KR980007802A - 표시 스크린 검사 방법 - Google Patents
표시 스크린 검사 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR980007802A KR980007802A KR1019970026770A KR19970026770A KR980007802A KR 980007802 A KR980007802 A KR 980007802A KR 1019970026770 A KR1019970026770 A KR 1019970026770A KR 19970026770 A KR19970026770 A KR 19970026770A KR 980007802 A KR980007802 A KR 980007802A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- density data
- display
- peak
- data
- image
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
- G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/04—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N7/00—Television systems
- H04N7/18—Closed-circuit television [CCTV] systems, i.e. systems in which the video signal is not broadcast
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9513—Liquid crystal panels
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30121—CRT, LCD or plasma display
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S345/00—Computer graphics processing and selective visual display systems
- Y10S345/904—Display with fail/safe testing feature
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Abstract
표시 스크린 검사 방법이 표시 장치의 표시 스크린을 검사 사체(subject)로서 취하고 그 표시 스크린의 결함결정을 행한다. 그 방법은, 검사 사체의 영상을 골라서 얻어진 그레이(gray)영상의 각 화소의 영상 데이터로부터 그레이 영상에 있는 검사 사체의 표시 동작부 및 표시 비-동작부의 분리를 행하는 단계와, 알맞은 표시 동작부만의 영상 데이터를 선택적으로 추출해서 결함을 검사하기 위해 영상 데이터를 압축하는 단계와, 결함에 대해 상기 추출된 영상 데이터를 검사하는 단계를 포함한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에서 사용된 스크린 검사 방법을 구체화하는 표시 스크린 검사 장치의 개략도.
제2도는 본 발명의 제1실시예에서 사용된 장치의 처리 회로 블럭도.
제3a도 및 3b도는 표시 화소 및 센서 화소간의 상대적인 위치 관계의 도시도.
Claims (5)
- 표시 장치의 표시 스크린을 검사 사체(subject)로서 취하고 그 표시 스크린의 결함 결정을 행하는 표시 스크린 검사 방법에 있어서, 검사 사체의 영상을 골라서 얻어진 그레이(gray) 영상의 각 화소의 영상 데이터로부터 그레이 영상에 있는 검사 사체의 표시 동작부 및 표시 비-동작부의 분리를 행하는 단계와, 알맞은 표시 동작부만의 영상 데이터를 선택적으로 추출해서 결함을 검사하기 위해 영상 데이터를 압축하는 단계와, 결함에 대해 상기 추출된 영상 데이터를 검사하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 표시 스크린 검사 방법.
- 제1항에 있어서, 선택 추출에서, 표시 동작부의 각 위치가 그레이 영상의 밀도 데이터중 밀도 데이터의 피크를 도시하는 화소에 의해 설정되고, 피크의 밀도 데이터 및 그 피크 주변의 화소 밀도 데이터로써 계산된 결과치가 표시 동작부의 대표 밀도 데이터로서 취해지고, 알맞은 표시 동작부만의 영상 데이터가 표시 동작부 및 대표 밀도 데이터의 위치 모두를 토대로 해서 선택 추출되는 것을 특징으로 하는 표시 스크린 검사 방법.
- 제2항에 있어서, 선택 추출에서, 표시 동작부 및 대표 밀도 데이터의 위치를 얻기 위해, 밀도 데이터의 피크가 있지 않을 지라도, 표시 동작부를 있게 해야만하는 위치의 밀도 데이터가 그 위치 전후에 표시 동작부의 밀도 데이터로부터 선택 추출되는 것을 특징으로 하는 표시 스크린 검사 방법.
- 제1항 내지 제3항중 어느 한항에 있어서, 선택 추출에서, 표시 동작부의 각 위치가 그레이 영상의 밀도 데이터중 밀도 데이터의 피크를 도시하는 화소에 의해 설정되고, 피크의 밀도 데이터 및 그 피크 주변의 화소 밀도 데이터로써 계산된 결과치가 표시 동작부의 대표 밀도 데이터로서 취해지고, 검사할 때, 피크부분의 시프트가 밀도 데이터 피크의 위치 데이터로부터 피크 전후에 표시 동작부의 다른 위치 데이터 간격을 갖는 부분을 검출함으로써 검출되는 것을 특징으로 하는 표시 스크린 검사 방법.
- 제1항 내지 제4항중 어느 한항에 있어서,선택 추출에서, 표시 동작부의 각 위치가 그레이 영상의 밀도 데이터중 밀도 데이터의 피크를 도시하는 화소에 의해 설정되고, 피크의 밀도 데이터 및 그 피크 주변의 화소 밀도 데이터로써 계산된 결과치가 표시 동작부의 대표 밀도 데이터로서 취해지고, 검사할 때, 피크 주변의 화소 밀도 데이터중 대표 밀도 데이터로부터 계산된 기준 밀도를 능가하는 다수의 밀도 데이터를 카운트 함으로써 표시 동작부의 영역 크기에서 결함이 있는지가 결정되는 것을 특징으로 하는 표시 스크린 검사 방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16978296A JP3333686B2 (ja) | 1996-06-28 | 1996-06-28 | 表示画面検査方法 |
JP96-169782 | 1996-06-28 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR980007802A true KR980007802A (ko) | 1998-03-30 |
KR100241504B1 KR100241504B1 (ko) | 2000-02-01 |
Family
ID=15892777
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970026770A KR100241504B1 (ko) | 1996-06-28 | 1997-06-24 | 표시 스크린 검사 방법 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5966458A (ko) |
JP (1) | JP3333686B2 (ko) |
KR (1) | KR100241504B1 (ko) |
CN (1) | CN1135378C (ko) |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6154561A (en) * | 1997-04-07 | 2000-11-28 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for detecting Mura defects |
US6219443B1 (en) * | 1998-08-11 | 2001-04-17 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for inspecting a display using a relatively low-resolution camera |
US7095883B2 (en) * | 2001-07-05 | 2006-08-22 | Photon Dynamics, Inc. | Moiré suppression method and apparatus |
FR2833743B1 (fr) * | 2001-12-17 | 2004-02-20 | Eldim | Procede et dispositif a faible resolution d'acquisition pour le controle d'un ecran d'affichage |
JP2004069673A (ja) * | 2002-06-11 | 2004-03-04 | Nec Corp | 外観検査装置および外観検査方法 |
CN1323545C (zh) * | 2004-06-22 | 2007-06-27 | 东软飞利浦医疗设备系统有限责任公司 | 医学影像坏点自动检测门限确定方法 |
US20050286753A1 (en) * | 2004-06-25 | 2005-12-29 | Triant Technologies Inc. | Automated inspection systems and methods |
KR20060044032A (ko) * | 2004-11-11 | 2006-05-16 | 삼성전자주식회사 | 표시패널용 검사 장치 및 이의 검사 방법 |
JP4799329B2 (ja) * | 2006-09-07 | 2011-10-26 | 株式会社東芝 | ムラ検査方法、表示パネルの製造方法及びムラ検査装置 |
CN101644919A (zh) * | 2008-08-04 | 2010-02-10 | 施耐德电器工业公司 | 工业人机界面视觉检测系统和方法 |
JP5121685B2 (ja) * | 2008-12-12 | 2013-01-16 | 株式会社東芝 | バーコード読取装置、バーコード読取プログラム、バーコード読取方法 |
EP2200334A1 (en) * | 2008-12-18 | 2010-06-23 | Thomson Licensing | Display device with feedback elements and method for monitoring |
CN101800142A (zh) * | 2009-12-31 | 2010-08-11 | 四川虹欧显示器件有限公司 | 等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法及检测设备 |
JP5304965B2 (ja) * | 2011-07-26 | 2013-10-02 | 日本電気株式会社 | 画面検査装置、画面検査方法、及びプログラム |
TWI512277B (zh) * | 2013-01-04 | 2015-12-11 | Taiwan Power Testing Technology Co Ltd | 顯示器之檢測設備 |
WO2016207703A1 (en) | 2015-06-23 | 2016-12-29 | Bosch Car Multimedia Portugal, S.A. | Apparatus and method for detection of pixel or sub-pixel functional defects of an image display |
CN105699049A (zh) * | 2016-01-08 | 2016-06-22 | 深圳控石智能系统有限公司 | 一种自动图像质量检测机具及其使用方法 |
CN107389307A (zh) * | 2016-12-31 | 2017-11-24 | 深圳眼千里科技有限公司 | 屏幕自动检测机 |
CN106910444B (zh) * | 2017-02-28 | 2020-11-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 点灯装置和点灯测试方法 |
CN108303424A (zh) * | 2018-01-02 | 2018-07-20 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板检测装置及其检测方法 |
CN108020563A (zh) * | 2018-01-08 | 2018-05-11 | 凯吉凯精密电子技术开发(苏州)有限公司 | Oled面板用外观缺陷检测系统及其检测方法 |
CN109658320B (zh) * | 2018-11-05 | 2023-04-07 | 苏州佳智彩光电科技有限公司 | 一种异形显示屏子像素辉度采集方法 |
CN111579211B (zh) * | 2020-05-19 | 2022-09-30 | Oppo(重庆)智能科技有限公司 | 显示屏的检测方法、检测装置及计算机存储介质 |
CN114298254B (zh) * | 2021-12-27 | 2024-03-15 | 亮风台(上海)信息科技有限公司 | 一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法与设备 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04158238A (ja) * | 1990-10-22 | 1992-06-01 | Ezel Inc | 液晶パネルの検査方法 |
JPH055709A (ja) * | 1991-06-27 | 1993-01-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画面検査装置 |
US5764209A (en) * | 1992-03-16 | 1998-06-09 | Photon Dynamics, Inc. | Flat panel display inspection system |
JP3297950B2 (ja) * | 1993-07-13 | 2002-07-02 | シャープ株式会社 | 平面型表示パネル検査装置 |
US5504504A (en) * | 1994-07-13 | 1996-04-02 | Texas Instruments Incorporated | Method of reducing the visual impact of defects present in a spatial light modulator display |
JP3471436B2 (ja) * | 1994-08-19 | 2003-12-02 | 株式会社アドバンテスト | 画質検査装置及びその画像合成方法 |
JP3190238B2 (ja) * | 1995-10-31 | 2001-07-23 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法 |
-
1996
- 1996-06-28 JP JP16978296A patent/JP3333686B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-06-24 US US08/881,799 patent/US5966458A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-06-24 KR KR1019970026770A patent/KR100241504B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1997-06-27 CN CNB971171114A patent/CN1135378C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH1019731A (ja) | 1998-01-23 |
CN1174394A (zh) | 1998-02-25 |
KR100241504B1 (ko) | 2000-02-01 |
US5966458A (en) | 1999-10-12 |
CN1135378C (zh) | 2004-01-21 |
JP3333686B2 (ja) | 2002-10-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR980007802A (ko) | 표시 스크린 검사 방법 | |
EP0437273A2 (en) | Method of matching patterns and apparatus therefor | |
JP2001159616A5 (ko) | ||
KR960011414A (ko) | 검사 시스템 및 공정 | |
US20050195389A1 (en) | System and method for inspecting electrical circuits utilizing reflective and fluorescent imagery | |
JP3333568B2 (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
JPS58134372A (ja) | パタ−ン検査装置 | |
JP2000028539A (ja) | 欠陥検出方法 | |
JP4956077B2 (ja) | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | |
JP2003203218A (ja) | 外観検査装置および方法 | |
JP2006035505A (ja) | 印刷物の検査方法及び装置 | |
JPH0735699A (ja) | 表面欠陥検出方法およびその装置 | |
JP2529505B2 (ja) | 配線パタ―ン検査装置 | |
JPH1063229A (ja) | 液晶ディスプレイの画質検査装置及びその検査方法 | |
JP2002099899A (ja) | パターン品質検査方法及び装置 | |
JPH0815172A (ja) | 外観検査方法 | |
JPH07280746A (ja) | 金属板表面疵抽出装置 | |
JPH08247928A (ja) | 火花破裂点検出方法および火花破裂点検出装置 | |
JP2671095B2 (ja) | 金属材欠陥検査方法及びその装置 | |
JP3506823B2 (ja) | 火花破裂領域検出装置 | |
JP2536727B2 (ja) | パタ―ン検査装置 | |
JP2850601B2 (ja) | プリント基板パターン検査装置 | |
JPH08320931A (ja) | 文字検査方法及びその装置 | |
JPH0878489A (ja) | 外観検査装置 | |
JPH02171640A (ja) | 容器検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20091022 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |