NL8101668A - Inrichting voor het detekteren van de positie van een voorwerp. - Google Patents

Inrichting voor het detekteren van de positie van een voorwerp. Download PDF

Info

Publication number
NL8101668A
NL8101668A NL8101668A NL8101668A NL8101668A NL 8101668 A NL8101668 A NL 8101668A NL 8101668 A NL8101668 A NL 8101668A NL 8101668 A NL8101668 A NL 8101668A NL 8101668 A NL8101668 A NL 8101668A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
prism
radiation
lens
detectors
substrate
Prior art date
Application number
NL8101668A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Original Assignee
Philips Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Nv filed Critical Philips Nv
Priority to NL8101668A priority Critical patent/NL8101668A/nl
Priority to DE19823211928 priority patent/DE3211928A1/de
Priority to GB8209505A priority patent/GB2096316B/en
Priority to CA000400111A priority patent/CA1194176A/en
Priority to FR8205777A priority patent/FR2503416B1/fr
Priority to JP57054811A priority patent/JPS57178103A/ja
Publication of NL8101668A publication Critical patent/NL8101668A/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F9/00Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
    • G03F9/70Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically for microlithography

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Lenses (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
NL8101668A 1981-04-03 1981-04-03 Inrichting voor het detekteren van de positie van een voorwerp. NL8101668A (nl)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8101668A NL8101668A (nl) 1981-04-03 1981-04-03 Inrichting voor het detekteren van de positie van een voorwerp.
DE19823211928 DE3211928A1 (de) 1981-04-03 1982-03-31 Anordnung zum detektieren der lage eines gegenstandes
GB8209505A GB2096316B (en) 1981-04-03 1982-03-31 Optical position detector
CA000400111A CA1194176A (en) 1981-04-03 1982-03-31 Device for detecting the position of an object
FR8205777A FR2503416B1 (fr) 1981-04-03 1982-04-02 Dispositif permettant de detecter la position d'un objet
JP57054811A JPS57178103A (en) 1981-04-03 1982-04-03 Detector for position of body

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8101668A NL8101668A (nl) 1981-04-03 1981-04-03 Inrichting voor het detekteren van de positie van een voorwerp.
NL8101668 1981-04-03

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL8101668A true NL8101668A (nl) 1982-11-01

Family

ID=19837293

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8101668A NL8101668A (nl) 1981-04-03 1981-04-03 Inrichting voor het detekteren van de positie van een voorwerp.

Country Status (6)

Country Link
JP (1) JPS57178103A (enrdf_load_stackoverflow)
CA (1) CA1194176A (enrdf_load_stackoverflow)
DE (1) DE3211928A1 (enrdf_load_stackoverflow)
FR (1) FR2503416B1 (enrdf_load_stackoverflow)
GB (1) GB2096316B (enrdf_load_stackoverflow)
NL (1) NL8101668A (enrdf_load_stackoverflow)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1984004586A1 (en) * 1983-05-17 1984-11-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd Position-detecting apparatus
DE3328168A1 (de) * 1983-08-04 1985-02-21 Goetze Ag, 5093 Burscheid Verfahren und vorrichtung zur positionsfestlegung insbesondere von trennfugen
NL8401476A (nl) * 1984-05-09 1985-12-02 Philips Nv Inrichting voor het wisselen van maskers.
NL8401710A (nl) * 1984-05-29 1985-12-16 Philips Nv Inrichting voor het afbeelden van een maskerpatroon op een substraat.
JPS6155153A (ja) * 1984-08-27 1986-03-19 Mitsui Toatsu Chem Inc 熱硬化性樹脂成形材料
JPS6155152A (ja) * 1984-08-27 1986-03-19 Mitsui Toatsu Chem Inc 熱硬化性樹脂成形材料
JPS6155151A (ja) * 1984-08-27 1986-03-19 Mitsui Toatsu Chem Inc 熱硬化性樹脂成形材料
JPS6155150A (ja) * 1984-08-27 1986-03-19 Mitsui Toatsu Chem Inc 熱硬化性樹脂成形材料
DE3621961A1 (de) * 1986-07-01 1988-01-14 Wenglorz Sensoric Gmbh Reflexlichtschranke zur beruehrungslosen nachfuehrung eines geraetes
US4760429A (en) * 1986-11-05 1988-07-26 The Perkin-Elmer Corporation High speed reticle change system
DE3837042A1 (de) * 1988-10-31 1990-05-03 Battelle Institut E V Vorrichtung zum positionieren von materialien in einem kraftfeld
DE3907323A1 (de) * 1989-03-07 1990-09-20 Zinser Textilmaschinen Gmbh Spinnereimaschine, insbesondere ringspinnmaschine
DE4442400A1 (de) * 1994-11-30 1996-06-05 Imm Inst Mikrotech Sensor zur Bestimmung der Lage im Raum
DE102014010417A1 (de) * 2014-07-14 2016-01-14 Nanosurf Ag Positionsmesssystem für den Nanometerbereich
DE102014115748A1 (de) * 2014-10-29 2016-05-04 Tutech Innovation Gmbh System und Verfahren zur Bearbeitung von Bauteilen
CN109313454A (zh) * 2017-12-25 2019-02-05 深圳市大疆创新科技有限公司 云台的控制方法和控制设备

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2703505A (en) * 1948-07-03 1955-03-08 Kearney & Trecker Corp Apparatus for aligning machine elements
DE1205716B (de) * 1958-01-21 1965-11-25 Continental Elektro Ind Ag Lichtelektrische Einrichtung zur Ausrichtung der Ziellinie einer Visiervorrichtung
US3207904A (en) * 1962-04-09 1965-09-21 Western Electric Co Electro-optical article positioning system
DE1273210B (de) * 1962-08-24 1968-07-18 Philips Nv Vorrichtung zur lichtelektrischen Bestimmung der relativen Lage zweier Teile
GB1312825A (en) * 1969-04-19 1973-04-11 Licentia Gmbh Method and apparatus for bringing a mask and a semiconductor body into register with one another
DE2445333A1 (de) * 1973-10-01 1975-04-10 Philips Nv Optoelektronisches system zur bestimmung einer abweichung zwischen der istlage und der sollage einer ebene in einem optischen abbildungssystem
FR2340534A1 (fr) * 1976-02-09 1977-09-02 Centre Techn Ind Mecanique Procede et appareil pour le centrage des lentilles
GB1560778A (en) * 1978-03-21 1980-02-06 Int Computers Ltd Methods of aligning articles
FR2445512A1 (en) * 1978-12-27 1980-07-25 Thomson Csf Position detecting system for image forming appts. - includes two part photodiode providing two signals with difference proportional to position error

Also Published As

Publication number Publication date
CA1194176A (en) 1985-09-24
GB2096316A (en) 1982-10-13
JPS6355002B2 (enrdf_load_stackoverflow) 1988-11-01
DE3211928C2 (enrdf_load_stackoverflow) 1988-01-21
FR2503416B1 (fr) 1986-01-03
DE3211928A1 (de) 1983-01-20
FR2503416A1 (fr) 1982-10-08
GB2096316B (en) 1985-03-06
JPS57178103A (en) 1982-11-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL8101668A (nl) Inrichting voor het detekteren van de positie van een voorwerp.
US4850673A (en) Optical scanning apparatus which detects scanning spot focus error
NL7904579A (nl) Optisch afbeeldingsstelsel voorzien van een opto- -elektronisch detektiestelsel voor het bepalen van een afwijking tussen het beeldvlak van het afbeeldings- stelsel en een tweede vlak waarop afgebeeld moet worden.
JPS58113706A (ja) 水平位置検出装置
NL8601876A (nl) Inrichting voor het aftasten van een optische registratiedrager.
JP2529691B2 (ja) 光学式距離測定装置及び支持部材上の部品の位置を決定する装置
US5033856A (en) Three-dimensional shape measuring apparatus
JPH03246411A (ja) 面位置検出装置
EP0308022A1 (en) Apparatus for optically scanning a radiation-reflective information plane
EP0369510A1 (en) Apparatus for optically scanning a radiation-reflecting information plane
US5714749A (en) Focus detecting apparatus and microscope apparatus equipped with the foregoing apparatus
US3982835A (en) Interferometric system
NL9001253A (nl) Inrichting voor het optisch bepalen van de positie en stand van een voorwerp en optisch inschrijf- en/of weergaveapparaat voorzien van een dergelijke inrichting.
JPS6383931A (ja) 発光素子
EP0459764A2 (en) Optical head device
US5512760A (en) Optical height detector with coaxial irradiation and image axes and plural detectors spaced along the image axis
JP3143514B2 (ja) 面位置検出装置及びこれを有する露光装置
JP3351051B2 (ja) 水平検出装置及びそれを用いた露光装置
JPH0795037B2 (ja) 光学式欠陥検出装置
JP3040131B2 (ja) 球体表面の傷検査装置
KR102547513B1 (ko) 광학 검사 장치
EP0623804A2 (en) Device for optically measuring the height of a surface
US5099116A (en) Optical device for measuring displacement
JP2541947B2 (ja) 絶対位置検出装置
JP2897085B2 (ja) 水平位置検出装置及びそれを備えた露光装置

Legal Events

Date Code Title Description
A1B A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
A85 Still pending on 85-01-01
BI The patent application has been withdrawn