CN114298254B - 一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法与设备 - Google Patents
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Abstract
本申请的目的是提供一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法与设备，包括：通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像；获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括一个或多个参考二维标记信息；获取所述拍摄图像中所述一个或多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述一个或多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息。本申请通过关于测试图像的拍摄图像与参考图像进行比对，确定对应显示参数测试结果，操作方法简单，执行效率高，获取的结果准确可靠，提升了极大地用户使用体验。
Description
技术领域
本申请涉及通信领域，尤其涉及一种获取光学设备的显示参数测试信息的技术。
背景技术
随着增强现实技术的发展和普及，增强现实设备(如增强现实眼镜、增强现实头盔等)等带有科幻色彩、拥有前卫技术的产品也慢慢融入人们的生活。影响增强现实设备的一种重要因素就是增强现实设备的光学设备，但是光学设备的大部分器件是光学元件，在生产过程中可能会存在不合格品、在装机甚至运输过程中比较容易受损。光学元件的不合格或受损可能造成光学设备在显示过程中出现偏差，现有的光学设备的显示参数检测是靠人工进行检测，工序繁琐、检测效率低，结果也不可靠。
发明内容
本申请的一个目的是提供一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法与设备。
根据本申请的一个方面，提供了一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法，应用于计算机设备，其中，所述光学设备包括显示装置，所述显示装置用于呈现对应测试图像，该方法包括：
通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像，其中，所述测试图像包括一个或多个二维标记信息，所述拍摄图像包括对应一个或多个测试二维标记信息；
获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括一个或多个参考二维标记信息；
获取所述拍摄图像中所述一个或多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述一个或多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息。
根据本申请的另一个方面，提供了一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法，应用于计算机设备，其中，所述光学设备包括显示装置，所述显示装置用于呈现对应测试图像，该方法包括：
通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像，其中，所述测试图像包括排成至少一排的多个二维标记信息，所述拍摄图像包括对应多个测试二维标记信息；
获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括多个参考二维标记信息；
获取所述拍摄图像中所述多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息。
根据本申请的一个方面，提供了一种获取光学设备的显示参数测试信息的计算机设备，其中，所述光学设备包括显示装置，所述显示装置用于呈现对应测试图像，该计算机设备包括：
一一模块，用于通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像，其中，所述测试图像包括一个或多个二维标记信息，所述拍摄图像包括对应一个或多个测试二维标记信息；
一二模块，用于获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括一个或多个参考二维标记信息；
一三模块，用于获取所述拍摄图像中所述一个或多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述一个或多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息。
根据本申请的另一个方面，提供了一种获取光学设备的显示参数测试信息的计算机设备，其中，所述光学设备包括显示装置，所述显示装置用于呈现对应测试图像，该计算机设备包括：
二一模块，用于通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像，其中，所述测试图像包括排成至少一排的多个二维标记信息，所述拍摄图像包括对应多个测试二维标记信息；
二二模块，用于获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括多个参考二维标记信息；
二三模块，用于获取所述拍摄图像中所述多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息。
根据本申请的一个方面，提供了一种计算机设备，其中，该设备包括：
处理器；以及
被安排成存储计算机可执行指令的存储器，所述可执行指令在被执行时使所述处理器执行如上任一所述方法的步骤。
根据本申请的一个方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序/指令，其特征在于，该计算机程序/指令在被执行时使得系统进行执行如上任一所述方法的步骤。
根据本申请的一个方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，其特征在于，该计算机程序/指令被处理器执行时实现如上任一所述方法的步骤。
与现有技术相比，本申请通过关于测试图像的拍摄图像与参考图像进行比对，确定对应显示参数测试结果，操作方法简单，执行效率高，获取的结果准确可靠，提升了极大地用户使用体验。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1示出根据本申请一个实施例的一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法流程图；
图2示出根据本申请另一个实施例的一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法流程图；
图3示出根据本申请一个实施例的一种计算机设备的功能模块；
图4示出根据本申请另一个实施例的一种计算机设备的功能模块；
图5示出可被用于实施本申请中所述的各个实施例的示例性系统。
附图中相同或相似的附图标记代表相同或相似的部件。
具体实施方式
下面结合附图对本申请作进一步详细描述。
在本申请一个典型的配置中，终端、服务网络的设备和可信方均包括一个或多个处理器(例如，中央处理器(Central Processing Unit，CPU))、输入/输出接口、网络接口和内存。
内存可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(Read Only Memory，ROM)或闪存(Flash Memory)。内存是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(Phase-Change Memory，PCM)、可编程随机存取存储器(Programmable Random Access Memory，PRAM)、静态随机存取存储器(Static Random-Access Memory，SRAM)、动态随机存取存储器(Dynamic Random AccessMemory，DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(Compact Disc Read-Only Memory，CD-ROM)、数字多功能光盘(Digital Versatile Disc,DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算机设备访问的信息。
本申请所指设备包括但不限于用户设备、网络设备、或用户设备与网络设备通过网络相集成所构成的设备。所述用户设备包括但不限于任何一种可与用户进行人机交互的移动电子产品，例如智能手机、平板电脑等，所述移动电子产品可以采用任意操作系统，如Android操作系统、iOS操作系统等。其中，所述网络设备包括一种能够按照事先设定或存储的指令，自动进行数值计算和信息处理的电子设备，其硬件包括但不限于微处理器、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、可编程逻辑器件(Programmable Logic Device，PLD)、现场可编程门阵列(Field Programmable GateArray，FPGA)、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、嵌入式设备等。所述网络设备包括但不限于计算机、网络主机、单个网络服务器、多个网络服务器集或多个服务器构成的云；在此，云由基于云计算(Cloud Computing)的大量计算机或网络服务器构成，其中，云计算是分布式计算的一种，由一群松散耦合的计算机集组成的一个虚拟超级计算机。所述网络包括但不限于互联网、广域网、城域网、局域网、VPN网络、无线自组织网络(Ad Hoc网络)等。优选地，所述设备还可以是运行于所述用户设备、网络设备、或用户设备与网络设备、网络设备、触摸终端或网络设备与触摸终端通过网络相集成所构成的设备上的程序。
当然，本领域技术人员应能理解上述设备仅为举例，其他现有的或今后可能出现的设备如可适用于本申请，也应包含在本申请保护范围以内，并在此以引用方式包含于此。
在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或者更多，除非另有明确具体的限定。
图1示出了根据本申请一个方面的一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法，应用于计算机设备100，其中，所述光学设备包括显示装置，所述显示装置用于呈现对应测试图像，该方法包括步骤S101、步骤S102以及步骤S103。在步骤S101中，通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像，其中，所述测试图像包括一个或多个二维标记信息，所述拍摄图像包括对应一个或多个测试二维标记信息；在步骤S102中，获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括一个或多个参考二维标记信息；在步骤S103中，获取所述拍摄图像中所述一个或多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述一个或多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息。在此，所述计算机设备包括但不限于对数据进行处理的设备，如用户设备或者网络设备等；其中，所述用户设备包括但不限于任何一种可与用户进行人机交互的电子产品，所述网络设备包括但不限于计算机、网络主机、单个网络服务器、多个网络服务器集或多个服务器构成的云。所述光学设备包括但不限于用于将对应图像反射至眼睛的显示装置，其中，本申请所指光学设备一般包含显示光学器件的光学设备等，如棱镜、曲面反射镜、Birdbath、光波导、LBS，该光学设备可以是指独立的显示光学器件，或者是指包含该显示光学器件及图像源器件的人机交互设备，如增强现实眼镜或者增强显示头盔等。在此，所述图像源器件包括但不限于硅基液晶、硅基OLED、DLP、microLED等。
具体而言，在步骤S101中，通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像，其中，所述测试图像包括一个或多个二维标记信息，所述拍摄图像包括对应一个或多个测试二维标记信息。例如，所述计算机设备包括对应摄像装置，用于拍摄对应光学设备通过显示光学器件呈现的测试图像，该摄像装置可以是计算机设备的内置摄像头，还可以是外接摄像装置等。光学设备中存储有对应的测试图像，该测试图像可以是光学设备通过命令进行下载的，可以是测试用户导入的，还可以是计算机设备通过与光学设备的通信连接发送至该光学设备，或者其他设备通过对应通信连接发送至光学设备，还可以是在光学设备本地根据一个或多个二维标记信息生成的等。所述测试图像包括由一个或多个二维标记信息按照预定规则生成的用于呈现于待测试的光学设备的图像，其中，该测试图像包括一个或多个二维标记位置(例如，对应区域的像素范围或者对应区域的中心像素坐标等)，每个二维标记位置设置有特定的一种标记信息，在一些情形下，每个二维标记位置对应区域的区域大小和形状相同，例如，均在测试图像中以相同正方形区域划分对应二维标记位置，进一步地，每个二维标记位置与相邻二维标记位置的区域间隔相同，各个二维标记位置之间不存在区域重叠等。在另一些情形下，每个二维标记位置中心与周边相邻二维标记位置中心的间隔相同，或者，多个二维标记位置中心关于当前测试图像呈中心对称等，对于二维标记位置设置的二维标记信息的大小比例相同，形状不做限制等。在另一些情形下，二维标记位置对应区域的区域形状相同，大小比例不做限制等。在另一些情形下，二维标记位置对应区域的区域大小和形状均不相同等。每个二维标记信息的标记内容可以是相同(例如，通过相同的二维标记信息呈现于测试图像等)，也可以是不同的(例如，通过包含不同内容的二维标记信息呈现于测试图像等)。
在此，对应拍摄图像的数量包括一个或多个，例如，计算机设备获取一个拍摄图像，并根据参考图像计算该拍摄图像的显示参数测试信息，又如，计算机设备获取多个拍摄图像，并根据参考图像计算每个拍摄图像的显示参数测试信息，若对应多个拍摄图像中显示参数测试信息包含测试合格的图像比例大于或等于比例阈值(或者图像数量大于或等于数量阈值等)，则确定对应光学设备的显示参数测试信息为设备合格等。还如，计算机设备获取多个拍摄图像，并根据预设规则从多个拍摄图像中(例如全部抽取、随机抽取或者间隔抽取等)抽取一定数量的拍摄图像并基于抽取的多个拍摄图像与参考图像确定对应光学设备的显示参数测试信息。光学设备获取对应测试图像后，可以基于测试用户关于光学设备的用户操作，通过对应显示光学器件呈现测试图像，或者基于计算机设备发送的图像呈现指令，基于图像呈现指令呈现测试图像，又或者基于计算机设备发送的图像呈现指令，基于图像呈现指令包含的测试图像的图像标识信息呈现对应测试图像等。
在一些实施方式中，所述二维标记信息包括以下至少任一项：二维码信息；2D识别图信息。例如，二维标记信息包括二维码信息，二维码信息是用某种特定的几何图形按一定规律在平面(二维方向上)分布的、黑白相间的、记录数据符号信息的图形，例如，aruco码、QR码、Data Matrix码等二维Marker。二维标记信息还可以包括2D识别图信息，所述2D识别图信息包括用于指示特定位置信息、易于识别的二维图案等，例如，含特定几何形状的二维图案，如将一张纯黑图像中含白色实心圆点、矩形等特定形状的图像作为2D识别图，或者其他识别图案，如将拍摄的二维图像作为2D识别图等。本方案中测试图像中的二维标记信息可以是前述二维码信息中的一种或多种，也可以是前述2D识别图信息中一种或多种，或者是前述二维码信息与2D识别图信息的组合等，在此不作限制。在一些情形下，为了更方便、更精确的进行测试，我们采用同一种二维标记信息排列于测试图像中，且每个二维标记信息对应的呈现区域的大小、形状等均相同等。光学设备通过显示装置呈现含二维标记信息的测试图像，计算机设备通过摄像装置拍摄该呈现的测试图像，获取对应的拍摄图像，该拍摄图像中包含二维标记信息对应的测试二维标记信息，该测试二维标记信息是指用于对呈现的测试图像中二维标记信息进行检测并指示光学设备的显示参数是否准确的待测试标记信息。
在一些情形下，为了保证光学设备呈现的测试图像在拍摄过程中能够与参考图像形成较为准确的对照效果，我们通常需要对光学设备与摄像装置的拍摄条件进行限制。在一些实施方式中，所述计算机设备包括对应固定装置，所述固定装置用于安置所述光学设备，所述光学设备显示装置的中心与所述摄像装置的中心对齐。例如，所述计算机设备包括对应固定装置，用于控制对应光学设备的设备位姿，进而控制光学设备相对于所述摄像装置的相对位姿，其中，该固定装置可以是与计算机设备一体的装置，或者与计算机分体设置的固定装置等，例如，用于固定设备的夹具等。在一些情形下，测试用户通过手动操作将光学设备与摄像装置固定在固定设备上。在另一些情形下，计算机设备可以向固定装置发送对应位姿调整指令，用于调整光学设备和/或摄像装置的位姿信息，从而调整该光学设备相对于摄像装置的相对位姿信息等。在一些情形下，对应计算机设备可以获取并呈现对应固定装置中光学设备相对于摄像装置的相对位姿信息，辅助测试用户调整固定装置中的光学设备和/或摄像装置的位姿信息等。为了使测试图像更好地呈现于拍摄图像中，固定装置中通常设置光学设备的显示光学器件的中心与摄像装置的中心对齐，例如，保持光学设备的显示光学器件的中心(例如显示屏幕的屏幕中心点)与摄像装置的中心(例如摄像装置的光轴等)在同一水平线上或者同一垂直线上等。
此外，在对光学设备的显示参数测试过程中，为了获取更加精准、可靠的测试效果，我们还要排除其他场外因素的干扰等。在一些实施方式中，所述光学设备与所述摄像装置处于同一遮罩空间。例如，由于不同时段的自然光不同，不同时段拍摄自然光对拍摄的影响也不同，从而对显示参数测试结果造成一定影响。对应光学设备与摄像装置通过对应遮罩装置(例如，遮光罩等)进行遮挡，排除自然光或者其他光照的影响，该遮罩装置可以是测试用户手动放置的，也可以是与计算机设备进行通信，通过计算机设备的遮罩指令进行遮罩等，或者遮罩装置基于测试用户的用户操作执行遮罩指令，使光学设备和摄像装置处于同一遮罩空间中。
在一些实施方式中，所述测试图像在所述光学设备的显示装置中呈现的像素占比大于或等于第一占比阈值，且小于或等于第二占比阈值。例如，为了保证摄像装置获取的拍摄图像中对应测试图像足够清晰且完整，通常要保证测试图像在显示光学器件的像素占比大于或等于第一占比阈值(例如，测试图像占显示光学器件正常显示面积的50％等)，且小于或等于第二占比阈值(例如，测试图像占显示光学器件正常显示面积的80％等)。在一些实施例中，第二占比阈值可以是100％。优选地，将测试图像固定显示在显示光学器件中心。其中，第一占比阈值显然小于第二占比阈值。
在步骤S102中，获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括一个或多个参考二维标记信息。其中，步骤S101的执行与步骤S102的执行没有必然的顺序关系；为了保证拍摄条件的一致性，对应参考光学设备呈现对应测试图像，并通过摄像装置拍摄关于对应参考光学设备显示的测试图像，获得参考图像，例如，该参考图像的拍摄时间与对应拍摄图像的拍摄时间保持一致，如参考光学设备通过型号相同的其他固定装置确定相同的相对位姿信息，并在拍摄对应拍摄图像的同一时间拍摄获取参考图像。又如，参考光学设备与对应光学设备在同一固定装置上进行拍摄获取参考图像、拍摄图像等，对应参考图像可以是先进行拍摄，或者对应拍摄图像先进行拍摄等，在此不作限定。其中，参考光学设备是指显示参数检测合格的光学设备，该光学设备可以是人工筛选确定的无瑕疵的光学设备等。通过参考光学设备对应的参考图像确定待测试光学设备的显示参数测试是否合格。如在一些实施方式中，在步骤S102中，通过摄像装置拍摄关于对应参考光学设备显示的所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括所述一个或多个参考二维标记信息，所述参考光学设备安置于所述固定装置，所述参考光学设备显示装置的中心与所述摄像装置的中心对齐。例如，通过摄像装置拍摄关于对应参考光学设备显示的所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括所述一个或多个参考二维标记信息，所述参考光学设备安置于所述固定装置，所述参考光学设备显示装置的中心与所述摄像装置的中心对齐。例如，通过同一固定装置，将参考光学设备的显示装置的中心与对应摄像装置的中心对齐，使得参考光学设备与摄像装置的相对位姿和待测试光学设备与摄像装置的相对位姿相同。且进一步地，参考光学设备与摄像装置处于同一遮罩空间中，使得拍摄参考光学设备获得的参考图像与拍摄待测试光学设备获得的拍摄图像的外界环境相同，避免了环境干扰。
在步骤S103中，获取所述拍摄图像中所述一个或多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述一个或多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息。例如，根据拍摄图像及参考图像进行图像比较，基于对应比较结果可以确定光学设备的显示参数测试信息，其中，该显示参数测试信息用于指示该光学设备的显示参数是否合格等，如测试合格或者测试不合格等。例如，显示参数包括位置显示参数等，其中位置显示参数包括显示光学器件中的显示区域在显示光学器件中的位置信息，如显示区域在光学显示器件中的位置是否偏离等。对应图像比较包括图像之间关于标记位置信息的比较，例如，通过识别算法，如二维码识别或者2D识别算法(如SIFT(Scale-Invariant FeatureTransform，尺度不变特征转换)、SURF(Speeded Up Robust Features，加速稳健特征)、HOG(Histogram of Oriented Gradient，方向梯度直方图)、LBP((Local Binary Pattern，局部二值模式)等)等，先获取拍摄图像中一个或多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及一个或多个参考标记信息的参考标记位置信息，再对比测试标记位置信息及参考标记位置信息之间的偏差(例如，距离差值，如欧氏距离等，或者标记之间偏差的方差等)，确定对应偏差是否满足预设偏差阈值，若是，则确定光学设备的显示参数测试信息包括测试合格，若否，则确定光学设备的显示参数测试信息包括测试未合格。再或者，本方案中获取多组测试图像和参考图像，并计算每一组测试图像和参考图像的对比结果，若对比结果中偏差满足预设偏差阈值的组数(或者比例)大于或等于预设组数(或者预设比例等)，则确定对应光学设备的显示参数测试信息包括测试合格，若否，则确定显示参数测试信息包括测试未合格。再如，本方案中获取多组测试图像和参考图像，计算多组测试图像中一个或多个测试二维标记信息的平均测试标记位置信息和多组参考图像中一个或多个参考二维标记信息的平均参考标记位置信息，再对比平均测试标记位置信息及平均参考标记位置信息之间的偏差，确定对应偏差是否满足预设偏差阈值，若是，则确定光学设备的显示参数测试信息包括测试合格，若否，则确定光学设备的显示参数测试信息包括测试未合格。其中，所述测试标记位置信息用于指示一个或多个测试二维标记信息中各个测试二维标记信息在测试图像中的绝对像素坐标(例如，各个测试二维标记信息的像素区域范围、边界位置、顶点位置、角点位置、中心点位置、特征点位置等、多个测试二维标记信息之间的中心点位置等)或者相对位置信息(例如，多个测试二维标记信息之间的相对位置等)；相应地，所述参考标记位置信息用于指示一个或多个参考二维标记信息中各个参考二维标记信息在参考图像中的绝对像素坐标(例如，各个参考二维标记信息的像素区域范围、边界位置、顶点位置、角点位置、中心点位置、特征点位置等、多个参考二维标记信息之间的中心点位置等)或者相对位置信息(例如，多个参考二维标记信息之间的相对位置等)。本领域技术人员应能理解，通过二维码识别或者2D识别算法确定测试标记位置信息、参考标记位置信息的方法仅为举例，在此不进行限定。
在一些实施方式中，所述方法还包括步骤S104(未示出)，在步骤S104中，根据所述拍摄图像识别所述一个或多个测试二维标记信息对应的测试标记数量信息及测试标记内容信息；根据所述参考图像识别所述一个或多个参考二维标记信息对应的参考标记数量信息及参考标记内容信息；若所述测试标记数量信息与所述参考标记数量信息不相同，或所述测试标记内容信息与所述参考标记内容信息不匹配，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格。例如，在将拍摄图像与参考图像进行标记位置信息比对之前，我们还可以通过一些简单的测试对误差较大的拍摄图像进行排查，从而节省计算资源，更快地排查出不合格的光学设备等。对应二维标记信息除了可以标识位置之外，还可以在标记中包含对应标记内容信息，例如，通过二维码识别算法获取对应二维码信息中包含的标记内容信息，或者通过2D识别算法获取对应2D识别图信息中包含的标记内容信息等；在一些情形下，对应标记内容信息包括但不限于该测试图像对应的标识、该二维标记信息的标记标识、标记类型或者标记简介等。在此，我们可以通过识别拍摄图像与参考图像，获取拍摄图像的对应的测试标记数量信息及测试标记内容信息，以及参考图像对应的参考标记数量信息及参考标记内容信息，若所述测试标记数量信息与所述参考标记数量信息不相同，或所述测试标记内容信息与所述参考标记内容信息不匹配，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格。若两者均匹配，则执行后续拍摄图像与参考图像标记位置信息检测过程。
在一些实施方式中，所述方法还包括步骤S105(未示出)，在步骤S105中，根据所述拍摄图像识别所述一个或多个测试二维标记信息对应的测试标记数量信息及测试标记内容信息；若所述测试标记数量信息与预设标记数量信息不相同，或所述测试标记内容信息与预设标记内容信息不匹配，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格。例如，为了节省计算资源，计算机设备可以先获取预设标记数量信息及预设标记内容信息，例如，将测试图像包含的二维标记信息的标记数量及每个二维标记信息包含的标记内容信息确定为预设标记数量信息及预设标记内容信息；或者基于测试用户的导入信息确定预设标记数量信息及预设标记内容信息等。计算机设备获取到拍摄图像后，通过识别拍摄图像中的测试标记数量信息及对应测试标记内容信息，并通过将测试标记数量信息与测试图像的预设标记数量进行比对，同时将测试标记内容信息与测试图像的预设标记内容信息进行比对，若均相同，则执行后续拍摄图像与参考图像标记位置信息的检测过程；若存在一项不同，则确定光学设备不合格，对应显示参数测试信息包括测试不合格。
在一些实施方式中，所述一个或多个二维标记信息包括多个二维标记信息；其中，所述根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息，包括：根据所述测试标记位置信息、所述参考标记位置信息，确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息；若所述像素偏差信息小于或等于像素偏差阈值，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试合格；否则，确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格。例如，通常地，测试二维标记信息的测试标记位置信息包括拍摄图像中测试二维标记信息的中心的像素坐标，参考二维标记信息的参考标记位置信息包括参考图像中参考二维标记信息的中心的像素坐标，其中，二维标记信息的中心可以是多个二维标记信息的中心(一个中心点)，也可以是多个二维标记信息中每个二维标记信息的中心(多个中心点)，通过计算测试二维标记信息的中心的像素坐标与参考二维标记信息的中心的像素坐标的坐标偏差，并比较坐标偏差与预设偏差阈值，若坐标偏差小于或等于预设偏差阈值，则确定该拍摄图像相对于参考图像的测试结果合格，若坐标偏差大于预设偏差阈值，则确定该拍摄图像相对于参考图像的测试结果不合格。又如，测试二维标记信息的测试标记位置信息包括拍摄图像中测试二维标记信息的像素区域范围、角点、顶点、边界点或特征点的像素坐标，参考二维标记信息的参考标记位置信息包括参考图像中参考二维标记信息的像素区域范围、角点、顶点、边界点或特征点的像素坐标，同样地，通过计算测试二维标记信息的像素区域范围、角点、顶点、边界点或特征点的像素坐标与参考二维标记信息的像素区域范围、角点、顶点、边界点或特征点的像素坐标的坐标偏差，并比较坐标偏差与预设偏差阈值，若坐标偏差小于或等于预设偏差阈值，则确定该拍摄图像相对于参考图像的测试结果合格，若坐标偏差大于预设偏差阈值，则确定该拍摄图像相对于参考图像的测试结果不合格。再如，测试二维标记信息的测试标记位置信息包括拍摄图像中测试二维标记信息的相对位置信息，参考二维标记信息的参考标记位置信息包括参考图像中参考二维标记信息的相对位置信息，同样地，通过计算测试二维标记信息的相对位置信息与参考二维标记信息的相对位置信息的像素偏差，并比较像素偏差与预设偏差阈值，若像素偏差小于或等于预设偏差阈值，则确定该拍摄图像相对于参考图像的测试结果合格，若像素偏差大于预设偏差阈值，则确定该拍摄图像相对于参考图像的测试结果不合格。在此，本领域技术人员可以理解，当对应二维标记信息的数量包括多个时，我们可以通过将拍摄图像的测试二维标记信息与参考图像的参考二维标记信息进行分组，并依据单个二维标记信息的方法计算每组二维标记信息的坐标偏差(如子像素偏差信息)，从而根据多组坐标偏差判断测试结果等。如在一些实施方式中，所述根据所述测试标记位置信息、所述参考标记位置信息，确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息，包括：根据所述测试二维标记信息、所述参考二维标记信息，确定多个二维标记组，其中，每个二维标记组包括一个测试二维标记信息及一个参考二维标记信息；确定每个二维标记组中对应测试二维标记信息与参考二维标记信息的子像素偏差信息；基于所述多个二维标记组的子像素偏差信息确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息。例如，根据拍摄图像和参考图像中识别出的二维标记信息的标记内容信息(例如，标记ID等)，将标记内容信息相同的测试二维标记信息与参考二维标记信息确定为一个二维标记组，比较每个二维标记组之间的两个二维标记信息的子像素偏差(例如，比较两者标记位置信息之间的欧式距离等)，从而综合多个二维标记组的子像素偏差确定最终的像素偏差，并基于像素偏差与像素偏差阈值确定显示参数测试结果等。
在一些实施方式中，所述根据所述测试标记位置信息、所述参考标记位置信息，确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息，包括：根据所述测试标记位置信息确定所述多个测试二维标记信息的测试标记中心位置信息；根据所述参考标记位置信息确定所述多个参考二维标记信息的参考标记中心位置信息；根据所述测试标记中心位置信息及所述参考标记中心位置信息确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息。例如，所述测试标记中心位置信息包括拍摄图像中多个测试二维标记信息的中心的像素坐标，参考标记中心位置信息包括参考图像中多个参考二维标记信息的中心的像素坐标。具体地，当对应二维标记信息数量包括多个时，测试标记中心位置信息包括拍摄图像中多个测试二维标记信息之间的中心点像素坐标，参考标记中心位置信息包括参考图像中多个参考二维标记信息之间的中心点像素坐标，比较两个中心点之间的像素偏差(例如距离差值，如欧氏距离等，或者方差等)，确定所述光学设备的显示参数测试信息。又如，所述测试标记中心位置信息包括多个测试二维标记的中心位置的测试相对位置信息，所述参考标记中心位置信息包括多个参考二维标记的中心位置的参考相对位置信息，并基于测试相对位置信息与参考相对位置信息确定相对位置的像素偏差信息。具体地，当对应二维标记信息数量包括多个时，该多个二维标记信息以图像中心呈中心对称分布于测试图像中，相对应地，测试二维标记信息的测试标记位置信息包括拍摄图像中多个测试二维标记信息的中心的相对位置偏差(例如，每个测试二维标记信息的中心与相邻测试二维标记信息的中心之间的距离的平均值、欧氏距离或者方差等)，参考二维标记信息的参考标记位置信息包括参考图像中参考二维标记信息的中心的相对位置偏差(例如，每个参考二维标记信息的中心与相邻参考二维标记信息的中心之间的距离的平均值、欧氏距离或者方差等)；进一步地，通过计算测试二维标记信息的中心的相对位置偏差与参考二维标记信息的中心的相对位置偏差的偏差差值，并比较偏差差值与预设偏差差值阈值，若偏差差值小于或等于预设偏差差值阈值，则确定该拍摄图像相对于参考图像的测试结果合格，若坐标偏差差值大于预设偏差差值阈值，则确定该拍摄图像相对于参考图像的测试结果不合格。
图2示出根据本申请另一个方面的一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法，应用于计算机设备200，其中，所述光学设备包括显示装置，所述显示装置用于呈现对应测试图像，该方法包括步骤S201、步骤S202以及步骤S203。在步骤S201中，通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像，其中，所述测试图像包括排成至少一排的多个二维标记信息，所述拍摄图像包括对应多个测试二维标记信息；在步骤S202中，获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括多个参考二维标记信息；在步骤S203中，获取所述拍摄图像中所述多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息。其中，该图2应用的计算机设备200与前述图1应用的计算机设备100可以是同一计算机设备，也可是不同计算机设备，该计算机设备200与计算机设备100仅用于区分不同方案用于计算不同显示参数，并不做实施主体上的区分等。
其中，步骤S201、步骤S202、步骤S203对应的具体实施方式与前述图1示出的步骤S101、步骤S102、步骤S103的实施例相似，仅在二维标记信息的布局以及最终的显示参数测试信息计算过程中存在差异：
1)前述图1示出的方法用于测试光学设备的显示位置参数，优选地，其测试图像中的二维标记信息尽量均匀分布于测试图像中，例如以图像中心作为对称中心呈中心对称分布于图像中心四周等。图2示出的方法用于测试光学设备的分辨率参数，需要在横向和纵向两个方向上(例如，可以通过多行多列排列的二维标记信息的测试图像，或者通过行排列的二维标记信息的测试图像和列排列的二维标记信息的测试图像等，其中，行排列的测试图像与列排列的测试图像对应摄像位姿可以相同，也可以保持拍摄图像和对应参考图像的相对位姿一致即可等)对光学设备进行测试，并综合测试结果确定对应的分辨率测试结果，其用于测试分辨率的二维标记信息通常以排的形式分布于测试图像中。例如，设计分辨率测试图像时，设计两张测试图像，分别用于测试水平和垂直方向上的分辨率。在水平测试图像的垂直方向的中间区域平铺M行(如5行等)的二维标记信息，二维标记信息之间的距离为二维标记信息的宽度的预设倍数(记为scale倍，如0.5倍等)，每个二维标记信息的大小不影响二维标记信息的检测即可，如每个二维标记信息的大小为20像素等。同理，在垂直测试图像的水平方向的中间区域平铺N列二维标记信息。其中，M、N大于等于1，M与N可以相同，也可以不同，垂直测试图像的每个二维标记信息的大小和水平测试图像的二维标记信息的大小可以相同，也可以不同。
2)前述图1示出的方法在计算显示参数测试信息时通过计算各个二维标记信息的显示位置(例如显示的像素区域范围、边界位置、顶点位置、角点位置、中心点位置、特征点位置等绝对位置，或者二维标记信息之间的相对位置等相对位置信息等)，并通过对应显示位置确定对应显示位置参数的测试结果；图2示出的方法用于测试对应分辨率，通常是对当前排列的多个二维标记信息取较长的一排确定其该一排二维标记信息两端距离，基于对应两端距离确定对应分辨率的测试结果等。
在一些实施方式中，所述方法还包括步骤S204(未示出)，在步骤S204中，获取所述拍摄图像中所述多个测试二维标记信息对应的平均标记大小；根据所述平均标记大小计算所述拍摄图像中的二维标记排列数量，若所述二维标记排列数量不满足预设排列数量阈值，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格。具体地，在将拍摄图像与参考图像进行比对之前，我们还可以通过一些简单的测试对误差较大的拍摄图像进行排查，从而节省计算资源，更快地排查出不合格的光学设备等。例如，计算机设备可以根据拍摄图像识别出拍摄图像中多个测试二维标记信息，并计算测试二维标记信息的平均标记大小，例如，识别出所有测试二维标记信息的大小，并除以识别出的测试二维标记信息的标记数量，从而计算出测试二维标记信息的平均标记大小，其中，所述平均标记大小包括该二维标记信息的长*宽对应的像素长度和像素宽度等，通常二维标记信息的像素长度和像素宽度相等，仅用像素宽度可以标识出平均标记大小，例如，aruco码的宽度记为arucoWidth。计算机设备基于平均标记大小可以计算出当前拍摄图像中测试二维标记信息的排列数，例如，计算机设备同时识别出拍摄图像中所有测试二维标记信息的最小外接矩形rect，若当前拍摄图像对应的测试图像为水平测试图像，则
若当前拍摄图像对应的测试图像为垂直测试图像，则
在此，rect.height表示水平拍摄图像中所有测试二维标记信息的最小外接矩形的像素高度，rect.width表示垂直拍摄图像中所有测试二维标记信息的最小外接矩形的像素宽度。计算机设备确定对应排列数量K1或K2之后，将该K1或K2与预设排列数量M或N进行比较，若K1不等于M或若K2不等于N，则确定光学设备的显示参数测试结果包括测试不合格；若K1等于M或K2等于N，则继续执行后续拍摄图像与参考图像标记位置信息检测过程等。
在此，对于分辨率参数的测试，通常需要从水平方向和垂直方向两个方面考虑分辨率参数是否合格，我们可以在同一测试图像中排布多行多列进行测试，通过对多行多列中行和/或列分别进行检测从而确定水平方向和/或垂直方向的测试结果，从而结合行列测试结果确定光学设备的显示参数测试结果是否合格。在另一些情形下，我们可以设置不同样式的测试图像来分别进行水平方向和垂直方向上的测试，具体排布如前所述。在一些实施方式中，所述测试图像包括水平测试图像和垂直测试图像，所述测试标记位置信息包括水平测试标记位置信息、垂直测试标记位置信息，所述参考标记位置信息包括水平参考标记位置信息、垂直参考标记位置信息；其中，所述根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息，包括：若所述水平测试标记位置信息与所述水平参考标记位置信息之间的位置差值满足水平差值阈值，且所述垂直测试标记位置信息与所述垂直参考标记位置信息之间的位置差值满足垂直差值阈值，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试合格。例如，对应测试图像设置有水平测试图像和垂直测试图像，用于从水平方向和垂直方向两个方面考虑分辨率参数是否合格。通过摄像装置采集获取水平测试图像对应的水平拍摄图像和水平参考图像，以及垂直测试图像对应的垂直拍摄图像和垂直参考图像。
计算机设备可以基于水平拍摄图像和水平参考图像确定对应的水平测试标记位置信息和水平参考标记位置信息，其中，水平测试标记位置信息用于标识水平拍摄图像中一横排测试二维标记信息的水平长度，例如，某一行测试二维标记信息中两端测试二维标记信息的相同位置像素之间的像素距离(例如，欧式距离等)，如某一行测试二维标记信息中两端测试二维标记信息的中心像素之间的像素距离，还如两端测试二维标记信息的最远像素之间的像素距离等，或者，水平测试标记位置信息用于标识水平拍摄图像中所有横排测试二维标记信息的平均水平长度等；同理，水平参考标记位置信息用于标识水平参考图像中一横排参考二维标记信息的水平长度，例如，某一行参考二维标记信息中两端参考二维标记信息的相同位置像素之间的像素距离(例如，欧式距离等)，如某一行参考二维标记信息中两端参考二维标记信息的中心像素之间的像素距离，还如两端参考二维标记信息的最远像素之间的像素距离等，或者，水平参考标记位置信息用于标识水平参考图像中所有横排参考二维标记信息的平均水平长度等。计算机设备可以计算水平测试标记位置信息与水平参考标记位置信息之间的位置差值(例如，距离差值等)，从而比较该位置差值与水平差值阈值，若该位置差值小于或等于水平差值阈值(例如，10个像素)，则可以确定光学设备在水平方向上测试合格；若该位置差值大于水平差值阈值，则可以确定光学设备在水平方向上测试不合格。
相应地，计算机设备可以基于垂直拍摄图像和垂直参考图像确定对应的垂直测试标记位置信息和垂直参考标记位置信息，其中，垂直测试标记位置信息用于标识垂直拍摄图像中一竖排测试二维标记信息的垂直长度，例如，某一列测试二维标记信息中两端测试二维标记信息的相同位置像素之间的像素距离(例如，欧式距离等)，如某一列测试二维标记信息中两端测试二维标记信息的中心像素之间的像素距离，还如两端测试二维标记信息的最远像素之间的像素距离等，或者，垂直测试标记位置信息用于标识垂直拍摄图像中所有竖排测试二维标记信息的平均垂直长度等；同理，垂直参考标记位置信息用于标识垂直参考图像中一竖排参考二维标记信息的垂直长度，例如，某一列参考二维标记信息中两端参考二维标记信息的相同位置像素之间的像素距离(例如，欧式距离等)，如某一列参考二维标记信息中两端参考二维标记信息的中心像素之间的像素距离，还如两端参考二维标记信息的最远像素之间的像素距离等，或者，垂直参考标记位置信息用于标识垂直参考图像中所有竖排参考二维标记信息的平均垂直长度等。计算机设备可以计算垂直测试标记位置信息与垂直参考标记位置信息之间的位置差值(例如，距离差值等)，从而比较该位置差值与垂直差值阈值，若该位置差值小于或等于垂直差值阈值(例如，10个像素)，则可以确定光学设备在垂直方向上测试合格；若该位置差值大于垂直差值阈值，则可以确定光学设备在垂直方向上测试不合格。
综上，仅当光学设备在水平方向和垂直方向上均合格时，才能确定对应显示参数测试结果包括测试合格；换言之，若光学设备在水平方向上不合格，或者垂直方向上不合格时，确定显示参数测试结果包括测试不合格。在一些实施例中，可以先进行一个方向上的测试，当该方向上测试合格后，再进行另一个方向上的测试。
在一些实施方式中，所述获取所述拍摄图像中所述多个测试二维标记信息的测试标记位置信息，包括：根据对应水平拍摄图像确定所述多个测试二维标记信息的至少一排中的水平长度最长的第一排测试二维标记信息，将所述第一排测试二维标记信息的两端距离信息作为对应水平测试标记位置信息；根据对应垂直拍摄图像确定所述多个测试二维标记信息的至少一排中的垂直长度最长的第二排测试二维标记信息，将所述第二排测试二维标记信息的两端距离信息作为对应垂直测试标记位置信息。例如，为了增加测试结果的准确度，我们通常以拍摄图像中最长的一排测试二维标记信息及对应参考图像中最长的一排参考二维标记信息作为计算对象，从而确定对应水平测试标记位置信息、水平参考标记位置信息和垂直测试标记位置信息、垂直参考标记位置信息。在此，我们仅以测试二维标记信息为例，本领域技术人员应能理解，该等实施例同样适用于参考二维标记信息。例如，计算机设备计算水平拍摄图像中每行水平方向被检测到两端的二维标记信息之间的距离，即最左端被检测到的二维标记信息与最右端被检测到的二维标记信息之间的距离，其中，最左端被检测到的二维标记信息与最右端被检测到的二维标记信息之间的距离，可以是两端二维标记信息的相同位置像素之间的像素距离(例如，欧式距离等)，例如，两端二维标记信息的中心像素之间的像素距离，还如，两端二维标记信息的最远像素之间的像素距离等，并选择出距离最大的那一行，记为第一排测试二维标记信息，将该行两端的二维标记信息之间的距离作为水平测试标记位置信息；相应地，计算机设备计算垂直拍摄图像中每列垂直方向被检测到两端的二维标记信息之间的距离，即最上端被检测到的二维标记信息与最下端被检测到的二维标记信息之间的距离，其中，最上端被检测到的二维标记信息与最下端被检测到的二维标记信息之间的距离，可以是两端二维标记信息的相同位置像素之间的像素距离(例如，欧式距离等)，例如，两端二维标记信息的中心像素之间的像素距离，还如，两端二维标记信息的最远像素之间的像素距离等，并选择出距离最大的那一列，记为第二排测试二维标记信息，将该列两端二维标记信息之间的距离作为垂直测试标记位置信息。
在一些实施方式中，所述方法还包括步骤S205(未示出)，在步骤S205中，计算所述第一排测试二维标记信息的水平标记数量，确定所述水平标记数量是否满足预设水平标记数量阈值；计算所述第二排测试二维标记信息的垂直标记数量，确定所述垂直标记数量是否满足预设垂直标记数量阈值；其中，所述将所述第一排测试二维标记信息的两端距离信息作为对应水平测试标记位置信息，包括：若所述水平标记数量满足所述预设水平标记数量阈值，则将所述第一排测试二维标记信息的两端距离信息作为对应水平测试标记位置信息；其中，所述将所述第二排测试维标记信息的两端距离信息作为对应垂直测试标记位置信息，包括：若所述垂直标记数量满足所述预设水平标记数量阈值，则将所述第二排测试维标记信息的两端距离信息作为对应垂直测试标记位置信息。例如，在进行拍摄图像与参考图像的位置比对之前，我们还可以通过简单的测试二维标记信息的数量验证，简单排除不合格的光学设备。例如，我们取水平拍摄图像中水平方向被检测到两端的二维标记信息之间的距离最长的一行(第一排测试二维标记信息)，该距离记为dist，计算该第一排测试二维标记信息对应的测试二维标记数量：
若该K与预设的水平标记数量阈值不相同，则确定光学设备在水平方向上不合格。若该K与预设的水平标记数量阈值相同，则将第一排测试二维标记信息的两端距离信息作为对应水平测试标记位置信息，然后进行水平测试标记位置信息与水平参考标记位置信息之间的位置比对。同理，我们可以对垂直方向上测试二维标记数量进行验证，验证光学设备在垂直方向上是否合格。其中，预设水平标记数量阈值包括光学设备中显示出的水平测试图像中的水平方向上一排的二维标记数量等，如光学设备显示水平测试图像时，水平方向上一排显示出的二维标记数量。同理，预设垂直标记数量阈值包括光学设备中显示出的垂直测试图像中的垂直方向上一排的二维标记数量等。在一些情形下，当水平标记数量满足预设水平标记数量阈值或垂直标记数量满足预设垂直标记数量阈值时，进行后续水平测试标记位置信息与水平参考标记位置信息之间的位置比对或垂直测试标记位置信息与垂直参考标记位置信息之间的位置比对。在另一些实施例中，当水平标记数量满足预设水平标记数量阈值且垂直标记数量满足预设垂直标记数量阈值时，进行后续水平测试标记位置信息与水平参考标记位置信息之间的位置比对和/或垂直测试标记位置信息与垂直参考标记位置信息之间的位置比对等，在此不进行限定。
在一些实施方式中，所述第一排测试二维标记信息的水平标记数量与所述水平标记参考位置信息对应的行参考标记数量相同，所述第二排测试二维标记信息的垂直标记数量与所述垂直标记参考位置信息对应的列参考标记数量相同。例如，我们在进行水平测试标记位置信息与水平参考标记位置信息，垂直测试标记位置信息与垂直参考标记位置信息的比对之前，还可以通过对比水平测试标记位置信息对应的水平标记数量(第一排测试二维标记信息对应的二维标记数量)与水平参考标记位置信息对应的行参考标记数量(水平参考图像中水平方向被检测到两端的二维标记信息之间的距离最长的一行对应的二维标记数量)，以及对比垂直测试标记位置信息对应的垂直标记数量(第二排测试二维标记信息对应的二维标记数量)与垂直参考标记位置信息对应的列参考标记数量(垂直参考图像中垂直方向被检测到两端的二维标记信息之间的距离最长的一列对应的二维标记数量)，简单计算是否需要后续位置计算和对比，若对应水平标记数量与行参考标记数量不相同，或者对应垂直标记数量与列参考标记数量不相同，则直接确定对应显示参数测试结果信息包括测试不合格，无需进行后续位置计算和对比。在一些实施例中，当对应水平标记数量与行参考标记数量相同，或者对应垂直标记数量与列参考标记数量相同，则进行后续水平测试标记位置信息与水平参考标记位置信息或垂直测试标记位置信息与垂直参考标记位置信息的比对。在另一些实施例中，当对应水平标记数量与行参考标记数量相同，且对应垂直标记数量与列参考标记数量相同，则进行后续水平测试标记位置信息与水平参考标记位置信息和/或垂直测试标记位置信息与垂直参考标记位置信息的比对，在此不进行限定。
上述主要对本申请一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法的各实施例进行介绍，此外，本申请还提供了能实施上述各实施例的具体设备，下面我们结合图3、图4进行介绍。
图3示出了根据本申请一个方面的一种获取光学设备的显示参数测试信息的计算机设备100，其中，所述光学设备包括显示装置，所述显示装置用于呈现对应测试图像，该计算机设备100包括一一模块101、一二模块102以及一三模块103。一一模块101，用于通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像，其中，所述测试图像包括一个或多个二维标记信息，所述拍摄图像包括对应一个或多个测试二维标记信息；一二模块102，用于获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括一个或多个参考二维标记信息；一三模块103，用于获取所述拍摄图像中所述一个或多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述一个或多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息。
在一些实施方式中，所述二维标记信息包括但不限于：二维码信息；2D识别图信息。
在一些实施方式中，所述计算机设备包括对应固定装置，所述固定装置用于安置所述光学设备，所述光学设备显示装置的中心与所述摄像装置的中心对齐。
在一些实施方式中，所述光学设备与所述摄像装置处于同一遮罩空间。在一些实施方式中，所述测试图像在所述光学设备的显示装置中呈现的像素占比大于或等于第一占比阈值，且小于或等于第二占比阈值。
在一些实施方式中，一二模块102，用于通过摄像装置拍摄关于对应参考光学设备显示的所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括所述一个或多个参考二维标记信息，所述参考光学设备安置于所述固定装置，所述参考光学设备显示装置的中心与所述摄像装置的中心对齐。
在此，所述图3示出的一一模块101、一二模块102以及一三模块103对应的具体实施方式与前述图1示出的步骤S101、步骤S102以及步骤S103的实施例相同或相似，因而不再赘述，以引用的方式包含于此。
在一些实施方式中，所述计算机设备100还包括一四模块(未示出)，用于根据所述拍摄图像识别所述一个或多个测试二维标记信息对应的测试标记数量信息及测试标记内容信息；根据所述参考图像识别所述一个或多个参考二维标记信息对应的参考标记数量信息及参考标记内容信息；若所述测试标记数量信息与所述参考标记数量信息不相同，或所述测试标记内容信息与所述参考标记内容信息不匹配，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格。
在一些实施方式中，所述计算机设备100还包括一五模块(未示出)，用于根据所述拍摄图像识别所述一个或多个测试二维标记信息对应的测试标记数量信息及测试标记内容信息；若所述测试标记数量信息与预设标记数量信息不相同，或所述测试标记内容信息与预设标记内容信息不匹配，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格。
在一些实施方式中，所述一个或多个二维标记信息包括多个二维标记信息；其中，所述根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息，包括：根据所述测试标记位置信息、所述参考标记位置信息，确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息；若所述像素偏差信息小于或等于像素偏差阈值，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试合格；否则，确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格。在一些实施方式中，所述根据所述测试二维标记信息、所述参考二维标记信息，确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息，包括：根据所述测试标记位置信息、所述参考标记位置信息，确定多个二维标记组，其中，每个二维标记组包括一个测试二维标记信息及一个参考二维标记信息；确定每个二维标记组中对应测试二维标记信息与参考二维标记信息的子像素偏差信息；基于所述多个二维标记组的子像素偏差信息确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息。
在一些实施方式中，所述根据所述测试标记位置信息、所述参考标记位置信息，确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息，包括：根据所述测试标记位置信息确定所述多个测试二维标记信息的测试标记中心位置信息；根据所述参考标记位置信息确定所述多个参考二维标记信息的参考标记中心位置信息；根据所述测试标记中心位置信息及所述参考标记中心位置信息确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息。
在此，所述一四模块、一五模块对应的具体实施方式与前述示出的步骤S104、步骤S105的实施例相同或相似，因而不再赘述，以引用的方式包含于此。
图4示出根据本申请另一个方面的一种获取光学设备的显示参数测试信息的计算机设备200，其中，所述光学设备包括显示装置，所述显示装置用于呈现对应测试图像，该计算机设备200包括二一模块201、二二模块202以及二三模块203。二一模块201，用于通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像，其中，所述测试图像包括排成至少一排的多个二维标记信息，所述拍摄图像包括对应多个测试二维标记信息；二二模块202，用于获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括多个参考二维标记信息；二三模块203，用于获取所述拍摄图像中所述多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息。
在此，所述图4示出的二一模块201、二二模块202以及二三模块203对应的具体实施方式与前述图2示出的步骤S201、步骤S202以及步骤S203的实施例相同或相似，因而不再赘述，以应用的方式包含于此。
在一些实施方式中，所述计算机设备200还包括二四模块(未示出)，用于获取所述拍摄图像中所述多个测试二维标记信息对应的平均标记大小；根据所述平均标记大小计算所述拍摄图像中的二维标记排列数量，若所述二维标记排列数量不满足预设排列数量阈值，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格。
在一些实施方式中，所述测试图像包括水平测试图像和垂直测试图像，所述测试标记位置信息包括水平测试标记位置信息、垂直测试标记位置信息，所述参考标记位置信息包括水平参考标记位置信息、垂直参考标记位置信息；其中，所述根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息，包括：若所述水平测试标记位置信息与所述水平参考标记位置信息之间的位置差值满足水平差值阈值，且所述垂直测试标记位置信息与所述垂直参考标记位置信息之间的位置差值满足垂直差值阈值，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试合格。
在一些实施方式中，所述获取所述拍摄图像中所述多个测试二维标记信息的测试标记位置信息，包括：根据对应水平拍摄图像确定所述多个测试二维标记信息的至少一排中的水平长度最长的第一排测试二维标记信息，将所述第一排测试二维标记信息的两端距离信息作为对应水平测试标记位置信息；根据对应垂直拍摄图像确定所述多个测试二维标记信息的至少一排中的垂直长度最长的第二排测试二维标记信息，将所述第二排测试维标记信息的两端距离信息作为对应垂直测试标记位置信息。
在一些实施方式中，所述计算机设备200还包括二五模块(未示出)，用于计算所述第一排测试二维标记信息的水平标记数量，确定所述水平标记数量是否满足预设水平标记数量阈值；计算所述第二排测试二维标记信息的垂直标记数量，确定所述垂直标记数量是否满足预设垂直标记数量阈值；其中，所述将所述第一排测试二维标记信息的两端距离信息作为对应水平测试标记位置信息，包括：若所述水平标记数量满足所述预设水平标记数量阈值，则将所述第一排测试二维标记信息的两端距离信息作为对应水平测试标记位置信息；其中，所述将所述第二排测试维标记信息的两端距离信息作为对应垂直测试标记位置信息，包括：若所述垂直标记数量满足所述预设水平标记数量阈值，则将所述第二排测试维标记信息的两端距离信息作为对应垂直测试标记位置信息。
在一些实施方式中，所述第一排测试二维标记信息的水平标记数量与所述水平标记参考位置信息对应的行参考标记数量相同，所述第二排测试二维标记信息的垂直标记数量与所述垂直标记参考位置信息对应的列参考标记数量相同。
在此，所述二四模块、二五模块对应的具体实施方式与前述步骤S204、步骤S205的实施例相同或相似，因而不再赘述，以引用的方式包含于此。
除上述各实施例介绍的方法和设备外，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机代码，当所述计算机代码被执行时，如前任一项所述的方法被执行。
本申请还提供了一种计算机程序产品，当所述计算机程序产品被计算机设备执行时，如前任一项所述的方法被执行。
本申请还提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括：
一个或多个处理器；
存储器，用于存储一个或多个计算机程序；
当所述一个或多个计算机程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现如前任一项所述的方法。
图5示出了可被用于实施本申请中所述的各个实施例的示例性系统；
如图5所示在一些实施例中，系统300能够作为各所述实施例中的任意一个上述设备。在一些实施例中，系统300可包括具有指令的一个或多个计算机可读介质(例如，系统存储器或NVM/存储设备320)以及与该一个或多个计算机可读介质耦合并被配置为执行指令以实现模块从而执行本申请中所述的动作的一个或多个处理器(例如，(一个或多个)处理器305)。
对于一个实施例，系统控制模块310可包括任意适当的接口控制器，以向(一个或多个)处理器305中的至少一个和/或与系统控制模块310通信的任意适当的设备或组件提供任意适当的接口。
系统控制模块310可包括存储器控制器模块330，以向系统存储器315提供接口。存储器控制器模块330可以是硬件模块、软件模块和/或固件模块。
系统存储器315可被用于例如为系统300加载和存储数据和/或指令。对于一个实施例，系统存储器315可包括任意适当的易失性存储器，例如，适当的DRAM。在一些实施例中，系统存储器315可包括双倍数据速率类型四同步动态随机存取存储器(DDR4SDRAM)。
对于一个实施例，系统控制模块310可包括一个或多个输入/输出(I/O)控制器，以向NVM/存储设备320及(一个或多个)通信接口325提供接口。
例如，NVM/存储设备320可被用于存储数据和/或指令。NVM/存储设备320可包括任意适当的非易失性存储器(例如，闪存)和/或可包括任意适当的(一个或多个)非易失性存储设备(例如，一个或多个硬盘驱动器(HDD)、一个或多个光盘(CD)驱动器和/或一个或多个数字通用光盘(DVD)驱动器)。
NVM/存储设备320可包括在物理上作为系统300被安装在其上的设备的一部分的存储资源，或者其可被该设备访问而不必作为该设备的一部分。例如，NVM/存储设备320可通过网络经由(一个或多个)通信接口325进行访问。
(一个或多个)通信接口325可为系统300提供接口以通过一个或多个网络和/或与任意其他适当的设备通信。系统300可根据一个或多个无线网络标准和/或协议中的任意标准和/或协议来与无线网络的一个或多个组件进行无线通信。
对于一个实施例，(一个或多个)处理器305中的至少一个可与系统控制模块310的一个或多个控制器(例如，存储器控制器模块330)的逻辑封装在一起。对于一个实施例，(一个或多个)处理器305中的至少一个可与系统控制模块310的一个或多个控制器的逻辑封装在一起以形成系统级封装(SiP)。对于一个实施例，(一个或多个)处理器305中的至少一个可与系统控制模块310的一个或多个控制器的逻辑集成在同一模具上。对于一个实施例，(一个或多个)处理器305中的至少一个可与系统控制模块310的一个或多个控制器的逻辑集成在同一模具上以形成片上系统(SoC)。
在各个实施例中，系统300可以但不限于是：服务器、工作站、台式计算机设备或移动计算机设备(例如，膝上型计算机设备、手持计算机设备、平板电脑、上网本等)。在各个实施例中，系统300可具有更多或更少的组件和/或不同的架构。例如，在一些实施例中，系统300包括一个或多个摄像机、键盘、液晶显示器(LCD)屏幕(包括触屏显示器)、非易失性存储器端口、多个天线、图形芯片、专用集成电路(ASIC)和扬声器。
需要注意的是，本申请可在软件和/或软件与硬件的组合体中被实施，例如，可采用专用集成电路(ASIC)、通用目的计算机或任何其他类似硬件设备来实现。在一个实施例中，本申请的软件程序可以通过处理器执行以实现上文所述步骤或功能。同样地，本申请的软件程序(包括相关的数据结构)可以被存储到计算机可读记录介质中，例如，RAM存储器，磁或光驱动器或软磁盘及类似设备。另外，本申请的一些步骤或功能可采用硬件来实现，例如，作为与处理器配合从而执行各个步骤或功能的电路。
另外，本申请的一部分可被应用为计算机程序产品，例如计算机程序指令，当其被计算机执行时，通过该计算机的操作，可以调用或提供根据本申请的方法和/或技术方案。本领域技术人员应能理解，计算机程序指令在计算机可读介质中的存在形式包括但不限于源文件、可执行文件、安装包文件等，相应地，计算机程序指令被计算机执行的方式包括但不限于：该计算机直接执行该指令，或者该计算机编译该指令后再执行对应的编译后程序，或者该计算机读取并执行该指令，或者该计算机读取并安装该指令后再执行对应的安装后程序。在此，计算机可读介质可以是可供计算机访问的任意可用的计算机可读存储介质或通信介质。
通信介质包括藉此包含例如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据的通信信号被从一个系统传送到另一系统的介质。通信介质可包括有导的传输介质(诸如电缆和线(例如，光纤、同轴等))和能传播能量波的无线(未有导的传输)介质，诸如声音、电磁、RF、微波和红外。计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据可被体现为例如无线介质(诸如载波或诸如被体现为扩展频谱技术的一部分的类似机制)中的已调制数据信号。术语“已调制数据信号”指的是其一个或多个特征以在信号中编码信息的方式被更改或设定的信号。调制可以是模拟的、数字的或混合调制技术。
作为示例而非限制，计算机可读存储介质可包括以用于存储诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其它数据的信息的任何方法或技术实现的易失性和非易失性、可移动和不可移动的介质。例如，计算机可读存储介质包括，但不限于，易失性存储器，诸如随机存储器(RAM,DRAM,SRAM)；以及非易失性存储器，诸如闪存、各种只读存储器(ROM,PROM,EPROM,EEPROM)、磁性和铁磁/铁电存储器(MRAM,FeRAM)；以及磁性和光学存储设备(硬盘、磁带、CD、DVD)；或其它现在已知的介质或今后开发的能够存储供计算机系统使用的计算机可读信息/数据。
在此，根据本申请的一个实施例包括一个装置，该装置包括用于存储计算机程序指令的存储器和用于执行程序指令的处理器，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发该装置运行基于前述根据本申请的多个实施例的方法和/或技术方案。
对于本领域技术人员而言，显然本申请不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本申请的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本申请。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本申请的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化涵括在本申请内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此外，显然“包括”一词不排除其他单元或步骤，单数不排除复数。装置权利要求中陈述的多个单元或装置也可以由一个单元或装置通过软件或者硬件来实现。第一，第二等词语用来表示名称，而并不表示任何特定的顺序。
Claims (15)
1.一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法，应用于计算机设备，其中，所述光学设备包括显示装置，所述显示装置用于呈现对应测试图像，该方法包括：
通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像，其中，所述测试图像包括一个或多个二维标记信息，所述拍摄图像包括对应一个或多个测试二维标记信息；
获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括一个或多个参考二维标记信息，所述拍摄图像与所述参考图像被拍摄时的拍摄条件相同；
获取所述拍摄图像中所述一个或多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述一个或多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息，其中，所述测试标记位置信息用于指示所述一个或多个测试二维标记中各个测试二维标记信息在所述测试图像中的绝对像素坐标或者相对位置信息，所述参考标记位置信息用于指示所述一个或多个参考二维标记信息中各个参考二维标记信息在所述参考图像中的绝对像素坐标或者相对位置信息；
其中，所述计算机设备包括对应固定装置，所述固定装置用于安置所述光学设备，所述光学设备显示装置的中心与所述摄像装置的中心对齐；所述获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括一个或多个参考二维标记信息，包括：
通过摄像装置拍摄关于对应参考光学设备显示的所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括所述一个或多个参考二维标记信息，所述参考光学设备安置于所述固定装置，所述参考光学设备显示装置的中心与所述摄像装置的中心对齐，所述参考光学设备是指显示参数检测合格的光学设备；
其中，所述一个或多个二维标记信息包括多个二维标记信息；其中，所述根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息，包括：
根据所述测试标记位置信息、所述参考标记位置信息，确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息；若所述像素偏差信息小于或等于像素偏差阈值，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试合格；否则，确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格；
其中，所述拍摄条件相同包括以下至少一项：
所述参考图像的拍摄时间与所述拍摄图像的拍摄时间相同；
所述参考图像对应参考光学设备与所述拍摄图像对应的光学设备通过同一固定装置进行拍摄；
所述参考光学设备与所述摄像装置处于同一遮罩空间，所述光学设备与所述摄像装置处于同一遮罩空间。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述二维标记信息包括以下至少任一项：
二维码信息；
2D识别图信息。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：
根据所述拍摄图像识别所述一个或多个测试二维标记信息对应的测试标记数量信息及测试标记内容信息；
根据所述参考图像识别所述一个或多个参考二维标记信息对应的参考标记数量信息及参考标记内容信息；
若所述测试标记数量信息与所述参考标记数量信息不相同，或所述测试标记内容信息与所述参考标记内容信息不匹配，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：
根据所述拍摄图像识别所述一个或多个测试二维标记信息对应的测试标记数量信息及测试标记内容信息；
若所述测试标记数量信息与预设标记数量信息不相同，或所述测试标记内容信息与预设标记内容信息不匹配，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述测试标记位置信息、所述参考标记位置信息，确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息，包括：
根据所述测试二维标记信息、所述参考二维标记信息，确定多个二维标记组，其中，每个二维标记组包括一个测试二维标记信息及一个参考二维标记信息；
确定每个二维标记组中对应测试二维标记信息与参考二维标记信息的子像素偏差信息；
基于所述多个二维标记组的子像素偏差信息确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息。
6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述测试标记位置信息、所述参考标记位置信息，确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息，包括：
根据所述测试标记位置信息确定所述多个测试二维标记信息的测试标记中心位置信息；
根据所述参考标记位置信息确定所述多个参考二维标记信息的参考标记中心位置信息；
根据所述测试标记中心位置信息及所述参考标记中心位置信息确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息。
7.一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法，应用于计算机设备，其中，所述光学设备包括显示装置，所述显示装置用于呈现对应测试图像，该方法包括：
通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像，其中，所述测试图像包括排成至少一排的多个二维标记信息，所述拍摄图像包括对应多个测试二维标记信息；
获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括多个参考二维标记信息，所述拍摄图像与所述参考图像被拍摄时的拍摄条件相同；
获取所述拍摄图像中所述多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息，其中，所述测试标记位置信息用于指示所述多个测试二维标记中各个测试二维标记信息在所述测试图像中的绝对像素坐标或者相对位置信息，所述参考标记位置信息用于指示所述多个参考二维标记信息中各个参考二维标记信息在所述参考图像中的绝对像素坐标或者相对位置信息；
其中，所述计算机设备包括对应固定装置，所述固定装置用于安置所述光学设备，所述光学设备显示装置的中心与所述摄像装置的中心对齐；所述获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括多个参考二维标记信息，包括：
通过摄像装置拍摄关于对应参考光学设备显示的所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括所述多个参考二维标记信息，所述参考光学设备安置于所述固定装置，所述参考光学设备显示装置的中心与所述摄像装置的中心对齐，所述参考光学设备是指显示参数检测合格的光学设备；
其中，所述测试图像包括水平测试图像和垂直测试图像，所述测试标记位置信息包括水平测试标记位置信息、垂直测试标记位置信息，所述参考标记位置信息包括水平参考标记位置信息、垂直参考标记位置信息；其中，所述根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息，包括：
若所述水平测试标记位置信息与所述水平参考标记位置信息之间的位置差值满足水平差值阈值，且所述垂直测试标记位置信息与所述垂直参考标记位置信息之间的位置差值满足垂直差值阈值，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试合格；
其中，所述拍摄条件相同包括以下至少一项：
所述参考图像的拍摄时间与所述拍摄图像的拍摄时间相同；
所述参考图像对应参考光学设备与所述拍摄图像对应的光学设备通过同一固定装置进行拍摄；
所述参考光学设备与所述摄像装置处于同一遮罩空间，所述光学设备与所述摄像装置处于同一遮罩空间。
8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述方法还包括：
获取所述拍摄图像中所述多个测试二维标记信息对应的平均标记大小；
根据所述平均标记大小计算所述拍摄图像中的二维标记排列数量，若所述二维标记排列数量不满足预设排列数量阈值，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格。
9.根据权利要求7所述的方法，其中，所述获取所述拍摄图像中所述多个测试二维标记信息的测试标记位置信息，包括：
根据对应水平拍摄图像确定所述多个测试二维标记信息的至少一排中的水平长度最长的第一排测试二维标记信息，将所述第一排测试二维标记信息的两端距离信息作为对应水平测试标记位置信息；
根据对应垂直拍摄图像确定所述多个测试二维标记信息的至少一排中的垂直长度最长的第二排测试二维标记信息，将所述第二排测试维标记信息的两端距离信息作为对应垂直测试标记位置信息。
10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述方法还包括：
计算所述第一排测试二维标记信息的水平标记数量，确定所述水平标记数量是否满足预设水平标记数量阈值；
计算所述第二排测试二维标记信息的垂直标记数量，确定所述垂直标记数量是否满足预设垂直标记数量阈值；
其中，所述将所述第一排测试二维标记信息的两端距离信息作为对应水平测试标记位置信息，包括：
若所述水平标记数量满足所述预设水平标记数量阈值，则将所述第一排测试二维标记信息的两端距离信息作为对应水平测试标记位置信息；
其中，所述将所述第二排测试二维标记信息的两端距离信息作为对应垂直测试标记位置信息，包括：
若所述垂直标记数量满足所述预设垂直标记数量阈值，则将所述第二排测试二维标记信息的两端距离信息作为对应垂直测试标记位置信息。
11.根据权利要求9或10所述的方法，其中，所述第一排测试二维标记信息的水平标记数量与所述水平标记参考位置信息对应的行参考标记数量相同，所述第二排测试二维标记信息的垂直标记数量与所述垂直标记参考位置信息对应的列参考标记数量相同。
12.一种获取光学设备的显示参数测试信息的计算机设备，其中，所述光学设备包括显示装置，所述显示装置用于呈现对应测试图像，该计算机设备包括：
一一模块，用于通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像，其中，所述测试图像包括一个或多个二维标记信息，所述拍摄图像包括对应一个或多个测试二维标记信息；
一二模块，用于获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括一个或多个参考二维标记信息，所述拍摄图像与所述参考图像被拍摄时的拍摄条件相同；
一三模块，用于获取所述拍摄图像中所述一个或多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述一个或多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息，其中，所述测试标记位置信息用于指示所述一个或多个测试二维标记中各个测试二维标记信息在所述测试图像中的绝对像素坐标或者相对位置信息，所述参考标记位置信息用于指示所述一个或多个参考二维标记信息中各个参考二维标记信息在所述参考图像中的绝对像素坐标或者相对位置信息；
其中，所述计算机设备包括对应固定装置，所述固定装置用于安置所述光学设备，所述光学设备显示装置的中心与所述摄像装置的中心对齐；所述获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括一个或多个参考二维标记信息，包括：
通过摄像装置拍摄关于对应参考光学设备显示的所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括所述一个或多个参考二维标记信息，所述参考光学设备安置于所述固定装置，所述参考光学设备显示装置的中心与所述摄像装置的中心对齐，所述参考光学设备是指显示参数检测合格的光学设备；
其中，所述一个或多个二维标记信息包括多个二维标记信息；其中，所述根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息，包括：
根据所述测试标记位置信息、所述参考标记位置信息，确定所述多个测试二维标记信息与所述多个参考二维标记信息的像素偏差信息；若所述像素偏差信息小于或等于像素偏差阈值，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试合格；否则，确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试不合格；
其中，所述拍摄条件相同包括以下至少一项：
所述参考图像的拍摄时间与所述拍摄图像的拍摄时间相同；
所述参考图像对应参考光学设备与所述拍摄图像对应的光学设备通过同一固定装置进行拍摄；
所述参考光学设备与所述摄像装置处于同一遮罩空间，所述光学设备与所述摄像装置处于同一遮罩空间。
13.一种获取光学设备的显示参数测试信息的计算机设备，其中，所述光学设备包括显示装置，所述显示装置用于呈现对应测试图像，该计算机设备包括：
二一模块，用于通过摄像装置拍摄关于所述光学设备显示的所述测试图像对应的拍摄图像，其中，所述测试图像包括排成至少一排的多个二维标记信息，所述拍摄图像包括对应多个测试二维标记信息；
二二模块，用于获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括多个参考二维标记信息，所述拍摄图像与所述参考图像被拍摄时的拍摄条件相同；
二三模块，用于获取所述拍摄图像中所述多个测试二维标记信息的测试标记位置信息及所述参考图像中所述多个参考二维标记信息的参考标记位置信息，根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息，其中，所述测试标记位置信息用于指示所述多个测试二维标记中各个测试二维标记信息在所述测试图像中的绝对像素坐标或者相对位置信息，所述参考标记位置信息用于指示所述多个参考二维标记信息中各个参考二维标记信息在所述参考图像中的绝对像素坐标或者相对位置信息；
其中，所述计算机设备包括对应固定装置，所述固定装置用于安置所述光学设备，所述光学设备显示装置的中心与所述摄像装置的中心对齐；所述获取关于所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括多个参考二维标记信息，包括：
通过摄像装置拍摄关于对应参考光学设备显示的所述测试图像对应的参考图像，其中，所述参考图像包括所述多个参考二维标记信息，所述参考光学设备安置于所述固定装置，所述参考光学设备显示装置的中心与所述摄像装置的中心对齐，所述参考光学设备是指显示参数检测合格的光学设备，所述参考光学设备与所述摄像装置处于同一遮罩空间；
其中，所述测试图像包括水平测试图像和垂直测试图像，所述测试标记位置信息包括水平测试标记位置信息、垂直测试标记位置信息，所述参考标记位置信息包括水平参考标记位置信息、垂直参考标记位置信息；其中，所述根据所述测试标记位置信息及所述参考标记位置信息确定所述光学设备的显示参数测试信息，包括：
若所述水平测试标记位置信息与所述水平参考标记位置信息之间的位置差值满足水平差值阈值，且所述垂直测试标记位置信息与所述垂直参考标记位置信息之间的位置差值满足垂直差值阈值，则确定所述光学设备的显示参数测试信息包括测试合格；
其中，所述拍摄条件相同包括以下至少一项：
所述参考图像的拍摄时间与所述拍摄图像的拍摄时间相同；
所述参考图像对应参考光学设备与所述拍摄图像对应的光学设备通过同一固定装置进行拍摄；
所述参考光学设备与所述摄像装置处于同一遮罩空间，所述光学设备与所述摄像装置处于同一遮罩空间。
14.一种计算机设备，其中，该设备包括：
处理器；以及
被安排成存储计算机可执行指令的存储器，所述可执行指令在被执行时使所述处理器执行如权利要求1至11中任一项所述方法的步骤。
15.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序/指令，其特征在于，该计算机程序/指令在被执行时使得系统进行执行如权利要求1至11中任一项所述方法的步骤。
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