KR970053249A - 테스트시 입력포트로 사용가능한 반도체 장치의 출력포트 - Google Patents

테스트시 입력포트로 사용가능한 반도체 장치의 출력포트 Download PDF

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KR970053249A
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양희정
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김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

본 발명은 반도체 장치의 신호 출력을 위한 출력포트를 테스트시 입력포트로 사용하는 출력포트에 관한 것으로서, 반도체 장치의 출력패드와 반도체 장치의 내부 입력신호 사이에 연결되고, 상기 반도체 소자 외부로부터 출력패드를 통해 들어오는 신호를 제어하는 입력전송수단; 및 상기 반도체 장치의 내부 입력신호가 출력패드로 전달되는 것을 제어하는 출력제어수단을 포함함을 특징으로 하고, 상기 입력전송수단은 일반적인 출력모드에서는 신호통과를 막고, 테스트시에는 신호를 통과시켜 반도체장치 내부로 전달되게 하고, 상기 출력제어수단은 일반적인 출력모드에서는 신호를 통과시켜 촐력패드로 전달되게 하고, 테스트모드에서는 출력패드로 신호가 통과되지 못하도록 막는다.
본 발명에 의하면, 일반적인 출력포트를 이용하여 테스트시 입력포트로 사용함으로써 테스트시 반도체 장치의 핀수를 줄일 수 있으며, 따라서 비용 절감의 효과가 있다.

Description

테스트시 입력포트로 사용가능한 반도체 장치의 출력포트
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 출력포트의 일실시예를 도시한 회로도이다.
제3도는 입력전송수다노가 출력전송 수단을 제어하는 제어신호를 생성하는 회로의 일실시예를 도시한 회로도이다.
제4도는 상기 제2도 및 제3도의 회로의 동작을 설명하기 위한 동작 타이밍도를 도시한 것이다.

Claims (1)

  1. 반도체 장치의 신호 출력을 위한 출력포트를 테스트시 입력포트로 사용하는 출력포트에 있어서, 반도체 장치의 출력패드와 반도체 장치의 내부 입력신호 사이에 연결되고, 상기 반도체 소자 외부로부터 출력패드를 통해 들어오는 신호를 제어하는 입력전송수단; 및 상기 반도체 장치의 내부 입력신호가 출력패드로 전달되는 것을 제어하는 출력제어수단을 포함함을 특징으로 하고, 상기 입력전송수단은 일반적인 출력모드에서는 신호의 통과를 막고, 테스트시에는 신호를 통과시켜 반도체 소자 내부로 전달되게 하고, 상기 출력제어수단은 일반적인 출력모드에서는 신호를 통과시켜 출력패드로 전달되게 하고, 테스트모드에서는 출력패드로 신호가 통과되지 못하도록 막는, 테스트시 입력포트로 사용가능한 반도체 장치의 출력포트.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950057235A 1995-12-26 1995-12-26 테스트시 입력포트로 사용가능한 반도체 장치의 출력포트 KR970053249A (ko)

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