KR970022548A - 감광성 조성물 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 반도체 소자 등의 제조에 있어서 미세 가공에 유용한 감광성 조성물에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 산 분해성 기를 가진 화합물 및 하기 화학식(1)로 표시되는 화합물로 이루어진, ArF 엑시머 레이저 및 F2엑시머 레이저 중 하나에 의한 노광을 통해 패턴을 형성하기 위한 감광성 조성물이 제공된다.
식 중, Ar1및 Ar2는 개별적으로 방향족 고리 또는 축합된 방향족 고리이고, R1및 R2는 개별적으로 할로겐 원자 또는 일가의 유기 기이고, X는 CF3SO3, CH3SO3, CF3COOH, ClO4, SbF6, AsF6, PF6, BF6로 이루어진 군에서 선택된 기이고, Z는 Cl, Br, I, S-R, Sr-r(여기서, R은 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬기 또는 탄소원자수 1 내지 10의 퍼플루오로알킬기임)로 이루어진 군에서 선택된 기이고, m 및 n은 0 또는 양의 정수이다.

Description

감광성 조성물
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명 및 비교예의 감광성 조성물의 자외선 흡수 스펙트럼을 보여주는 다이아그램.

Claims (20)

  1. 산 분해성 기를 가진 화합물 및 하기 화학식(1)로 표시되는 화합물로 이루어진, ArF 엑시머 레이저 및 F2엑시머 레이저 중 하나에 의한 노광을 통해 패턴을 형성하기 위한 감광성 조성물.
    식 중, Ar1및 Ar2는 개별적으로 방향족 고리 또는 축합된 방향족 고리이고, R1및 R2는 개별적으로 할로겐원자 또는 일가의 유기 기이고, X는 CF3SO3, CH3SO3, CF3COOH, ClO4, SbF6, AsF6, PF6, BF6로 이루어진 군에서 선택된 기이고, Z는 Cl, Br, I, S-R, Se-R(여기서, R은 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬기 또는 탄소원자수 1 내지 10의 퍼플루오로알킬기임)로 이루어진 군에서 선택된 기이고, m 및 n은 0 또는 양의 정수이다.
  2. 제1항에 있어서, Ar1및 Ar2가 모두 벤젠 고리로 형성된 감광성 조성물.
  3. 제2항에 있어서, 상기 화학식(1)로 표시되는 화합물이 1종 이상의 하기 화학식(2), (3) 및 (4)로 표시되는 화합물들로부터 선택되는 감광성 조성물.
    식 중, R1및 R2는 개별적으로 할로겐원자 또는 일가의 유기 기이고, X는 CF3SO3, CH3SO3, CF3COOH, ClO4, SbF6, AsF6, PF6, BF6로 이루어진 군에서 선택된 기이고, m 및 n은 0 또는 양의 정수이다.
  4. 제3항에 있어서, R1및 R2가 개별적으로 탄소 원자수 6 이하의 알킬기인 감광성 조성물.
  5. 제1항에 있어서, 상기 화학식(1)로 표시되는 화합물의 함량이 상기 산 분해성 기를 기준으로 0. 1몰% 이상인 감광성 조성물.
  6. 제5항에 있어서, 상기 화학식(1)로 표시되는 화합물의 함량이 상기 산 분해성 기를 기준으로 0.5몰% 내지 5몰% 범위내인 감광성 조성물.
  7. 제1항에 있어서, 알칼리 가용성 수지를 더 함유하는 감광성 조성물.
  8. 제7항에 있어서, 상기 화학식(1)로 표시되는 화합물이 1종 이상의 하기 화학식(2), (3) 및 (4)로 표시되는 화합물로부터 선택되는 감광성 조성물.
    식 중, R1및 R2는 개별적으로 할로겐원자 또는 일가의 유기 기이고, X는 CF3SO3, CH3SO3, CF3COOH, ClO4, SbF6, AsF6, PF6, BF6로 이루어진 군에서 선택된 기이고, m 및 n은 0 또는 양의 정수이다.
  9. 산 분해성 기를 가진 수지 및 하기 화학식(1)로 표시되는 화합물로 이루어진, ArF 엑시머 레이저 및 F2엑시머 레이저 중 하나에 의한 노광을 통해 패턴을 형성하기 위한 감광성 조성물.
    식 중, Ar1및 Ar2는 개별적으로 방향족 고리 또는 축합된 방향족 고리이고, R1및 R2는 개별적으로 할로겐원자 또는 일가의 유기 기이고, X는 CF3SO3, CH3SO3, CF3COOH, ClO4, SbF6, AsF6, PF6, BF6로 이루어진 군에서 선택된 기이고, Z는 Cl, Br, I, S-R, Se-R(여기서, R은 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬기 또는 탄소원자수 1 내지 10의 퍼플루오로알킬기임)로 이루어진 군에서 선택된 기이고, m 및 n은 0 또는 양의 정수이다.
  10. 제9항에 있어서, 상기 화학식(1)로 표시되는 화합물이 1종 이상의 하기 화학식(2), (3) 및 (4)로 표시되는 화합물들로부터 선택되는 감광성 조성물.
    식 중, R1및 R2는 개별적으로 할로겐원자 또는 일가의 유기 기이고, X는 CF3SO3, CH3SO3, CF3COOH, ClO4, SbF6, AsF6, PF6, BF6로 이루어진 군에서 선택된 기이고, m 및 n은 0 또는 양의 정수이다.
  11. 산 가교성 기를 가진 화합물 및 하기 화학식(1)로 표시되는 화합물로 이루어진, ArF 엑시머 레이저 및 F2엑시머 레이저 중 하나에 의한 노광을 통해 패턴을 형성하기 위한 감광성 조성물.
    식 중, Ar1및 Ar2는 개별적으로 방향족 고리 또는 축합된 방향족 고리이고, R1및 R2는 개별적으로 할로겐원자 또는 일가의 유기 기이고, X는 CF3SO3, CH3SO3, CF3COOH, ClO4, SbF6, AsF6, PF6, BF6로 이루어진 군에서 선택된 기이고, Z는 Cl, Br, I, S-R, Se-R(여기서, R은 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬기 또는 탄소원자수 1 내지 10의 퍼플루오로알킬기임)로 이루어진 군에서 선택된 기이고, m 및 n은 0 또는 양의 정수이다.
  12. 제11항에 있어서, Ar1및 Ar2가 모두 벤진 고리로 형성된 감광성 조성물.
  13. 제12항에 있어서, 상기 화학식(1)로 표시되는 화합물이 1종 이상의 하기 화학식(2), (3) 및 (4)로 표시되는 화합물로부터 선택되는 감광성 조성물.
    식 중, R1및 R2는 개별적으로 할로겐 원자 또는 일가의 유기 기이고, X는 CF3SO3, CH3SO3, CF3COOH, ClO4, SbF6, AsF6, PF6, BF6로 이루어진 군에서 선택된 기이고, m 및 n은 0 또는 양의 정수이다.
  14. 제13항에 있어서, R1및 R2가 개별적으로 탄소 원자수 6 이하의 알킬기인 감광성 조성물.
  15. 제11항에 있어서 상기 화학식(1)로 표시되는 화합물의 함량이 상기 산 가교성 기를 기준으로 1몰% 이상인 감광성 조성물.
  16. 제15항에 있어서, 상기 화학식(1)로 표시되는 화합물의 함량이 상기 산 가교성 기를 기준으로 5몰% 내지 20몰% 범위내인 감광성 조성물.
  17. 제11항에 있어서, 알칼리 가용성 수지를 더 함유하는 감광성 조성물.
  18. 제17항에 있어서, 상기 화학식(1)로 표시되는 화합물이 1종 이상의 하기 화학식(2), (3) 및 (4)로 표시되는 화합물로부터 선택되는 감광성 조성물.
    식 중, R1및 R2는 개별적으로 할로겐원자 또는 일가의 유기 기이고, X는 CF3SO3, CH3SO3, CF3COOH, ClO4, SbF6, AsF6, PF6, BF6로 이루어진 군에서 선택된 기이고, m 및 n은 0 또는 양의 정수이다.
  19. 산 가교성 기를 가진 수지 및 하기 화학식(1)로 표시되는 화합물로 이루어진, ArF 엑시머 레이저 및 F2엑시머 레이저 중 하나에 의한 노광을 통해 패턴을 형성하기 위한 감광성 조성물.
    식 중, Ar1및 Ar2는 개별적으로 방향족 고리 또는 축합된 방향족 고리이고, R1및 R2는 개별적으로 할로겐원자 또는 일가의 유기 기이고, X는 CF3SO3, CH3SO3, CF3COOH, ClO4, SbF6, AsF6, PF6, BF6로 이루어진 군에서 선택된 기이고, Z는 Cl, Br, I, S-R, Se-R(여기서, R은 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬기 또는 탄소원자수 1 내지 10의 퍼플루오로알킬기임)로 이루어진 군에서 선택된 기이고, m 및 n은 0 또는 양의 정수이다.
  20. 제19항에 있어서, 상기 화학식(1)로 표시되는 화합물이 1종 이상의 하기 화학식(2), (3) 및 (4)로 표시되는 화합물들로부터 선택되는 감광성 조성물.
    식 중, R1및 R2는 개별적으로 할로겐원자 또는 일가의 유기 기이고, X는 CF3SO3, CH3SO3, CF3COOH, ClO4, SbF6, AsF6, PF6, BF6로 이루어진 군에서 선택된 기이고, m 및 n은 0 또는 양의 정수이다.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6228552B1 (en) * 1996-09-13 2001-05-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Photo-sensitive material, method of forming a resist pattern and manufacturing an electronic parts using photo-sensitive material
EP0877293B1 (en) * 1997-05-09 2004-01-14 Fuji Photo Film Co., Ltd. Positive photosensitive composition
JP3228193B2 (ja) * 1997-08-27 2001-11-12 日本電気株式会社 ネガ型フォトレジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法
US6238842B1 (en) * 1998-03-12 2001-05-29 Fuji Photo Film Co., Ltd. Positive photosensitive composition
JP3281612B2 (ja) * 1999-03-05 2002-05-13 松下電器産業株式会社 パターン形成方法
US6673523B2 (en) 1999-03-09 2004-01-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Pattern formation method
CN1267000A (zh) * 1999-03-11 2000-09-20 国际商业机器公司 环状烯烃聚合物和添加剂的光刻胶组合物
US6124074A (en) * 1999-03-11 2000-09-26 International Business Machines Corporation Photoresist compositions with cyclic olefin polymers and hydrophobic non-steroidal multi-alicyclic additives
US6531259B1 (en) * 1999-06-21 2003-03-11 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Pattern formation method and pattern formation material
JP4373624B2 (ja) * 2000-09-04 2009-11-25 富士フイルム株式会社 感熱性組成物、それを用いた平版印刷版原版及びスルホニウム塩化合物
US6391523B1 (en) * 2000-09-15 2002-05-21 Microchem Corp. Fast drying thick film negative photoresist
CN1575438A (zh) * 2000-11-09 2005-02-02 纳幕尔杜邦公司 微石印术用光刻胶组合物中的光酸产生剂
US20040106062A1 (en) * 2001-10-31 2004-06-03 Petrov Viacheslav Alexandrovich Photoacid generators in photoresist compositions for microlithography
US7521168B2 (en) * 2002-02-13 2009-04-21 Fujifilm Corporation Resist composition for electron beam, EUV or X-ray
US20040265733A1 (en) * 2003-06-30 2004-12-30 Houlihan Francis M. Photoacid generators
US20050106494A1 (en) * 2003-11-19 2005-05-19 International Business Machines Corporation Silicon-containing resist systems with cyclic ketal protecting groups
JP5812030B2 (ja) * 2013-03-13 2015-11-11 信越化学工業株式会社 スルホニウム塩及び高分子化合物、レジスト材料及びパターン形成方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4264703A (en) * 1974-05-02 1981-04-28 General Electric Company Cationically polymerizable compositions containing photodecomposable aromatic iodonium salts
US4136102A (en) * 1974-05-02 1979-01-23 General Electric Company Photoinitiators
US4026705A (en) * 1975-05-02 1977-05-31 General Electric Company Photocurable compositions and methods
US4491628A (en) * 1982-08-23 1985-01-01 International Business Machines Corporation Positive- and negative-working resist compositions with acid generating photoinitiator and polymer with acid labile groups pendant from polymer backbone
US4537854A (en) * 1983-09-14 1985-08-27 General Electric Company Photoresist compositions and method
US4603101A (en) * 1985-09-27 1986-07-29 General Electric Company Photoresist compositions containing t-substituted organomethyl vinylaryl ether materials
EP0249139B2 (en) * 1986-06-13 1998-03-11 MicroSi, Inc. (a Delaware corporation) Resist compositions and use
DE3721741A1 (de) * 1987-07-01 1989-01-12 Basf Ag Strahlungsempfindliches gemisch fuer lichtempfindliche beschichtungsmaterialien
US5002856A (en) * 1989-08-02 1991-03-26 E. I. Du Pont De Nemours And Company Thermally stable carbazole diazonium salts as sources of photo-initiated strong acid
JPH0480758A (ja) * 1990-07-23 1992-03-13 Fuji Photo Film Co Ltd 感光性組成物
EP0474589A1 (de) * 1990-08-02 1992-03-11 Ciba-Geigy Ag Orthophenolacetamide
JPH05247386A (ja) * 1991-11-27 1993-09-24 Hitachi Chem Co Ltd ポジ型感光性アニオン電着塗料樹脂組成物、ポジ型感光性アニオン電着塗料、電着塗装浴、電着塗装法及びプリント回路板の製造法
JPH0695390A (ja) * 1992-07-27 1994-04-08 Fuji Photo Film Co Ltd ポジ型感光性組成物
JPH06199770A (ja) * 1992-12-28 1994-07-19 Japan Synthetic Rubber Co Ltd 新規オニウム塩およびそれを含有する感放射線性樹脂 組成物
JP2964874B2 (ja) * 1994-06-10 1999-10-18 信越化学工業株式会社 化学増幅ポジ型レジスト材料

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Publication number Publication date
US5863699A (en) 1999-01-26
KR100229824B1 (ko) 1999-11-15
DE19642053A1 (de) 1997-04-17

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