emissor do transístor NPN (Tl) e da capacidade da camada de bloqueio do díodo do substrato (Ds). A capacidade de substrato (Ds) determina portanto decisivamente a carga capaci-tiva adicional do condutor elictrico (Ll). Se em vez do díodo de substrato (Ds), se previsse, como na patente DE-OS 33 01 800 um transístor, então a sua capacidade seria consideravelmente maior devido à superfície consideravelmente maior da zona de e-pitaxia. A zona de epitaxia de um díodo de subs trato (Ds) nos circuitos segundo a presente invenção apenas tem de conduzir a corrente de base do transístor NPN (Tl), de modo que a resistência deste díodo de substrato não é crítica. REIVINDICAÇÕES a - 1 Circuito de transístor monolítico inte 4 grãvel para a limitação de tensões elevadas temporárias negativas num condutor elêctrico (Ll), estando o terminal de ligação do emissor de um transístor NPN (Tl) ligado com o condutor elêc trico (Ll), estando o terminal de ligação do colector deste transístor NPN (Tl) ligado a um potencial de alimentação (Ul) e estando este transístor NPN (Tl) condutor apenas quando fôr ultrapassado um valor de limiar de potencial negativo prê-deter-minado relativamente ao potencial de referência (massa), carac-terizado por o terminal de ligação da base do transístor NPN (Tl) estar ligado ao terminal de ligação do cátodo de um díodo (Ds), por o terminal de ligação do ânodo deste díodo (Ds) estar ligado a um potencial de referência (massa) e por o díodo (Ds) ser realizado por um díodo do substrato. A requerente reivindica a prioridade do pedido de patente europeia apresentado em 16 de Março de 19-§9 sob o No. 89 104712.8.
    5
PT93453A 1989-03-16 1990-03-15 Circuito de transistor monolitico integravel para a limitacao de tensoes elevadas temporarias negativas,por exemplo os chamados impulsos esd que aparecem devidos a descargas electrostaticas em condutores electricos PT93453A (pt)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP89104712 1989-03-16

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PT93453A true PT93453A (pt) 1990-11-07

Family

ID=8201094

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PT93453A PT93453A (pt) 1989-03-16 1990-03-15 Circuito de transistor monolitico integravel para a limitacao de tensoes elevadas temporarias negativas,por exemplo os chamados impulsos esd que aparecem devidos a descargas electrostaticas em condutores electricos

Country Status (6)

Country Link
EP (1) EP0387798B1 (pt)
JP (1) JPH02280622A (pt)
DE (1) DE59002872D1 (pt)
ES (1) ES2044281T3 (pt)
FI (1) FI901305A7 (pt)
PT (1) PT93453A (pt)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0903828A1 (en) * 1997-09-23 1999-03-24 STMicroelectronics S.r.l. Improved device for the protection of an integrated circuit against electrostatic discharges

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2654419C2 (de) * 1976-12-01 1983-06-09 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Schaltungsanordnung zur Spannungsbegrenzung
US4302792A (en) * 1980-06-26 1981-11-24 Rca Corporation Transistor protection circuit
DE3301800A1 (de) * 1983-01-20 1984-08-23 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Integrierbare schutzschaltung

Also Published As

Publication number Publication date
EP0387798B1 (de) 1993-09-29
EP0387798A1 (de) 1990-09-19
ES2044281T3 (es) 1994-01-01
FI901305A0 (fi) 1990-03-15
FI901305A7 (fi) 1990-09-17
JPH02280622A (ja) 1990-11-16
DE59002872D1 (de) 1993-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5557128A (en) Insulated-gate type bipolar transistor
US5786616A (en) Semiconductor integrated circuit having an SOI structure, provided with a protective circuit
US7570467B2 (en) Electrostatic protection circuit
US3967295A (en) Input transient protection for integrated circuit element
US4855863A (en) Integrated circuit having two circuit blocks therein independently energized through different power supply terminals
US5652689A (en) ESD protection circuit located under protected bonding pad
EP0412561B1 (en) Semiconductor integrated circuit device
US5530277A (en) Insulated-gate bipolar transistor
US6157066A (en) Semiconductor aggregate substrate and semiconductor device with fuse structure to prevent breakdown
PT93454A (pt) Circuito integrado monolitico de transistor para limitacao de tencoes positivas elevadas transitorias, tais como os chamados impulsos esd provocados por descargas electrostaticas em condutores electricos
TW201807802A (zh) 通用序列匯流排c型負荷開關的靜電放電保護裝置
IT8322946A1 (it) Circuito di protezione per dispositivi a circuito integrato
US4609931A (en) Input protection MOS semiconductor device with zener breakdown mechanism
US5574618A (en) ESD protection using SCR clamping
US6441679B1 (en) Semiconductor active fuse operating at higher supply voltage employing current oscillation
US5737200A (en) Semiconductor device protection method
US5081514A (en) Protection circuit associated with input terminal of semiconductor device
US20030141545A1 (en) Semiconductor device
JPH05505062A (ja) 低電圧でトリガされるスナップバック装置
US4048584A (en) Input protection circuit for cmos oscillator
PT93453A (pt) Circuito de transistor monolitico integravel para a limitacao de tensoes elevadas temporarias negativas,por exemplo os chamados impulsos esd que aparecem devidos a descargas electrostaticas em condutores electricos
KR100206675B1 (ko) 반도체 집적 회로 장치
US5559347A (en) Insulated gate-type bipolar transistor
JP2892754B2 (ja) サージ保護装置
US4587656A (en) High voltage solid-state switch

Legal Events

Date Code Title Description
FC3A Refusal

Effective date: 19951212