KR970052319A - 반도체 소자의 자기정렬 콘택 형성방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체 기판(31) 상에 게이트 산화막(32)을 형성하는 단계; 상기 게이트 산화막(32) 상에 소정크기의 게이트 전극(33)을 형성하는 단계; 저농도 이온을 상기 반도체 기판(31)에 주입하는 단계; 상기 게이트 전극(33)의 측벽에 질화막 스페이서(35)를 형성하는 단계; 고농도 이온을 상기 반도체 기판(31)에 주입하는 단계; 전체구조 상부에 산화막(36)을 도포하는 단계; 및 상기 산화막(36)상에 감광막(37)을 도포하여 패턴한후 반도체 기판(31)의 활성영역(40)을 노출시키는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 자기정렬 콘택 형성방법.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 자기정렬 콘택 형성방법을 설명하는 단면도.
Claims (2)
- 반도체 기판 상에 게이트 산화막을 형성하는 단계; 상기 게이트 산화막 상에 소정크기의 게이트 전극을 형성하는 단계; 저농도 이온을 상기 반도체 기판에 주입하는 단계; 상기 게이트 전극의 측벽에 질화막 스페이서를 형성하는 단계; 고농도 이온을 상기 반도체 기판에 주입하는 단계; 전체구조 상부에 산화막을 도포하는 단계; 및 상기 산화막상에 감광막을 도포하여 패턴한후 반도체 기판의 활성영역을 노출시키는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 자기정렬 콘택 형성방법.
- 제1항에 있어서, 상기 질화막 스페이서 형성시 상기 게이트 전극 상부에 소정두게의 질화막이 잔류하도록 하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 자기정렬 콘택 형성방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06163535A (ja) * | 1992-11-26 | 1994-06-10 | Rohm Co Ltd | 半導体装置およびその製造方法 |
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1995
- 1995-12-21 KR KR1019950053168A patent/KR100365750B1/ko not_active IP Right Cessation
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