KR980007163A - 시간 스위치 구조를 갖는 전전자 교환기에서의 시간 스위치 비트 점검 장치 및 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 시간 스위치 구조를 갖는 전전자 교환기에서의 시간 스위치 비트 점검 장치 및 방법에 관한 것으로, 시간 스위치 구조를 갖는 전전자 교환기에서 채널 데이타 라인의 비트가 정상인지를 점검하는 동작과, 에러 발생시 에러에 대한 처리가 인위적인 명령을 통해 이루어져, 통화 잡음이나 데이타 유실등의 문제가 발생하는 것을, 시간 스위치 구조를 갖는 전전자 교환기에서 채널 데이타 라인의 비트가 정상인지를 점검하는 동작을 자동으로 수행하고, 또한 이중으로 수행하며, 에러 발생시 에러에 대한 이중화 수행으로 즉각 에러를 처리하는 장치 및 방법을 제시하여 개선시켰다.

Description

시간 스위치 구조를 갖는 전전자 교환기에서의 시간 스위치 비트 점검 장치 및 방법

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제3도는 본 발명의 스위치 경로 시험 블록도.

Claims (5)

1. 시간 스위치 구조를 갖는 전전자 교환기에서의 시간 스위치 비트 점검 장치에 있어서, 임의의 시험 패턴 데이타를 자동으로 발생하는 자동 임의 패턴 발생부(31)와, 프로세서(20)에서 출력되는 시험 패턴 데이타를 다중화 장치(10)로 전송하는 시험 데이타 발생부(21)와, 시험 데이타 발생부(21)에서 입력되는 데이타와 역다중화장치(14)에서 입력되는 데이타를 비교하는 데이타 비교부(32)와, 역다중화 장치(14)에서 입력되는 데이타를 프로세서(20)로 전송하는 시험 데이타 독취부(22)와, 시험 패턴 데이타를 출력하며 시간 스위치의 채널 데이타 라인의 에러발생 여부를 판단하고 처리하는 프로세서(20)와, 데이타 비교부(32)의 결과에 따라 계수를 카운팅하는 계수부(32)와, 계수부(33)에서 출력되는 값에 따라 시간 스위치의 채널 데이타 라인의 에러 발생 여부를 판단하는 비트 에러점검부(34)와, 시간 스위치의 채널 데이타 라인에 에러가 발생하면 비트 에러 경보를 발생하는 알람부(35)및, 시간 스위치의 채널 데이타 라인에 에러가 발생하면 이중화 절체를 수행하는 이중화부(36)로 구성됨을 특징으로 하는 시간 스위치 구조를 갖는 전전자 교환기에서의 시간 스위치 비트 점검 장치.
2. 시간 스위치 구조를 갖는 전전자 교환기에서의 시간 스위치 비트 점검 방법에 있어서, 자동 임의 패턴 발생부(31)에서 자동 시험 임의 데이타를 발생시켜 출력하면, 출력된 데이타는 시험 데이타 발생부(21)에 입력되고, 시험 데이타 발생부(21)에서는 입력된 데이타를 데이타 비교부(32)와, 시간 스위치의 다중화 장치(10)에 입력되고, 다중화 장치(10)에서는 직렬로 입력되는 8비트의 병렬 데이타로 변환한 후 송신 통화 메모리(11)로 출력하고, 송신 주소 제어 메모리(12)에서 제어 신호를 송신 통화 메모리(11)로 전송하면, 송신 통화 메모리(11)에서는 다중화 장치(10)에서 입력된 데이타를 송신 제어 메모리(12)의 제어 신호에 의해 링크(13)로 입력하고, 링크(13)에서는 송신 통화 메모리(11)에서 입력된 데이타는 루프 백 되어 수신 통화 메모리(15)에 입력되며, 수신 주소 제어 메모리(16)에서 제어 신호를 수신 통화 메모리(15)로 전송하며, 수신 통화 메모리(15)에서는 링크(13)에서 입력된 데이타를 수신 제어 메모리의 제어 신호에 의해 역다중화 장치(14)로 출력하고, 역다중화 장치(14)에서는 입력된 8비트 병렬 데이타를 직렬로 만들어 출력하며, 역다중화 장치(14)에서 출력된 데이타는 데이타 비교부(32)로 입력되고, 비교부에서 시험 데이타 발생부(21)에서 입력된 데이타와 역다중화 장치(14)에서 입력된 데이타를 비교하여 그 결과를 계수부(33)로 전송하면, 계수부(33)에서는 상기 비교부에서 전송된 결과에 의해 계수를 카운트하여 비트 에러 점검부로 그 결과를 입력하며, 비트 에러 점검부(34)에서는 카운트에서 입력된 데이타와 프로세서(20)에서 입력된 데이타를 비교하여 그 결과로 알람부(35)와 이중화부(36)를 제어하고, 비트 에러 점검부(34)의 결과가 에러 발생이면, 알람부(35)에서는 비트 에러 점거부(34)의 비트 에러 경보에 의해 프로세서로 경보 신호를 발생시켜 상태를 디스플레이하며, 이중화부(36)에서는 에러에 대한 이중화 절체를 수행하여 발생한 에러를 즉각 처리하여 자동으로 비트 에러 점검을 수행함을 특징으로 하는 시간 스위치 구조를 갖는 전전자 교환기에서의 시간 스위치 비트 점검 방법.
3. 제2항에 있어서, 계수부(33)에서는 비교부에서 전송된 결과가 시험 데이타 발생부(21)에서 입력된 데이타와 역다중화 장치(14)에서 입력된 데이타가 동일하면 카운트하지 않고, 동일하지 않으면 카운트 업하여 비트 에러 점검부(34)에 입력함을 특징으로 하는 시간 스위치 구조를 갖는 전전자 교환기에서의 시간 스위치 비트 점검 방법.
4. 제2항에 있어서, 비트 에러 점검부(34)에서 알람부(35)와 이중화부(36)를 제어하는 방법은 계수부(33)에서 입력된 데이타 값이 프로세서(20)에서 입력된 데이타값보다 더 클 때는, 시간 스위치의 데이타 라인에 비트 에러가 있는 것으로 판단하여, 알람부(35)와 이중화부(36)로 비트 에러 경보를 발생시키고, 계수부(33)에서 입력된 데이타 값이 프로세서(20)에서 입력된 데이타 값보다 작을 때는, 1시간 동안 점검했는지를 판단하여, 1시간 안되었다면 자동 비트 점검을 계속 수행하고, 1시간이 지났으면 계수부(33)를 리셋함을 특징으로 하는 시간 스위치 구조를 갖는 전전자 교환기에서의 시간 스위치 비트 점검 방법.
5. 제2항에 있어서, 자동으로 비트 에러 점검을 수행하는 방법과 시험 명령을 받아 비트 에러 점검을 수행하는 방법이 동시에 수행됨을 특징으로 하는 시간 스위치 구조를 갖는 전전자 교환기에서의 시간 스위치 비트 점검 방법.