KR970024283A - 모스 트랜지스터 및 그 제조방법 - Google Patents

모스 트랜지스터 및 그 제조방법 Download PDF

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KR970024283A
KR970024283A KR1019950036468A KR19950036468A KR970024283A KR 970024283 A KR970024283 A KR 970024283A KR 1019950036468 A KR1019950036468 A KR 1019950036468A KR 19950036468 A KR19950036468 A KR 19950036468A KR 970024283 A KR970024283 A KR 970024283A
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KR
South Korea
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semiconductor substrate
conductivity type
forming
groove
drain
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Application number
KR1019950036468A
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English (en)
Inventor
안경호
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
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  • Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)

Abstract

모스 트랜지스터 및 그 제조방법에 대해 기재되어 있다. 이는, 제1 도전형 반도체기판에 형성된 컵모양의 홈, 홈의 표면에 형성된 게이트 절연막, 홈의 게이트 절연막 상에 형성된 게이트 전극, 홈 하부의 반도체기판에 형성된 제1 도전형의 컵모양의 채널, 채널의 양측 반도체기판에, 채널과 일부분이 접하도록 형성된 제2 도전형의 소오스/드레인을 포함하는 것을 특징으로 한다. 따라서, 트랜지스터의 전류 구동능력을 향상시킬 수 있고, 소자들의 평탄도를 개선할 수 있다.

Description

모스 트랜지스터 및 그 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 종래 방법으로 제조된 모스 트랜지스터를 도시한 단면도,
제2도는 본 발명의 방법으로 제조된 모스 트랜지스터를 도시한 단면도,
제3A도 내지 제3D도는 본 발명에 의한 모스 트랜지스터 제조방법을 설명하기 위해 도시한 단면도들이다.

Claims (7)

  1. 제1 도전형 반도체기판에 형성된 컵모양의 홈; 상기 홈의 표면에 형성된 게이트 절연막; 상기 홈의 게이트 절연막 상에 형성된 게이트 전극; 상기 홈 하부의 반도체기판에 형성된 제1 도전형의 컵모양의 채널, 상기 채널의 양측 반도체기판에, 상기 채널과 일부분이 접하도록 형성된 제2 도전형의 소오스/드레인을 포함하는 것을 특징으로 하는 모스 트랜지스터.
  2. 제1항에 있어서, 상기 소오스/드레인은 엘디디(LDD) 구조인 것을 특징으로 하는 모스 트랜지스터.
  3. 제1항에 있어서, 상기 게이트 전극의 표면과 반도체기판의 표면은 동일 선상에 위치하는 것은 특징으로 하는 모스 트랜지스터.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제1 도전형은 P형이고, 상기 제2 도전형은 N형인 것을 특징으로 하는 모스 트랜지스터.
  5. 제1항에 있어서, 상기 제1 도전형은 N형이고, 상기 제2 도전형은 P형인 것을 특징으로 하는 모스 트랜지스터.
  6. 제1 도전형 반도체기판에 제2 도전형의 불순물을 주입함으로써 상기 반도체기판의 표면으로부터 소정깊이에 제1 불순물층을 형성하는 제1 단계; 소자분리영역 및 채널영역에 제1 도전형의 불순물을 주입함으로써 제2 불순물층을 형성하는 제2 단계; 상기 소자분리영역 및 채널영역에 필드산화막을 형성하는 제3 단계; 상기 채널영역에 형성된 필드산화막을 제거함으로써 컵모양의 홈을 형성하는 제4 단계; 상기 홈이 형성되어 있는 반도체 기판 전면에 게이트 절연막을 형성하는 제5 단계; 상기 홈의 게이트 절연막 상에 게이트 전극을 형성하는 제6 단계; 및 상기 게이트 전극의 양측 반도체기판에 소오스/드레인을 형성하는 제7 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 모스 트랜지스터의 제조방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 제7 단계는, 상기 제6 단계 후, 상기 게이트 전극을 이온주입 마스크로하여 반도체기판에 제2 도전형의 불순물을 저농도로 주입함으로써 저농도의 소오스/드레인을 형성하는 공정, 상기 저농도의 소오스/드레인이 형성되어 있는 반도체기판 전면에 산화막을 증착한 후, 상기 반도체기판의 표면이 노출될 때 까지 이를 에치백함으로써 상기 게이트 전극이 형성되어 있지 않은 홈을 산화막으로 매우는 공정 및 상기 산화막을 이온주입 마스크로하여 반도체기판에 제2 도전형의 불순물을 고농도로 주입함으로써 고농도의 소오스/드레인을 형성하는 공정으로 진행되는 것을 특징으로 하는 모스 트랜지스터의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950036468A 1995-10-20 1995-10-20 모스 트랜지스터 및 그 제조방법 KR970024283A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100348314B1 (ko) * 2000-09-25 2002-08-10 주식회사 하이닉스반도체 반도체소자 및 그의 제조방법

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