KR970063268A - 반도체 메모리 장치 - Google Patents

반도체 메모리 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR970063268A
KR970063268A KR1019960026983A KR19960026983A KR970063268A KR 970063268 A KR970063268 A KR 970063268A KR 1019960026983 A KR1019960026983 A KR 1019960026983A KR 19960026983 A KR19960026983 A KR 19960026983A KR 970063268 A KR970063268 A KR 970063268A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
lines
data lines
electrically connected
memory device
semiconductor memory
Prior art date
Application number
KR1019960026983A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100195671B1 (ko
Inventor
야스히로 호타
Original Assignee
쯔지 하루오
샤프 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 쯔지 하루오, 샤프 가부시끼가이샤 filed Critical 쯔지 하루오
Publication of KR970063268A publication Critical patent/KR970063268A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100195671B1 publication Critical patent/KR100195671B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1057Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/26Sensing or reading circuits; Data output circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

반도체 메모리 장치는 데이타 라인에 대응하여 제공된 두개의 센스 앰프 및 상기 두개의 센스 앰프로 상기 데이타 라인 중 두 라인을 선택적으로 접속하기 위한 스위칭 희로를 각각 포함한다. 상기 메모리 셀 중 하나에 지정된 데이타는 상기 센스 앰프의 하나에 접속된 데이타 라인을 거쳐 출력 버퍼로 전송되도록 증폭된다. 이러한 동작과 병행하여, 다음 메모리 셀에 저장된 데이타는 또 다른 센스 앰프에 접속된 데이타 라인을 거쳐 증폭되어 확정된다. 이러한 방식으로, 메모리 셀내에 저장된 데이타가 출력 버퍼로 전송된 후에, 다음 메모리 셀내에 저장된 데이타는 출력 버퍼로 이어서 전송된다.

Description

반도체 메모리 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 반도체 메모리 장치의 구성을 도시하는 회로 다이아그램.
제2도는 본 발명에 따른 반도체 메모리 장치에 이용되는 디코더를 도시한 다이아그램.

Claims (7)

  1. 복수의 데이타라인; 그 각각은 상기 데이타 라인의 각각에 전기적으로 접속되는 복수의 열 선택 라인; 그 각각은 상기 데이타 라인의 각각에 전기적으로 접속되는 복수의 행 선택 라인; 매트릭스 형태로 배열된 복수의 메모리 셀로, 그 각각이 상기 데이타 라인 중 하나, 상기 열 선택 라인 중 하나 및 상기 행 선택 라인중 하나에 전기적으로 접속되어 있고, 상기 행 선택 라인의 선택된 하나와 상기 열 선택 라인의 선택된 하나를 지정하는 것에 의해 선정된 수의 메모리 셀이 동시에 선택되는 복수의 메모리 셀, 그 각각은 상기 데이타 라인 중 하나에 전기적으로 접속되는 복수의 로드 회로; 두개의 센스 앰프 회로; 및 상기 복수의 데이타 라인 중 어느 두 라인을 선택적으로 상기 두개의 센스 앰프 회로로 각각 전기적으로 접속하기 위한 스위칭 회로; 를 포함하는 반도체 메모리 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 두개의 센스 앰프 회로 중 하나의 출력 신호를 선택적으로 출력하기 위한 출력 선택 수단을 더 포함하는 반도체 메모리 장치.
  3. 복수의 데이타 라인; 그 각각은 상기 데이타 라인 각각에 전기적으로 접속되는 복수의 열 선택 라인; 그 각각은 상기 데이타 라인 각각에 전기적으로 접속되는 복수의 행 선택 라인; 매트릭스 형태로 배열된 복수의 메모리 셀로, 그 각각이 상기 데이타 라인 중 하나, 상기 열 선택 라인 중 하나 및 상기 행 선택 라인 중 하나에 전기적으로 접속되는 복수의 메모리 셀; 그 각각은 상기 데이타 라인에 전기적으로 접속된 복수의 로드 회로; 두개의 센스 앰프 회로; 및 상기 복수의 데이타 라인 및 상기 두개의 센스 앰프 회로에 전기적으로 접속되는 스위칭 회로; 를 포함하는 반도체 메모리 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 스위칭 회로는 상기 복수의 데이타 라인 중 어느 두 라인을 선택적으로 상기 두개의 센스 앰프 회로로 각각 전기적으로 접속하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  5. 제3항에 있어서, 상기 두개의 센스 앰프 회로에 전기적으로 접속된 출력 선택기를 더 포함하는 반도체 메모리 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 출력 선택기는 상기 두개의 센스 앰프 회로 중 하나의 출력 신호를 선택적으로 출력하도록 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  7. 제3항에 있어서, 상기 행 선택 라인 중 선택된 하나와 상기 열 선택 라인 중 선택된 하나를 지정하는 것에 따라, 선정된 수의 상기 메모리 셀이 동시에 선택되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960026983A 1996-02-22 1996-06-29 반도체 메모리 장치 KR100195671B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP96-35294 1996-02-22
JP3529496A JP3219236B2 (ja) 1996-02-22 1996-02-22 半導体記憶装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970063268A true KR970063268A (ko) 1997-09-12
KR100195671B1 KR100195671B1 (ko) 1999-06-15

Family

ID=12437763

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960026983A KR100195671B1 (ko) 1996-02-22 1996-06-29 반도체 메모리 장치

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5717637A (ko)
EP (1) EP0791931B1 (ko)
JP (1) JP3219236B2 (ko)
KR (1) KR100195671B1 (ko)
DE (1) DE69637074T2 (ko)
TW (1) TW400525B (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6677995B1 (en) * 1999-02-04 2004-01-13 Agere Systems Inc. Array readout system
US6430099B1 (en) * 2001-05-11 2002-08-06 Broadcom Corporation Method and apparatus to conditionally precharge a partitioned read-only memory with shared wordlines for low power operation
US6906962B2 (en) * 2002-09-30 2005-06-14 Agere Systems Inc. Method for defining the initial state of static random access memory
US9177671B2 (en) * 2012-02-23 2015-11-03 Apple Inc. Memory with bit line capacitive loading

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2534733B2 (ja) * 1987-10-09 1996-09-18 日本電気株式会社 不揮発性半導体記憶装置
US5257235A (en) * 1989-04-25 1993-10-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device having serial access mode
JP2680936B2 (ja) * 1991-02-13 1997-11-19 シャープ株式会社 半導体記憶装置
JP2723695B2 (ja) * 1991-07-02 1998-03-09 シャープ株式会社 半導体記憶装置
US5455802A (en) * 1992-12-22 1995-10-03 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Dual dynamic sense amplifiers for a memory array
JP3176228B2 (ja) * 1994-08-23 2001-06-11 シャープ株式会社 半導体記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP0791931A3 (en) 2003-07-23
KR100195671B1 (ko) 1999-06-15
EP0791931A2 (en) 1997-08-27
US5717637A (en) 1998-02-10
JPH09231762A (ja) 1997-09-05
DE69637074T2 (de) 2008-01-10
DE69637074D1 (de) 2007-06-21
JP3219236B2 (ja) 2001-10-15
TW400525B (en) 2000-08-01
EP0791931B1 (en) 2007-05-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920020515A (ko) 반도체 판독전용메모리
KR890004334A (ko) 반도체 기억장치
KR930017189A (ko) 반도체롬
KR960043187A (ko) 반도체장치
KR960008833A (ko) 반도체 기억 장치
KR920006997A (ko) 용장회로(冗長回路)
KR840005886A (ko) 반도체 기억 장치
KR900000904A (ko) 반도체기억장치와 이것을 이용한 데이터패스(data path)
KR880010422A (ko) 반도체 기억장치
KR970076848A (ko) 집적 회로 메모리
KR930018595A (ko) 반도체 기억장치
KR880011797A (ko) 반도체 기억장치
KR930006736A (ko) 반도체 기억장치
KR920001545A (ko) 반도체 기억장치
KR970060236A (ko) 반도체 기억장치
KR930003159A (ko) 반도체 기억장치
KR920008773A (ko) 반도체 기억장치
KR910010523A (ko) 마스터 슬라이스형 반도체 집적 회로
KR910020724A (ko) 반도체 기억장치
KR870009392A (ko) 반도체 기억장치
KR890012320A (ko) 반도체기억장치
KR980004966A (ko) 반도체 기억 장치
KR930001212A (ko) 반도체 기억장치
KR960026781A (ko) 반도체 기억장치
KR970063268A (ko) 반도체 메모리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130131

Year of fee payment: 15

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140129

Year of fee payment: 16

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150202

Year of fee payment: 17

EXPY Expiration of term