KR970052723A - 반도체 소자 제조 방법 - Google Patents

반도체 소자 제조 방법 Download PDF

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KR970052723A
KR970052723A KR1019950046316A KR19950046316A KR970052723A KR 970052723 A KR970052723 A KR 970052723A KR 1019950046316 A KR1019950046316 A KR 1019950046316A KR 19950046316 A KR19950046316 A KR 19950046316A KR 970052723 A KR970052723 A KR 970052723A
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KR
South Korea
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semiconductor device
device manufacturing
spacer
adjusting
gas ratio
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KR1019950046316A
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Inventor
백현철
황창연
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
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  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

본 발명은 산화막 스페이서 식각 공정시 가스 비율을 조정하여 스페이서 폭을 조절할 수 있도록 한 반도체 소자 제조방법이 개시된다.

Description

반도체 소자 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
첨부된 도면은 본 발명에 따른 반도체 소자 제조방법을 설명하기 위한 단면도.

Claims (1)

  1. 반도체 소자 제조방법에 있어서, 사이드 윌 옥사이드 스페이서 식각시 CHF3:CF4의 가스 비율을 이용하여 스페이서의 폭을 조절하는 반도체 소자 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950046316A 1995-12-04 1995-12-04 반도체 소자 제조 방법 KR970052723A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000043225A (ko) * 1998-12-28 2000-07-15 김영환 반도체소자의 질화막 식각방법

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