KR970053562A - 반도체 장치의 층간 절연막 형성 방법 - Google Patents
반도체 장치의 층간 절연막 형성 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR970053562A KR970053562A KR1019950065862A KR19950065862A KR970053562A KR 970053562 A KR970053562 A KR 970053562A KR 1019950065862 A KR1019950065862 A KR 1019950065862A KR 19950065862 A KR19950065862 A KR 19950065862A KR 970053562 A KR970053562 A KR 970053562A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- insulating film
- forming
- insulating layer
- interlayer insulating
- semiconductor device
- Prior art date
Links
Landscapes
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
본 발명은 다층 배선 구조의 상,하부 메탈간의 연결을 위한 비아홀 형성시 절연막의 두께 차이에 의한 프로파일의 불량을 방지코자 한 층간 절연막 형성 방법에 관한 것으로서, 하부 구조가 완성된 다층 배선 구조의 반도체 장치에 있어서, 하부 구조의 메탈 측벽에 스페이서를 형성하는 단계; 상기 결과물의 상부에 제1절연막을 침적하는 단계; 포토레지스트를 이용한 에치백 공정을 사용하여 상기 제1절연막을 평탄화시키는 단계; 및, 상기 제1절연막 상에 제2절연막을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진 것으로, 하부 메탈간의 단차에도 불구하고 스페이서를 형성시킴으로써 일정한 프로파일을 갖는 비아홀 형성 및 상부 메탈라인의 단락을 방지할 수 있는 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 반도체 장치의 층간 절연막 형성 공정도이다.
Claims (1)
- 다층 배선 구조를 갖는 반도체 장치의 층간 절연막 형성에 있어서, 하부 구조의 메탈 측벽에 스페이서를 형성하는 단계; 상기 결과물의 상부에 제1절연막을 침적하는 단계; 포토레지스트를 이용한 에치백 공정를 사용하여 상기 제1절연막을 평탄화시키는 단계; 및 상기 제1절연막 상에 제2절연막을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진 반도체 장치의 비아홀 형성 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950065862A KR970053562A (ko) | 1995-12-29 | 1995-12-29 | 반도체 장치의 층간 절연막 형성 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950065862A KR970053562A (ko) | 1995-12-29 | 1995-12-29 | 반도체 장치의 층간 절연막 형성 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970053562A true KR970053562A (ko) | 1997-07-31 |
Family
ID=66622773
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950065862A KR970053562A (ko) | 1995-12-29 | 1995-12-29 | 반도체 장치의 층간 절연막 형성 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR970053562A (ko) |
-
1995
- 1995-12-29 KR KR1019950065862A patent/KR970053562A/ko not_active Application Discontinuation
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970053562A (ko) | 반도체 장치의 층간 절연막 형성 방법 | |
KR970052389A (ko) | 반도체 장치의 콘택홀 형성방법 | |
KR980005442A (ko) | 금속배선 형성방법 | |
KR960005957A (ko) | 다층배선 형성방법 | |
KR960015729A (ko) | 반도체소자의 금속배선 형성방법 | |
KR960002636A (ko) | 금속 층간 절연막 형성 방법 | |
KR970052885A (ko) | 반도체 소자의 보호막 형성 방법 | |
KR960002558A (ko) | 반도체소자의 비아 홀 형성방법 | |
KR980005436A (ko) | 돌출형 텅스텐-플러그를 구비한 배선막 구조 및 그 제조방법 | |
KR970053548A (ko) | 반도체소자의 적층 비아홀 형성방법 | |
KR970052386A (ko) | 반도체 장치의 금속 배선 형성 방법 | |
KR970023630A (ko) | 반도체 소자 제조방법 | |
KR960019511A (ko) | 반도체장치의 제조방법 | |
KR980005466A (ko) | 반도체 장치의 금속배선 형성방법 | |
KR960043120A (ko) | 반도체 소자의 비아 홀 형성방법 | |
KR960005850A (ko) | 반도체장치의 층간절연막 형성방법 | |
KR970030484A (ko) | 도전층이 평탄화된 반도체 장치 | |
KR970053574A (ko) | 반도체 소자의 다층 금속 배선 형성방법 | |
KR970053561A (ko) | 반도체 장치의 비아홀 형성 방법 | |
KR970053555A (ko) | 반도체 소자의 금속층간 절연막 형성 방법 | |
KR960039288A (ko) | 반도체장치 제조방법 | |
KR970030658A (ko) | 반도체장치의 배선 형성방법 | |
KR970053578A (ko) | 반도체 소자의 제조 방법 | |
KR970053542A (ko) | 반도체 소자의 비아 콘택 형성방법 | |
KR970053587A (ko) | 다층의 금속층을 포함하는 반도체 소자 제조 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Withdrawal due to no request for examination |