KR970018680A - 실리사이드 게이트의 제조방법 - Google Patents

실리사이드 게이트의 제조방법 Download PDF

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KR970018680A
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KR
South Korea
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gate
silicide gate
silicide
manufacturing
oxide film
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KR1019950031076A
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송운영
김동현
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

실리사이드 게이트 제조 방법에 관한 것으로 박막의 게이트산화막과 상기 게이트산화막 상에 형성된 실리사이드 게이트를 가지는 반도체장치의 제조방법은, HDP장비를 이용하여 Cl2/N2가스베이스에서 상기 실리사이드 게이트를 식각하는 단계에서, 상기 장비의 전극온도를 50℃ 이상으로 하여, 실리사이드 게이트의 욧입현상을 개선하고, HDP설비도입시 쳄버의 소제주기를 연장시키고 게이트폴리측벽 식각시 발생하는 과다한 중합체를 제어 할 수 있다.

Description

실리사이드 게이트의 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 공정조건을 사용하여 실리사이드 게이트를 식각한 것을 나타낸다.

Claims (2)

  1. 박막의 게이트산화막과 상기 게이트산화막 상에 형성된 실리사이드 게이트를 가지는 반도체장치에 있어서, HDP장치를 이용하여 Cl2/N2가스를 사용하여 상기 실리사이드 게이트를 식각하는 단계에서, 상기 장비의 전극온도를 50℃ 이상으로 함을 특징으로 하는 반도체장치의 실리사이드 게이트 제조방법
  2. 제1항에 있어서, 상기 실리사이드 게이트는 텅스텐실리사이드임을 특징으로 하는 반도체장치의 실리사이드 게이트 제조방법
KR1019950031076A 1995-09-21 1995-09-21 실리사이드 게이트의 제조방법 KR970018680A (ko)

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