JP2017030279A - 押出tダイ装置 - Google Patents

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晃嗣 山田
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Abstract

【課題】フィルム幅方向に対して、均一な、膜厚、力学強度、ヒートシール性の得られる押出Tダイ装置を提供する。【解決手段】溶融樹脂をフィルム状に押し出す押出Tダイ装置1であって、Tダイ2のマニフォールド3およびリップランド4を、幅方向に対して、個別に加熱する複数のマニフォールドヒーター10およびリップランドヒーター12とTダイ内部の樹脂温度を、Tダイの幅方向に対し、測定する複数の温度計11と、Tダイより吐出された後の、エアギャップ樹脂温度の、幅方向に対する温度分布を、測定する赤外線式温度計8と、温度計および赤外線式温度計より得られた、温度データにより、Tダイに設けられたマニフォールドヒーターおよびリップランドヒーターの加熱を制御する制御器9と、を備えた。【選択図】図1

Description

本発明は、樹脂フィルムを製造する押出Tダイ装置に関し、Tダイ吐出後の溶融樹脂フィルム膜厚の膜厚精度、樹脂フィルムの強度、ヒートシール性などの向上が図れる押出Tダイ装置に関する。
従来、押出成形による樹脂フィルムの生産ラインは、加熱シリンダ内に配設されたスクリュを回転させて樹脂を溶融させ、溶融樹脂をスリット状の開口を備えるTダイなどの押出ダイに供給し、フィルム状に押し出し、紙・金属箔・樹脂などのフィルム状の基材上に薄膜の樹脂層を塗布成形し、ロールで冷却固化させ、巻取り装置で成型品を巻き取る構成になっている。
この成形品の樹脂フィルムは、往々にしてダイ幅方向に対して、膜厚・強度・ヒートシール性などが不均一となり、外観不良や品質上の問題が発生している。
膜厚不均一性の解決方法としては、フィルム巻取前のライン上に膜厚計を設置し、膜厚計で測定したデータをもとに、Tダイのリップクリアランスを自動調整する機能を有した、オートTダイを使用するなどがある(特許文献1)。
しかしながら、リップクリアランスの制御によって膜厚のみを強制的に均一化するため、溶融樹脂温度は幅方向に対して不均一となり、固化後フィルムの強度やヒートシール性などには偏りが生じる可能性がある。
また、強度やヒートシール性の不均一性の解決方法としては、Tダイと冷却ロールの間のエアギャップの空気温度をボックスヒーター等で調整することで、樹脂の酸化劣化を均一化しようとする手法がある(特許文献2)。
しかしながら、前記方法で制御するのはTダイ吐出後溶融樹脂の温度分布であり、Tダイ内(マニフォールド)の溶融樹脂温度に偏りが生じていれば、それによる膜厚分布や強度、ヒートシール性などには偏りが生じることとなる。
特開2007-223311号公報 特開2003-185844号公報
本発明は、フィルム幅方向に対して均一な膜厚、力学強度、ヒートシール性の得られる押出Tダイ装置を提供することにある。
上記の課題を解決するための手段として、請求項1に記載の発明は、溶融樹脂をフィルム状に押し出す押出Tダイ装置であって、
Tダイのマニフォールドおよびリップランドを幅方向に対して個別に加熱する複数のヒーターと、
Tダイ内部の樹脂温度をTダイの幅方向に対し直接測定する複数の温度計と、
Tダイより吐出された後のエアギャップ樹脂温度の幅方向に対する温度分布を直接測定する赤外線式温度計と、
前記温度計および前記赤外線式温度計より得られた温度データにより、Tダイのマニフォールド及びリップランドに設けられた前記ヒーターの加熱を制御する制御器と、を備えたことを特徴とする押出Tダイ装置である。
本発明品を使用することで、フィルム幅方向に対し、フィルム膜厚、力学強度、ヒートシール性等の均一性の高いフィルムを得ることができる。従来の間接的な制御手法に比べ、溶融樹脂温度を直接測定しながら制御するので、フィードバックが短時間で行える。
本発明の押出Tダイ装置の構成を示した概念図である。 本発明に用いる装置の形態の一例。
以下本発明を実施するための形態を、図面を用いて詳細に説明する。図1は、本発明の押出Tダイ装置の構成を示した概念図である。
本発明の押出Tダイ装置1による樹脂フィルムの成形について説明する。まず、Tダイ2に供給口2aから溶融樹脂R1を供給すると、溶融樹脂R1は、マニフォールド3に流れ、マニフォールド3の幅方向に広がり、下方のリップランド4へ流れる。
そして、溶融樹脂R1がリップランド4を通過する際にフィルム状に成形される。リップランド4内でフィルム状に成形された溶融樹脂R1は、吐出口5から吐出され、溶融樹脂フィルムR2となる。
溶融樹脂フィルムR2は押出Tダイ装置1の下方(下流側)に設けられ、冷却ローラー6によって圧延され、冷却ローラー6は樹脂フィルムR2が排出されるスピードよりも速いスピードで回転されている。
吐出口5から吐出された時点では、溶融樹脂フィルムR2は固化していない。溶融樹脂フィルムR2は、冷却ローラー6上の基材7に片面が転写されると同時に冷却され、固化する。
Tダイ内部の樹脂温度を直接測定する温度計11は、Tダイ幅方向に対し、Tダイ表面からマニフォールドまでを貫通するように複数本が設置されている。
温度計11の先端は、マニフォールド内壁面と同じ位置になる。温度計11の種類は問わないが、熱電対式の温度計か、もしくは赤外線式の温度計を使用するのが良い。
次に、Tダイ吐出後の溶融樹脂を計測する温度計について説明する。吐出口5と冷却ローラー6との間に、計測装置として、赤外線式温度計8を設置する。赤外線式温度計8は、吐出口5と冷却ローラー6との間の溶融樹脂フィルム全幅の温度を測定できる、幅方向対する走査測定機能を有するものを使用する。
また、赤外線式温度計8は、測定物の吸収波長帯に合わせてセンサー種を選択する(ポリエチレンフィルムは3.43μm、ポリエステルフィルムでは8μmの波長を検出するセンサーを用いる)。多層樹脂フィルムの計測の場合、表面側樹脂の波長に合わせたセンサーを使用する。
次に、溶融樹脂温度データのフィードバック方式について説明する。赤外線式温度計8、温度計11により、Tダイ幅方向の溶融樹脂温度を随時計測する。赤外線式温度計8と温度計11で計測されたデータは信号として制御器9に送られる。
制御器9は、温度計測値を予め入力されていた目標温度と比較し、目標温度の許容範囲内に入っていた場合、そのままフィードバックを継続する。温度計11の計測値が目標温度に達していなかった場合、制御器9からマニフォールドヒーター10に指示が出され、目標温度に到達するまでヒーターの温度を上昇もしくは下降させる。
赤外線式温度計8の計測値が目標温度に到達していなかった場合、制御器9からリップランドヒーター12に指示が出され、目標温度に到達するまでヒーターの温度を上昇もしくは下降させる。
図2は、Tダイ2の内部構造を示しており、上部に溶融樹脂R1の供給口2aを備えており、供給口2aは溶融樹脂R1を供給する図示しないアダプターと接続されている。
Tダイ2は、成形される樹脂フィルムに合わせて、幅方向に細長い形態を持つ。マニフォールド3は、Tダイ2の幅方向にわたって筒状に形成されていて、幅方向の中間部の上部にTダイ2の供給口2aが接続されている。
リップランド4は、マニフォールド3の下側にTダイ2の幅方向にわたって形成されている。吐出口5はTダイ2の下端部に形成されていて、リップランド4の下端部に位置している。
以下、実施例をもとに、さらに詳細に説明する。
図1に示す押出Tダイ装置を使用し、樹脂フィルムを成型した。樹脂は、回転式E型粘度計による計測で、せん断速度100(1/s)の時に、粘度400(Pa・s)を示す、市販のアイオノマー樹脂を使用した。Tダイの吐出幅は400mm。Tダイ吐出口の開口幅は0.8mm均一とした。
Tダイと冷却ロールの隙間距離は100mmで、マニフォールド内部の樹脂温度は、Tダイ幅方向に対し、k熱電対を80mm間隔で5箇所挿入し測定し、さらに、Tダイ押出口から30mm下の温度を、非接触赤外線式温度計MP150(Raytek社製)で測定した。
各温度データは信号化されて制御器に送られ、制御器は温度分布の制御を実施した。
<比較例>
温度制御を行わなかった以外は、同一条件にてフィルムの作製を行なった。
<評価>
評価は、マニフォールド内目標樹脂温度およびTダイ吐出後の目標樹脂温度に対するズレ温度、膜厚バラツキ、引裂き強度のバラツキより判断した。制御を行わなかった場合の各温度計測データと、固化後フィルムの膜厚データ・引裂強度データ(長さ75×63mm試験片によるエルメンドルフ引裂試験機による測定)を示す。
表の上の数値はマニフォールド内部の樹脂温度測定位置を表し、他項目の位置もそれに対応する。また、制御器を稼働させ、温度が5分間許容範囲値内で安定したときの温度計測値と、固化後のフィルム膜厚データ・引裂強度データを以下に示す。制御器には以下の目標温度(±許容範囲2%)を入力した。結果を表1に示す。
マニフォールド内目標樹脂温度に対する、実際のマニフォールド内樹脂温度の差は、制御したものは、2℃であったが、制御しなかったときは、15℃であった。またTダイ吐出後の目標樹脂温度に対する、実際のTダイ吐出後の樹脂温度の差は、制御したものは、5℃であったが、制御しなかったときは、55℃であった。
膜厚に関しても、制御したものは、1μmのバラツキであったが、制御しなかったときは、12μmのバラツキであった。また引裂き強度に関しても、制御したものは、0.2Nであったが、制御しなかったときは、2.0Nであった。
このように、本発明のTダイの幅方向に対し直接測定する複数の温度計と、Tダイより吐出された後のエアギャップ樹脂温度の幅方向に対する温度分布を直接測定する赤外線式温度計と、これらより得られた温度データにより加熱を制御する本発明の押出Tダイ装置を用いることにより、幅方向に対する膜厚及び引裂強度が均一な製膜フィルムを得ることができた。
1・・・押出Tダイ装置
2・・・Tダイ
2a・・・供給口
3・・・マニフォールド
4・・・リップランド
5・・・吐出口
6・・・冷却ローラー
7・・・基材
8・・・赤外線式温度計
9・・・制御器
10・・・マニフォールドヒーター
11・・・温度計
12・・・リップランドヒーター
R1・・・溶融樹脂
R2・・・溶融樹脂フィルム

Claims (1)

  1. 溶融樹脂をフィルム状に押し出す押出Tダイ装置であって、
    Tダイのマニフォールドおよびリップランドを幅方向に対して個別に加熱する複数のマニフォールドヒーターおよびリップランドヒーターと、
    Tダイ内部の樹脂温度をTダイの幅方向に対し測定する複数の温度計と、
    Tダイより吐出された後のエアギャップ樹脂温度の幅方向に対する温度分布を測定する赤外線式温度計と、
    前記温度計および前記赤外線式温度計より得られた温度データにより、Tダイに設けられた前記マニフォールドヒーターおよび前記リップランドヒーターの加熱を制御する制御器と、を備えたことを特徴とする押出Tダイ装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023228855A1 (ja) * 2022-05-23 2023-11-30 キョーラク株式会社 成形装置

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