KR970052823A - 반도체소자의 층간절연막 형성방법 - Google Patents

반도체소자의 층간절연막 형성방법 Download PDF

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semiconductor device
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설여송
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김주용
현대전자산업 주식회사
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Abstract

본 발명은 반도체소자의 층간절연막 형성방법에 관한 것으로, 반도체기판 상부에 하부절연층을 형성하고 그 상부에 도전배선마스크를 이용한 식각공정으로 도전배선을 형성한 다음, 플라즈마 챔버내에서 소정시간 전면식각공정을 실시하여 소정의 경사각도를 갖는 경사면이 도전배성의 상측에 구비되는 도전배선을 형성함으로써 후속공정인 층간절연막의 단차피복성을 향상시켜 보이드에 의해 소자의 특성열화를 방지할 수 있어 반도체소자의 특성, 수율 및 신뢰성을 향상시키고 그에 따른 반도체소자의 고집적화를 가능하게 하는 기술이다.

Description

반도체소자의 층간절연막 형성방법.
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 반도체소자의 층간절연막 형성방법을 도시한 단면도.

Claims (4)

  1. 하부절연층이 형성된 반도체기판 상부에 도전배선을 형성하는 공정과, 플라즈마 챔버내에서 소정시간동안 전면식각하여 상기 도전배선의 상측이 소정의 경사각도로 경사진 경사면이 구비되는 도전배선을 형성하는 공정과, 전체표면상부에 층간절연막을 형성하는 공정을 포함하는 반도체소자의 층간절연막 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 전면식각공정은 화학적 식각성향보다 물리적 식각성향이 큰 식각가스를 이용하여 실시되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 층간절연막 형성방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 경사각도는 상기 전면식각공정의 가스를 변경으로 조정되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 층간절연막 형성방법.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 경사면의 면적은 상기 전면식각공정의 시간을 조정되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 층간절연막 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950052460A 1995-12-20 1995-12-20 반도체소자의 층간절연막 형성방법 KR970052823A (ko)

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