DE4442400A1 - Sensor zur Bestimmung der Lage im Raum - Google Patents
Sensor zur Bestimmung der Lage im RaumInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Sensor zur automatischen Bestimmung der Lage und der
Ausrichtung in Raum bezüglich eines elektromagnetischen Leitstrahles.
Derartige Systeme sind aus der Raumfahrt bekannt. Dort werden sie beispielsweise
benutzt, um die richtige Orientierung zweier Raumflugkörper zu gewährleisten, die
sich einander nähern, um anzudocken.
Systeme, wie sie beispielsweise in EP 0 537 623 A2 beschrieben sind, benutzen
optische Sensoren, deren Signale von einem bildverarbeitenden System benutzt
werden, um die reibungslose Annäherung zu gewährleisten. Derartige Systeme
bedürfen eines großen Rechenaufwandes und bieten eine vergleichsweise geringe
Winkelauflösung.
Des weiteren ist beispielsweise aus EP 0 336 162 ein System bekannt, das den
Einfallswinkel eines Leitstrahles bestimmt, indem es das Licht durch einen Spalt auf
ein maskiertes Detektor-Array projiziert. Die beleuchteten Detektoren erzeugen über
Differenzverstärker eine Binärzahl, die einem bestimmten Einfallswinkel entspricht.
Derartige Systeme bedürfen zwar keiner Rechenleistung, sind jedoch von geringer
Winkelauflösung und haben einen komplexen Aufbau. Ein System deckt darüber
hinaus nur einen rotatorischen Freiheitsgrad ab, es werden also zur Bestimmung der
Ausrichtung im Raum zwei solcher Systeme benötigt.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, einen Sensor der eingangs
genannten Art so zu bauen, daß er bei hoher Auflösung kompakt und kostengünstig
ist. Der Sensor ist auch in anderen Bereichen einsetzbar. Er muß möglichst
unabhängig von einem Rechner arbeiten und eine hohe Winkelauflösung
garantieren. Seine Signale können direkt als Regelsignale für eine mit dem System
verbundene Stellvorrichtung benutzt werden.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch einen Sensor gelöst, der seine
Ausrichtung in Bezug zu einem auf seine Vorderseite auftreffenden
elektromagnetischen Leitstrahl mittels mehrerer, auf die Leitstrahlfrequenz sensibler
und zu einer Gruppe zusammengefaßter Detektoren feststellt, wobei der Sensor ein
den Leitstrahl brechendes symmetrisches Element mit einem dem Leitstrahl
zugewandten Scheitel, durch den die Symmetrieachse verläuft, aufweist, und daß
die Detektoren in Bezug auf die Strahlausbreitungsrichtung hinter dem brechenden
Element angebracht sind.
Der erfindungsgemäße Sensor zeichnet sich gegenüber dem bekannten Stand der
Technik durch einen besonders kleinen und kompakten Aufbau, durch deutliche
Kostenvorteile und eine wesentlich höhere Winkelauflösung aus. Während die
Winkelauflösung der genannten kommerziellen Systeme etwa 0.1° beträgt, ist die
des erfindungsgemäßen Sensors besser als 0.01°.
Der erfindungsgemäße Sensor ermöglicht den Nachweis von Positionsab
weichungen bezüglich eines Leitstrahles in den zwei rotatorischen Freiheitsgraden
in Achsen, die senkrecht zur Achse des Leitstrahles stehen. Der erfindungsgemäße
Sensor hat infolge seiner Symmetrie den Vorteil, daß die Lage dieser Achsen in der
Ebene senkrecht zum Leitstrahl nicht durch die Bauart des Sensors vorgegeben ist.
Ist der Leitstrahl scharf gebündelt, insbesondere ein Laserstrahl, so erschließen
sich darüber hinaus zwei translatorische Freiheitsgrade, die senkrecht zur Achse
des Leitstrahles stehen.
Da das Material des brechenden Elementes so gewählt werden kann, daß es
ausreichend Transmission und Brechkraft bei der Frequenz der elektromagnetischen
Strahlung des Leitstrahles hat, deckt das Prinzip den Frequenzbereich vom nahen UV
über das IR bis in das Höchstfrequenzgebiet ab. Ohne den Einsatz einer komplexen
Rechenanlage lassen sich die Signale der unabhängigen Detektoren des Arrays
direkt in Regelsignale umsetzten und einer analogen Regelelektronik zuführen. Eine
analoge Regelelektronik ist sehr einfach aufgebaut und wesentlich unempfindlicher
auf den Einfluß hochenergetischer Strahlung als die digitale Elektronik von
komplexen Rechenanlagen. Dieser Vorteil macht den erfindungsgemäßen Sensor
besonders interessant für den Gebrauch in der Raumfahrt.
Die Einsatzmöglichkeiten des erfindungsgemäßen Sensors sind vielfältig. Er kann
zur Ausrichtung eines Satelliten auf weit entfernte Objekte, insbesondere die Sonne
oder Fixsterne, verwendet werden. Mit seiner Hilfe lassen sich zwei Raumflugkörper
zueinander orientieren. Er kann aber auch als Winkelsensor in der Meßtechnik
verwendet werden.
Besonders vorteilhafte Ausführungen des erfindungsgemäßen Sensors ergeben sich
nach der Lehre der Unteransprüche.
Die Beschreibung eines Ausführungsbeispiels des Sensors erfolgt anhand der
Abbildungen. Es zeigen
Fig. 1 perspektivische Ansicht des Sensors,
Fig. 2 Seitenansicht und Draufsicht des Sensors.
Der Sensor weist ein den Leitstrahl brechendes, symmetrisches Element (1),
insbesondere einen Kegel auf, der vorteilhafterweise aus Glas gefertigt ist und einen
Dachwinkel von 90° hat. Der Kegel befindet sich auf der Oberseite eines, die
elektromagnetische Strahlung leitenden Obergangselementes (2), insbesondere
eines Sockels, der ebenfalls vorteilhafterweise aus Glas gefertigt ist. Der Kegel kann
aber auch direkt auf das Detektor-Array fixiert sein. Der Scheitel des Kegels ist
einem Leitstrahl (5) zugewandt. Hinter dem Sockel befinden sich Detektoren (4). In
einer besonderen Ausführungsform ist der Sockel mit der Grundfläche auf einen
Siliziumchip (3) geklebt, der ein Detektor-Array (4) aus einer geraden Anzahl,
insbesondere 32, photosensiblen Detektoren aufweist. Die Photodetektoren sind
identisch und unabhängig auslesbar. Sie sind unter dem Sockel (2) derart
angeordnet, daß sie rotationssymmetrisch die Symmetrieachse des Kegels (1) und
des Sockels (2) umgeben. Die sensitive Fläche eines Detektors ist ein Kreis- oder
Ringsektor. Ein auf der Symmetrieachse durch den Scheitel des Kegels (1)
einfallender Leitstrahl (5) wird als Ring (6) auf das Detektor-Array (4) abgebildet. Bei
korrekter Justierung liefert jeder der unabhängigen Detektoren (4) identische
Signale. Eine Dejustierung des Leitstrahls (5) aus der Symmetrieachse führt zu
einem Differenzsignal, das als Regelgröße für eine den Sensor ausrichtende
Stellvorrichtungen benutzt wird.
Die Detektoren sind Halbleiterdetektoren, Infrarotdetektoren oder Höchstfrequenz
detektoren.
Mitunter ist es wünschenswert, den Leitstrahl von parasitärer Strahlung zu trennen.
Dazu kann die konvexe Oberfläche des Sensors mit einem Interferenz-
Schichtsystem für eine bestimmte Wellenlänge versehen werden. Die Filterfunktion
kann durch Fertigung des Kegelkörpers aus Farbglas verbessert werden.
Kegelkörper und Sockel werden aus einem Material gefertigt, das eine ausreichende
Transmission für den Leitstrahl gewährleistet. Für den Spektralbereich des nahen
UV und nahen IR eignet sich Quarzglas. Für das mittlere IR eignen sich Materialien
wie Germanium, Zinkselenid, Silberhalogenide und Chalkogenidgläser. Kegel aus
diesen Materialien können durch mechanische Schleif- und Poliertechniken
hergestellt werden.
Eine massenhafte kostengünstige Produktion der Kegel kann auch durch Prägen
oder Spritzgießen erreicht werden. Dabei verwendet man eine Form, die durch
galvanische Abformung eines durch konventionelle Methoden erzeugten
Masterkegels hergestellt wird. Für diese Verfahren eignen sich transparente
Polymere oder Ormocere. Für die Prägetechnik sind auch Chalkogenidgläser oder
Silberhalogenide geeignet.
Fig. 1 perspektivische Ansicht des Sensors
Fig. 2 Seitenansicht und Draufsicht.
Bezugszeichenliste
1 Kegel
2 Sockel des Kegels
3 Siliziumchip
4 Photosensitive Fläche des Detektors, eingeteilt in eine gerade Anzahl von Detektorelementen
5 Einfallender Leitstrahl und Verlauf der Strahlen im Kegelinneren
6 Ringförmiges Bild des Strahls auf der sensitiven Fläche des Detektors
7 Detektorelemente, die diametral gegenüberliegen.
2 Sockel des Kegels
3 Siliziumchip
4 Photosensitive Fläche des Detektors, eingeteilt in eine gerade Anzahl von Detektorelementen
5 Einfallender Leitstrahl und Verlauf der Strahlen im Kegelinneren
6 Ringförmiges Bild des Strahls auf der sensitiven Fläche des Detektors
7 Detektorelemente, die diametral gegenüberliegen.
Claims (12)
1. Sensor, der seine Ausrichtung in Bezug zu einem auf seine Vorderseite
auftreffenden elektromagnetischen Leitstrahl (5) mittels mehrerer, auf die
Leitstrahlfrequenz sensibler und zu einer Gruppe zusammengefaßter
Detektoren (4) feststellt,
dadurch gekennzeichnet, daß der Sensor ein den Leitstrahl (5)
brechendes, symmetrisches Element (1) mit einem dem Leitstrahl (5)
zugewandten Scheitel, durch den die Symmetrieachse verläuft, aufweist,
und daß die Detektoren (4) in Bezug auf die Strahlausbreitungsrichtung
hinter dem brechendenden Element (1) angebracht sind.
2. Sensor nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß das brechende Element (1) die Form eines
Kegels aufweist.
3. Sensor nach Anspruch 1 und 2,
dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoren (4) in einem Kollektiv zu
einem Detektor-Array angeordnet sind, daß dieselbe Symmetrie wie das
brechende Element (1) aufweist und dessen Symmetrieachse mit der
Symmetrieachse des brechenden Elementes (1) zusammenfällt.
4. Sensor nach den vorhergehenden Ansprüchen,
dadurch gekennzeichnet, daß das Detektor-Array (4) eine gerade Anzahl
identischer Detektoren (4) aufweist, deren Signale unabhängig voneinander
aufnehmbar sind.
5. Sensor nach den vorhergehenden Ansprüchen,
dadurch gekennzeichnet, daß das Detektor-Array (4) Rotationssymmetrie
aufweist.
6. Sensor nach den vorhergehenden Ansprüchen,
dadurch gekennzeichnet, daß die sensitive Fläche eines Detektors (4) ein
Kreissektor oder ein Ringsektor ist.
7. Sensor nach den vorhergehenden Ansprüchen,
dadurch gekennzeichnet, daß bei koaxialer Ausrichtung des Sensors auf
den Leitstrahl diametral gegenüberliegende Detektoren (7) des Detektor-
Arrays (4) identische Signale liefern.
8. Sensor nach den vorhergehenden Ansprüchen,
dadurch gekennzeichnet, daß sich zwischen dem brechenden Element (1)
und dem Detektor-Array (4) ein die elektromagnetische Strahlung leitendes
Übergangselement (2) befindet.
9. Sensor nach den vorhergehenden Ansprüchen,
dadurch gekennzeichnet, daß das brechende Element (1) direkt auf dem
Detektor-Array (4) fixiert ist.
10. Sensor nach den vorhergehenden Ansprüchen,
dadurch gekennzeichnet, daß das Detektor-Array (4) Halbleiterdetektoren
oder Infrarotdetektoren oder Höchstfrequenzdetektoren aufweist.
11. Sensor nach den vorhergehenden Ansprüchen,
dadurch gekennzeichnet, daß das brechende Element (1) und das
Übergangselement (2) aus einem Halbleiter oder aus einem Polymer oder
aus einem Ormocer besteht.
12. Sensor nach den vorhergehenden Ansprüchen,
dadurch gekennzeichnet, daß der Sensor in der Raumfahrt als
Sonnensensor und/oder Sternensensor benutzt wird, daß der Sensor zur
Ausrichtung auf einen Laserstrahl benutzt wird oder daß der Sensor als
Winkelsensor benutzt wird.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19944442400 DE4442400A1 (de) | 1994-11-30 | 1994-11-30 | Sensor zur Bestimmung der Lage im Raum |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19944442400 DE4442400A1 (de) | 1994-11-30 | 1994-11-30 | Sensor zur Bestimmung der Lage im Raum |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4442400A1 true DE4442400A1 (de) | 1996-06-05 |
Family
ID=6534412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19944442400 Ceased DE4442400A1 (de) | 1994-11-30 | 1994-11-30 | Sensor zur Bestimmung der Lage im Raum |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE4442400A1 (de) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19709311A1 (de) * | 1997-03-07 | 1998-09-10 | Pepperl & Fuchs | Ortsauflösendes optoelektronisches Sensorsystem |
| DE19709310A1 (de) * | 1997-03-07 | 1998-09-10 | Pepperl & Fuchs | Optoelektronische Justierhilfe |
| WO1999008081A1 (de) * | 1997-08-06 | 1999-02-18 | INSTITUT FüR MIKROTECHNIK MAINZ GMBH | Mikropolarimeter |
| DE19907548C2 (de) * | 1998-03-17 | 2003-08-14 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Optoelektronische Vorrichtung |
Citations (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1936289A1 (de) * | 1969-07-17 | 1971-02-04 | Leitz Ernst Gmbh | Anordnung fuer Sternsensoren bei spinstabilisierten Satelliten |
| DE2330153A1 (de) * | 1972-06-08 | 1973-12-20 | Hawker Siddeley Dynamics Ltd | Optisches instrument |
| US3966329A (en) * | 1974-09-24 | 1976-06-29 | Ampex Corporation | Precision optical beam divider and position detector |
| DE7735475U1 (de) * | 1977-11-19 | 1980-05-29 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Lichtschranke als nullindikator |
| DD220806A1 (de) * | 1984-02-06 | 1985-04-10 | Moritz Arndt Uni Greifswald E | Optoelektronisches messsystem zur praezisionsgeradheitsmessung |
| DE3536853A1 (de) * | 1985-10-16 | 1987-04-16 | Moeller J D Optik | Optische fuehlereinrichtung |
| DE3211928C2 (de) * | 1981-04-03 | 1988-01-21 | N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken, Eindhoven, Nl | |
| DE3643842A1 (de) * | 1986-12-20 | 1988-06-30 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Verfahren zur beruehrungslosen bestimmung der raeumlichen lage eines auf der oberflaeche eines koerpers befindlichen objektpunkts |
| DE3441498C2 (de) * | 1984-11-09 | 1989-03-02 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt, De | |
| DE3738222C1 (en) * | 1987-11-11 | 1989-05-03 | Messerschmitt Boelkow Blohm | Method and device for interference-proof (countermeasure-proof) location of missiles |
| DE3744051A1 (de) * | 1987-12-24 | 1989-07-06 | Krupp Atlas Elektronik Gmbh | Vorrichtung zum bestimmen von zieldaten |
| EP0324241A2 (de) * | 1988-01-08 | 1989-07-19 | The Marconi Company Limited | Lichtalignierungsdetektionsvorrichtung |
| US4910523A (en) * | 1987-11-06 | 1990-03-20 | Millitech Corporation | Micrometer wave imaging device |
| US4940986A (en) * | 1986-06-16 | 1990-07-10 | Millitech Corporation | Millimeter wave locating |
| DE3933057A1 (de) * | 1989-10-04 | 1991-04-18 | Doerries Scharmann Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der position und des durchmessers des brennflecks (fokus) eines laserstrahls, insbesondere zur verwendung fuer die werkstoffbearbeitung mit einem hochleistungslaserstrahl |
| EP0498524A2 (de) * | 1991-02-06 | 1992-08-12 | GEC-Marconi Limited | Detektorsystem |
-
1994
- 1994-11-30 DE DE19944442400 patent/DE4442400A1/de not_active Ceased
Patent Citations (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1936289A1 (de) * | 1969-07-17 | 1971-02-04 | Leitz Ernst Gmbh | Anordnung fuer Sternsensoren bei spinstabilisierten Satelliten |
| DE2330153A1 (de) * | 1972-06-08 | 1973-12-20 | Hawker Siddeley Dynamics Ltd | Optisches instrument |
| US3966329A (en) * | 1974-09-24 | 1976-06-29 | Ampex Corporation | Precision optical beam divider and position detector |
| DE7735475U1 (de) * | 1977-11-19 | 1980-05-29 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Lichtschranke als nullindikator |
| DE3211928C2 (de) * | 1981-04-03 | 1988-01-21 | N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken, Eindhoven, Nl | |
| DD220806A1 (de) * | 1984-02-06 | 1985-04-10 | Moritz Arndt Uni Greifswald E | Optoelektronisches messsystem zur praezisionsgeradheitsmessung |
| DE3441498C2 (de) * | 1984-11-09 | 1989-03-02 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt, De | |
| DE3536853A1 (de) * | 1985-10-16 | 1987-04-16 | Moeller J D Optik | Optische fuehlereinrichtung |
| US4940986A (en) * | 1986-06-16 | 1990-07-10 | Millitech Corporation | Millimeter wave locating |
| DE3643842A1 (de) * | 1986-12-20 | 1988-06-30 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Verfahren zur beruehrungslosen bestimmung der raeumlichen lage eines auf der oberflaeche eines koerpers befindlichen objektpunkts |
| US4910523A (en) * | 1987-11-06 | 1990-03-20 | Millitech Corporation | Micrometer wave imaging device |
| DE3738222C1 (en) * | 1987-11-11 | 1989-05-03 | Messerschmitt Boelkow Blohm | Method and device for interference-proof (countermeasure-proof) location of missiles |
| DE3744051A1 (de) * | 1987-12-24 | 1989-07-06 | Krupp Atlas Elektronik Gmbh | Vorrichtung zum bestimmen von zieldaten |
| EP0324241A2 (de) * | 1988-01-08 | 1989-07-19 | The Marconi Company Limited | Lichtalignierungsdetektionsvorrichtung |
| DE3933057A1 (de) * | 1989-10-04 | 1991-04-18 | Doerries Scharmann Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der position und des durchmessers des brennflecks (fokus) eines laserstrahls, insbesondere zur verwendung fuer die werkstoffbearbeitung mit einem hochleistungslaserstrahl |
| EP0498524A2 (de) * | 1991-02-06 | 1992-08-12 | GEC-Marconi Limited | Detektorsystem |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| BARTL,B., u.a.: Optoelektronische Anordnung zur Messung der Formabweichung von der Geraden. In: FEINGERÄTETECHNIK,27.Jg.,H.3/1978, S.110-111 * |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19709311A1 (de) * | 1997-03-07 | 1998-09-10 | Pepperl & Fuchs | Ortsauflösendes optoelektronisches Sensorsystem |
| DE19709310A1 (de) * | 1997-03-07 | 1998-09-10 | Pepperl & Fuchs | Optoelektronische Justierhilfe |
| DE19709310C2 (de) * | 1997-03-07 | 2000-07-27 | Pepperl & Fuchs | Optoelektronische Justierhilfe |
| DE19709311C2 (de) * | 1997-03-07 | 2000-08-17 | Pepperl & Fuchs | Ortsauflösendes optoelektronisches Sensorsystem |
| WO1999008081A1 (de) * | 1997-08-06 | 1999-02-18 | INSTITUT FüR MIKROTECHNIK MAINZ GMBH | Mikropolarimeter |
| US6268915B1 (en) | 1997-08-06 | 2001-07-31 | Michael Abraham | Micropolarimeter |
| DE19907548C2 (de) * | 1998-03-17 | 2003-08-14 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Optoelektronische Vorrichtung |
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