KR0164792B1 - 메모리의 자동초기화 회로 - Google Patents

Abstract

1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야 :

메모리의 초기화방법에 관한 것으로, 특히 램의 리세트신호 인가후 자동으로 발생되는 어드레스 신호에 의한 자동으로 램에 라이트와 초기화를 동시에 실행하는 메모리의 자동초기화 회로에 관한것이다.

2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제 :

종래 문제점을 해결 할 수 있는 RAM자동초기화 하되, 테스트시에 모든램 셀을 라이트 할 필요없이 단지 리세트인가후 일정시간후에 램을 리드하여 IC설계의도에 따라 라이트데이타와 비교함으로 테스트를 원활히 할 수 있는 회로를 제공함.

3. 발명의 해결방법의 요지 :

상기 집적회로 동작시 리세트신호 인가후 자동적으로 각 메모리 셀을 어떤 임의의 값으로 라이트 하여 이 값으로 초기화 시키도록 구성됨을 특징으로 하는 메모리의 자동초기화 회로.

4. 발명의 중요한 용도 :

메모리 자동초기화 회로

Description

메모리의 자동초기화 회로

제1도는 본 발명의 실시예에 따른 회로도.

본 발명은 메모리의 초기화 회로에 관한 것으로 ,특히 램의 리세트신호 인가후 자동으로 발생되는 어드레스 신호에 의한 램의 라이트와 초기화를 동시에 실행하는 메모리의 자동초기화회로에 관한 것이다.

종래 콘트롤러등으로 많이 사용되는 집적회로는 그 내부에 기억소자로 RAM을 항상 내장하고 있는 것이 대부분이다. 이 경우 RAM은 적을 경우는 1바이트에서 많게는 1M바이트까지 내장되어 있는 경우가 있다. 이와 같이 RAM블럭이 포함된 IC를 설계 제작할 경우 몇가지 문제점이 있다. 일반적으로 집적회로의 구성후 그 구현된 회로가 의도대로 정확히 동작하는지를 미리 예상 해보는 논리 시뮬레이션에 따른 불편함이 있고, IC제작후의 제대로 제작되었는지를 알아 보기 위한 테스트시 RAM블럭의 각셀의 동작상태를 알아 보는 데 따른 불편함이 있으며, 현대와 같은 대량 생산시대에 수백만개나 되는 제작된 IC가 양품인지 또는 불량품인지를 알아보는 테스트에 있어서 그 시간을 줄이는 것이 IC의 가격을 낮추는 일이므로 그동안 문제가 되어 왔었다. 상기 논리 시뮬레이션시의 문제점이란, 보통 RAM의 각셀은 플립플롭을 사용하면 되지만 보통 그 면적이 반정도 만을 차지하는 래치로 구성되어 있는데, 리세트단이 없는 래치일 경우 시뮬레이션시 그 소프트웨어의 특성에 의해 그 초기값은 unknow 상태를 가진다. 그래서 시뮬레이션시 맨처음 초기화를 시켜 주어야만 하는 불편함이 있고, 테스트시 문제점은 모든 셀이 정상 동작하는지 알아 보기위해 각 RAM셀을 라이트하고 리드해야 하는데, RAM크기가 크면 클수록 검증하는데 그 만큼의 시간이 걸리게 된다.

따라서 본 발명의 목적은 상기 문제점을 해결할 수 있는 RAM 자동초기화회로를 제공함에 있다.

본 발명의 다른 목적은 테스트시에 모든 램 셀을 라이트할 필요없이 단지 리세트 인가후 일정시간후에 램을 리드하여 IC설계시 설계 의도에 따라 라이트 데이타와 비교함으로 테스트를 원활히 할 수 있는 회로를 제공함에 있다.

상기 목적을 수행하기 위한 본 발명은 IC동작시 리세트신호 인가후 자동으로 각 램 셀을 어떤 임의의 값으로 라이트 할수 있으며, 결국 그 값을 초기화 시킬수 있도록 구성되어짐을 특징으로 한다.

이하 본 발명을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

제1도는 본 발명의 실시예에 따른 회로도로서,

리세트단(RST)의 리세트 신호 인가에 따라 자동으로 소정 어드레스신호를 발생되고, 외부 어드레스 및 데이터의 선택을 위한 제1제어단(C1)으로 제1제어신호를 발생하며, 제2제어단(C2)으로 제2제어신호가 인가될 때 어드레스 발생이 정지되는 어드레스신호 자동발생기(10)와,

상기 어드레스신호 자동발생기(10)에서 발생되는 자동어드레스 신호를 디코딩하여 상기 어드레스신호 자동발생기(10)에서의 어드레스 신호의 발생을 정지하기위한 제2제어신호(C2)를 발생하는 디코더(20)와,

상기 제1제어단(C1)의 제어신호에 의해 상기 어드레스신호 자동발생기(10)에서 발생되는 상기 자동어드레스 또는 외부어드레스단(100)을 통해 입력되는 외부어드레스를 선택하는 멀티플렉셔(30)와,

상기 제1제어단(C1)의 제1제어신호에 의해 내부에서 발생되는 데이터와 외부데이타단(102)의 외부 입력데이타가 선택되는 데이터 발생 및 선택부(40)와,

상기 멀티플렉서(30)에서 선택되어 출력되는 어드레스에 의해 상기 데이터 발생 및 선택부(40)에서 출력되는 데이터를 저장하는 RAM(50)으로 구성된다.

따라서 본 발명의 구체적 일 실시예를 제1도를 참조하여 상세히 설명하면,

어드레스신호 자동발생기(10)의 외부에서 인가되는 리세트단(RST)의 리세트신호를 받아 클럭단(CLK)의 클럭을 카운트하여 자동으로 어드레스가 발생된다. 상기 어드레스신호 발생기(10)는 각 RAM(50)의 크기에 따라 각각 맞는 카운터를 만들어 준다. (예; RAM크기가 256바이트인 경우 8비트 카운터를 이용찰여 ΦΦ-FFh 까지만 발생후 정지하도록 되어 있다)즉, 상기 어드레스 자동 발생기(10)는 제1제어단(C1)의 제1제어신호에 의해 어드레스신호 자동 발생기(10)가 동작되어 마지막 어드레스를 발생후 정지할 때 까지 멀티플렉셔(30)에서 발생된 어드레스에 따라 데이터 발생 및 선택부(40)에서 발생된 데이터가 RAM(30)으로 인가 되도록 구성되어 있다. 그리고 멀티플렉셔(30)에서 발생되는 어드레스신호에 의해 리드 되어진다. 상기 데이타발생 및 선택부(40)에서 자동발생된 데이터는 설계자의 의도대로 임의의 한 데이타로 고정되어지고 이 데이터는 멀티플렉셔(30)에서 선택되어 출력되는 어드레스신호에 따라 램(RAM)상으로 자동으로 기록 또는 재생토록 되어 있다. 즉, 상기 RAM(50)은 멀티플렉셔(30)와 데이터 발생 및 선택부(40)에서 출력되는 어드레스와 데이터를 받아 각 RAM(50)으로 라이트 되어지도록 한다.

상술한 바와 같이 상기 방법에 의해 IC동작시 리세트신호 인가후 자동적으로 각 RAM셀을 어떤 임의의 값으로 라이트 할 수 있도록 하고, 결국 그 값으로 초기화 시킬수 있으며, 테스트시에도 모든 RAM 셀을 라이트 할 필요 없이 단지 리세트 인가후 일정 시간후에 RAM을 리드하여 IC설계시 설계자의 의도에 의한 라이트 데이터(RAM에 저장된 데이터)와 비교함으로 테스트를 원할히 할 수 있도록 하는 이점이 있다.

Claims (1)

1. 메모리를 포함하는 집적회로의 상기 메모리 자동초기화 회로에 있어서, 리세트단(RST)의 리세트 신호 인가에 따라 자동으로 소정 어드레스신호를 발생되고, 외부 어드레스 및 데이터의 선택을 위한 제1제어단(C1)으로 제1제어신호를 발생하며, 제2제어단(C2)으로 제2제어신호가 인가될 때 어드레스 발생이 정지되는 어드레스신호 자동발생기(10)와, 상기 어드레스신호 자동발생기(10)에서 발생되는 자동어드레스 신호를 디코딩하여 상기 어드레스신호 자동발생기(10)에서의 어드레스 신호의 발생을 정지하기위한 제2제어신호(C2)를 발생하는 디코더 (20)와, 상기 제1제어단(C1)의 제어신호에 의해 상기 어드레스신호 자동발생기(10)에서 발생되는 상기 자동어드레스 또는 외부어드레스단(100)을 통해 입력되는 외부어드레스를 선택하는 멀티플렉셔(30)와, 상기 제1제어단(C1)의 제1제어신호에 의해 내부에서 발생되는 데이터와 외부데이타단(102)의 외부 입력데이타가 선택되는 데이터 발생 및 선택부(40)와, 상기 멀티플렉셔(30)에서 선택되어 출력되는 어드레스에 의해 상기 데이터 발생 및 선택부(40)에서 출력되는 데이터를 저장하는 RAM(50)으로 구성됨을 특징으로 하는 메모리의 자동초기화 회로.