KR970054294A - Ccd형 고체 촬상 장치 - Google Patents
Ccd형 고체 촬상 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR970054294A KR970054294A KR1019960074057A KR19960074057A KR970054294A KR 970054294 A KR970054294 A KR 970054294A KR 1019960074057 A KR1019960074057 A KR 1019960074057A KR 19960074057 A KR19960074057 A KR 19960074057A KR 970054294 A KR970054294 A KR 970054294A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- conductive
- imaging device
- photodiodes
- state imaging
- ccd
- Prior art date
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims 6
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims abstract 10
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims abstract 5
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims abstract 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims 2
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 claims 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/762—Charge transfer devices
- H01L29/765—Charge-coupled devices
- H01L29/768—Charge-coupled devices with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/76808—Input structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/762—Charge transfer devices
- H01L29/765—Charge-coupled devices
- H01L29/768—Charge-coupled devices with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/76816—Output structures
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
P형 웰 영역은 N형 실리콘 기판의 표면상에 형성된다. 다음은, P형 웰 영역의 표면에는, 포토다이오드를 형성하는 제1N형 확산층이 형성된다. 또, 포토다이오드가 형성되지 않는 P형 웰 영역의 표면에는, 수직 CCD 레지스터를 형성하는 P형 확산층이 형성되고, 그 표면상에는, 제2N형 확산층이 형성된다. 또, 각각의 포토다이오드 주위에는, P+형 분리층이 판독 게이트 영역을 제외하고 형성된다. P+형 분리층은 P형 웰 영역의 불순물 농도보다 더 높은 불순물 농도를 가지며, 포토다이오드들 사이와, 포토다이오드들과 수직 CCD레지스터 사이의 분리를 위한 필요값을 초과하여 필요되는 값보다 더 큰 깊이를 갖는다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
Claims (5)
- CCD형 고체 촬상 장치에 있어서, 제1도전형 반도체 기판과, 상기 제1도전형 반도체 기판의 표면상에 형성된 제2도전형 영역과, 상기 제2도전형 영역의 표면에 선택적으로 형성되고 외부 광선을 전하로 전환시키는, 제1도전형 확산층을 갖는 복수의 포토다이오드와, 상기 제2도전형 영역의 표면에서 상기 포토다이오드들과 이격하여 선택적으로 형성되고, 전하를 전송하기 위하여 상기 포토다이오드들로부터 전하를 수용하는 수직 CCD레지스터들과, 상기 포토다이오드들의 주위와 접촉하여 형성되고, 상기 포토다이오드들 사이와 상기 포토다이오드드로가 상기 수직 CCD레지스터 사이의 상기 제2도전형 영역의 표면에서 전환층이 형성되는 것을 방지하며, 분리층이 이들 사이를 분리시키고, 또한 제2도전형 영역의 불순물 농도보다 더 높은 불순물 농도를 가지면서 분리에 필요한 깊이 이상의 깊이에서 형성되는 제2도전형 분리층과, 상기 수직 CCD 레지스터에서 전하를 수용하여 이 수용된 전하를 전송하는 수평 CCD 레지스터와, 상기 수평 CCD 레지스터로부터 전송된 전하를 검출하여 전하를 전송하는 전하 검출부와, 상기 전하 검출부로부터 전송된 전하를 증폭하여 출력하는 출력증폭기를 포함하는 것을 특징으로 하는 CCD형 고체 촬상 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제2도전형 분리층은 표면부보다 바닥부에서 더 좁은 폭을 가지며, 상기 제1도전형 확산층은 표면부보다 바닥부에서 더 넓은 폭을 갖는 것을 특징으로 하는 CCD형 고체 촬상 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제2도전형 분리층은 깊이 방향에서 균일한 불순물 농도를 갖는 것을 특징으로 하는 CCD형 고체 촬상 장치.
- 제3항에 있어서, 상기 제2도전형 분리층은 여러 가지의 가속전압으로 복수의 이온주입에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 CCD형 고체 촬상 장치.
- 제3항에 있어서, 상기 제2도전형 분리층은 연속적으로 가속전압을 변화시킨 이온주입에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 CCD형 고체 촬상 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP95-339400 | 1995-12-26 | ||
JP95-341639 | 1995-12-27 | ||
JP07341650A JP3105781B2 (ja) | 1995-12-27 | 1995-12-27 | 固体撮像装置 |
JP95-341650 | 1995-12-27 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970054294A true KR970054294A (ko) | 1997-07-31 |
Family
ID=18347738
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960074057A KR970054294A (ko) | 1995-12-26 | 1996-12-27 | Ccd형 고체 촬상 장치 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3105781B2 (ko) |
KR (1) | KR970054294A (ko) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004165462A (ja) | 2002-11-14 | 2004-06-10 | Sony Corp | 固体撮像素子及びその製造方法 |
JP5056928B2 (ja) * | 2010-09-21 | 2012-10-24 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子及びその製造方法 |
JP6044778B2 (ja) * | 2013-02-26 | 2016-12-14 | 忠博 眞鍋 | 靴中敷接着用特殊鼻緒 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04316367A (ja) * | 1991-04-16 | 1992-11-06 | Matsushita Electron Corp | 固体撮像装置とその製造方法 |
JPH04372170A (ja) * | 1991-06-21 | 1992-12-25 | Fujitsu Ltd | 固体撮像装置 |
-
1995
- 1995-12-27 JP JP07341650A patent/JP3105781B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-12-27 KR KR1019960074057A patent/KR970054294A/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3105781B2 (ja) | 2000-11-06 |
JPH09186310A (ja) | 1997-07-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5051797A (en) | Charge-coupled device (CCD) imager and method of operation | |
US4672455A (en) | Solid-state image-sensor having reverse-biased substrate and transfer registers | |
US6459077B1 (en) | Bucket brigade TDI photodiode sensor | |
KR101254832B1 (ko) | 이미지 센서 및 이를 포함하는 카메라 | |
KR950022815A (ko) | 고체 촬상장치 | |
KR840002383A (ko) | 칼라 고체 촬상 장치 | |
KR950021737A (ko) | 씨씨디(ccd)형 고체촬상소자 | |
JP2005223356A (ja) | 電荷結合素子型イメージセンサ | |
US4748486A (en) | Solid-state image sensor | |
US5220185A (en) | Ccd shift register | |
US5235196A (en) | Transfer region design for charge-coupled device image sensor | |
JPH04500438A (ja) | 2重ゲート型抗曇り構造を備えたccd撮像器 | |
JPH055179B2 (ko) | ||
KR970054294A (ko) | Ccd형 고체 촬상 장치 | |
JPH021694A (ja) | 光電変換装置 | |
US5338946A (en) | Solid state image sensor with fast reset | |
US4721989A (en) | CCD with transfer channel at lower potential than supply channel | |
US5397730A (en) | Method of making a high efficiency horizontal transfer section of a solid state imager | |
US5804844A (en) | Solid-state imager with container LOD implant | |
JP2572181B2 (ja) | Ccd映像素子 | |
JPS63310172A (ja) | 電荷転送装置 | |
KR100311492B1 (ko) | 고체촬상소자 | |
JP2540834B2 (ja) | Mos型イメ−ジセンサ | |
KR970054284A (ko) | 고체촬상소자 및 이의 제조방법 | |
KR980006464A (ko) | 씨씨디(ccd) 영상소자 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
NORF | Unpaid initial registration fee |