JP2000211016A - フィルムの厚みプロフィ―ル制御方法 - Google Patents

フィルムの厚みプロフィ―ル制御方法

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JP2000211016A
JP2000211016A JP11014139A JP1413999A JP2000211016A JP 2000211016 A JP2000211016 A JP 2000211016A JP 11014139 A JP11014139 A JP 11014139A JP 1413999 A JP1413999 A JP 1413999A JP 2000211016 A JP2000211016 A JP 2000211016A
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Takeya Nohira
剛也 野平
Hiroshi Tokuda
寛志 徳田
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Teijin Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 フィルムの厚みプロフィールを正確に制御で
き、良好な巻き姿のフィルムロールを得ることのできる
フィルムの厚みプロフィール制御方法。 【解決手段】 溶融樹脂からフィルムを製膜するダイの
全幅に亘って配設されたその所定幅毎の厚みを調整する
複数の操作端を、延伸工程後の延伸フィルムの厚み測定
値に基いて所定の制御動作により操作量を演算して操作
端に出力する延伸フィルム厚み制御手段により調整して
延伸フィルムの幅方向の厚みプロフィールを連続的に制
御するフィルムの厚みプロフィール制御方法において、
延伸工程前の未延伸フィルムの厚み測定値に基いて所定
の制御動作により操作量を演算して操作端に出力する未
延伸フィルム厚み制御手段を設け、延伸フィルムの目標
厚みプロフィールに対する厚みプロフィールの最大偏差
が予め設定された設定値以上の場合は延伸フィルム厚み
制御手段により、該最大偏差が該設定値未満の場合は未
延伸フィルム厚み制御手段により延伸フィルムの厚みプ
ロフィール制御することを特徴としたフィルムの厚みプ
ロフィール制御方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はフィルム製造でのフ
ィルム（シートとも呼ばれる）の厚みプロフィールを連
続的に制御するフィルムの厚みプロフィール制御方法に
関し、さらに詳しくは、溶融樹脂からなるフィルムを成
型するダイの厚み調整手段がダイの全幅に亘って配設さ
れたダイの所定幅毎の吐出量を操作して厚みを調整する
複数の操作端からなり、少なくとも該操作端に対応する
各測定点で検出したフィルムの厚みとその目標値とに基
づいて所定の制御動作により該操作端を操作して厚みを
制御する複数の制御ループからなる厚み制御手段により
フィルムの厚みプロフィールを制御するフィルムの厚み
制御方法において、厚みプロフィールを正確に制御で
き、良好な巻き姿のフィルムロールを得ることのできる
フィルムの厚みプロフィール制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】フィルム、たとえば２軸延伸プラスチッ
クフィルムの幅方向の厚みを所定のプロフィールたとえ
ば全幅均一厚みに制御するフィルムの厚み制御は、特開
平７−１０８５８６号公報等の記載の通り、これを形成
する押出成形装置の広幅のダイの全幅に亘って配置され
た所定幅の吐出量を制御して厚みを調整する複数の操作
端、具体的にはヒーター、ギャップ調整具等の調整ユニ
ットからなる厚み調整手段のそれぞれをこれに対応する
下流の各測定点で測定した製品フィルム通常は２軸延伸
フィルムの厚みに基づいて制御する多数の制御ループか
らなる多点厚み制御手段によるのが一般である。
【０００３】この多点厚み制御手段としては、各制御ル
ープは独立で、検出した２軸延伸後のフィルム厚みと目
標値との偏差に周知の制御動作のＰ，ＰＩあるいはＰＩ
Ｄ制御（以下、ＰＩＤと総称する）の演算を施して得ら
れる制御出力を操作量として厚み調整手段に出力するＰ
ＩＤ制御方式の厚み制御手段が、構成の簡単な割には安
定した効果が得られる点、チューニングが容易である点
等の理由により広く利用されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前述の多点厚み制御手
段による厚みプロフィール制御方法は、製品である２軸
延伸フィルムの２軸延伸後の厚みを測定しこれを目標厚
みプロフィールに近づけるように制御されるものである
が、管理値以内に制御された２軸延伸フィルムにおいて
もロール状に巻き取られることによって、幅方向の特定
個所に制御しきれない厚薄斑が積層されて巻きこぶや巻
きしわを形成するといった問題があった。
【０００５】２軸延伸後の延伸フィルムで測定された厚
みプロフィールを足し合わせてフィルムロールの幅方向
の形状のプロフィールを求めてもこれらのこぶ、しわは
生ぜず、厚み計の精度、フィルムの縦方向にある厚薄
斑、フィルムのばたつき、フィルムの幅方向の環境（温
度、湿度、気圧など）の変化により、これらのフィルム
ロールのこぶを形成するような延伸フィルムの厚薄斑は
検出が困難であった。
【０００６】これら延伸フィルムをロール状に巻いた時
のこぶ等の巻き形状不良は、例えば磁気記録媒体の支持
体に用いた場合に磁気層を塗布する際の塗布斑や磁気記
録再生時のエラーとなるため問題となっており、さらに
精度のよい厚みプロフィール制御が必要となっている。
【０００７】本発明はかかる現状に鑑みて為されたもの
であり、フィルムの厚みプロフィールを正確に制御で
き、良好な巻き姿のフィルムロールを得ることのできる
フィルムの厚みプロフィール制御方法を目的としたもの
である。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、かかる目的を
達成するために鋭意研究した結果、フィルムの厚みプロ
フィールが所定範囲内に制御された後は、厚み測定が感
度高く測定できる未延伸フィルムの厚みを測定して未延
伸フィルムが目標の厚みプロフィールを制御することに
よって巻き姿の良好なフィルムを製造できる事を見出
し、なされたものである。
【０００９】すなわち、本発明は、溶融樹脂からフィル
ムを製膜するダイの全幅に亘って配設されたその所定幅
毎の厚みを調整する複数の操作端を、延伸工程後の延伸
フィルムの幅方向における該操作端の夫々に対応する各
測定点でフィルムの厚みを測定する延伸フィルム厚み計
と操作端毎に所定の周期でその測定点で測定された厚み
測定値と予め設定された目標値とから所定の制御動作に
より操作量を演算して操作端に出力する延伸フィルム制
御演算部とからなる延伸フィルム厚み制御手段により調
整して延伸フィルムの幅方向の厚みプロフィールを連続
的に制御するフィルムの厚みプロフィール制御方法にお
いて、延伸工程前の未延伸フィルムの幅方向における該
操作端の夫々に対応する各測定点でフィルムの厚みを測
定する未延伸フィルム厚み計と操作端毎に所定の周期で
これに対応する未延伸フィルムの測定点で測定された厚
み測定値と予め設定された未延伸フィルムの目標値とか
ら所定の制御動作により操作量を演算して操作端に出力
する未延伸フィルム制御演算部とからなる未延伸フィル
ム厚み制御手段を設け、延伸フィルムの目標厚みプロフ
ィールに対する厚みプロフィールの最大偏差が予め設定
された設定値以上の場合は延伸フィルム厚み制御手段に
より、該最大偏差が該設定値未満の場合は未延伸フィル
ム厚み制御手段により延伸フィルムの厚みプロフィール
制御することを特徴としたフィルムの厚みプロフィール
制御方法である。
【００１０】なお、本発明において、フィルムの厚み計
はフィルムの厚みが測定できるものであれば特に制限は
ないが、未延伸フィルム厚み計には赤外線透過型厚み計
が、延伸フィルム厚み計には放射線透過型厚み計が、測
定精度、安定性、応答性等から好ましく用いられる。
【００１１】また、未延伸フィルムの目標値を、延伸フ
ィルムの厚みプロフィールが良好な場合に実測した未延
伸フィルムの厚みプロフィールの測定値を平滑化して求
めた厚みプロフィールとすることが、比較的目標値設定
が容易で良好な結果が得られる点で好ましい。勿論、こ
の他シミュレーション等による方法等も適用できる。
【００１２】さらに良好な巻き姿のフィルムロールを得
る為には、延伸工程からの延伸フィルムを巻き取る巻取
り装置で形成されるフィルムロールの幅方向の径のプロ
フィールを直接測定する径検出器を設け、径検出器から
の径のプロフィールの測定値により未延伸フィルム制御
装置の目標値を修正しながら制御する方式が好ましい。
【００１３】以上により、目標厚みプロフィールに対す
る偏差が５％以下の延伸フィルムが製造できる。延伸フ
ィルムの目標厚みプロフィールは通常均一であるが、所
定の分布パターンのものにも本発明は適用できる。な
お、本発明は、測定感度から制御精度が制限され、高精
度の厚みプロフィール具体的には幅方向の厚み分布の制
御が難しいフィルムの流れ方向と幅方向の２軸に延伸さ
れた２軸延伸フィルムにおいて特に効果的である。以
下、本発明の詳細を実施例に基いて説明する。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下に図を引用しながら本発明を
２軸延伸フィルムの製造プロセスに適用した実施例に基
いて説明する。図１は本発明の実施例の基本構成の説明
図で、図２は該実施例のコントローラの１制御ループの
ブロック線図である。
【００１５】図１に於いて、フィルム用樹脂は図示省略
された樹脂用押出機より溶融押し出され、ダイ２に供給
される。ダイ２には操作端１の幅方向に所定幅の区間の
樹脂の流動を操作できる厚み調整ユニットがその全幅に
亙るように必要個数配設され、幅方向の樹脂の流動分布
を調整する事によって、そのダイスリットから押し出さ
れる未延伸フィルム９ａ及び延伸後の延伸フィルム９ｂ
の厚みプロフィールを調整するようになっている。な
お、各厚み調整ユニットは、ダイの所定幅の区域の溶融
樹脂の流量を操作量出力に応じて調整できるものであれ
ば特に制限はないが、操作性、保全性、ダイの構造の簡
易化の面から、ヒーターを用いてダイリップ温度を変化
させることによって樹脂流量を変化させる樹脂温度調整
方式が好ましく、本例ではこの方式を用いている。
【００１６】このフィルム９ａ，９ｂの層構成として
は、単層フィルムであっても２層以上が積層された複層
フィルムであっても良い。フィルム９ａ，９ｂの構成が
２層以上であれば、各層の樹脂はダイ２の上流で合流さ
れた後ダイ２に供給され、ダイスリットより押し出され
ても良いし、ダイ２に特開昭６３−１２０６２９号公報
等で公知の複数の溶融樹脂の通路を合流させた後開口部
に導き複層のフィルム状に押し出すようにした複合ダイ
を用い、ダイ２内で合流されても良い。
【００１７】未延伸フィルム９ａはダイ２のスリットか
ら押し出される。押し出された未延伸フィルム９ａは公
知の通り、冷却ドラム３によって冷却固化され、延伸工
程の延伸装置５によって機械方向と幅方向の２軸に延伸
され、製品の延伸フィルム９ｂとなり、図示省略した巻
取装置によって巻き取られ、フィルムロール７に形成さ
れる。
【００１８】２軸に延伸された延伸フィルム９ｂの厚み
は、延伸フィルム厚み計６によって延伸フィルム９ｂの
幅方向に走査しながら測定することによって、延伸フィ
ルム９ｂの幅方向の操作端１の各厚み調整ユニットに対
応する位置の各測定点で測定するようになっている。延
伸装置５前の未延伸の未延伸フィルム９ａの厚みは、未
延伸フィルム厚み計４によって延伸フィルム厚み計６と
同様に未延伸フィルム９ａの幅方向に走査しながら測定
することによって未延伸フィルム９ａの幅方向の操作端
１の各厚み調整ユニットに対応する位置の各測定点で測
定するようになっている。
【００１９】延伸フィルム厚み計６として、本例ではオ
ンラインでの測定精度の面から放射線透過型厚み計を用
いている。また、未延伸フィルム厚み計４としては、本
例ではオンラインでの測定精度、管理の容易さから赤外
線透過型厚み計を用いている。なお、着色フィルムなど
赤外線を透過しないフィルムの場合着色の影響を受けな
い放射線透過型厚み計等を用いる。これらの厚み計とし
ては、この他公知の厚み計も適用できる。
【００２０】延伸フィルム厚み計６及び未延伸フィルム
厚み計４により各測定点で測定された厚みデータは、フ
ィルム９ａ，９ｂの幅方向の各測定点の位置データと共
にコントローラ８に入力される。コントローラ８は、コ
ンピュータからなり、図２に示す制御系の動作を所定の
周期で行なうように構成されている。なお、図２は、操
作端１のある１個の調整ユニット１ｎの制御系を示して
あり、コントローラ８はこの制御系を調整ユニット数だ
け備え、全部の厚み調整ユニットについて順次処理する
ようになっている。
【００２１】制御系は、図に示すように、延伸フィルム
９ｂの厚み測定値に基いて制御する延伸フィルム制御手
段８１０ｎと、未延伸フィルム９ａの厚み測定値に基い
て制御する未延伸フィルム制御手段８２０ｎと、これら
を延伸フィルムの制御結果により切り換える制御切替手
段８３０ｎとで構成される。延伸フィルム制御手段８１
０ｎは、入力された延伸フィルム厚み計６の厚み調整ユ
ニット１ｎに対応する測定点で測定された厚み測定値６
ｎと予め設定されたその目標値８１１ｎとからその偏差
を求める延伸比較部８１２ｎと、該偏差から予め設定さ
れた所定の制御動作に基いて操作出力８１４ｎを求める
延伸フィルム制御演算部８１３ｎとからなる。
【００２２】同様に、未延伸フィルム制御手段８２０ｎ
も、通常は、入力された未延伸フィルム厚み計４の厚み
調整ユニット１ｎに対応する測定点で測定された厚み測
定値４ｎと予め設定されたその目標値８２１ｎとからそ
の偏差を求める延伸比較部８２２ｎと、該偏差から予め
設定された所定の制御動作に基いて操作出力８２４ｎを
求める未延伸フィルム制御演算部８２３ｎとからなる
が、本例では、この目標値８２１ｎをフィルムロール７
のフィルム幅方向の外径の測定値に基いて調整するよう
にしている。すなわち、フィルムロール７の外径のフィ
ルム幅方向のプロファイルを外径検出器１０で厚み測定
と同様に各厚み調整ユニット１ｎに対応する各測定点で
測定した外径測定値１０ｎに外径制御演算部８２５ｎで
所定の係数を掛けて外径比較部８２６ｎにフィードバッ
クし、未延伸フィルムの目標値８２１ｎから差し引くよ
うに構成し、フィルムロール７の外径でも厚みプロフィ
ールを調整するようにしている。なお、外径検出器１０
には、市販のもの、例えばキタノ企画(株)製のバルク形
状測定器等が適用でき、本例ではこれを用いた。
【００２３】制御切替手段８３０ｎは、延伸フィルムの
厚み測定値６ｎの目標値８１２ｎからの偏差が予め設定
した設定値８３１ｎ以上か否かを判定し、切替出力を出
力する判定部８３２ｎと、切替出力に応じて厚み調整ユ
ニット１ｎへの操作出力を延伸フィルム制御手段８１０
ｎの操作出力８１４ｎ又は未延伸フィルム制御手段８２
０ｎの操作出力８２４ｎに切り換える切替器８３３ｎと
で構成される。本例では、偏差が設定値８３１ｎ以上の
時は延伸フィルム制御手段８１０ｎの操作出力８１４ｎ
に、それ未満の時には未延伸フィルム制御手段８２０ｎ
の操作出力８２４ｎに切り換えるようになっている。な
お、本例では制御切替手段は、厚み調整ユニット毎に設
け、個々に切り替える構成としているが、全ての厚み調
整ユニットに共通として全ての偏差が設定値以下になっ
た場合に一斉に切り替えるようにしてもよい。
【００２４】以上の構成により、本例では、延伸フィル
ム９ｂの厚みが目標値８１１ｎに対する偏差が設定値８
３１ｎ以上の場合には従来と同様に延伸フィルムの厚み
測定値に基いて制御されるが、設定値８３１ｎ未満にな
ると厚み斑が高感度で検出できる未延伸フィルムの厚み
測定値に基いて制御が行なわれるので、従来は困難であ
った高精度の厚みプロファイル制御ができる。さらに、
厚み斑検出が最も高感度にできるフィルムロールの外径
の測定値をフィードバックしてカスケード制御すること
により、一層高精度のプロファイル制御ができる。
【００２５】なお、本発明は、ダイで成形可能な樹脂か
らなるフィルムに広く適用できる。これらの樹脂の代表
的な例としては、ポリエチレンテレフタレート、ポリエ
チレンナフタレートなどのポリエステルなどが挙げられ
る。また、これらの共重合体混合体であって、他の添加
剤などが含有されたものであってもよい。以下、上述の
図１の製造工程により製膜した製膜実施例によりその効
果を説明する。
【００２６】
【製膜実施例】原料樹脂として、酢酸カリウムをジカル
ボン酸成分に対し１２ｍｍｏｌ％、平均粒子径０．９μ
ｍのカオリンを０．３ｗｔ％添加した固有粘度が０．６
０のポリエチレンテレフタレートのペレットを用い、こ
れを１７０℃で３時間乾燥した後、押出機に供給し、２
８０℃で溶融押出した。
【００２７】押し出した溶融ポリマーはダイ２のマニホ
ールドに供給し、その口金からフィルム状に吐出した。
次いで２０℃に保たれた冷却ドラム３に図示省略した公
知の静電ワイヤにより静電荷を印加しながら巻き付ける
ことにより冷却固化して、未延伸フィルム９ａとした。
【００２８】この未延伸フィルム９ａを、延伸装置５に
おいて以下のように２軸延伸した。すなわち、先ず加熱
ロールに接触させて８０℃に加熱した後、縦延伸装置で
長手方向に３．６倍に延伸し、直ちに２０℃まで冷却
し、続いて横方向にテンター式横延伸装置を用いて９０
℃で５．３倍に延伸した後、１２０℃で熱処理を施し、
室温まで冷却した。その後、フィルムエッジ部分をカッ
トした後、巻取装置で巻き取り、フィルムロール７とし
た。
【００２９】なお、操作端１の厚み調整ユニットには、
前述の樹脂温度調整方式のものを用い、ダイ２の全幅に
亙るように配設した。その個数は３０個であった。
【００３０】また、延伸フィルム厚み計６の放射線透過
型厚み計として、β線厚み計を用いた。また、未延伸フ
ィルム厚み計４の赤外線透過型膜厚計はポリエステルフ
ィルムにおける５．８μｍの波長の赤外線透過率を厚み
に換算する構成の赤外線透過型膜厚計を用いた。
【００３１】このフィルム製造工程において、各制御方
式の効果を確認するため、以下のようにフィルムを製造
した。すなわち、コントローラ８は最初のロールサンプ
ルを採取する際、制御切替手段８３０を停止して、立ち
上がりから延伸フィルム厚み計６の測定データと目標値
の偏差に基く延伸フィルム制御手段８１０によりフィー
ドバック制御を行った。そして、良好な制御状態で後述
の一時間の製膜を行ないロールサンプルを作成した。次
いで２本目のロールサンプルを採取する際は、未延伸フ
ィルム制御手段８２０は外径測定器１０の測定値のフィ
ードバックを停止して、制御切替手段８３０は動作する
ようにして行なった。そして、３本目のロールサンプル
を採取する際には未延伸フィルム制御手段８２０の外径
測定器１０のフィルムロール７の外径の測定データを未
延伸フィルムの厚みの目標値にフィードバックするカス
ケード制御を加えてを行った。なお、目標値は、全て延
伸フィルム９ｂの厚みプロファイルで、幅方向に均一す
なわちフラットで厚みは４．８μｍとした。
【００３２】立ち上げから最初のロールサンプルの取得
までの延伸フィルム制御手段８１０による厚み制御にお
いては、制御動作は全て偏差に操作ゲインを乗ずる比例
制御により、延伸フィルム９ｂの全幅における厚みのば
らつき｛（厚み最大値−厚み最小値）／厚み平均値＊１
００｝（［％］）が４％以下になるように制御を行い、
その製品規格のばらつき５％以内の延伸フィルム９ｂが
得られるよう調整を行った。この際延伸フィルム厚みの
検出精度から、これ以上オンライン自動調整で厚みプロ
フィールを良化させる事は困難な状況であった。
【００３３】そして、この状態では、延伸フィルム厚み
計６で測定しきれない厚薄斑が積層する事によって、巻
取装置に形成されたフィルムロール７にコブやしわが入
る状況であった。具体的な評価のため、この制御状態で
８０ｍ／ｍｉｎのライン速度で１時間製膜してロールサ
ンプルとして延伸フィルム９ｂのフィルムロール７を形
成し、その外径を外径測定器１０にキタノ企画（株）製
のバルク形状測定器を用いて測定したところ、その全幅
における巻き径の変化分は４５０μｍであった。
【００３４】２本目のロールサンプルは、未延伸フィル
ム制御手段８２０の効果を確認するため、制御切替手段
８３０を生かして未延伸フィルム制御手段８２０を加え
た制御で製膜し、未延伸フィルム制御手段８２０により
制御されている状態下で以下のように採取した。ところ
で、延伸フィルム９ｂが良好な厚みプロフィールパタン
を示す時の未延伸フィルム９ａの厚みプロフィールパタ
ンは、延伸フィルム９ｂと異なり、必ずしも全幅におい
て均一すなわちフラットにはならない。
【００３５】そこで、未延伸フィルム９ａの目標値８２
２は、以下のようにして求め、設定した。すなわち、最
初のロールサンプルの際に未延伸フィルム９ａの厚みプ
ロフィールを測定し、このデータをコントローラ８に取
り込み、この厚みプロフィールデータから未延伸フィル
ム９ａの厚みプロフィールの目標値８２２を設定した。
設定方法としては、延伸フィルムの厚みプロフィールが
良好な部分に対応する未延伸フィルムの厚みプロフィー
ルの製品化される幅部分について、その厚みプロフィー
ルを移動平均したものをそのまま用いる方法、その厚み
プロファイルに過去の良好なパタンを少し変更してマッ
チングするようにしたものを用いる方法、その厚みプロ
フィールを関数近似してその関数を用いる方法などがあ
るが、細かい幅方向のパタンを修正するために、移動平
均したものをそのまま用いる方法により求めた厚みプロ
フィールを目標値とした。
【００３６】そして、制御動作は全てこうして求めた目
標値と測定された未延伸フィルム９ａの厚み測定値との
偏差に操作ゲインを乗じ加えてゆくPI制御とし、制御を
行なった。この厚み制御により、幅方向に厚み斑がさら
に良好な延伸フィルム９ｂを得ることができた。評価の
ため、前述と同様にこの制御状態で延伸フィルム９ｂを
８０ｍ／ｍｉｎのライン速度で１時間製膜してロールサ
ンプルを形成し、これを前述と同様に外径測定器１０を
用いて測定したところ、その巻き径の変化分は２５０μ
ｍで、前述の従来例に対して大きく改善された。
【００３７】また３本目のロールサンプルは、前述の通
り形成中のフィルムロール７の外径の測定データを未延
伸フィルム９ａの目標値にフィードバックする未延伸フ
ィルム制御手段８２０を生かして製膜し、未延伸フィル
ム制御手段８２０の制御下で以下のように採取した。す
なわち、この制御方法で制御した結果得られた延伸フィ
ルム９ａを８０ｍ／ｍｉｎのライン速度で１時間製膜し
てロールサンプルを形成した。そして、その外径の幅方
向のプロフィールを外径測定器１０を用いて測定したと
ころ、巻き径の変化分として１００μｍで、さらに半減
し、極めて良好な形状のロールを得る事ができた。な
お、本製膜実施例において、立ち上げから安定運転で早
期に良好な巻き形状のロールが得られ、品質向上と共に
生産性も向上することが確認された。
【００３８】
【発明の効果】本発明によれば、従来の延伸フィルムの
厚みに基く制御のみでは困難であった、高精度の厚み制
御ができ、良好な巻き姿のフィルムロールが形成でき
る。また、立ち上げから早急に安定生産に移行でき、全
体としても安定な運転ができ、生産性も向上する。この
ように本発明はフィルム状に押し出してフィルムを製造
するフィルムの製造工程の膜厚の均一化に大きな寄与を
為すもので、全体として安定化による生産性向上及び得
られるフィルムの品質向上等に大きな効果を奏するもの
である。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明の実施例の基本構成の説明図で
ある。
【図２】図２は、図１のコントローラの１制御ループの
ブロック線図である。
【符号の説明】
１ 操作端 ２ ダイ ３ 冷却ドラム ４ 未延伸フィルム厚み計 ５ 延伸装置 ６ 延伸フィルム厚み計 ７ フィルムロール ８ コントローラ ９ａ 未延伸フィルム ９ｂ 延伸フィルム １０ 外径検出器 ８１０ｎ 延伸フィルム制御手段 ８２０ｎ 未延伸フィルム制御手段 ８３０ｎ 制御切替手段
フロントページの続き Ｆターム(参考） 4F207 AA24 AC01 AG01 AP11 AP13 AQ01 AR06 AR12 AR14 KA01 KA17 KK66 KL76 KL84 KL92 KM06 KM15 KM30 KW26 KW41 4F210 AA24 AC01 AG01 AP11 AP13 AQ01 AR06 AR12 AR14 QA02 QC06 QD10 QD34 QD41 QG01 QL02 QM03 QM11 QM13 QW05 QW15

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 溶融樹脂からフィルムを製膜するダイの
    全幅に亘って配設されたその所定幅毎の厚みを調整する
    複数の操作端を、延伸工程後の延伸フィルムの幅方向に
    おける少なくとも該操作端の夫々に対応する各測定点で
    フィルムの厚みを測定する延伸フィルム厚み計と操作端
    毎に所定の周期でその測定点で測定された厚み測定値と
    予め設定された目標値とから所定の制御動作により操作
    量を演算して操作端に出力する延伸フィルム制御演算部
    とからなる延伸フィルム厚み制御手段により調整して、
    延伸フィルムの幅方向の厚みプロフィールを連続的に制
    御するフィルムの厚みプロフィール制御方法において、
    延伸工程前の未延伸フィルムの幅方向における該操作端
    の夫々に対応する各測定点でフィルムの厚みを測定する
    未延伸フィルム厚み計と操作端毎に所定の周期でこれに
    対応する未延伸フィルムの測定点で測定された厚み測定
    値と予め設定された未延伸フィルムの目標値とから所定
    の制御動作により操作量を演算して操作端に出力する未
    延伸フィルム制御演算部とからなる未延伸フィルム制御
    装置を設け、延伸フィルムの目標厚みプロフィールに対
    する厚みプロフィールの最大偏差が予め設定された設定
    値以上の場合は延伸フィルム厚み制御手段により、該最
    大偏差が該設定値未満の場合は未延伸フィルム厚み制御
    手段により延伸フィルムの厚みプロフィール制御するこ
    とを特徴とするフィルムの厚みプロフィール制御方法。
  2. 【請求項２】 未延伸フィルム厚み計が赤外線透過型厚
    み計であり、延伸フィルム厚み計が放射線透過型厚み計
    である請求項１に記載のフィルムの厚みプロフィール制
    御方法。
  3. 【請求項３】 未延伸フィルムの目標値を、延伸フィル
    ムの厚みプロフィールが良好な場合に実測した未延伸フ
    ィルムの厚みプロフィールの測定値を平滑化して求めた
    厚みプロフィールとする請求項１又は２に記載のフィル
    ムの厚みプロフィール制御方法。
  4. 【請求項４】 延伸工程からの延伸フィルムを巻き取る
    巻取り装置で形成されるフィルムロールの幅方向の径の
    プロフィールを測定する径検出器を設け、径検出器から
    の径のプロフィールの測定値により未延伸フィルム制御
    装置の目標値を修正しながら制御する請求項１〜３に記
    載のいずれかのフィルムの厚みプロフィール制御方法。
  5. 【請求項５】 延伸フィルムが目標厚みプロフィールに
    対する偏差が５％以下のフィルムである請求項１〜４に
    記載のいずれかのフィルムの厚みプロフィール制御方
    法。
  6. 【請求項６】 延伸フィルムの目標厚みプロフィールが
    均一である請求項１〜５に記載のいずれかのフィルムの
    厚みプロフィール制御方法。
  7. 【請求項７】 延伸フィルムがフィルムの流れ方向と幅
    方向の２軸に延伸された２軸延伸フィルムである請求項
    １〜６記載のいずれかのフィルムの厚みプロフィール制
    御方法。
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