KR980005991A - 리드프레임의 테이프 검사방법 및 자동검사 시스템 - Google Patents

리드프레임의 테이프 검사방법 및 자동검사 시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR980005991A
KR980005991A KR1019970067561A KR19970067561A KR980005991A KR 980005991 A KR980005991 A KR 980005991A KR 1019970067561 A KR1019970067561 A KR 1019970067561A KR 19970067561 A KR19970067561 A KR 19970067561A KR 980005991 A KR980005991 A KR 980005991A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
tape
lead frame
image
inspection
image acquisition
Prior art date
Application number
KR1019970067561A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100249807B1 (ko
Inventor
김현진
이인호
오원근
Original Assignee
양승택
한국전자통신연구원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 양승택, 한국전자통신연구원 filed Critical 양승택
Priority to KR1019970067561A priority Critical patent/KR100249807B1/ko
Publication of KR980005991A publication Critical patent/KR980005991A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100249807B1 publication Critical patent/KR100249807B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

본 발명은 센서신호로 IC 리드프레임을 확인하여 조명을 구동시키고 동시에 CCD 카메라를 구동시켜 영상을 획득하고 상기 획득된 영상으로부터 리드프레임에 부착된 테이프를 자동검사하는 방법에 관한 것이다. 본 발명은 상기 영상획득부분과 테이프 검사부분을 두 개의 독립된 스레드(thread)로 설계하여 검사가 진행중이더라도 영상을 획득할 수 있는 방법을 제공하며, 특히 영상획득부분은 두 개 이상의 영상 버퍼(buffer)를 사용하여 검사가 진행중이더라도 한 개 이상의 영상을 미리 저장 할 수 있도록하여 전체 검사속도를 높이는 방법과, 리드프레임 패드위치 찾기를 수행한 다음 상기 패드위치로부터 패드의 중심점과 패드의 기울기를 이용하여 기준좌표계를 설정하고 상기 기준좌표계 상에서 테이프의 도면 데이타를 적용하여 테이프 검사를 수행함으로서, 상기 획득된 영상에 나타나는 리드프레임의 위치가, 이송장치의 이송오차나 기계적인 진동에의해 가변적이더라도 정확한 테이프의 위치에서 테이프 검사를 수행하는 방법과, 테이프의 경계선상에 위치하는 영상정보만을 이용함으로서 고속으로 테이프 검사를 수행하는 방법을 제공하며 임의의 다각형을 화대 및 축소하는 방법을 고안하여 어떤 형태의 테이프에 대해서도 유연하고 쉽게 테이프를 검사하는 방법이다.

Description

리드프레임의 테이프 검사방법 및 자동검사 시스템
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 관한 리드프레임의 테이프 검사 시스템을 나타낸 구성도.

Claims (5)

  1. 이송장치(19)에서 이송된 리드프레임을 센서(11) 신호로 감지하여 조명(13)을 구동 및 이와 동기하여 CCD 카메라(12)를 구동하여 리드프레임 영상을 입력하는 영상획득수단과 상기 영상획득수단으로부터 획득된 영상에서 리드프레임(10)의 패드(CP)의 중심과 기울기(theta)를 이용하여 기준좌표계(XY)를 설정하고, 상기 설정된 기준좌표계(XY)로 테이프 경계선의 CAD 좌표를 변환하고, 변환된 테이프 경계선(50)을 확대/축소하고, 확대경계선(51)과 축소경계선(52)의 위치에서의 영상의 밝기 정보를 이용해서 테이프의 위치이동, 폭, 길이 불량을 검사하는 테이프 검사수단으로 이루어진 것을 특징으로 하는 리드프레임의 테이프 자동검사 시스템.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 영상획득수단과 테이프검사수단을 두 개의 독립된 스레드로 설계하고, 영상획득수단에는 두 개 이상의 영상버퍼를 이용하여 검사가 진행중이더라도 한 개 이상의 영상을 미리 획득할 수 있는 것을 특징으로 하는 리드프레임의 테이프 자동검사 시스템.
  3. 제1항에 있어서, 테이프 경계선(50)을 확대/축소는 임의의 다각형을 확대 및 축소하는 방법(도 7)을 이용하는 것을 특징으로 하는 리드프레임 테이프 자동검사 시스템.
  4. 리드프레임의 테이프 자동검사 시스템의 영상획득 방법은; (1) 이송장치(19)에 의해 이송된 IC 리드프레임(10)을 센서(11)가 검지한 센서신호인지를 검사하여 센서신호이면 다음 S31로 이동하고 아니면 이 과정을 반복해서 수행하는 단계(S30); (2) 조명제어부(23)에 의해 조명(13)을 구동하고 CCD 카메라(12)로부터 영상을 획득하는 단계(S31); (3) 빈버퍼(empty buffer)인지를 검사하여 빈버퍼이면 상기 S30으로 되돌아 상기 과정을 반복 수행하고 아니면 다음 S33으로 이동하는 단계(S32); (4) 리드프레임(10)의 이송을 정지하는 단계(S33); (5) 다시 빈버퍼인가를 검사하여 빈버퍼이면 상기 S35로 이동하고 아니면 본 과정을 반복적으로 수행하는 단계(S34); (6) 다음 리드프레임(10)의 이송을 시작하여 상기 S30으로 되돌아가 상기한 과정을 반복적으로 수행하는 단계(S35)를 반복 수행하는 것을 특징으로 하는 리드프레임 테이프 자동검사 방법.
  5. 리드프레임의 테이프 자동검사 시스템의 테이프검사 방법은; (1) 버퍼 영상인지를 검사하여 버퍼영상이면 S41로 이동하고 아니면 상기 S40으로 이동하는 단계(S40); (2) 다음 패드검출인지를 검사하여 패드검출이면 S42로 이동하고 아니면 상기 S40으로 이동하는 단계(S41); (3) 다음 테이프 검사를 하는 단계(S42); (4) 상기 S42로부터 테이프 불량인지를 검사하여 불량이면 S45로 이동하고 양품이면 S44로 이동하는 단계(S43); (5) 상기 S43으로부터 양품이면 양품신호를 내고 처음단계 S40으로 되돌아가는 단계(S44); (6) 상기 S43으로부터 불량품이면 불량신호를 내고 처음 단계 S40으로 되돌아가는 단계(S45)를 반복 수행하는 것을 특징으로 하는 리드프레임 테이프 자동검사 방법.
    ※참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019970067561A 1997-12-10 1997-12-10 리드프레임의 테이프 검사방법 및 자동검사시스템 KR100249807B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019970067561A KR100249807B1 (ko) 1997-12-10 1997-12-10 리드프레임의 테이프 검사방법 및 자동검사시스템

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019970067561A KR100249807B1 (ko) 1997-12-10 1997-12-10 리드프레임의 테이프 검사방법 및 자동검사시스템

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR980005991A true KR980005991A (ko) 1998-03-30
KR100249807B1 KR100249807B1 (ko) 2000-03-15

Family

ID=19526975

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970067561A KR100249807B1 (ko) 1997-12-10 1997-12-10 리드프레임의 테이프 검사방법 및 자동검사시스템

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100249807B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010099211A (ko) * 2001-09-12 2001-11-09 성우테크론 주식회사 리드프레임의 패턴인식 검사방법
US10611432B2 (en) 2014-09-02 2020-04-07 Dong Won Lee Hydraulic automatic transmission bicycle

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010099211A (ko) * 2001-09-12 2001-11-09 성우테크론 주식회사 리드프레임의 패턴인식 검사방법
US10611432B2 (en) 2014-09-02 2020-04-07 Dong Won Lee Hydraulic automatic transmission bicycle
US11345439B2 (en) 2014-09-02 2022-05-31 Dong Won Lee Hydraulic automatic transmission bicycle

Also Published As

Publication number Publication date
KR100249807B1 (ko) 2000-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6362877B1 (en) Visual inspection supporting apparatus and printed circuit board inspecting apparatus, and methods of soldering inspection and correction using the apparatuses
KR930005496B1 (ko) 와이어본딩 검사장치
JP3181435B2 (ja) 画像処理装置及び画像処理方法
KR920008484A (ko) 와이어 본딩 검사 장치
KR960043055A (ko) 반도체 디바이스의 픽업 장치 및 픽업 방법
US20050056797A1 (en) Defect detector and defect detection method
KR980005991A (ko) 리드프레임의 테이프 검사방법 및 자동검사 시스템
JPH1123234A (ja) Ｂｇａの半田ボールの高さ測定方法およびその装置
KR20190108044A (ko) 결함 확인 장치, 결함 확인 방법 및 컴퓨터로 판독 가능한 기억 매체
JP2002181731A (ja) 部品検査方法
KR0180269B1 (ko) 테이프캐리어패키지의 외관검사장치 및 검사벙법
JP2004226316A (ja) 走査ヘッドおよびそれを利用可能な外観検査装置
JP3122226B2 (ja) 被縫物の外形認識方法及びその装置
KR100286041B1 (ko) Pcb자동검사장치의티칭데이타설정방법및장치
US5745594A (en) Apparatus for testing a bonding position of a bonding wire
JP2003262509A (ja) 検査装置、計測装置、検査方法および計測方法
JPS62144008A (ja) 印刷回路板のパタ−ン検査装置
JP2004226318A (ja) 走査ヘッドおよびそれを利用可能な外観検査装置
JPH056422A (ja) 画像検査装置
JP2605971B2 (ja) 観測装置
JP3038107B2 (ja) はんだ付け検査方法
KR980005993A (ko) Ic 리드프레임 자동검사 시스템 및 그 운용방법
JP2001304836A (ja) 半導体パッケージ外観検査装置
JPH01284982A (ja) 形状検査装置
JPS62103549A (ja) 半田付外観検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G15R Request for early opening
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20071115

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee