KR970017664A - 반도체 메모리용 센스앰프의 노이즈 면역강화 방법 및 노이즈 면역회로 - Google Patents

반도체 메모리용 센스앰프의 노이즈 면역강화 방법 및 노이즈 면역회로 Download PDF

Info

Publication number
KR970017664A
KR970017664A KR1019950030103A KR19950030103A KR970017664A KR 970017664 A KR970017664 A KR 970017664A KR 1019950030103 A KR1019950030103 A KR 1019950030103A KR 19950030103 A KR19950030103 A KR 19950030103A KR 970017664 A KR970017664 A KR 970017664A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
sense amplifier
noise
semiconductor memory
coupling capacitor
capacitor
Prior art date
Application number
KR1019950030103A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100197551B1 (ko
Inventor
안기식
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019950030103A priority Critical patent/KR100197551B1/ko
Publication of KR970017664A publication Critical patent/KR970017664A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100197551B1 publication Critical patent/KR100197551B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction

Landscapes

  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

1. 청구 범위에 기재된 발명이 속한 기술분야
반도체 메모리.
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
노이즈 면역강화 방법을 제공한다.
3. 발명의 해결방법의 요지
반도체 메모리 장치의 노이즈 면역강화 방법은 상기 장치내에 있는 메모리 셀의 제1,2비트라인에 연결된 데이타 라인 쌍을 가지는 블럭 센스앰프의 상기 신호라인 쌍간에 커플링 캐패시터를 사용하여, 상기 제1,2비트 라인에 발생되는 노이즈가 상기 블럭센스앰프의 내부로 유입되는 것을 차단시킴을 특징으로 한다.
4. 발명의 중요한 용도
반도체 메모리의 센스앰프에 적합하게 사용된다.

Description

반도체 메모리용 센스앰프의 노이즈 면역강화 방법 및 노이즈 면역회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 데이타 신호버스의 형성도,
제3도는 본 발명에 따른 노이즈 면역강화의 원리를 설명하는 도면,
제5도는 본 발명에 따른 바이씨모오스 센스 앰프의 회로도.

Claims (5)

  1. 반도체 메모리 장치의 노이즈 면역강화 방법에 있어서 : 상기 장치내에 있는 메모리 셀의 제1,2비트라인에 연결된 데이타 라인 쌍을 가지는 블럭 센스앰프의 상기 데이타 라인 쌍간에 커플링 캐패시터를 사용하여, 상기 제1,2비트라인에 발생되는 노이즈가 상기 블럭센스앰프의 내부로 유입되는 것을 차단시킴을 특징으로 하는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 커플링 캐패시터는 NMOS 캐패시터로 제조한 것을 특징으로 하는 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 커플링 캐패시터는 PMOS 캐패시터로 제조한 것을 특징으로 하는 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 커플링 캐패시터는 통상의 전용 캐패시터로 제조한 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 반도체 메모리 장치의 노이즈 연역강화 회로에 있어서 : 상기 장치내에 있는 메모리 셀의 제1,2비트라인에 연결된 데이타 라인 쌍간에 연결된 커플링 캐패시터를 적어도 포함하는 블럭 센스앰프와 상기 블럭 센스앰프의 제1,2출력라인간에 연결된 커플링용 캐패시터를 포함하는 메인센스 앰프를 가짐에 의해, 상기 제1,2비트 라인에 발생되는 노이즈가 상기 블럭센스앰프의 내부로 유입되는 것을 차단시키고, 상기 제1,2출력라인에 발생되는 노이즈가 상기 메인 센스앰프로 유입되는 것을 차단시키는 것을 특징으로 하는 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950030103A 1995-09-14 1995-09-14 반도체 메모리용 센스앰프의 노이즈 면역강화회로 KR100197551B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950030103A KR100197551B1 (ko) 1995-09-14 1995-09-14 반도체 메모리용 센스앰프의 노이즈 면역강화회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950030103A KR100197551B1 (ko) 1995-09-14 1995-09-14 반도체 메모리용 센스앰프의 노이즈 면역강화회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970017664A true KR970017664A (ko) 1997-04-30
KR100197551B1 KR100197551B1 (ko) 1999-06-15

Family

ID=19426861

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950030103A KR100197551B1 (ko) 1995-09-14 1995-09-14 반도체 메모리용 센스앰프의 노이즈 면역강화회로

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100197551B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100936796B1 (ko) 2008-04-30 2010-01-14 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자

Also Published As

Publication number Publication date
KR100197551B1 (ko) 1999-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE227904T1 (de) Zweiwegsignalübertragungsanordnung
KR940004955A (ko) 반도체 소자의 입력 전이 검출회로
KR870002653A (ko) 래치 엎 현상을 감소시키는 상보형 반도체장치
KR870009386A (ko) 반도체 감지증폭기
KR960042742A (ko) 센스앰프회로
KR970055474A (ko) 프리차지회로를 내장한 씨모스(cmos) 출력회로
KR920001523A (ko) 검출 회로를 포함하는 반도체 집적회로
KR910006994A (ko) 센스 앰프회로
KR970017664A (ko) 반도체 메모리용 센스앰프의 노이즈 면역강화 방법 및 노이즈 면역회로
KR920003310A (ko) 반도체 집적회로 장치
KR890010728A (ko) 데이터 전송회로
KR890015285A (ko) 반도체집적회로의 오동작방지회로
KR930008848A (ko) 반도체 집적회로
ATE129592T1 (de) Differentielle verriegelungsumkehrschaltung und direktzugriffspeicher unter verwendung derselben vorrichtung.
KR950015368A (ko) 반도체 메모리 소자의 데이타 출력장치
KR940001149A (ko) 반도체 기억장치
KR920017246A (ko) 반도체 집적 회로 장치
KR970002549A (ko) 마이크로 콘트롤러의 전력소비를 감소시키는 모듈별 슬립모드 제어회로
SU790127A1 (ru) Триггер на мдп транзисторах
KR970051112A (ko) 듀얼 출력 포트를 가지는 싱크 램
KR970024597A (ko) 잡음의 면역을 향상시키는 반도체회로
KR940016226A (ko) 어드레스 핀을 이용한 상태 제어장치
KR980005003A (ko) 반도체 메모리 소자의 어드레스 변환 감지 장치
KR960039627A (ko) 동기식 메모리소자의 입력버퍼
KR930014578A (ko) 출력버퍼의 노이즈 제거회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070125

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee