KR970052802A - 반도체 소자의 층간 절연막 형성방법 - Google Patents

반도체 소자의 층간 절연막 형성방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 반도체 소자의 층간 절연막 형성방법에 관한 것으로, 고단차의 토플로지를 가즌 다수의 도전층이 형성된 소정의 기판 상부에 수분 및 불순물 확산방지를 위한 제1절연막인 산화절연막을 증착하고 제1절연막 상부에 제2절연막인 BPSG절연막을 소정두께 형성한 다음, 연속적으로 상기 기판을 열처리로에 장입하여 1단계 열처리 온도까지 일정 속도로 온도를 올려 상기 BPSG막을 치밀화하여 후속공정에서의 열화현상을 방지하고 1단계 점성유동시키고 상기 제1단계 열처리 온도로부터 최종 열처리온도까지 일정속도로 온도를 상승시켜 최종 열처리 온도에서 열처리 공정을 실시함으로서 상기 BPSG막을 유동시켜 완전 평탄화한 다음, 상기 평탄화 열처리된 기판이 열충격을 받지 않도록 일정속도로 일정온도까지 냉각시켜 평탄화된 층간절연막을 형성함으로써 후속공정을 실시할 수 있어 반도체소자의 특성 및 신뢰성을 향상시키고 그에 따른 반도체소자의 고집적화를 가능하게 하는 기술이다.

Description

반도체 소자의 층간 절연막 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2A도 및 제2B도는 본 발명의 실시예에 따른 반도체 소자의 층간 절연막 형성방법을 도시한 관계도.

Claims (10)

  1. 고단차의 토플로지를 가즌 다수의 도전층이 형성된 소정의 기판 상부에 수분 및 불순물 확산방지를 위한 제1절연막인 산화절연막을 증착하는 공정과, 상기 제1절연막 상부에 제2절연막인 BPSG절연막을 소정두께 형성하는 공정과, 연속적으로 상기 기판을 열처리로에 장입하여 1단계 열처리 온도까지 일정 속도로 온도를 올려 상기 BPSG막을 치밀화하여 후속공정에서의 열화현상을 방지하고 1단계 점성유동시키는 공정과, 상기1단계 열처리온도로부터 최종 열처리온도까지 일정속도로 온도를 상승시켜 최종 열처리 온도에서 열처리 공정을 실시함으로서 상기 BPSG막을 유동시켜 완전 평탄화하는 공정과, 상기 평탄화 열처리된 기판이 열충격을 받지 않도록 일정속도로 일정온도까지 냉각시키는 공정을 포함하는 반도체 소자의 층간 절연막 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1절연막은 화학기상증착법으로 300Å이상 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 층간 절연막 형성방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제2절연막은 350내지 550℃온도에서 B,P농도 3.0wt% 이상으로 하여 1500Å보다 두껍게 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 층간 절연막 형성방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제1단계 열처리온도까지의 온도상승속도는 5℃내지 100℃/min의 속도로 실시되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 층간 절연막 형성방법.
  5. 제1항 또는 제4항에 있어서, 상기 제1단계 열처리공정은 650내지 800℃의 온도에서 N2, Ar등의 가스분위기로 5분이상 실시되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 층간 절연막 형성방법.
  6. 제1항 또는 제4항에 있어서, 상기 제1단계 열처리공정은 650내지 800℃의 온도에서 H2+O2등의 수증기분위기에서 5분이상 실시되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 층간 절연막 형성방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 제1절연막인 산화절연막은 Si-Rich(Si/O=0.5이상의 조성)산화막으로 300Å이상 증착되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 층간 절연막 형성방법.
  8. 제1항에 있어서, 상기 최종 열처리온도까지의 온동상승속도는 3℃내지 50℃/min의 속도로 실시되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 층간 절연막 형성방법.
  9. 제1항 또는 제8항에 있어서, 상기 제1단계 열처리공정은 800내지 900℃의 온도에서 N2, Ar등의 가스분위기로 10분이상 실시되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 층간 절연막 형성방법.
  10. 제1항에 있어서, 상기 냉각공정은 최종 열처리후 500내지 800℃온도까지 -3℃내지 -50℃/min의 냉각속도로 실시되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 층간 절연막 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010004278A (ko) * 1999-06-28 2001-01-15 김영환 반도체 소자의 층간 절연막 형성 방법
KR100637978B1 (ko) * 1999-12-31 2006-10-23 동부일렉트로닉스 주식회사 급속 열처리 방법

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090250793A1 (en) * 2008-04-08 2009-10-08 Yuri Sokolov Bpsg film deposition with undoped capping
KR101026695B1 (ko) * 2008-12-02 2011-04-07 박현숙 조명 펜스
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010004278A (ko) * 1999-06-28 2001-01-15 김영환 반도체 소자의 층간 절연막 형성 방법
KR100637978B1 (ko) * 1999-12-31 2006-10-23 동부일렉트로닉스 주식회사 급속 열처리 방법

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