PT1525469E - Sistema e processo de análise para medir e controlar um processo de produção - Google Patents

Description

DESCRIÇÃO

SISTEMA E PROCESSO DE ANÁLISE PARA MEDIR E CONTROLAR UM

PROCESSO DE PRODUÇÃO A presente invenção refere-se a um sistema analítico para analisar e controlar um processo de produção para produtos de vidro de acordo com o preâmbulo da reivindicação 1.

Um sistema deste tipo está descrito no Pedido de Patente EP 1020703 A2 . Este Pedido de Patente descreve um método e aparelho para medir a espessura da parede dos artigos de vidro oco, como por exemplo recipientes de vidro moldado que possuem superfícies de parede internas e externas, e que inclui as fases de medir a intensidade da radiação emitida pelo artigo num. primeiro comprimento de onda onde a intensidade varia em função da temperatura das superfícies e também em função da espessura da parede entre as superfícies, e num segundo comprimento de onda onde a intensidade varia em função da temperatura da superfície essencialmente independente da espessura da parede entre as superfícies. Em virtude de que a primeira medição da intensidade é em função da espessura da parede e da temperatura, enquanto que a segunda medição da intensidade é apenas em função da temperatura da superfície, a espessura da parede entre as superfícies pode ser determinada como uma função combinada da primeira e segunda medição da intensidade. Quando o artigo de vidro tem uma espessura de parede diferente, o artigo de vidro é retirado do processo. A Pub il caç ão "A guide to raoiâ tí on j~, çr jQ pr 3 1 mete ^ ?? ^ O r Gr ass Te chnc i o gy In f- pifpgg f- ional-2/1998, de 3 ^ L· Θ V Θ um ge rador de imag ens ré rmrc 3. S d r sp osto para detectar r ΗΊ3 ΪΓ -d d 1 3 Ç 3 0 mfrav prirjc ;lha do VI dro qi jen L Θ dura nte um processo Q6 f O rmaç 3 O d o v í drc . N uma ba rida S 6 lecci onâ ci a de aproximadame nte 5 mrcr 3 S , é ut rir :ado um que pode medir a temperatura da superfície io v: num

Além de que é também utilizado um termómetro operativo comprimento de onda de 1 micra para medir a grossura do vidro. A Publicação "Non-contact xnfrared sensor ensure accurate temperature monitoríng", Glass International/January/February 2001, descreve sensores por infravermelhos dispostos para medir a superfície e a parte por debaixo da superfície de um objecto de vidro utilizando um comprimento de onda, de por exemplo i.O mrcrómetro ou 2.2 micrómetros. 0 Pedido de Patente US 4.759.072 descreve um método e um aparelho para detectar defeitos na superfície dos corpos metálicos quentes, como por exemplo uma folha de aço laminada a quente. Um sinal de vídeo é derivado de uma radiação espontaneamente irradiada desde a área objectivo da superfície metálica quente. A região infravermelha próxima à da radiação é utilizada na produção do sinal de vídeo.

Um objectivo da presente invenção é o de prover um sistema alternativo para controlar um processo de produção de produtos de vidro.

Para atingir este objectivo, a presente invenção refere-se a um. sistema analítico do tipo mencionado no preâmbulo, caractenzado por estar previsto um processador para realizar as seguintes etapas: (a) subdividir uma imagem dos produtos de vidro em pelo menos duas regiões de medição; (b) determinar os valores de intensidade média para as diferentes regiões de medição para produtos de vidro consecutivos; (c) determinar, para pelo menos duas regiões de medição, um valor médio actual dos valores de intensidade médios 7 determinados para vários produtos de vidro conformados consecutivamente ao longo do tempo; (d} registar para cada uma de pelo menos duas regiões de medição qualquer diferença entre a intensidade actual ou a intensidade (e; com medição; muei a: ;q: gerar um sinal de erro no caso de qualquer diferença.

Com a análise dos desvios entre pelo menos duas regiões de medição, é possível determinar se houve uma mudança na espessura da parede do vidro ou se houve uma mudança de temperatura. Neste contexto, mudança em relação significa uma mudança nos produtos de vidro anteriores e nos produtos de vidro produzidos no PâSSaQO.

Uma luz infravermelha comi comprimentos de onda larga é totalmente absorvida no interior da parede de vidro. Este não é o caso da radiação NIR. A radiação NIR provém essencíalmente do interior da parede de vidro e a quantidade medida da radiação NIR está desta forma correlacionada com a quantidade de calor no interior da parede de vidro. Preferencialmente, o sistema de medição sensível aos raios infravermelhos é sensível aos comprimentos de onda entre 900 e 2800 nanómetros. Foi descoberto que com estes comprimentos de onda eram obtidos resultados

Numa f o rma de realizar 3 X rr /e n ç ão, o SIS tema de medi Ç 3 O comp ΓΘΘΠ c-i fq pelo menos um senso r de infrav e rme 1 hos e pç 5l Ο ΓΪΊΘ nos um txlt ro de Infravermelhos P róxi mos . Pref e rencialm er te f 3 S cara cter í st í cas de transm is são de Itro I nf rav θ ΓΊΤΙΘ IDOS P róxi ΓΠΟ S ciepe ndem d a co r e da c lompos; - V- ão do ma* ; e r i a especí f 2 _ C Cf cios ociutos de vidro assegura uma sensíb: aaae ae mea;

Noutro aspecto da invenção, é provido um sistema analítico de acordo com a reivindicação 7. curva de referência, os traçados actusis da máquina podem ser ρ OT7T.O G 8 d O ^ Γ"' pano p Q f g Η' ς f 0 ς O Od 0Ή~1 S 0 Tj 't P λ i 1 2 3 d O S ' Pi C\ 7 77 Ί 1 "i 3 ! JT) ΡΓ|1^0 para cada região de medição. Os desvios nos traçados das máquinas comparados com a curva de ajuste provêm informação sobre os erros no processo de conformação. Com este método analítico a qualidade do processo de conformação pode ser controlada assim como a qualidade dos produtos de vidro. Se as intensidades medidas estão exactamente no traçado de arrefecimento, os produtos de vidro terão a mesma qualidade.

Além de que, a presente invenção refere-se a um método para analisar e controlar um processo de conformação de produtos de vidro, como o descrito na reivindicação 9. Além de que com a medição da radiação na região de Infravermelhos Próximos se pode determinar a distribuição dc calor no interior da parede de vidro, oferecendo possibilidades para novos métodos analíticos.

Ainda que a intensidade da radiação medida seja dependente da distribuição da temperatura, com este método pode ser facilmente determinado a quantidade de vidro e as propri .edade s dc material, as mudanças da espessura dei pâ1Θ de de vi dro. Comparando os ae S V lOS da s itensíd a d 0 s média s π as c tuas regiões de mea ição, 1 po s s 7 \T 0 1 de r a r minar se a muda aça da f dCll a ç a 0 me c 1 c a se u e v e a u m a mu d ança Ha espes sura da pa rede o0 ro ou d umc* muc a n c a da te mp era t u r a C n vidro . Este mé t odo ana li tí co será expl ice ri 0 rp p i s Ge lha damente com a descrição das fia uras

Noutro aspecto, a invenção refere-se a um método de acordo com a reivindicação 14. Com a ajuda deste método a afinação correcta 4 rocesso de conformação pode ser ie mudança, o tempo de prepara* reduzido. Além de que, os desvios dos para analisar as falhas em sub-processos rndiv de conformação. para ο ρ r e no cas o reduzido. rapidamente determinada âo durante a produçr traçados das mácm:

Outras vantagens e ser deduzidas com realizar, com refer cara* eter xsticas da base na descriç ão ncia aos desenhos 03 C4 presente invenção de várias formas nexos em que: podem A figura 1 mostra um processo de produção do estado da técnica, A figura 2 mostra, esquematicamente, uma máquina dc conformação do vidro e um sistema de medição de acordo com o estado da técnica, A figura 3 mostra, esquematicamente, um sistema de medição de acordo com. a invenção, A figura 4 mostra um exemplo de uma subdivisão dos produtos de vidro nas regiões de medição, A figura b e um gráfico que mostra a mudança média de duas reqiões de medição e um valor de ref na intensidade erência, A figura 6 é um gráfico que mostra a mudança na intensidade média de duas regiões de medição e um valor de referência, A figura 7 é a representação do denominado traçado de máquina, máquina com uma curva de afinação. produção conhecido para reconhecidas várias fases A figura 1 mostra um processo de produtos de vidro oco onde podem ser 5 do processo. Num forno de fundição 1, fragmentos de vidro reciclado, misturados com matéria-prima base e aditivos, são de novo fundidos para formar o V 2. GΙΓ O liquido. 0 vidro fundido fl úi rd pi s d PO O pç 2jj o tjí o fundição 1 através de urr i OU mais canais 9 ("canal alimentado r") até um a limentador 3 . A jusante do alimentador 3, o ti . QXO Qô \7 j -dro é cortado em Cf O L as de vidro n !_irn processo de forma çâo das gotas 4 . as goras de vidro s a O seguidamente submir listradas via t iransporte das gotas 5 a u ma secção independente (IS) da máauína 6. ladamente i maquina na IS 6, cada gota cie con r c drmação é, _gu i teta é mostrada ma: qual se aa o processo ae conformação. Na mac de vidro é conformada num produto. 0 proces por exemplo, realizado com a ajuda de dois moldes. A gota de vidro cai primeiro num primeiro molde (chamado também contramolde 11) onde, dependendo do processo de conformação, o primeiro estado do produto é soprado ou prensado. Neste primeiro estado o produto denominado também de contramolde, é transportado seguidamente para um segundo molde (chamado também molde de soprado 12), onde o contramolde é soprado para obter a forma final do produto de vidro 18. A secção 16 com as duas formas é também denominada de estação. A máquina IS 6 consiste em várias secções paralelas 14. Cada secção 14 pode, por seu lado, compreender várias estações 16 que são capazes de produzir produtos independentemente uns dos outros. Os produtos de vidro soprado 18 são colocados, um detrás do outro num tapete rolante 8 e conduzidos até um forno de arrefecimento 7; ver figura 1. No forno de arrefecimento 7 os produtos são aquecidos a uma temperatura superior ao chamado ponto de recozimento do vidro. Devido a estes meios os produtos são novamente moldados sem õ 0 S Os p y Q Li (— os po derr então s er arrefecido s, embalados e spor tados pa ra o s eu des tino. A secção d O proccssO de ucão a jus â Π t Θ do -f ^ de a r re f 0C1 mento é tar ΤΙΟΘΓΓι Q6H OíTli Ra da ao H i_ I _L ci da a ς ea de pr oduç ão. D ΙΙΓά nte a prodi ição, e em ca da fase do processo pode surgir uma grande variedade de defeitos que têm um efeito negativos na qualidade do produto de vidro. 6 P= necessãn o que as variáveis para o processo e para cada uma c ias suas fases s e jam controladas e afinadas com tolerâncias mínimas. Estas ~ -er Cl -L inações do processo dependem do tipo de produto final e devem ser novamente afinadas quando da produção de um tipo de produto diferente (o denominado mudança O ^ pr odu to) . Urr produto fm al 18 de boa Q dailOcidÇ ; tem as d ] ΓΠ0 D S ões correc tas, uma espe ssura d e vidro U ni forme nenhi ima f 1 ssur d uma cor uni f orme e um vidro c ie Grande !r ureza. Pureza do VI ciro S 1 gni fíca que o V idr o Hi d O Cí Θ ve conte r nenhum tipo d θ ma teri al estranh o, c omo por exemplo areia, b olhas, metais e 1 tf O U T 0 zas

Para que ao cliente se possam oferecer produtos de vidro 18 com de óptima qualidade, os produtos de vidro são inspeccionados pa ra determim r a sua q jal i ci a d θ . Pax "a e vi ta r a perda de in formação dO proc esso de conformac ão pelo processo de r θ cozimento, é norma Imente utilizado um sist ema c e medição por rn fravermelh OS 2 0 f v 0 x~ 11 cc o. ra 2, que mede a radiaç ião térmica do pr oduto de vidro 18 antes de que o pre duto de v idro entre no to rno de ar rei ecimen Lo 7 . A informação obtl da ρθ lo sistema de me d.i ção por 1 n trave rme1 nos 2 0 pode se r v i r para controlar o pr ocesso e a c malida de dos pr OQufos de vidr ! 8 0 sistema de medição conhecido 20 tem as desvantagens anteriormente mencionadas, A figura 3 mostra, esquematicamente, um novo sistema de medição 30 de acordo com uma forma de realizar a invenção. O sistema de medição 30 compreende um sistema de filtro 34, pelo menos um sistema de filtro 34 permite a transmissão selectiva apenas na radiação infravermelha na região Infravermelha Próxima (NIR), isto é, a radiação que tem um comprimento de onda entre 600 e 5000 nanómetros. A radiação térmica na região NIR é príncipalmente originada no interior de uma parede de vidro 36. Preferencialmente o sistema de filtro está equipado de forma a que permita a transmissão da radiação numa margem de comprimento 7 nt r 900 2800 nanómetros 0 específica do vidro. Na figura pelas setas com linhas descontín 38 está disposto para com base distribuição térmica num produto realizada de várias maneiras, as de realização à continuação. , dependendo da composição 3 a T 3. d i 3, Ç .ão NIR es L â 1 ndi Ca da uas finas. 0 processa do r ml _l iq ri o S dados c ie medição aa lis< ar a de vidro. Esta análi S Θ P Ode S pi 2Γ : qu ais são descritas Π( 3 S f o rmas

Numa forma de realização o processador digital 38 está disposto para subdividir a distribuição de calor obtido para um produto de vidro nas regiões denominadas de medição 40, 41, 42, 43, 44; ver figura 4 . Estas podem ser várias bandas que subdividem a imagem do produto de vidro 18 em regiões de medição horizontal 40, 41, 42 , 43, 44 (ver figura 4) , mas é ainda possível uma forma diferente das regiões de medição 40, 4 1 , 42 , 43 , 4 4. A quantidade das regiões de medição 40, 41, 42, 4 3, 44 pode ser duas ou maís. A quantidade das regiões de medição não é relevante, mas com uma quantidade maior de regiões de medição é obtida uma informação maís detalhada sobre o processo de conformação. As intensidades da radiação medidas são preferencialmente calculadas em função da média de cada região de medição 40, 41, 42, 43, 44. O valor médio actuai obtido é então comparado com um valor de referência. Este valor de referência é determinado através da curva de arrefecimento originado desde a região de medição ou mediante outro cálculo estatístico como, por exemplo, a média consecutiva. Se o valor médio actuai é superior ao valor de referência, a diferença é "positiva"; ver figura 5. Se o valor médio é inferior ao valor de referência, esta diferença é então "negativa". abelecida 40, 41, 42, 43, 44 . Quando existem regiões de içâo 4 0 f 4 1 ^ 42, 43, 4 4 que mos t ram uma d i f. θ ς e n ç 0 0 t e fn um ai contrário, a mudança se de ve a uma mud anca q a espessura 0t vidro; ver figura 5. 8

Expli cação: Cada produto de vidro é formado a part ir o e uma qota de vi dro. As gotas de vidr o têm u m peso e volu Tí0 c onstantes. Sendo portanto a quantidade de vidr o por produto cons cante. Se, õ θ v i d o a uma alteração no processo, se forma uma p ared e de vidro mais fina em qualquer parte do produto, por exempl o na secção de ioase f então a espessura da parede de vidro deve ser aumentada noutra região de medição do produto 40, 4 1, 42, 43, 44. As regiões de medição 40, 41, 42, 43, 44 com uma parede de vidro mais fina emitirão menos radiação; as regiões de medição 40, 41, 42, 4 3 , 4 4 com uma parede de vidro mais grossa emitirão mais radiação. Esta mudança não deve ser atribuída a uma mudança nas propriedades do material desde que o vidro para os produtos seja oriundo do mesmo forno. .A figura 6 mostra um gráfico com uma mudança diferente da intensidade média das regiões de medição 40, 41 , 42 , 43, 44. bmo resultado da alteraçã no processe da-se um desve nu radiação. Porque neste caso o desvio medido correspondência, produziu-se uma mudança n parede de vidro. :em im sinal de ;emperatura

Explicação: Cada produto de vidro é formado a partir de uma gota de vidro. As gotas de vidro têm um peso e volume constantes. Sendo portanto a quantidade de vidro por produto constante. Se, como resultado de uma alteração no processo, a temperatura do produto de vidro 18 aumenta, aquelas partes do produto de vidro

1 c que estão mais quences er tão emi t i râc mais r adi ação . Em V1 rtude de que a espe ssura da P arede de v í dr o não foi m U d â d a f os de SVIOS nas r egiões relevant es de mediç ão 4 0 4 u f or 1, 42 a o , H f 44 f 0 rão t odos urt i sinal CJ U 0 S Θ C or respo nderá a d dere nça . A muda nça n a o de \j 0 qp f atrí b aí da a urr .a mi idanes a =4 pr O D Γ 1 Θ O. a a Ο ίο dO materrax dado que o vidro para os oroc de dre :ada secção 14 .6. Cada estaç da máquina iS 6 consiste numa ou nu ão 16 pode produzir um produto o estaçoe vidro ; 9 independentemente das outras secções 14. Os produtos de vidro 18 que acabam de ser formados estão numa sequência fixa no tapete rolante 8. Dependendo da secção 14 a partir da qual foram produzidos, os produtos de vidro 18 têm todos um tempo de arrefecimento diferente. Este é o tempo entre o fim do processo sistema de medição 30.

Porque a invenção preferencialmente está sincronizada no tempo com a máquina IS 6, a estação 16 a partir da qual o produto de vidro é oriundo 18 é conhecido para cada produto de vidro 18. Na figura 7, a intensidade medida está graficamente representada em ΙΓ θ X 3 Ç 3 O -d S diversas estações i 6 oara uma região de medição específica 40, 41, 4 2 , 4 J, 4 4 Os nomes das estações (B e F) associados com as diversas secções ( '1' , .. ' 12') estão representados no gráfico ao longo do eixo X. As estações 16 que estão mais perto do sistema de medição 30 requerem menos tempo de arrefecimento e portanto quando passam pelo sistema de medição 30 têm também um nível de radiação maior. Assim, pode ser observado na figura 7 que um produto de vidro 18 oriundo da estação '12B’, que está perto do sistema de medição 30 (ver também figura 2) , está maxs quente que um produto de vidro 18 da estação ' 1B' , que está mais afastado do sistema de medição 30. O gráfico obtido é denominado traçado da máquina IS.

Na figura 8 uma curva exponencial que foi calculada com a ajuda do "método dos mínimos quadrados" ou um método similar foi desenhada mediante os pontos de medição da figura 7. Esta curva foi designada como cur va de arrefecimento. Se todos os produtos õ 0 v í d τ o formados tên i a mesma espessura da parede de vidro, distribuição de temperatura e característícas de material depois do seu processo de conformação final, os pontos de medição do aa maquina io, serão exactamente os mesmos cta arrefecimento. Os produtos de vidro 18 terão todos a mesma qualidade. Se mesmo assim, se da uma aiceraçao numa fase oo processo para uma secção específica 14 (e portanto estação), os 10 mudança na espessura d da máquina tualidade. A distribuição da temperatura e/ou a parede do vidro mudarão. Como resultado o traçado IS mostrará um desvio em relação à curva de .rrefecimento. Se as intensidades medida: tdí na ur1 dr :ao )CfGS mesma concli aí do que a curva de i z âò.a. como valor Os va 1 o r θ s dos parâmetros da arrefecimento, então os produtos de vidro 18 tf qualidade. Pode portanto ser arrefecimento pode também ser ut para o processo de conformação, afinação da máquina IS em relação com uma curva de arrefecimento especifica para um produto de vidro 18 podem servir de valores de referência para uma futura produção do produto de vidro 18.

Quando tem que ser produzido outro tipo de produto de vidro, então para o processo de conformação deverão ser afinados todos os parâmetros de afinação. Para reduzir de maneira apreciável este tempo de afinação e reduzir a grande quantidade de conjecturas, os parâmetros de afinação (já conhecidos) da curva de arrefecimento para o produto de vidro são imediatamente utilizados como valores de referência. A afinação para o processo de conformação é então afinada de forma a que o traçado da máquina IS volte a ser igual ao da curva de arrefecimento. Desta maneira todos os produtos de vidro 18 adquirem a mesma qualidade como na produção anterior.

Mediante o registo de qualquer desvio entre um traçado actual da máquina IS e a curva de arrefecimento é possível indicar um erro no processo de conformação e determinar em que fase do processo, esse erro se deu. Preferencialmente, os traçados da máquina IS e as curvas de arrefecimento, para o processo em curso são determinados para todas as regiões de medição estabelecidas 40, 41, 42, 43, 44. As curvas de arrefecimento calculadas são utilizadas como valores de referência para cada estação. Se um desvio se dá no traçado da máquina IS em relação à curva de arrefecimento então podem dar-se as seguintes situações: 1 1 as secções e as novas deslocados para cima ou bltUaçãO A* 0 deSVÍO apllCâQQ â uOCÍâS curvas de arrefecimento calculadas foram para baixo, quando comparadas com as existentes, mas a forma da curva de praticamente igual.

Análise A: 0 desvio deu-se em todas as secções. Isto significa que se deu uma falha em roda a máquina IS, como por exemplo, a capacidade de arrefecimento em todas as secções, ou que se deu uma falha nas fases c 1Q processo a montante da máquina IS no aiimentador , canal de ai imentação e forno de fundição. Além de que, a falh a é somente de natureza térmica.

Explicação: Uma estação numa secção pode produzir produtos de vidro 18 independentemente de outras secções. Se em relação à o Cl (1) arrefecimento (de re fsrênc ia) é determinado um de svio modelo de radiação, a falha deve ΘΗ uâO ter sido provoca da por factor comum. Este ou é um factor comum na máquina IS 6 ( como por exemplo a temperatura, a humidade do ar de arrefecimento na máquina IS 6 ) ou um factor comum às fases do processo a montante da máquina IS 6, Isto é a temperatura, características do material nos alimentadores, canal de distribuição e forno de fundição I. .As formas das curvas de arrefecimento mantiveram-se praticamente na mesma. Isto significa que foi mantido o mesmo nível de arrefecimento para todos os produtos. Assim pode ser concluído que a temperatura inicial depois da fase de produção final na máquina IS 6 foi aumentada ou diminuída para todas as secções 14 e que a distribuição de vidro e as suas características foram mantidas as mesmas. curvas de arrefecimento calculadas foram deslocadas para cima ou para baixo, quando comparadas com as curvas de arrefecimento existentes mas a forma da curva de arrefecimento foi também mudada. 12

Análise B: Uma vez mais há uma falha em todas as secções. Assim, a falha ocorrida deve ter sido devida a um factor comum. Porque a forma das curvas de arrefecimento mudaram, pode ser concluído que as características do material de vidro foram mudadas e que consequentemente a distribuição do vidro for também mudada.

Explicação: A forma das curvas de arrefecimento depende da espessura do vidro da parede de vidro e das características do material mas não da temperatura iniciai na parede de vidro do produt o. Em v que d quantidade de vidro foi mantida pratícamente constante (gota), o desvio que se deu ao mesmo tempo em toda s as s e c ç ões 14 deve ter sido provocado por uma mudança nas características do material.

Situação C: Somente se dá um desvio nas estações 16 que têm um processo de formação de gota de vidro comum.

Análise C: Se o desvio se dá no traçado da máquina IS quando comparado com a curva de arrefecimento apenas nas estações 16 que têm um processo de formação de gota de vidro comum, a alteração é então produzida no processo de formação da gota de vidro. Se a intensidade média das estações com um desvio é maís alta ou mais baixa, o peso da gota de vidro é então mais alta ou mais baixa.

Situação D: 0 desvio no traçado da máquina IS em relação à curva de arrefecimento só se refere a uma única estação 16. n a 11 s e D: A f alh a se deu ap enas na respectiv 3 estaç ão i 6 . ome rite os co mpone ntes do p roc 0 s s O ness 3 Θ S t 3 Ç ã o podem Q 0 y~ 5 ausa d a falha • 3 M 0 4-4 {/') .3 S õ Θ Γθαΐ í ΖαΓ G 1Π / θ n <-o ílh O Pn mter xormente descrit α O a título d e ex empio e de nenhum modo se (j0Sf ínam 3 imitar a invenção Um t g c n i co GSpGC íaiizado rapi CÍ3 me n t e pode rá oncebe s outr as f ormas de re âl 1 Zâ ção, como por exemplo, 3 13 meaiçao de uma i maneira a aue uma curva sm ca garrafa somente r\ o lunçao do tempo d >ssa ser obtida po

:efecimento este meio. A máquina IS 6 pode também estar cc nstr uída composição diferente das seccoes 14 θ estações 0 r~ ± Ό , pelo métodos analíticos CÃ0 procedimento serão de algu difprentaS paSnlrará Ajntf WJd V i_ o Oâ Id um té cnico gsc ecia iiZâO modo processador digital 38 poderá ser substituído por qualquer outro processador adequado. O processador 38 pode ser construído utilizando técnicas de software, analógicas, digitais ou qualquer combinação entre estas desejada. 0 processador 38 pode também estar composto por vários sub-processos, oocionalmente numa relação mestre-escravo. 0 processador não tem necessariamente que estar fechado ao resto do sistema mas pode, por exemplo, estar em. comunicação com o sistema de medição via uma comunicação remota.

Lisboa, 14 de Novembro de 2006.

Peia Requerente O Agente Oficiai

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Claims (13)

1. REIVINDICAÇÕES 1. Um sistema analítico para analisar e controlar um processo de produção para produtos de vidro, este processo de produção compreende um processo de conformação e um processo de arrefecimento e um sistema analítico que compreende um sistema de medição sensível à infravermelha e um processador em comunicação com este, o sistema de medição sensível à radiação infravermelha está equipado para medir uma radiação infravermelha oriunda dos produtos de vidro quentes imediatamente a seguir ao processo de conformação dos produtos de vidro e o processador estar disposto para determinar a distribuição do calor nos produtos de vidro com base na informação determinada pelo sistema de medição, dito sistema de medição sensível à radiação infravermelha (30) ser apenas sensível na região Infravermelha Próxima (NIR) , oriunda do interior de uma parede de produtos de vidro, caracterizado por o processador (38) estar configurado para realizar as seguintes fases: (a) subdividir uma imagem dos produtos de vidro (18) em pelo menos duas regiões de medição (40, 41, 42, 43, 44); (b) determinar os valores de intensidade média para as várias regiões de medição para produtos de vidro consecutivos (18); (c) determinar, para pelo menos duas regiões de medição, um valor médio actual dos valores de intensidade médios determinados ao longo do tempo para vários produtos de vicirc formados consecutivamente (18); ae a (d) registar, para cada medição, qualquer desvio intensidade média actual e uma de pelo menos cmas regiões entre a intensidade actual ou um valor de referência; 1 í e) comparar qualquer desvio entre pelo menos duas regiões de meo_ Cao; p; gerar um sinal de erro no caso de qualquer desvio,
2. 2. Um Sistema analítico oe acordo com a reivindicação 1, caracterizado por o sistema de meoicãt sensível â radiação infravermelha ?30; ser sensível nos cornpr imensos de onda encre 900 e 2800 nanómetrcs,
3. 3. Um sistema analítico de acordo com quaisquer das reivindicações anteriores, caracterizado por o sistema de medição sensível à radiação infravermelha (30) compreender pelo menos um sensor de radiação infravermelha (32) e peio menos um filtro de radiações Infravermelhas Próximas (34).
4. 4. Um sistema analítico de acordo com a reivindicação 3, caracterizado por as característícas de transmissão do filtro de radiações Infravermelhas Próximas (34) depender da cor e da composição específica do material dos produtos de vidro.
5. 5. Um sistema analítico de acordo com a reivindicação 1, caracterizado por o sinal de erro indicar um desvio na espessura do vidro quando numa primeira região de medição se dá um desvio positivo e numa segunda região de medição se dá um desvio negativo.
6. 6. Um sistema analítico oe accrcio com a reivindicação 1, caracterizado por o smai de erro indicar om desvie na tenoeratura tío vidro quando um desvio positivo é observado em codas as regiões de medição ou um desvio negativo e observado em todas as regiões de medição.
7. 7. Um sistema analítico para analisar e controlar um processo cie produção para produtos de vidro, o processo de produção compreender um processo de conformação e um processo de ? arrefecimento e o sistema analítico compreender um sistema de medição sensível às radiações infravermelhas e um processador em comunicação com este, o sistema de medição sensível às radiações infravermelhas estar equipado para medir a radiação infravermelha oriunda dos produtos de vudro quentes imedíatamente a seguir ao processo de conformação dos produtos de vidro e o processador ser previsto para determinar uma distribuição de calor nos produtos de vidro com base numa informação determinada pelo sistema de medição, dito sistema de medição é sensível à radiação infravermelha (30) sendo unicamente sensível à radiação na região Infravermelha Próxima (NIR) , oriunda do interior de uma parede dos produtos de vidro, caracterizado por o processador (38) estar disposto para efectuar as seguintes fases: (a) subdividir uma imagem dos produtos de vidro Π8) em pelo menos duas regiões de medição (40, 41, 42, 43, 44); (b) determinar os valores de intensidade média para as diferentes regiões de medição dos produtos de vidro consecutivos (18), e por o processador (38) estar previsto para efectuar as fases seguintes para pelo menos uma região de medição: (c) determinar um traçado de máquina com um traçado de um gráfico dos valores de intensidade médios em função dos produtos de vidro consecutivos (18), isto é das estações (14;; ; d) determinar um traçado gráfico de arrefecimento por meio de uma curva de afinação ópcima (e} registar qualquer desvio entre o traçado oa máquina actual e c traçado de arrefecimento; (f) gerar um sinal de erro no caso de qualquer desvio.
8. 8. Um sistema analítico de acordo com a reivindicação 7, caracterizado por c sinal de erro conter informação sobre a sua ccssável causa durante c processo de conformação. 5. Um métoao para analisar e controlar um processe de produção dos produtos de vidro, caracterizado por compreender; a! prover meios de medição para determinar a distribuição do calor nos produtos de vidro quentes, ditos meios de medição (30) serem somente sensíveis à radiação da região Infravermelha Próxima, oriunda do interior de uma parede de produtos de vidro. b) medir a radiação infravermelha oriunda dos produtos de vidro quentes antes de os introduzir num forno de arrefecimento; c) determinar a distribuição do calor nos produtos de vidro com base na radiação infravermelha medida; (d) subdividir uma imagem dos produtos de vidro (18) em pelo menos duas regiões de medição (40, 41, 42, 43, 44); (e) determinar valores de intensidade média para as diferentes regiões de medição nos produtos de vidro consecutivos (18); (fi determinar, para pelo menos duas regiões de medição, um valor médio actual dos valores de intensidade média determinados para vários produtos de vidro formados consecutivamente (18); (g j registar, para cada uma de pelo menos duas regiões de rneoição, ouaiquer aesvio enire a intensidade media actual e um valor de referência; (8/ comoarar ouaiquer desvio entre pelo menos duas regiões ce medição; (i) gerar um sinal de erro no caso de qualquer desvio. 4
9. 10. Um método de acordo com a reivindicação S, caracterizada por os meios de medição (30) serem somente sensíveis aos comprimentos de onda entre 900 e 2800 nanómetros.
10. 11. Um método de acordo com a reivindicação 9, caracterizado por os meios de medição (30) compreender peio menos um sensor de radiação infravermelha (32) e pelo menos um frltro de radiação de Infravermelha Próxima (34).
11. 12. Um método de acordo com a reivindicação 9, caracterizado por o sinal de erro indicar um desvio oa espessura ao viaro quanao numa primeira região de medição se aá um oesvio positivo e num segunda região de medição se dá um desvio negativo.
12. 13. Um método de acordo com a reivindicação 9, caracterizado por o sanai de erro indicar um desvio na temperatura do vidro se para todas as regiões de medição se dá um desvio positivo ou se para todas as regiões de medição se dá um desvio negativo.
13. 14. Um Método para analisar e controlar um processo de produção para produtos de vidro, caracterizado por compreender: a) prover meios de medição para determinar uma distribuição de calor nos produtos de vidro quentes, ditos meios de medição (30) serem somente sensíveis a radiação da região oa radiação Infravermelha Próxima, oriunda ao interior de uma parede dos produtos de viaro. b; medir a radiação infravermelha onunaa dos produtos de vidro atentes antes de os introduzir num forno de arrefecimento; o; determinar uma distribuição de caicr nos proootcs de vidro com base na radiação infravermelha medida; d; subdividir uma imagem dos prooutos de viaro (13) em pelo menos duas regiões de medição (40, 41, 42, 43, 44); 5 .auer de; PH Γ T 0 O j p n p; rn p < ρ p p Π n ierar um smai ae erro no Cc _sboa; 14 de Novembro de 2006. jq±Sl Keauerenre eaente oi 6