KR19980021249A - 병렬 인터페이스 장치 - Google Patents

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KR19980021249A
KR19980021249A KR1019960040036A KR19960040036A KR19980021249A KR 19980021249 A KR19980021249 A KR 19980021249A KR 1019960040036 A KR1019960040036 A KR 1019960040036A KR 19960040036 A KR19960040036 A KR 19960040036A KR 19980021249 A KR19980021249 A KR 19980021249A
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KR1019960040036A
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황사균
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김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

본 발명은 병렬 인터페이스 장치에 관한 것으로서, 특히 인터페이스 블럭과 테스트가 동시에 가능한 병렬 인터페이스 장치에 관한 것이며, 본 발명의 목적을 위하여 정상 모드와 테스트 모드를 두고, 마이크로 컴퓨터의 인터페이스와 테스트를 선택적으로 동작하게 하는 병렬인터페이스 장치에 있어서, 상기 정상 모드 및 테스트 모드 선택 제어 신호에 따라 상기 정상 모드에서는 입력되는 외부 프로그램 데이타들을 각 레지스터들에 전송하고, 상기 테스트 모드에서는 입력되는 테스트 데이타들을 테스트 단자로 출력되게 하는 선택부, 상기 선택부에 선택 제어 신호를 인가하고 정상 모드 및 테스트 모드에 필요한 각 제어 신호를 발생하는 병렬 인터페이스부를 포함한다. 본 발명에 의하면, 외부의 마이콤 신호를 내부의 각 제어 블럭으로 전달해주는 인터페이스 블럭과 테스트가 동시에 가능한 병렬 인터페이스 장치를 구비함으로서 사용상의 편리성과 설계시의 사이즈를 감소시킬 수가 있다.

Description

병렬 인터페이스 장치
본 발명은 병렬 인터페이스 장치에 관한 것으로서, 특히 인터페이스 블럭과 테스트가 동시에 가능한 병렬 인터페이스 장치에 관한 것이다. 일반적으로 현재의 디바이스들은 많은 기능을 갖고 있기 때문에 이 기능을 제어해주기 위해서는 대부분 외부 마이콤을 통해서 하고 있다. 따라서 외부의 마이콤 신호를 내부의 각 제어 단자에 전달해주는 역할을 하는 인터페이스 블럭이 필요한데 종래의 병렬 인터페이스는 복잡한 구조로 되어 설계시 필요이상의 사이즈를 증가시킬 뿐 아니라, 어플리케이션에 있어서도 복잡하였다. 또한, 각 디바이스들은 많은 기능을 갖게 됨으로서 점점 복잡한 구조가 되는데 많은 기능과 복잡한 구조 장치의 올바른 기능을 점검하기 위해서는 별도의 장치 즉, 테스트 장치가 필요하며, 이러한 장치들은 설계 사이즈 증가를 초래하게 된다. 종래에는 마이콤 인터페이스 블럭과과 테스트 블럭이 별도로 존재하였기 때문에 설계시 필요이상의 사이즈가 증가하는 문제점이 있었다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 외부의 마이콤 신호를 내부의 각 제어 블럭으로 전달해주는 인터페이스 블럭과 테스트가 동시에 가능한 병렬 인터페이스 장치를 제공하는 데 있다.
도 1은 본 발명에 따른 병렬 인터페이스 장치를 보이는 블럭도이다.
도 2는 도 1의 병렬 인터페이스의 라이트(WRITE) 타이밍도이다.
도 3은 도 1의 병렬 인터페이스의 리드(READ) 타이밍도이다.
상기의 과제를 해결하기 위하여 본 발명은 정상 모드와 테스트 모드를 두고, 마이크로 컴퓨터의 인터페이스와 테스트를 선택적으로 동작하게 하는 병렬인터페이스 장치에 있어서, 상기 정상 모드 및 테스트 모드 선택 제어 신호에 따라 상기 정상 모드에서는 입력되는 외부 프로그램 데이타들을 각 레지스터들에 전송하고, 상기 테스트 모드에서는 입력되는 테스트 데이타들을 테스트 단자로 출력되게 하는 선택부, 상기 선택부에 선택 제어 신호를 인가하고 정상 모드 및 테스트 모드에 필요한 각 제어 신호를 발생하는 병렬 인터페이스부를 포함하는 병렬 인터페이스 장치이다.
도 1은 본 발명에 따른 병렬 인터페이스 장치를 보이는 블럭도이며, 도 1의 블럭도는 제어 신호(RWN,CSN,ADD,TEST_EN) 및 데이타를 입력하여 제어 신호(RDS,WRS), 어드레스, 입출력 어드레스(IOA)를 출력하는 병렬 인터페이스부(110), 상기 병렬 인터페이스부(110)에서 출력되는 각 신호에 의해 데이타를 일시저장하는 제1,제2,제n레지스터들(120,130,140), 상기 병렬 인터페이스부(110)에서 출력되는 제어 신호(TEST_EN)에 의해 테스트 신호와 정상 데이타 경로를 선택해서 내부 회로로 출력하는 트라이-상태 버퍼(150)로 구성된다. 본 발명에서 테스트라고 함은 정상적인 신호의 흐름을 임의적으로 차단한 후에 이미 알고있는 값을 입력으로 가한 후 출력단자를 통하여 나오는 값과 예상치를 비교하여 정상적인 동작을 확인하는 절차를 이른다. 도 1에 도시된 바와 같이 병렬 인터페이스부(110)의 데이타(DATAn:O)는 패드 입출력(I/O)를 통하여 입력값 또는 출력값으로도 사용될 수 있다. 정상적인 상태에서는 제어 신호(RWN,CSN)에 의하여 제1,제2,제n레지스터(120,130,140)에 대하여 외부의 프로그램 값들을 전달하는 역할을 하지만 일단 테스트 모드의 상태로 되면, 이 단자를 통하여 들어오는 신호들은 트라이-상태 버퍼(150)를 통하여 테스트 단자로 출력되어 지게 된다. 이때 트라이-상태 버퍼(150)는 테스트 인에이블 신호(TEST_EN)에 의하여 구동되어 진다. 따라서, 테스트 인에이블 신호(TEST_EN)가 로직 1인 동안에 데이타(Datan:O)를 통하여 들어오는 신호는 사용자가 이미 알고있는 데이타 값들로서 회로의 각 블럭으로 전달되어 지며, 테스트 인에이블 신호(TEST_EN)가 로직 0인 동안에는 입력값은 입출력 단자(IOAn:O)를 통하여 각 제어 레지스터(120,130,140)로 전달되어 지는 것을 알 수 있다. 따라서, 병렬 인터페이스를 이용하여 테스트로도 이용할 수 있고, 데이타 인터페이스로도 사용할 수 있다.
도 2는 도 1의 병렬 인터페이스의 라이트(WRITE) 타이밍도이며, 도 3은 도 1의 병렬 인터페이스의 리드(READ) 타이밍도이다. 우선, 도 1에서 보듯이 외부 데이타를 내부의 각 프로그램 레지스터에 라이트하는 과정을 살펴보면, 원하는 프로그램 레지스터가 일단 결정되어지면 이 레지스터가 존재하는 위치(어드레스)값을 도 1의 데이타(DATAn: O)를 통하여 전달한다. 이때 주의 해야 할 사항은 데이타(DATAn:O)는 입력 데이타 값과 어드레스 값의 공통 입력 단자로 사용 되어지기 때문에, 현재 입력되어지는 데이타가 어드레스값인지 또는 입력 데이타 값인지 알려주어야 하는데 이러한 역할을 담당하는 것이 ADD단자이다. 따라서 어드레스 값을 단자 데이타(DATAn:O)를 통하여 입력하는 동안에는 ADD 단자를 로직 1로 하여야 한다. 이러한 과정을 거친 후 도 1에서 나타난 바와 같이 데이타를 입력시켜 주면서 RWN신호를 로직 0로 하고 이 기간동안에 CSN 신호를 로직 1에서 로직 0로 만들어 주면 된다. 위에서 설명한 바와 같이 라이트 사이클은 RWN 신호가 로직 1인 동안에 CSN 신호가 로직 1에서 로직 0로 변화되어 지는 동안에 이루어진다. 반면, 도 3에 도시된 바와 같이 리드 사이클은 신호들은 모두 같지만 RWN신호가 로직 0동안에 CSN 신호가 로직 1에서 로직 0로 변환되어지는 동안에 이루어진다.
상술한 바와 같이 본 발명에 의하면, 외부의 마이콤 신호를 내부의 각 제어 블럭으로 전달해주는 인터페이스 블럭과 테스트가 동시에 가능한 병렬 인터페이스 장치를 구비함으로서 사용상의 편리성과 설계시의 사이즈를 감소시킬 수가 있다.

Claims (2)

  1. 정상 모드와 테스트 모드를 두고, 마이크로 컴퓨터의 인터페이스와 테스트를 선택적으로 동작하게 하는 병렬인터페이스 장치에 있어서,
    상기 정상 모드 및 테스트 모드 선택 제어 신호에 따라 상기 정상 모드에서는 입력되는 외부 프로그램 데이타들을 각 레지스터들에 전송하고, 상기 테스트 모드에서는 입력되는 테스트 데이타들을 테스트 단자로 출력되게 하는 선택부;
    상기 선택부에 선택 제어 신호를 인가하고 정상 모드 및 테스트 모드에 필요한 각 제어 신호를 발생하는 병렬 인터페이스부를 포함하는 병렬 인터페이스 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 선택부는 3(Tri) 상태 버퍼인것을 특징으로 하는 병렬 인터페이스 장치.
KR1019960040036A 1996-09-14 1996-09-14 병렬 인터페이스 장치 KR19980021249A (ko)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100464328B1 (ko) * 1997-12-29 2005-04-06 삼성전자주식회사 장비테스트장치 인터페이스장치
KR100967101B1 (ko) * 2008-07-14 2010-07-01 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리장치

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100464328B1 (ko) * 1997-12-29 2005-04-06 삼성전자주식회사 장비테스트장치 인터페이스장치
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