KR970049570A - 플래쉬 메모리셀의 쓰기/지우기 방법 - Google Patents
플래쉬 메모리셀의 쓰기/지우기 방법 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 메모리셀의 쓰기/지우기를 실행한 후 메모리셀 상태를 확인할때 별도의 외부 시험 프로그램(testprogram)없이 본래의 동작인 읽기(read)로서 그 특성을 검증하게 되므로써, 기억 소자의 쓰기/지우기 시간을 줄일 수 있는 플래쉬 메모리셀의 프로그램 방법에 관한 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 플래쉬 메모리셀의 쓰기/지우기 방법을 설명하기 위해 도시한 플로우 챠트도.
Claims (2)
- 플래쉬 메모리셀의 프로그램 방법에 있어서, 시험모드 실행 명령을 시행한 후 셀의 쓰기/지우기 명령에 따라 쓰기/지우기를 실행하는 단계와, 셀의 쓰기/지우기의 결과가 정상적으로 되었는지를 확인하는 단계와, 셀의 쓰기/지우기 결과가 정상적으로 되지않았으면 칩의 내부카운터에 설치된 쓰기/지우기의 확인 반복횟수와 동일함 여부를 확인하는 단계와, 칩의 내부카운터에 설정된 쓰기/지우기의 확인 반복횟수와 일치하지 않을 경우에는 쓰기/지우기의 확인 반복횟수를 증가시켜 상기 쓰기/지우기 단계로 복귀하여 상기 쓰기/지우기의 동작을 반복 시행하는 단계와, 칩의 내부카운터에 설정된 쓰기/지우기의 확인 반복횟수와 일치 할 경우에는 시험모드의 반복횟수와 동일함 여부를 확인하는 단계와, 셀의 쓰기/지우기의 결과가 정상적으로 되었으면 시험모드의 반복 횟수와 동일함 여부를 확인하는 단계와, 시험모드의 반복횟수와 일치할 경우에는 반복횟수를 출력하고 쓰기/지우기 동작을 종료하는 단계와, 시험모드의 반복횟수와 일치하지 않을 경우에는 본래 정보를 출력하고 쓰기/지우기 동작을 종료하단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리셀의 프로그램 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 시험모드를 이용하여 본래정보가 아닌 내부회로의 특정상태를 정보로써 출력할 수 있도록 하는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리셀의 프로그램 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950052527A KR970049570A (ko) | 1995-12-20 | 1995-12-20 | 플래쉬 메모리셀의 쓰기/지우기 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950052527A KR970049570A (ko) | 1995-12-20 | 1995-12-20 | 플래쉬 메모리셀의 쓰기/지우기 방법 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970049570A true KR970049570A (ko) | 1997-07-29 |
Family
ID=66646511
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019950052527A KR970049570A (ko) | 1995-12-20 | 1995-12-20 | 플래쉬 메모리셀의 쓰기/지우기 방법 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR970049570A (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100466979B1 (ko) * | 1997-12-26 | 2005-04-06 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 그 장치의 프로그램 검증 방법 |
-
1995
- 1995-12-20 KR KR1019950052527A patent/KR970049570A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100466979B1 (ko) * | 1997-12-26 | 2005-04-06 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 그 장치의 프로그램 검증 방법 |
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