JPH1063229A - 液晶ディスプレイの画質検査装置及びその検査方法 - Google Patents
液晶ディスプレイの画質検査装置及びその検査方法Info
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- JPH1063229A JPH1063229A JP21385696A JP21385696A JPH1063229A JP H1063229 A JPH1063229 A JP H1063229A JP 21385696 A JP21385696 A JP 21385696A JP 21385696 A JP21385696 A JP 21385696A JP H1063229 A JPH1063229 A JP H1063229A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 液晶ディスプレイの画素と撮像装置の撮像素
子が１対１程度の比率のもとでも、撮像した画素を処理
することにより液晶ディスプレイに付着した異物を画素
欠陥の区別を高速に行う液晶ディスプレイの画質検査装
置及びその検査方法を提供する。 【解決手段】 液晶ディスプレイ１と、液晶ディスプレ
イ１に表示させる表示制御装置２と、液晶ディスプレイ
１の上方にあって表示画面を撮像する撮像装置３と、撮
像装置３からの画像信号を処理して画質異常の位置を検
出する画像処理装置４と、これら装置を制御するコンピ
ュータ５から構成される。表示状態での検査結果と非表
示状態での検査結果を読み出して比較し、その差を求め
ることによって異物による画質異常を取り除いて、黒点
欠陥７を求める。
子が１対１程度の比率のもとでも、撮像した画素を処理
することにより液晶ディスプレイに付着した異物を画素
欠陥の区別を高速に行う液晶ディスプレイの画質検査装
置及びその検査方法を提供する。 【解決手段】 液晶ディスプレイ１と、液晶ディスプレ
イ１に表示させる表示制御装置２と、液晶ディスプレイ
１の上方にあって表示画面を撮像する撮像装置３と、撮
像装置３からの画像信号を処理して画質異常の位置を検
出する画像処理装置４と、これら装置を制御するコンピ
ュータ５から構成される。表示状態での検査結果と非表
示状態での検査結果を読み出して比較し、その差を求め
ることによって異物による画質異常を取り除いて、黒点
欠陥７を求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶ディスプレイ
の画質検査を自動的に行う液晶ディスプレイの画質検査
装置及びその検査方法に関する。
の画質検査を自動的に行う液晶ディスプレイの画質検査
装置及びその検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】液晶ディスプレイの製造方法において、
画質検査を実施する場合、従来は作業者が様々な表示画
素に切り換えながら、目視により検査を行っていた。し
かし、目視による検査では、作業者によって合否判定に
ばらつきを生じていた。また、同一作業者であっても、
体調により、検査精度が左右することが多かった。この
問題を解消するために、近年、撮像装置を用いて、液晶
ディスプレイに表示させた画面を画像処理することによ
り、画質検査を定量的に行う検査装置の開発が行われて
いる。このような検査装置では、撮像装置の解像度や画
像処理に要する速度から考慮し、液晶ディスプレイの画
素と撮像装置の撮像素子の比は、１〜３倍程度で検査を
実施することが多い。
画質検査を実施する場合、従来は作業者が様々な表示画
素に切り換えながら、目視により検査を行っていた。し
かし、目視による検査では、作業者によって合否判定に
ばらつきを生じていた。また、同一作業者であっても、
体調により、検査精度が左右することが多かった。この
問題を解消するために、近年、撮像装置を用いて、液晶
ディスプレイに表示させた画面を画像処理することによ
り、画質検査を定量的に行う検査装置の開発が行われて
いる。このような検査装置では、撮像装置の解像度や画
像処理に要する速度から考慮し、液晶ディスプレイの画
素と撮像装置の撮像素子の比は、１〜３倍程度で検査を
実施することが多い。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、液晶ディスプ
レイの画素と撮像装置の撮像素子の比率が１対１程度の
状態で液晶ディスプレイの画素欠陥検査を行う際、液晶
ディスプレイ表面または内部に画素程度の大きさの異物
が付着していると、これらの区別がつかない。画素欠陥
と異物を形状の違いから判別しようとした場合、液晶デ
ィスプレイの画素に対して、数十倍の撮像素子を対応さ
せなければならない。しかし、撮像装置の解像度を高く
すれば、それだけ画像処理が多くなるため、検査処理時
間が増加するという問題点があった。
レイの画素と撮像装置の撮像素子の比率が１対１程度の
状態で液晶ディスプレイの画素欠陥検査を行う際、液晶
ディスプレイ表面または内部に画素程度の大きさの異物
が付着していると、これらの区別がつかない。画素欠陥
と異物を形状の違いから判別しようとした場合、液晶デ
ィスプレイの画素に対して、数十倍の撮像素子を対応さ
せなければならない。しかし、撮像装置の解像度を高く
すれば、それだけ画像処理が多くなるため、検査処理時
間が増加するという問題点があった。
【０００４】本発明は、液晶ディスプレイの画素と撮像
装置の撮像素子が１対１程度の比率のもとでも、撮像し
た画素を処理することにより、液晶ディスプレイに付着
した異物と画素欠陥の区別を高速に行う液晶ディスプレ
イの画質検査装置及びその検査方法を提供することを目
的とする。
装置の撮像素子が１対１程度の比率のもとでも、撮像し
た画素を処理することにより、液晶ディスプレイに付着
した異物と画素欠陥の区別を高速に行う液晶ディスプレ
イの画質検査装置及びその検査方法を提供することを目
的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、液晶
ディスプレイを表示させる表示制御装置と、前記表示画
面を撮像する撮像装置と、前記撮像装置の画像信号を処
理して画質異常の位置を検出する画像処理装置と、画質
検査の制御を行う制御装置とを備え、前記制御装置は、
前記表示制御装置に前記液晶ディスプレイを全面白色表
示させるか又は全面非表示とするかの指示を交互に出す
指示切換手段と、前記画像処理装置の検出結果から前記
液晶ディスプレイを全面白色表示とした場合の画質異常
と全面非表示とした場合の画質異常の位置データを比較
し、液晶ディスプレイに付着した異物と液晶ディスプレ
イの画素欠陥を識別する画質異常識別手段と、を有する
ことを特徴とする液晶ディスプレイの画質検査装置であ
る。
ディスプレイを表示させる表示制御装置と、前記表示画
面を撮像する撮像装置と、前記撮像装置の画像信号を処
理して画質異常の位置を検出する画像処理装置と、画質
検査の制御を行う制御装置とを備え、前記制御装置は、
前記表示制御装置に前記液晶ディスプレイを全面白色表
示させるか又は全面非表示とするかの指示を交互に出す
指示切換手段と、前記画像処理装置の検出結果から前記
液晶ディスプレイを全面白色表示とした場合の画質異常
と全面非表示とした場合の画質異常の位置データを比較
し、液晶ディスプレイに付着した異物と液晶ディスプレ
イの画素欠陥を識別する画質異常識別手段と、を有する
ことを特徴とする液晶ディスプレイの画質検査装置であ
る。
【０００６】請求項２の発明は、請求項１記載の液晶デ
ィスプレイの画質検査装置であって、前記制御装置の画
質異常識別手段は、前記液晶ディスプレイを全面白色表
示とした場合の画質異常と全面非表示とした場合の画質
異常の位置データの差をとることにより液晶ディスプレ
イの画質異常を識別することを特徴とする。
ィスプレイの画質検査装置であって、前記制御装置の画
質異常識別手段は、前記液晶ディスプレイを全面白色表
示とした場合の画質異常と全面非表示とした場合の画質
異常の位置データの差をとることにより液晶ディスプレ
イの画質異常を識別することを特徴とする。
【０００７】請求項３の発明は、液晶ディスプレイの表
示画面を撮像し、その撮像画像信号を処理して画質異常
の位置を検出し、前記液晶ディスプレイを全面白色表示
とした場合の画質異常と全面非表示とした場合の画質異
常の位置データを比較し、異物と画素欠陥を識別するこ
とを特徴とする液晶ディスプレイの画質検査方法であ
る。
示画面を撮像し、その撮像画像信号を処理して画質異常
の位置を検出し、前記液晶ディスプレイを全面白色表示
とした場合の画質異常と全面非表示とした場合の画質異
常の位置データを比較し、異物と画素欠陥を識別するこ
とを特徴とする液晶ディスプレイの画質検査方法であ
る。
【０００８】請求項４の発明は、請求項３記載の液晶デ
ィスプレイの画質検査方法であって、前記液晶ディスプ
レイを全面白色表示とした場合の画質異常と全面非表示
とした場合の画質異常の位置データの差をとることによ
り液晶ディスプレイの画質異常を識別することを特徴と
する。
ィスプレイの画質検査方法であって、前記液晶ディスプ
レイを全面白色表示とした場合の画質異常と全面非表示
とした場合の画質異常の位置データの差をとることによ
り液晶ディスプレイの画質異常を識別することを特徴と
する。
【０００９】本発明においては、液晶ディスプレイを表
示させた画像を撮像装置から取り込み、画質異常の位置
を検出する。このときは、異物による画質異常と画素欠
陥による画質異常が検出される。次に液晶ディスプレイ
は表示させず、画像を撮像装置から取り込み、画質異常
の位置を検出する。このときは異物による画質異常が検
出される。２つの画像から得た画質異常の位置を比較し
て、表示と非表示の両方に存在する画質異常は異物であ
り、それ以外は画素欠陥ということになる。従って、表
示させた場合の画質異常と表示させない場合の画質異常
の位置データの差をとれば、異物のデータが削除され画
素欠陥のデータのみが残ることになる。こうして、液晶
ディスプレイの異物と画素欠陥を識別することができ
る。
示させた画像を撮像装置から取り込み、画質異常の位置
を検出する。このときは、異物による画質異常と画素欠
陥による画質異常が検出される。次に液晶ディスプレイ
は表示させず、画像を撮像装置から取り込み、画質異常
の位置を検出する。このときは異物による画質異常が検
出される。２つの画像から得た画質異常の位置を比較し
て、表示と非表示の両方に存在する画質異常は異物であ
り、それ以外は画素欠陥ということになる。従って、表
示させた場合の画質異常と表示させない場合の画質異常
の位置データの差をとれば、異物のデータが削除され画
素欠陥のデータのみが残ることになる。こうして、液晶
ディスプレイの異物と画素欠陥を識別することができ
る。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下に、発明の実施の形態につい
て、図面を参照して説明する。図１は、本発明に係る画
質検査装置の一実施形態を示す構成図である。この画質
検査装置は、液晶ディスプレイ１と、液晶ディスプレイ
１に表示させる表示制御装置２と、液晶ディスプレイ１
の上方にあって表示画面を撮像する撮像装置３と、撮像
装置３からの画像信号を処理して、画質異常の位置を検
出する画像処理装置４と、画質検査を行う制御を行うコ
ンピュータ５から構成される。
て、図面を参照して説明する。図１は、本発明に係る画
質検査装置の一実施形態を示す構成図である。この画質
検査装置は、液晶ディスプレイ１と、液晶ディスプレイ
１に表示させる表示制御装置２と、液晶ディスプレイ１
の上方にあって表示画面を撮像する撮像装置３と、撮像
装置３からの画像信号を処理して、画質異常の位置を検
出する画像処理装置４と、画質検査を行う制御を行うコ
ンピュータ５から構成される。
【００１１】液晶ディスプレイ１は、液晶パネル１ａと
バックライト１ｂとから構成され、表示制御装置２から
制御信号を受けない場合、液晶パネル１ａはバックライ
ト１ｂからの光を透過する。液晶パネル１ａは、表示制
御装置２から制御信号を受けることにより、バックライ
ト１ｂからの光を遮断又は透過することで液晶ディスプ
レイ１に様々な画面表示を実現する。
バックライト１ｂとから構成され、表示制御装置２から
制御信号を受けない場合、液晶パネル１ａはバックライ
ト１ｂからの光を透過する。液晶パネル１ａは、表示制
御装置２から制御信号を受けることにより、バックライ
ト１ｂからの光を遮断又は透過することで液晶ディスプ
レイ１に様々な画面表示を実現する。
【００１２】撮像装置３により取り込んだ液晶ディスプ
レイ１の画像を画像処理装置４で処理し、液晶ディスプ
レイ１の画質異常を検出する。コンピュータ５は、表示
制御装置２を制御し、また画像処理装置４からのデータ
を処理する。
レイ１の画像を画像処理装置４で処理し、液晶ディスプ
レイ１の画質異常を検出する。コンピュータ５は、表示
制御装置２を制御し、また画像処理装置４からのデータ
を処理する。
【００１３】図２は、液晶ディスプレイ表示画面の一例
を示す説明図である。液晶ディスプレイ表示画面６に
は、常に黒色表示をする画素欠陥（以下、黒点欠陥と称
する）７と、液晶ディスプレイの表面や内部に存在する
黒い異物８が存在する。図２には、これら画質異常７、
８の拡大図を示す。
を示す説明図である。液晶ディスプレイ表示画面６に
は、常に黒色表示をする画素欠陥（以下、黒点欠陥と称
する）７と、液晶ディスプレイの表面や内部に存在する
黒い異物８が存在する。図２には、これら画質異常７、
８の拡大図を示す。
【００１４】この液晶ディスプレイ表示画面６に対する
画質検査について説明する。図３は、画質検査装置を用
いた画質検査処理を示すフローチャートである。まず、
コンピュータ５からの表示指示によって、表示制御装置
２はバックライト１ｂを点灯して液晶ディスプレイ１を
全面白色表示し（ステップＳ１）、撮像装置３により液
晶ディスプレイ１の表示画面を撮像する（ステップＳ
２）。撮像装置３からの画像信号は画像処理装置４で処
理され画質異常を検出する。しかし、液晶ディスプレイ
１を表示させた際、液晶ディスプレイ１の画素と撮像装
置３の素子比が１対１程度の場合、黒点欠陥７と黒い異
物８がともに点状の暗い画質異常として捉えられ、その
区別はつけがたい。そのため、ひとまず画質異常の位置
をコンピュータ５に送り保存する（ステップＳ３）。
画質検査について説明する。図３は、画質検査装置を用
いた画質検査処理を示すフローチャートである。まず、
コンピュータ５からの表示指示によって、表示制御装置
２はバックライト１ｂを点灯して液晶ディスプレイ１を
全面白色表示し（ステップＳ１）、撮像装置３により液
晶ディスプレイ１の表示画面を撮像する（ステップＳ
２）。撮像装置３からの画像信号は画像処理装置４で処
理され画質異常を検出する。しかし、液晶ディスプレイ
１を表示させた際、液晶ディスプレイ１の画素と撮像装
置３の素子比が１対１程度の場合、黒点欠陥７と黒い異
物８がともに点状の暗い画質異常として捉えられ、その
区別はつけがたい。そのため、ひとまず画質異常の位置
をコンピュータ５に送り保存する（ステップＳ３）。
【００１５】次に、コンピュータ５の指示により、表示
制御装置２はバックライト１ｂを点灯したまま液晶ディ
スプレイ１を非表示状態にし、撮像装置３により液晶デ
ィスプレイ１の表示画面を撮像する（ステップＳ５）。
液晶ディスプレイ１は非表示状態のため、黒点欠陥７は
表示されない。一方、黒い異物８の部分はバックライト
１ｂからの光が遮断されるため、点状の暗い画質異常と
して捉えることができる。液晶ディスプレイ１が非表示
状態での画質異常である異物８を画像処理装置４で検出
し、その位置をコンピュータ５に保存する（ステップＳ
６）。コンピュータ５は、記憶部から表示状態での検査
結果と非表示状態での検査結果を読み出して比較し、そ
の差を求めることによって異物による画質異常を取り除
いて、黒点欠陥７を求める（ステップＳ７）。
制御装置２はバックライト１ｂを点灯したまま液晶ディ
スプレイ１を非表示状態にし、撮像装置３により液晶デ
ィスプレイ１の表示画面を撮像する（ステップＳ５）。
液晶ディスプレイ１は非表示状態のため、黒点欠陥７は
表示されない。一方、黒い異物８の部分はバックライト
１ｂからの光が遮断されるため、点状の暗い画質異常と
して捉えることができる。液晶ディスプレイ１が非表示
状態での画質異常である異物８を画像処理装置４で検出
し、その位置をコンピュータ５に保存する（ステップＳ
６）。コンピュータ５は、記憶部から表示状態での検査
結果と非表示状態での検査結果を読み出して比較し、そ
の差を求めることによって異物による画質異常を取り除
いて、黒点欠陥７を求める（ステップＳ７）。
【００１６】以上の手法により、拡大撮像を行わずに済
み、高速に液晶ディスプレイ１の画素欠陥７と液晶ディ
スプレイ１に付着した異物８との区別をすることができ
る。
み、高速に液晶ディスプレイ１の画素欠陥７と液晶ディ
スプレイ１に付着した異物８との区別をすることができ
る。
【００１７】
【発明の効果】本発明によれば、前記画像処理装置の検
出結果から前記液晶ディスプレイを表示させた場合の画
質異常と表示させない場合の画質異常を比較し、異物と
画素欠陥を識別するので、高解像の撮像装置を使用せず
に、高速に液晶ディスプレイの不良モードの識別を自動
的に正確に行うことができる。
出結果から前記液晶ディスプレイを表示させた場合の画
質異常と表示させない場合の画質異常を比較し、異物と
画素欠陥を識別するので、高解像の撮像装置を使用せず
に、高速に液晶ディスプレイの不良モードの識別を自動
的に正確に行うことができる。
【図１】本発明に係る画質検査装置の一実施形態を示す
構成図である。
構成図である。
【図２】液晶ディスプレイ表示画面の画質異常の一例を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図３】画質検査装置を用いた画質検査処理を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
１ 液晶ディスプレイ １ａ 液晶パネル １ｂ バックライト ２ 表示制御装置 ３ 撮像装置 ４ 画像処理装置 ５ コンピュータ
Claims (4)
- 【請求項１】 液晶ディスプレイを表示させる表示制御
装置と、 前記表示画面を撮像する撮像装置と、 前記撮像装置の画像信号を処理して画質異常の位置を検
出する画像処理装置と、 画質検査の制御を行う制御装置と、を備え、 前記制御装置は、 前記表示制御装置に前記液晶ディスプレイを全面白色表
示させるか又は全面非表示とするかの指示を交互に出す
指示切換手段と、 前記画像処理装置の検出結果から前記液晶ディスプレイ
を全面白色表示とした場合の画質異常と全面非表示とし
た場合の画質異常の位置データを比較し、液晶ディスプ
レイに付着した異物と液晶ディスプレイの画素欠陥を識
別する画質異常識別手段と、を有することを特徴とする
液晶ディスプレイの画質検査装置。 - 【請求項２】 前記制御装置の画質異常識別手段は、前
記液晶ディスプレイを全面白色表示とした場合の画質異
常と全面非表示とした場合の画質異常の位置データの差
をとることにより液晶ディスプレイの画質異常を識別す
ることを特徴とする請求項１記載の液晶ディスプレイの
画質検査装置。 - 【請求項３】 液晶ディスプレイの表示画面を撮像し、
その撮像画像信号を処理して画質異常の位置を検出し、
前記液晶ディスプレイを全面白色表示とした場合の画質
異常と全面非表示とした場合の画質異常の位置データを
比較し、異物と画素欠陥を識別することを特徴とする液
晶ディスプレイの画質検査方法。 - 【請求項４】 前記液晶ディスプレイを全面白色表示と
した場合の画質異常と全面非表示とした場合の画質異常
の位置データの差をとることにより液晶ディスプレイの
画質異常を識別することを特徴とする請求項３記載の液
晶ディスプレイの画質検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21385696A JP3270336B2 (ja) | 1996-08-13 | 1996-08-13 | 液晶ディスプレイの画質検査装置及びその検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21385696A JP3270336B2 (ja) | 1996-08-13 | 1996-08-13 | 液晶ディスプレイの画質検査装置及びその検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1063229A true JPH1063229A (ja) | 1998-03-06 |
| JP3270336B2 JP3270336B2 (ja) | 2002-04-02 |
Family
ID=16646162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21385696A Expired - Fee Related JP3270336B2 (ja) | 1996-08-13 | 1996-08-13 | 液晶ディスプレイの画質検査装置及びその検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3270336B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007257095A (ja) * | 2006-03-22 | 2007-10-04 | Asti Corp | 画像処理装置 |
| CN103674482A (zh) * | 2012-09-17 | 2014-03-26 | 李朝晖 | 利用分段光谱拼接技术实现对无源光器件测量的装置及方法 |
| KR101496534B1 (ko) * | 2011-08-01 | 2015-02-26 | 베이징 비오이 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 | 진공 셀 조립 장치 및 셀 조립 방법 |
| CN111579211A (zh) * | 2020-05-19 | 2020-08-25 | Oppo（重庆）智能科技有限公司 | 显示屏的检测方法、检测装置及计算机存储介质 |
| CN111693530A (zh) * | 2019-03-11 | 2020-09-22 | 深圳市联得自动化装备股份有限公司 | 检测装置和方法 |
-
1996
- 1996-08-13 JP JP21385696A patent/JP3270336B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007257095A (ja) * | 2006-03-22 | 2007-10-04 | Asti Corp | 画像処理装置 |
| KR101496534B1 (ko) * | 2011-08-01 | 2015-02-26 | 베이징 비오이 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 | 진공 셀 조립 장치 및 셀 조립 방법 |
| CN103674482A (zh) * | 2012-09-17 | 2014-03-26 | 李朝晖 | 利用分段光谱拼接技术实现对无源光器件测量的装置及方法 |
| CN111693530A (zh) * | 2019-03-11 | 2020-09-22 | 深圳市联得自动化装备股份有限公司 | 检测装置和方法 |
| CN111579211A (zh) * | 2020-05-19 | 2020-08-25 | Oppo（重庆）智能科技有限公司 | 显示屏的检测方法、检测装置及计算机存储介质 |
| CN111579211B (zh) * | 2020-05-19 | 2022-09-30 | Oppo（重庆）智能科技有限公司 | 显示屏的检测方法、检测装置及计算机存储介质 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3270336B2 (ja) | 2002-04-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 6 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080118 |
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